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文献发布时间:2023-06-19 11:50:46


电子设备

本申请享受以日本专利申请2020-4280号(申请日:2020年1月15日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及电子设备。

背景技术

电子设备的布线基板因与环境中的物质反应而腐蚀。蠕变腐蚀是下述的现象:在金属布线暴露于高湿/含有硫化物(硫化氢、硫氧化物等)的气氛时,从金属布线的保护层薄的部位或者没有设置保护层的部位开始被腐蚀,由此腐蚀生成物以在布线基板的表面攀爬的方式扩展而形成。如果蠕变腐蚀进展(发展)下去,那么在电子设备中布线彼此经由腐蚀生成物而连接,由此有可能产生布线彼此短路而引起动作不良的腐蚀错误(error,故障)。

发明内容

本发明的实施方式提供一种在腐蚀错误产生前以高的灵敏度检测在布线基板产生了腐蚀这一情况的电子设备。

实施方式所涉及的电子设备具有:布线基板;第1布线图案,设置于所述布线基板上,具有在第1方向上延伸的第1布线部;第2布线图案,具有在所述第1方向上延伸的第2布线部;第1过孔,设置于所述第1布线部上;第2过孔,设置于所述第2布线部上;电源电路,隔着时间的间隔而向所述第1布线部施加第1电位;以及电流检测电路,在所述第2布线图案中流动有电流的情况下,输出第1信号。

附图说明

图1是表示第1实施方式所涉及的电子设备的构成的示意图。

图2是表示第1实施方式所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图3是对第1实施方式的腐蚀检查的方法进行说明的流程图。

图4是表示第1实施方式所涉及的布线的腐蚀进展了的腐蚀检测图案的示意图。

图5是表示第1实施方式的变形例1所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图6是表示第1实施方式的变形例2所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图7是表示第1实施方式的变形例3所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图8是表示第1实施方式的变形例4所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图9是表示第1实施方式的变形例5所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图10是表示第1实施方式的变形例6所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图11是表示第1实施方式的变形例7所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图12是表示第1实施方式的变形例8所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

图13是表示第1实施方式的变形例9所涉及的腐蚀检测图案的示意图。

具体实施方式

以下,一边参照图一边对本发明的实施方式进行说明。在实施例中的说明中所使用的图是为了使说明容易的示意性的图,图中的各要素的形状、尺寸、大小关系等在可得到本发明的效果的范围内能够适当变更。图所示的布线的弯曲部和/或布线彼此的交叉部设为具有直角的角的形状而进行记载,但也能够设为具有钝角的角和/或倒了圆角的曲线的角的形状。对于具有同样的性质、功能或特征的要素,使用相同附图标记,将说明省略。

[第1实施方式]

使用图1与图2,对第1实施方式所涉及的电子设备300的构成进行说明。图1是表示第1实施方式所涉及的电子设备300的构成的示意图。图2是表示第1实施方式所涉及的腐蚀检测图案200的示意图,是放大表示图1的一部分的图。

电子设备300具有布线基板100、电源电路110、电流检测电路120、警报电路130、存储器150。

布线基板100为例如印刷基板。在布线基板100上,设置有内部电路布线101、保护层102及腐蚀检测图案200。电子设备300具有壳体,在将布线基板100的一方的面安装于壳体的情况下,腐蚀检测图案200被设置于布线基板100的另一方的面上。将与布线基板100的另一方的面平行的1个方向设为X方向,将与另一方的面平行且与X方向正交的方向设为Y方向。

内部电路布线101是构成电子设备300的内部电路的多个布线,是例如使电子设备300动作的信号布线和/或电源供给线。内部电路布线101也可以是被输入差动信号的、互相平行地相邻的2条布线。另外,内部电路布线101也可以是被供给不同的电压和/或不同的信号的2条以上的布线。内部电路布线101的布线通过例如包含铜、银、镍等的金属箔而形成于布线基板100的表面。在金属箔的表面,能够设置金属镀层。在相邻的内部电路布线101彼此之间,至少空有宽度L1的间隔。在图1中,将平行延伸的2个布线间的距离表示为宽度L1。过孔20能够设置于内部电路布线101上。设置于相邻的2个内部电路布线101上的过孔20彼此按长度L2分离。当在内部电路布线101产生腐蚀、内部电路布线101彼此经由腐蚀生成物而短路时,产生电子设备300变得不能正常动作的腐蚀错误。

保护层102以覆盖内部电路布线101的方式设置于布线基板100上。即,内部电路布线101设置于布线基板100与保护层102之间。由此,保护层102保护内部电路布线101免受电子设备300内部的气氛的影响。内部电路布线101被从成为腐蚀的原因的气氛中的硫化物和/或水等物质隔绝,所以变得难以腐蚀。保护层102为例如设置于布线基板100的内部电路布线101上的绝缘性树脂材料,但并不限定于此。

