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散射校正方法、装置、计算机设备以及存储介质

文献发布时间:2024-04-18 19:58:53


散射校正方法、装置、计算机设备以及存储介质

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域,特别是涉及一种散射校正方法、装置、计算机设备以及存储介质。

背景技术

电子计算机断层扫描设备,也即CT设备,通过射线源产生射线,射线穿过待扫描物体被与射线源相对设置的探测器接收,得到扫描数据,根据扫描数据进行图像重建生成待扫描物体的医学图像。为了更好的分离和显示医学图像中的组织器官,双源CT设备由此产生。双源CT设备设置有两个射线源,分别为射线源1以及射线源2,与射线源1相对设置有探测器1,与射线源2相对设置有探测器2。两个射线源可以产生相同能量的射线对待扫描物体进行成像,也可以产生不同能量的射线对待扫描物体进行成像。在双源CT中,射线经过待扫描物体所产生的散射相比于普通CT设备更为复杂。以射线源1为例,射线源1产生的射线,在待扫描物体中发生散射,该散射射线不仅能够被与射线源1相对的探测器1接收,还能够被探测器2接收。其中,被探测器1接收的散射称为前向散射,被探测器2接收的散射称为交叉散射。

目前的相关技术,在对双源CT进行散射校正时,对前向散射和交叉散射都需要根据扫描数据经过几何计算得到。也就是针对两个射线源和两个探测器,需要经过4次基于扫描数据的散射计算。其计算量大,并且计算耗费时间长。

发明内容

基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种散射校正方法、装置、计算机设备以及存储介质。

第一方面,本申请提供了一种散射校正方法,所述方法应用于双源成像系统,所述方法包括:获取待扫描物体的形状信息;获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,根据所述扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据;根据所述形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据;根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正。

在其中一个实施例中,所述获取待扫描物体的形状信息包括:获取所述待扫描物体的定位图像;根据所述定位图像,计算所述定位图像中所述待扫描物体的等效图形数据以及尺寸数据;将所述等效图形数据以及尺寸数据作为所述待扫描物体的形状信息。

在其中一个实施例中,所述根据所述形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据包括;两个所述成像系统均包括:射线源以及探测器;将接收射线源前向散射的探测器作为第一探测器,将接收射线源交叉散射的探测器作为第二探测器;根据所述形状信息,计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度;所述目标射线源为两个射线源中的任一射线源;根据第二探测器每个通道的所述通道衰减长度,生成第二探测器的探测器衰减数据;根据所述探测器衰减数据以及所述目标射线源的前向散射数据,生成目标射线源的交叉散射数据。

在其中一个实施例中,所述根据所述形状信息,计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度包括:将所述目标射线源作为散射路径起点,将所述第二探测器的每个通道作为散射路径终点,将所述待扫描物体的所述等效图形数据中的每一个点分别作为散射路径途径点,获取第二探测器每个通道对应的所有散射路径;根据所述待扫描物体的尺寸数据,计算所有散射路径在所述待扫描物体中的衰减长度;根据所有散射路径的所述衰减长度,生成每个散射路径的路径衰减数据;对每个通道对应的所有散射路径的路径衰减数据进行积分,生成目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。

在其中一个实施例中,所述根据所述形状信息,计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度包括:以射线束的方向作为投影方向,将所述待扫描物体的所述等效图形数据投影至第二探测器,并基于所述待扫描物体的尺寸数据获取第二探测器每个通道对应所述待扫描物体的厚度数据;根据第二探测器的通道数量以及每个通道对应的厚度数据,构建第一曲线;对所述第一曲线进行积分,生成第二曲线;根据第二曲线中每个通道对应的衰减长度,生成目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。

在其中一个实施例中,所述根据所述探测器衰减数据以及所述目标射线源的前向散射数据,生成目标射线源的交叉散射数据包括:将所述目标射线源的前向散射数据与所述探测器衰减数据相乘,得到目标射线源的交叉散射数据。

在其中一个实施例中,所述根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正包括:根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正;或根据所述前向散射数据以及交叉散射数据,对所述扫描数据进行散射校正。

第二方面,本申请还提供了一种散射校正装置,所述装置包括:获取模块,用于获取待扫描物体的形状信息;前向散射计算模块,用于获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,根据所述扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据;交叉散射计算模块,用于根据所述形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据;校正模块,用于根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正。

第三方面,本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面任意一项实施例中所述的方法。

第四方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任意一项实施例中所述的方法。

上述散射校正方法,该散射校正方法应用与双源成像系统,首先获取待扫描物体的形状信息,再获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,并根据扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据,根据待扫描物体的形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据,最终根据交叉散射数据,对扫描数据进行交叉散射校正。通过待扫描物体的形状信息以及前向散射数据,对两个成像系统的交叉散射数据进行估计,从而减少散射校正的计算量,节省散射计算的时间。

