一种杂光检验方法及其设备

技术领域

本发明涉及摄像头技术领域，特别涉及一种杂光检验方法及其设备。

背景技术

手机摄像头近些年的发展越来越迅速，各大手机厂商对成像质量越来越重视。在手机摄像头拍摄成像时，理想情况下，光线经过镜头内镜片的折射完全落在感光芯片上，呈现出的图像还原度极高。但在实际情况中，光线进入镜头以后，在镜头内会存在不同程度的反射，反射光再次进入镜头内时，会形成杂光，进而产生所谓的鬼影，干扰成像质量。还有一种情况是，如果镜头内部存在轻微损伤或未达到公差标准，在成像时也会形成杂光。

杂光普遍存在于每个手机摄像头中，但是严重程度不同，需要对杂光比较严重的摄像头模组进行生产拦截。目前国内大部分摄像头模组厂生产时不会对摄像头模组进行杂光检验，小部分会利用矩阵光源进行抽检，人工观察摄像头模组是否存在杂光，检测效率低，漏出风险较大。

发明内容

本发明提供一种杂光检验方法及其设备，用于在生产手机摄像头模组时自动化的对摄像头模组进行杂光检验，以拦截杂光严重的摄像头模组的生产。

第一方面，本发明实施例提供的一种杂光检验方法，应用于检验设备，包括：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

本实施例提供的杂光检验方法，能够从摄像头模组拍摄的检验图像中筛选出像素点满足预设条件的检验图像，并进一步对筛选出的检验图像中的像素区域进行判断，从而确定该摄像头模组拍摄的图像中是否存在杂光，以拦截杂光严重的摄像头模组的生产。

作为一种可选的实施方式，所述根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，包括：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，还包括：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，包括：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

第二方面，本发明实施例提供的一种杂光检验设备，包括：处理器和存储器，所述存储器用于存储所述处理器可执行的程序，所述处理器用于读取所述存储器中的程序并执行如下步骤：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

作为一种可选的实施方式，所述处理器具体被配置为执行：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，所述处理器具备被配置为通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

所述处理器具备被配置为通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，所述处理器具体还被配置为执行：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

作为一种可选的实施方式，所述处理器具体被配置为执行：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

第三方面，本发明实施例还提供一种杂光检验装置，包括：

拍摄单元，用于控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

筛选单元，用于从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

确定单元，用于根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

作为一种可选的实施方式，所述筛选单元具体用于：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，所述筛选单元具体用于通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，所述筛选单元具体还用于：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

作为一种可选的实施方式，所述筛选单元具体用于：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

第四方面，本发明实施例还提供计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时用于实现上述第一方面所述方法的步骤。

本申请的这些方面或其他方面在以下的实施例的描述中会更加简明易懂。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种杂光示意图；

图2为本发明实施例提供的一种杂光检验的方法的实施流程图；

图3为本发明实施例提供的一种摄像头模组与测试光源的位置关系示意图；

图4为本发明实施例提供的一种工装治具的示意图；

图5为本发明实施例提供的一种检验图像的示意图；

图6为本发明实施例提供的一种进行负片处理后的检验图像的示意图；

图7为本发明实施例提供的一种像素区域示意图；

图8为本发明实施例提供的一种摄像头模组的杂光检验方法实施流程图；

图9为本发明实施例提供的一种具体的摄像头模组的杂光检验方法流程图；

图10为本发明实施例提供的一种检验图像的示意图；

图11为本发明实施例提供的一种负片处理后的检验图像示意图；

图12为本发明实施例提供的一种杂光检验设备示意图；

图13为本发明实施例提供的一种杂光检验装置示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例中术语“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本发明实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着新应用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。其中，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