腐蚀检测图案200为由与内部电路布线101相同的铜等金属箔形成的布线图案。腐蚀检测图案200具有第1布线图案201及第2布线图案202。第1布线图案201与电源电路110电连接。第2布线图案与电流检测电路120电连接。第1布线图案201及第2布线图案202互相分离地设置于布线基板100上。第1布线图案201与第2布线图案202,在由于腐蚀而短路时,即在经由腐蚀生成物而短路时,电导通。腐蚀检测图案200在布线基板100设置成从保护层102露出。

图1所示的电源电路110通过供给电源电位VDD的第1电源111、晶体管112和开始信号输出电路140实现。

开始信号输出电路140是每次预定时间T1以上的时间经过就输出开始信号由此控制腐蚀检查的定时的电路。开始信号输出电路140具有时间计测部141及开始信号生成部142。

时间计测部141是测定从上次的腐蚀检查起的经过时间T、判定是否经过了预定时间T1(T>T1)的电路。预定时间T1为例如1天、1周的时间。

开始信号生成部142是在时间计测部141判定为经过时间T超过了预定时间T1时生成开始信号并向晶体管112输出的电路。开始信号生成部142不但能够在经过时间T超过了预定时间T1的情况下,还能够在电子设备300的起动时等任意的定时输出开始信号。开始信号是以较短的时间宽度输出的脉冲信号。

电源电路110在被输出了开始信号时对第1布线图案201施加电源电位VDD,在没有被输出开始信号时对第1布线图案201施加基准电位GND。电源电路110通过向第1布线图案201施加电源电位VDD,而使得在第1布线图案201与第2布线图案202之间产生电压。在本说明书中,设为电源电位VDD比基准电位GND高而进行说明,但也可以设为比基准电位GND低。

第1电源111供给电源电位VDD。晶体管112将栅极电连接于开始信号输出电路140,将源极和漏极中的一方电连接于第1电源111供给的电源电位VDD,将另一方电连接于第1布线图案201。晶体管112在被从开始信号输出电路140输入了开始信号时导通,在没有被输入开始信号时截止。

再者,电源电路110只要是能够在与开始信号的输入相应的定时施加电源电位VDD的构成就可以,并不限定于图1的构成。在一例中,晶体管112的另一方能够经由电阻与基准电位连接。在其他的例子中,电源电路110也能够使用运算放大器实现。另外,在其他的例子中,电源电路110也可以是电连接于第1布线图案201与第2布线图案202双方、向各布线图案施加不同的电位的构成。

电流检测电路120,在向第1布线图案201与第2布线图案之间施加了电压时,检测在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动的电流,根据检测状态而输出电流检测信号。电流检测电路120具有例如电阻121、比较器122、第2电源123。

第2电源123供给比基准电位GND高电位的参照电位Vref。电阻121将一端电连接于第2布线图案202,将另一端电连接于基准电位GND。比较器122将一方的输入端子电连接于电阻121的一端,将另一方的输入端子电连接于第2电源123供给的参照电位Vref,将输出端子电连接于警报电路130。以后,将显现于电阻121的一端的电位表示为检查电位Vs。

第1布线图案201与第2布线图案202之间的电流通过电阻121而向基准电位流动。电阻121通过将在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动的电流转换为电压,而使检查电位Vs上升到比参照电位Vref高的值。比较器122对检查电位Vs与参照电位Vref进行比较,从输出端子输出表示是否在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动有电流的电流检测信号。如果在第1布线图案201(第1布线部11)与第2布线图案(第3布线部13)之间流动有电流,即如果检查电位Vs比参照电位Vref高,则比较器122输出高电位的电流检测信号。如果在第1布线图案201与第2布线图案202之间没有流动电流,即如果检查电位Vs比参照电位Vref低,则比较器122不输出电流检测信号。

再者,比较器122在检查电位Vs比参照电位Vref低时,能够输出低电位的电流检测信号。比较器122也可以使有无电流检测与所输出的电流检测信号的值的关系反转。即,也可以是:如果在第1布线图案201与第2布线图案202之间没有流动电流,则输出高电位的电流检测信号;如果在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动有电流,则输出低电位的电流检测信号。

警报电路130在被从电流检测电路120输入了电流检测信号的情况下,输出警报,向用户通知第1布线图案201与第2布线图案202之间产生了短路、即在电子设备300产生了腐蚀而处于会产生腐蚀错误的状态这一情况。警报电路130在没有被输入电流检测信号的情况下,不输出警报。

警报电路130具有例如灯和/或扬声器等警报显示单元131,通过改变警报显示单元131的点亮状态和/或声音输出状态,能够向用户直接通知在电子设备300产生了腐蚀这一情况。