附图说明

图1为一个实施例中双源成像系统的结构示意图;

图2为一个实施例中散射校正方法的流程示意图;

图3为一个实施例中交叉散射数据计算方法的流程示意图;

图4为一个实施例中散射路径的示意图;

图5为一个实施例中投影方向的示意图;

图6为一个实施例中散射校正装置的结构框图;

图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。

本申请实施例提供了一种双源成像系统,该系统包括环形机架以及扫描床。扫描物体放置于扫描床上,通过控制扫描床运动,从而带动扫描物体进入环形机架内。环形机架上设置两个成像系统,每个成像系统分别包括一个射线源和一个探测器;射线源和其对应的探测器相对设置。如图1所示,射线源可以为球管。环形机架上设置有球管1以及和球管1相对设置的探测器1;球管2以及和球管2相对设置的探测器2。扫描物体放置在扫描床上。当双源成像系统对扫描物体进行成像时,每个球管产生的射线在穿过扫描躯体之后,都会产生被其对应的探测器接收的前向散射数据以及被另一个探测器接收的交叉散射数据。以球管2为例,球管2产生射线1,射线1穿过扫描物体之后,沿着散射方向1运动,被探测器2接收,生成前向散射数据;沿着散射方向2运动,被探测器1接收,生成交叉散射数据。

目前的相关技术中,在对双源成像系统进行散射校正时,需要执行4次散射校正,也就是分别针对每一个射线源进行2次散射校正,一次是利用几何解析或者蒙特卡洛模拟,求解计算探测器2接收到的来自球管2的前向散射数据,一次是利用几何解析或者蒙特卡洛模拟,求解计算探测器1接收到的来自球管2的交叉散射数据。因为几何解析或者蒙特卡洛模拟计算散射数据的过程非常的耗时,也就整体上大大的增加了散射校正的耗时。

本申请实施例提供的散射校正方法,仅需要通过几何解析或者蒙特卡洛模拟计算前向散射数据,再在前向散射数据的基础上进行交叉散射数据的计算,也就是说,仅需要执行一次几何解析或者蒙特卡洛模拟。这样将会大大的节省扫射校正的耗时。

在其中一个实施例中,如图2所示,提供了一种散射校正方法,该方法应用于双源成像系统,包括以下步骤:

步骤202,获取待扫描物体的形状信息。

在使用双源成像系统之前,首先将待扫描物体放置在扫描床上,再控制扫描床移动,从而带动待扫描物体进行环形机架内部,以对待扫描物体进行扫描。其中,待扫描物体可以是模体、人体以及动物等,本申请实施例不对待扫描物体做具体限定。待扫描物体的形状信息,可以是待扫描物体的形状尺寸信息,示例的,可以是待扫描物体断层扫描时,横断面的等效图像以及等效图形的尺寸。以待扫描物体为人体进行说明,由于双源成像系统为断层扫描,因此,可以将人体横断面类比为椭圆形。

步骤204,获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,根据扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据。

使用双源成像系统对待扫描物体进行扫描,生成扫描数据。示例的,双源成像系统中的两个成像系统,产生射线,接收穿过待扫描物体的射线,生成扫描数据。扫描数据中包括未在待扫描物体中产生散射的正常扫描数据、在待扫描物体中产生前向散射的前向散射数据,以及在待扫描物体中产生交叉散射的交叉散射数据。根据卷积核算法、蒙特卡洛模拟或迭代散发中的至少一种,对扫描数据进行计算,确定两个成像系统对应的前向散射数据。其中,两个成像系统对应的前向散射数据包括:双源成像系统中的两个成像系统分别对应的前向散射数据。

步骤206,根据形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据。

在计算得到前向散射数据之后,根据待扫描物体的形状信息,计算两个成像系统中的探测器衰减数据,其中,探测器衰减数据为每个探测器接收到的产生交叉散射的射线的衰减估计。再根据探测器衰减数据以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据。其中,两个成像系统对应的交叉散射数据包括:双源成像系统中的两个成像系统分别对应的交叉散射数据。

步骤208,根据交叉散射数据,对扫描数据进行交叉散射校正。

根据交叉散射数据对扫描数据进行交叉散射校正,通过交叉散射校正后的扫描数据进行图像重建,生成医学图像。

上述散射校正方法,该散射校正方法应用与双源成像系统,首先获取待扫描物体的形状信息,再获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,并根据扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据,根据待扫描物体的形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据,最终根据交叉散射数据,对扫描数据进行交叉散射校正。通过待扫描物体的形状信息以及前向散射数据,对两个成像系统的交叉散射数据进行估计,从而减少散射校正的计算量,节省散射计算的时间。

