发光二极管检测装置和方法

技术领域

本发明涉及发光二极管技术领域，特别涉及一种发光二极管检测装置和方法。

背景技术

在显示和照明技术领域，LED(Light Emitting Diode，发光二极管)的应用极为广泛。通常，LED生产完成之后，需要对LED的发光效果进行检测，以获检测结果，并基于LED的检测结果确定LED是否合格。

目前，在LED检测技术领域，通过测试员利用人眼观测LED的发光效果，并由测试员基于观测到的发光效果，获得LED的检测结果。

但是，利用现有的LED检测方法对LED进行检测时，检测速度较慢，检测效率较低。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种发光二极管检测装置和方法，旨在解决现有技术中利用现有的LED检测方法对LED进行检测时，检测速度较慢，检测效率较低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出一种发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，

所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；

所述控制芯片，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。

可选的，所述待检测发光二极管包括多个；

所述采集部件，还用于采集所述多个待检测发光二极管发射的多个光信号，并将所述多个光信号转换为多个电信号；

所述控制芯片，还用于对所述多个电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可选的，所述装置还包括滤波部件；

所述滤波部件，用于对所述多个电信号进行滤波处理，以获得多个滤波电信号；

所述控制芯片，还用于对所述多个滤波电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可选的，

所述控制芯片，还用于对所述多个滤波电信号进行滤波处理，以获得多个结果电信号，并对所述多个结果电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可选的，

所述控制芯片，还用于利用预设电信号对所述多个结果电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可选的，所述装置还包括输出部件；

所述控制芯片，还用于在获得所述多个待检测发光二极管的检测结果之后，控制所述输出部件输出与所述多个待检测发光二极管的检测结果对应的反馈信息。

可选的，

所述控制芯片，还用于在获得所述多个待检测发光二极管的检测结果之后，将所述多个待检测发光二极管的检测结果发送至终端设备，以使所述终端设备存储所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可选的，所述多个电信号均为电压信号，所述预设电信号为预设电压信号。

可选的，所述采集部件为环境光传感器，所述控制芯片为单片机，所述滤波部件为滤波电路。

此外，为实现上述目的，本发明还提出了一种发光二极管检测方法，应用于发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；所述方法包括以下步骤：

利用所述采集部件采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；

利用所述控制芯片对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。

本发明技术方案提出了一种发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；所述控制芯片，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。利用本发明的发光二极管检测装置，不需要测试员利用人眼观测待检测发光二极管的发光效果，来获得待检测发光二极管的检测结果，直接通过控制芯片基于采集部件获得的电信号，获得待检测发光二极管的检测结果，待检测发光二极管的检测速度快，检测效率较高，所以，本发明的发光二极管检测装置，达到了提高待检测发光二极管检测效率的技术效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明发光二极管检测装置第一实施例的结构框图；

图2为本发明发光二极管检测装置第二实施例的结构框图；

图3为本发明发光二极管检测方法第一实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。本发明中的移动无特殊说明，没有方向的限制。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义为，包括三个并列的方案，以“A和/或B为例”，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

参照图1，图1为本发明发光二极管检测装置第一实施例的结构框图；所述发光二极管检测装置包括：采集部件10和控制芯片20；其中，

所述采集部件10，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；

所述控制芯片20，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。

需要说明的是，在对待检测发光二极管进行检测时，需要将待检测发光二极管置于检测空间内(例如，检测室)。在检测室中的待检测发光二极管被检测时，为保证采集部件采集到的待检测发光二极管发射的光信号中尽量不包括环境中的光信号，检测室应尽量密闭不透光。

另外，进一步的，所述待检测发光二极管包括多个；

所述采集部件10，还用于采集所述多个待检测发光二极管发射的多个光信号，并将所述多个光信号转换为多个电信号；

所述控制芯片20，还用于对所述多个电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可以理解的是，为了保证多个待检测发光二极管的检测结果准确率较高，多个待检测发光二极管的间隙应设置较大，避免多个待检测发光二极管发射的光信号互相产生干扰。

其中，一个待检测发光二极管的检测结果为待检测发光二极管合格或待检测发光二极管不合格，即，待检测发光二极管合格，待检测发光二极管的光信号亮度较高，满足标准亮度要求，待检测发光二极管不合格，待检测发光二极管的光信号亮度较低，不满足标准亮度要求。