目前在手机摄像头拍摄成像时，理想情况下，光线经过镜头内镜片的折射完全落在感光芯片上，呈现出的图像还原度极高。但实际情况中，光线进入镜头以后，在镜头内会有一定反射，反射光再次进入镜头内时，会形成杂光，进而产生所谓的鬼影，如图1所示，杂光会在一定程度上干扰成像质量。还有一种情况，镜头内部有轻微损伤或未达到公差标准，在成像时也会形成杂光。其中，图1中圆圈区域中的眩光Flare和鬼影Ghost统称为杂光，是目标物体之外的多余光线在感光芯片Sensor上成像造成的。其中Flare是指光线从镜头的非有效径进入到Sensor感光区所形成的杂光；Ghost是指光线在镜头中传播时始终在有效径内反射，最终进入Sensor感光区形成的杂光。

实际情况下，随着手机摄像头存在的杂光的严重程度的不同，需要对杂光比较严重的摄像头模组进行生产拦截。杂光问题一但出现，基本上说明该批次的摄像头模组都存在杂光问题，模组端和整机端都容易漏出杂光，并且很难追溯漏光源头，目前国内大部分摄像头模组厂生产时不进行杂光检验，小部分会进行抽检，通过点亮摄像头模组面对光源，人工观察是否存在杂光，效率低，漏出风险较大，成本较高。

实施例1、本发明实施例为了实现自动进行摄像头模组的杂光检验，提供一种杂光检验方法，应用于检验设备，能够自动检验摄像头模组是否存在杂光问题，节省成本，提高检验效率和准确率。其中，本实施例中的检验设备可以是与摄像头模组生产设备集成后的设备，也可以是单独的一套检验设备，本实施例对此不作过多限定。

如图2所示，本实施例提供的杂光检验方法的具体实施流程如下所示：

步骤200、控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

其中，本实施例中的测试光源包括但不限于矩阵光源。本实施例中的摄像头模组包括但不限于多个规格、性能等相同的摄像头。

本实施例中的摄像头模组与测试光源的位置关系如图3所示，摄像头模组面对测试光源，用于拍摄对面的测试光源。其中，测试光源可以安装于自动机台上。

所述控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源之前，还包括：

通过工装治具将所述待检验的摄像头模组固定于所述矩阵光源的对面位置，并点亮所述摄像头模组。

实施中，所述工装治具的示意图如图4所示，所述工装治具用于固定并点亮摄像头模组，由于摄像头模组拍摄的检验图像不能直接传输至PC机，需要进行图像处理转换后输出，因此工装治具还可以将所述摄像头模组拍摄的检验图像进行图像处理。

作为一种可选的实施方式，所述得到至少一张检验图像之后，还可以对检验图像进行如下处理，以提高检验的准确性，具体步骤如下所示：

1)将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

需要说明的是，摄像头内感光芯片拍摄到的检验图像是未经过任何处理和补偿的图像，是未经加工图像RAW格式，而RAW格式的图像是没有色彩，黑白的图像，因此为了更加准确地确定出不同像素点之间的差异，需要将检验图像进行格式转换，转换为具有彩色图像格式的检验图像，例如可以是BMP(Bitmap，位图)格式。

实施中，转换的方式可以是插值法，即检验图像由RAW格式进行插值算法后转换为BMP格式的检验图像。

2)将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

实施中，可以对所述转换格式后的检验图像中的每个像素点+255或者，使用255-(所述转换格式后的检验图像中的每个像素点)，得到所述负片处理后的检验图像。

其中，本实施例中的检验图像的示意图如图5所示，进行负片处理后的检验图像的示意图如图6所示，其中图5中的白色斑点即为杂光，负片处理后如杂光可通过图6中的黑色斑点显现。由于由摄像头模组直接拍摄得到的检验图像容易受到拍摄周围光照环境的影响，因此不容易在检验图像中准确地筛选出杂光斑点，可能筛选出拍摄的周围环境所生成的白色斑点，因此为了提高检验的准确性，对检验图像进行负片处理，即先进行格式转换后进行负片处理，得到白色为底的检验图像，从所述负片处理后的检验图像中准确地筛选出黑色区域。