在其中一个实施例中,获取待扫描物体的形状信息具体包括:获取待扫描物体的定位图像,根据定位图像,计算定位图像中待扫描物体的等效图形数据以及尺寸数据,将等效图形数据以及尺寸数据作为待扫描物体的形状信息。示例的,在双源成像系统对待扫描物体进行扫描之前,需要对待扫描物体按照一定的体位以及扫描参数进行预扫描,得到一组定位图像,从而根据定位图像对待扫描物体进行摆位规划,继而对待扫描物体进行摆位,摆位之后再通过双源成像系统对待扫描物体进行扫描。定位图像可以为待扫描物体的正位图像以及侧位图像,在获取到定位图像之后,根据定位图像中待扫描物体的轮廓,确定待扫描物体的等效图形数据。以待扫描物体为人体进行说明,可以将人体横断面类比为椭圆形。此时,待扫描物体的等效图像数据为椭圆形,根据等效图形数据,确定等效图形数据的尺寸数据。当等效图像数据为椭圆形时,尺寸数据包括椭圆形的长轴尺寸以及短轴尺寸。其中,长轴尺寸以及短轴尺寸可以通过定位图像中的正位图像以及侧位图像中待扫描物体的轮廓来计算。

在其中一个实施例中,如图3所示,提供了一种交叉散射数据计算方法,包括以下步骤:

步骤302,根据形状信息,计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。

目标射线源为两个射线源中的任一射线源。双源成像系统包括两个成像系统,每个成像系统均包括:射线源以及探测器;将接收射线源前向散射的探测器作为第一探测器,将接收射线源交叉散射的探测器作为第二探测器。在计算交叉散射数据时,需要针对两个成像系统中的两个射线源,分别计算对应两个射线源的交叉散射数据。以两个射线源中的一个射线源为例进行说明,将举例说明的射线源作为目标射线源。其中,接收目标射线源前向散射的探测器为第一探测器,接收目标射线源交叉散射的探测器为第二探测器。根据形状信息,计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度,其中,通道衰减长度为每个探测器中每个通道接收到的产生交叉散射的射线的衰减估计。计算通道衰减长度可以包括两种方式。

第一种方式,将目标射线源作为散射路径起点,将第二探测器的每个通道作为散射路径终点,将待扫描物体的等效图形数据中的每一个点分别作为散射路径途径点,获取第二探测器每个通道对应的所有散射路径;根据待扫描物体的尺寸数据,计算散射路径在待扫描物体中的衰减长度;根据所有散射路径的衰减长度,生成每个散射路径的路径衰减数据;对每个通道对应的所有散射路径的路径衰减数据进行积分,生成目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。如图4所示,需要以目标射线源作为散射路径起点,将第二探测器的每个通道作为散射路径终点,将待扫描物体等效图形数据中的每一个点分别作为散射路径途径点,遍历得到射线由产生到被探测器接收的过程中,所有交叉散射路径。基于探测器的每一个通道对应的所有交叉散射路径,以及椭圆形的长轴尺寸以及短轴尺寸,根据几何关系,计算每一条交叉散射路径,在椭圆形内的衰减长度。根据exp(-mu*L)计算每个交叉散射路径的路径衰减数据,其中,路径衰减数据为对应交叉散射路径在待扫描物体内的衰减估计。mu为水的衰减系数,L为交叉散射路径的衰减长度。获取第二探测器每个通道对应的所有交叉散射路径的路径衰减数据,并对所有路径衰减数据进行积分,得到目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。

第二种方式,以射线束的方向作为投影方向,将待扫描物体的等效图形数据投影至第二探测器,并基于待扫描物体的尺寸数据获取第二探测器每个通道对应待扫描物体的厚度数据;根据第二探测器的通道数量以及每个通道对应的厚度数据,构建第一曲线;对所述第一曲线进行积分,生成第二曲线;根据第二曲线中每个通道对应的衰减长度,生成目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。如图5所示,为了进一步的降低计算的复杂程度,通过目标射线源之外的另一个射线源作为射线束的投影起点,以目标射线源之外的另一个射线源产生射线束的方向作为投影方向,将待扫描物体的等效图形数据投影至第二探测器,再基于椭圆形的长轴尺寸以及短轴尺寸,根据几何关系,计算第二探测器每个通道对应的等效图形数据的厚度数据。以第二探测器的通道作为横轴,以每个通道对应的厚度数据作为纵轴,构建第一曲线。再对第一曲线进行积分,生成第二曲线。其中,第二曲线的横轴为第二探测器的每个通道,第二曲线的纵轴为每个通道对应的衰减长度,其中,衰减长度为每个通道对应的交叉散射射线在椭圆形内的衰减长度。根据exp(-mu*L)计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。其中,mu为水的衰减系数,L为每个通道对应的交叉散射射线在椭圆形内的衰减长度。