本发明对待检测发光二极管进行检测时，是对待检测发光二极管发射的光信号的亮度进行检测，即，不同亮度的光信号对应不同的电信号。通常，待检测发光二极管发射光信号时，待检测发光二极管处于正常的工作状态，即待检测发光二极管的工作电压正常。当待检测发光二极管处于非正常的工作状态时，即便待检测发光二极管为合格的，但是其发射的光信号有可能亮度较低，使得获得的检测结果为待检测发光二极管不合格，此时检测结果准确率较低，所以，为了保证获得的检测结果较准确，对待检测发光二极管进行检测时，需要待检测发光二极管处于正常的工作状态。

另外，一个待检测发光二极管对应一个光信号，一个光信号对应一个采集部件转换后的电信号，一个电信号对应一个检测结果，该检测结果即为该待检测发光二极管的检测结果。所述多个待检测发光二极管的检测结果包括多个待检测发光二极管各自的检测结果。一个光信号可以是待检测发光二极管在一个预设时长内发射的光信号，该预设时长内的持续光信号即为一个光信号；预设时长可以是用户根据需求设定的，本发明不做限制。

通常，多个电信号均为电压信号，所述采集部件为环境光传感器，所述控制芯片为单片机(MCU)。

进一步的，参照图2，图2为本发明发光二极管检测装置第二实施例的结构框图；所述发光二极管检测装置还包括滤波部件30；

所述滤波部件30，用于对所述多个电信号进行滤波处理，以获得多个滤波电信号；

所述控制芯片10，还用于对所述多个滤波电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

需要说明的是，采集部件采集到的多个待检测发光二极管发射的多个光信号包括外界光信号的影响，从而使得采集部件获得的多个电信号包括外界光信号对应的杂质电信号，需要对多个电信号进行滤波处理，以获得滤波后的多个滤波电信号；一个电信号对应一个滤波后的滤波电信号。其中，滤波部件可以是滤波电路，滤波部件还可以是其他具有滤波功能的结构，本发明不做限制。

进一步的，所述控制芯片20，还用于对所述多个滤波电信号进行滤波处理，以获得多个结果电信号，并对所述多个结果电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

需要说明的是，控制芯片中集成有滤波程序，由滤波程序对多个滤波电信号进行进一步的滤波处理，以获得滤波后的多个结果电信号，一个滤波后的滤波电信号对应一个进一步滤波后的结果电信号，即，一个待检测发光二极管发射一个光信号，一个光信号对应一个电信号，一个电信号对应一个滤波电信号，一个滤波电信号对应一个结果电信号，控制芯片对该结果电信号进行检测，获得该待检测发光二极管的检测结果。

多个待检测发光二极管对应的多个结果电信号均经过两次滤波处理，多个结果电信号的准确率较高，进而使得所述多个待检测发光二极管的检测结果准确率较高。当多个待检测发光二极管对应的多个结果电信号均完成检测时，获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

进一步的，所述控制芯片20，还用于利用预设电信号对所述多个结果电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。

需要说明的是，本发明的多个电信号可以是多个电压信号，相应的，预设电信号可以是预设电压信号。在多个电信号均为电压信号时，预设电信号也是电压信号，即预设电信号为预设电压信号。预设电信号的具体值，可以是用户根据需求和实际的情况(待检测发光二极管的亮度标准)确定的，本发明不做限制。

合格的标准发光二极管发光时，发射标准亮度的标准光信号，标准光信号对应的电信号的值即为预设电信号。当一个待检测发光二极管对应的结果电信号与预设电信号不匹配(可以是小于预设电信号的值)时，该待检测发光二极管不合格；当一个待检测发光二极管对应的结果电信号与预设电信号匹配(可以是不小于预设电信号的值)时，该待检测发光二极管合格。

例如，预设电信号为预设电压信号A，控制芯片获得的待检测发光二极管对应的结果电压信号B，控制芯片将预设电压信号A与结果电压信号B进行比对，在控制芯片获得预设电压信号A大于结果电压信号B时，获得待检测发光二极管不合格的检测结果；在控制芯片获得预设电压信号A小于结果电压信号B时，获得待检测发光二极管合格的检测结果。