步骤201、从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

实施中，检验图像可以理解为一个像素矩阵，包含多个像素点，由于检验图像中与每个像素点具有相邻位置关系的像素点包括多个，因此，确定所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异，包括：确定所述至少一个像素点的亮度值与至少一个相邻像素点的亮度值之间的差异，若所述至少一个像素点的亮度值与至少一个相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值，则执行下述步骤，或者，若所述至少一个像素点的亮度值与所有相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值，则执行下述步骤。

实施中，可以通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，可选的，通过阴影滤波deshading的频域滤波方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，可以理解为对所述检验图像中的像素点矩阵中的每一行的像素点进行逐行比对，对每一行的像素点按从左至右的顺序进行像素点之间的比对，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

本实施例中可以使用检验图像中各像素点之间的差异，利用亮度值的高反差筛选出亮度值中差异大的像素点。

步骤202、根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

作为一种可选的实施方式，本发明实施例提供如下一种或多种方式，根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，具体包括：

方式1、若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

方式2、若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

方式3、若所述像素区域的面积大于第一阈值且所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积。

作为一种可选的实施方式，通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

实施中，筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域如图7所示，图中方框部分ROI(region of interest，感兴趣区域)包含的黑色区域即为筛选出的像素区域，还可以通过计算ROI的大小确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光。

如图8所示，本发明实施例还提供一种摄像头模组的杂光检验方法，具体实施流程如下所示：

步骤800、控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

步骤801、将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

步骤802、将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像；

步骤803、通过频域滤波的方式，从所述负片处理后的检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

步骤804、根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值；

步骤805、若所述像素区域的面积大于第一阈值且所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

如图9所示，本发明实施例还提供一种具体的摄像头模组的杂光检验方法，具体实施流程如下所示：

步骤900、通过工装治具点亮待检验的摄像头模组；

步骤901、控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

例如摄像头模组中摄像头的感光芯片Sensor的规格为S5K3L6XX03-FGX9；如图10所示，检验图像的大小为4208*3120pixel；要求的炫光像素点规格为小于等于14pixel。

步骤902、将所述检验图像的格式由RAW格式转换为BMP格式；

步骤903、将所述BMP格式的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像；

步骤904、通过频域滤波的方式，从所述负片处理后的检验图像中筛选出至少一个像素点；

实施中，可以从(1，1)像素点开始遍历进行负片处理，并进行筛选。如图11所示，为上述图10的检验图像进行负片处理后的检验图像。

步骤905、根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域的面积和亮度值，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光；

实施中，可以通过对所述检验图像进行全图像抓取并计算所述像素区域ROI的大小，与所述规格14pixel进行比对，若大于14pixel则确定存在杂光。

上图11中抓取的各像素区域ROI的大小与14pixel的对比表格如下所示：

步骤906、若确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光，则停止所述摄像头模组继续生产。

实施例2、基于相同的发明构思，本发明实施例还提供了一种杂光检验设备，由于该设备即是本发明实施例中的方法中的设备，并且该设备解决问题的原理与该方法相似，因此该设备的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。

如图12所示，该设备包括处理器1200和存储器1201，所述存储器用于存储所述处理器可执行的程序，所述处理器用于读取所述存储器中的程序并执行如下步骤：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

作为一种可选的实施方式，所述处理器具体被配置为执行：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，所述处理器具备被配置为通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

所述处理器具备被配置为通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，所述处理器具体还被配置为执行：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

作为一种可选的实施方式，所述处理器具体被配置为执行：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

实施例3、基于相同的发明构思，本发明实施例还提供了一种杂光检验装置，由于该装置即是本发明实施例中的方法中的装置，并且该装置解决问题的原理与该方法相似，因此该装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。

如图13所示，该装置包括：

拍摄单元1300，用于控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

筛选单元1301，用于从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

确定单元1302，用于根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

作为一种可选的实施方式，所述筛选单元具体用于：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，所述筛选单元具体用于通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，所述筛选单元具体还用于：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

作为一种可选的实施方式，所述筛选单元具体用于：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

基于相同的发明构思，本发明实施例还提供了一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如下步骤：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的设备。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令设备的制造品，该指令设备实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。