步骤304,根据第二探测器每个通道的通道衰减长度,生成第二探测器的探测器衰减数据。

在得到第二探测器每个通道的通道衰减长度之后,整合所有的通道的通道衰减长度,得到探测器衰减数据。

步骤306,根据探测器衰减数据以及所述目标射线源的前向散射数据,生成目标射线源的交叉散射数据。

在得到探测器衰减数据之后,将目标射线源的前向散射数据与探测器衰减数据相乘,得到目标射线源的交叉散射数据。

基于上述交叉散射数据计算方法,能够分别计算得到两个成像系统中两个射线源分别对应的交叉散射数据。本申请实施例通过目标射线源的前向散射数据,以及第二探测器的探测器衰减数据,计算得到目标射线源的交叉散射数据,降低了交叉散射数据的计算量,进一步的节约了交叉散射数据的计算时间。

在其中一个实施例中,在计算得到两个成像系统对应的两个射线源的交叉散射数据之后,可以根据交叉散射数据,对扫描数据进行交叉散射校正,也就是说,可以仅根据交叉散射数据,对扫描数据进行交叉散射的校正,再根据校正后的扫描数据进行图像重建,得到医学图像。也可以根据前向散射数据以及交叉散射数据,对扫描数据进行散射校正,也就是说,对扫描数据分别根据前向散射数据进行前向散射校正,根据交叉散射数据进行交叉散射校正,再根据校正后的扫描数据进行图像重建,得到医学图像。

本申请实施例中,对扫描数据进行散射校正之后,再进行图像重建,其得到的的医学图像的图像质量更高。

应该理解的是,虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思,本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的散射校正方法的散射校正装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似,故下面所提供的一个或多个散射校正装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于散射校正方法的限定,在此不再赘述。

在一个实施例中,如图6所示,提供了一种散射校正装置,包括:获取模块100、前向散射计算模块200、交叉散射计算模块300和校正模块400,其中:

获取模块100,用于获取待扫描物体的形状信息。

前向散射计算模块200,用于获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,根据所述扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据。

交叉散射计算模块300,用于根据所述形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据。

校正模块400,用于根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正。

获取模块100,还用于获取所述待扫描物体的定位图像;根据所述定位图像,计算所述定位图像中所述待扫描物体的等效图形数据以及尺寸数据;将所述等效图形数据以及尺寸数据作为所述待扫描物体的形状信息。

交叉散射计算模块300,还用于根据所述形状信息,计算目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度;所述目标射线源为两个射线源中的任一射线源;根据第二探测器每个通道的所述通道衰减长度,生成第二探测器的探测器衰减数据;根据所述探测器衰减数据以及所述目标射线源的前向散射数据,生成目标射线源的交叉散射数据。

交叉散射计算模块300,还用于将所述目标射线源作为散射路径起点,将所述第二探测器的每个通道作为散射路径终点,将所述待扫描物体的所述等效图形数据中的每一个点分别作为散射路径途径点,获取第二探测器每个通道对应的所有散射路径;根据所述待扫描物体的尺寸数据,计算所有散射路径在所述待扫描物体中的衰减长度;根据所有散射路径的所述衰减长度,生成每个散射路径的路径衰减数据;对每个通道对应的所有散射路径的路径衰减数据进行积分,生成目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。

交叉散射计算模块300,还用于以射线束的方向作为投影方向,将所述待扫描物体的所述等效图形数据投影至第二探测器,并基于所述待扫描物体的尺寸数据获取第二探测器每个通道对应所述待扫描物体的厚度数据;根据第二探测器的通道数量以及每个通道对应的厚度数据,构建第一曲线;对所述第一曲线进行积分,生成第二曲线;根据第二曲线中每个通道对应的衰减长度,生成目标射线源对应第二探测器每个通道的通道衰减长度。

交叉散射计算模块300,还用于将所述目标射线源的前向散射数据与所述探测器衰减数据相乘,得到目标射线源的交叉散射数据。

校正模块400,还用于根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正;或根据所述前向散射数据以及交叉散射数据,对所述扫描数据进行散射校正。

上述散射校正装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是服务器,其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储上述实施例中所使用的数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种散射校正方法。

本领域技术人员可以理解,图7中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的任一种方法:

获取待扫描物体的形状信息;

获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,根据所述扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据;

根据所述形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据;

根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正。

在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的任一种方法:

获取待扫描物体的形状信息;

获取双源成像系统扫描待扫描物体生成的扫描数据,根据所述扫描数据,分别确定两个成像系统对应的前向散射数据;

根据所述形状信息以及前向散射数据,确定两个成像系统对应的交叉散射数据;

根据所述交叉散射数据,对所述扫描数据进行交叉散射校正。

需要说明的是,本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等),均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory,MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory,FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory,PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory,DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等,不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等,不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

技术分类

06120116513703