进一步的，参照图2，所述发光二极管检测装置还包括输出部件40；

所述控制芯片20，还用于在获得所述多个待检测发光二极管的检测结果之后，控制所述输出部件40输出与所述多个待检测发光二极管的检测结果对应的反馈信息。

可以理解的是，输出部件可以是显示器、指示灯或声音输出器等，本发明不做限制。

在待检测发光二极管的数量为多个时，输出部件输出多个待检测发光二极管的检测结果对应的反馈信息时，输出状态的反馈信息包括各个待检测发光二极管各自的检测结果对应的反馈信息。不同检测结果对应的反馈信息不同，即，待检测发光二极管的检测结果为待检测发光二极管合格时，控制芯片控制输出部件输出合格反馈信息，待检测发光二极管的检测结果为待检测发光二极管不合格时，控制芯片控制输出部件输出不合格反馈信息。

例如，待检测发光发二极管包括10个，1号-10号待检测发光二极管，输出部件为指示灯，其中，指示灯包括10个指示灯(指示灯发光红色代表对应的待检测发光二极管不合格，指示灯发光绿色代表对应的待检测发光二极管合格)，1号-10号指示灯分别对应1号-10号待检测发光发二极管(1号指示灯对应1号待检测发光二极管，2号指示灯对应2号待检测发光二极管，以此类推)。在控制芯片获得10个待检测发光二极管的检测结果时，控制10个指示灯输出10个待检测发光二极管的检测结果对应的反馈信息，其中，10个指示灯输出的反馈信息为：9号和10号指示灯发光红色，1号-8号指示灯发光绿色，则10个待检测发光二极管的检测结果为：1号-8号待检测发光二极管合格，9号和10号待检测发光二极管不合格。

进一步的，所述控制芯片20，还用于在获得所述多个待检测发光二极管的检测结果之后，将所述多个待检测发光二极管的检测结果发送至终端设备，以使所述终端设备存储所述多个待检测发光二极管的检测结果。

可以理解的是，终端设备可以是电脑、平板电脑或移动终端等，本发明不做限制，终端设备可以是任何形式的上位机，终端设备可以对多个待检测发光二极管的检测结果进行存储，以便于用户对多个待检测发光二极管的检测结果进行管理，例如，对多个待检测发光二极管的检测结果进行增删改查等。

本发明技术方案提出了一种发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；所述控制芯片，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。利用本发明的发光二极管检测装置，不需要测试员利用人眼观测待检测发光二极管的发光效果，来获得待检测发光二极管的检测结果，直接通过控制芯片基于采集部件获得的电信号，获得待检测发光二极管的检测结果，待检测发光二极管的检测速度快，检测效率较高，所以，本发明的发光二极管检测装置，达到了提高待检测发光二极管检测效率的技术效果。

另外，本发明发光二极管检测装置获得检测结果之后，终端设备可以对待检测发光二极管的检测结果进行存储，便于生产过程统计和分析。同时，本发明发光二极管检测装置只需要进行一次性投入，即可多次进行发光二极管的检测，检测的成本较低。

可以理解的是，现有的检测方法，测试员利用人眼观测待检测发光二极管的发光效果时，测试员会产生疲劳感，使得获得的检测结果的准确率较低；而本发明的发光二极管检测装置，不会产生疲劳感，进而使得获得的检测结果的准确率较高。另外，测试员在进行检测工作时，会带有主观性，检测结果会随测试员情绪变化而变化，使得检测结果的准确率较低，而本发明的发光二极管检测装置不具有情绪，不可能产生情绪波动，所以获得的检测结果更加客观可靠。测试员通过人眼观测时，人眼有物理条件的限制，精度无法得到保证，而且不同的测试员的标准也会存在差异；而本发明的发光二极管检测装置不受主观控制，只要发光二极管检测装置的参数设置没有差异，相同配置的多个发光二极管检测装置均能保持相同的检测精度。

参照图3，图3为本发明发光二极管检测方法第一实施例的流程示意图，方法应用于发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；所述方法包括以下步骤：

步骤S11：利用所述采集部件采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；

步骤S12：利用所述控制芯片对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。

参照上述描述，此处不再赘述。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。