在电子设备300被与附图未记载的外部设备连接的情况下,警报电路130能够具有显示命令生成电路132。显示命令生成电路132能够向外部设备发送使其显示对用户的警报的显示命令,经由外部设备向用户间接地通知在电子设备300产生了腐蚀这一情况。

记录器电路133是与存储器150连接、将表示被输入了电流检测信号这一情况的日志记录于存储器150的电路。用户通过查阅日志,能够确认在电子设备300产生了腐蚀、处于会产生腐蚀错误的状态这一情况。再者,警报电路130也可以经由显示命令生成电路132使记录于存储器150的日志显示于外部设备。

作为警报电路130的警报通知单元,能够使用以上说明的警报显示单元131、显示命令生成电路132、记录器电路133中的任一个,也能够与其他的单元组合而使用。

以上说明的电源电路110、电流检测电路120及警报电路130能够作为单芯片的集成电路而实现。

使用图2,对第1实施方式所涉及的腐蚀检测图案200的构成进行说明。图2是表示第1实施方式所涉及的腐蚀检测图案200的示意图。

腐蚀检测图案200被配置于容易与电子设备300内部的气氛接触的位置或容易与外气接触的位置,由此能够使腐蚀的检测灵敏度提高。或者,腐蚀检测图案200被设置于内部电路布线101的附近,由此能够以与内部电路布线101接近的条件使腐蚀产生。

第1布线图案201及第2布线图案202具有梳型的形状。第1布线图案201具有第1布线部11和多个第2布线部12。第2布线图案202具有第3布线部13和多个第4布线部14。

第1布线部11设置成在Y方向上延伸。第1布线部11与电源电路110电连接。

第3布线部13设置成在Y方向上延伸,并与第1布线对向。第3布线部13在X方向上与第1布线部11按长度L3分离。第3布线部13与电流检测电路120电连接。

第2布线部12所具有的端部中,将一方称为基端,将另一方称为前端。第2布线部12被设置成在Y方向上与相邻的第2布线部12按长度L4分离,基端被连接于第1布线部11。所谓相邻的布线部的距离,是指与一方的布线部的长度方向正交的方向上的、设置于相邻的布线部之间的间隔。第2布线部12在X方向上从与第1布线部11连接的位置向第3布线部13按长度L5延伸。在第2布线部12的前端侧,在X方向上按长度L6分离地设置有第3布线部13。在图2中,示出了设置有2条第2布线部12的例子,但也能够设置3条以上。

第4布线部14所具有的端部中,将一方称为基端,将另一方称为前端。第4布线部14被设置成在Y方向上与相邻的第4布线部14按长度L4分离,基端被连接于第3布线部13。第4布线部14在X方向上从与第3布线部13连接的位置向第1布线部11按长度L5延伸。在第4布线部14的前端侧,在X方向上按长度L6分离地设置有第1布线部11。在图2中,示出了设置有2条第4布线部14的例子,但也能够设置3条以上。

在第1实施方式中,在一方的布线图案的在相同方向上延伸的2个布线之间,设置有另一方的布线图案的一部分。即,在相邻的第2布线部12彼此之间,设置第4布线部14,在相邻的第4布线部14之间,设置第2布线部12。换言之,第2布线部12与第4布线部14在Y方向上交替设置。相邻的第2布线部12与第4布线部14在Y方向上按长度L7分离。长度L7为相邻的布线间的距离即间隙。长度L7为例如在布线基板100上规定了的最小导体间距离。

在第2布线部12上,设置过孔21。在第4布线部14上,设置过孔22。过孔21、22为例如贯通布线基板100的通孔。在过孔21、22的边缘部分与内壁部分,分别形成与第2布线部12及第4布线部14相同的金属箔。过孔21、22在第1实施例中,分别在第2布线部12及第4布线部14的前端部各设置1个,在Y方向上直线状地配置为1列。过孔21与过孔22按长度L8分离。长度L8满足0.5×L8≦L1的式子,长度L8的一半的值比长度L1小。长度L8满足L8≦L2的式子,比长度L2小。

使用图3,对检测电子设备300是否在布线基板100产生了腐蚀的腐蚀检查的次序进行说明。图3是对腐蚀检测的次序进行说明的流程图。

首先,在步骤S1中,开始信号输出电路140的时间计测部141所测定的经过时间T被设定为0。时间计测部141对经过时间T进行计测。

接下来,在步骤S2中,时间计测部141判定经过时间T是否超过了预定时间T1。在T>T1、经过时间T超过了预定时间T1的情况下(是),进入到步骤S3。在T<T1、经过时间T没有超过预定时间T1的情况下(否),返回到步骤S2的开始。

接下来,在步骤S3中,开始信号输出电路140向晶体管112的栅极输入开始信号。晶体管112通过被输入作为脉冲信号的开始信号而暂时导通,向第1布线图案201施加电源电位VDD。由此,在第1布线图案201与第2布线图案202之间产生电压。在第1布线图案201与第2布线图案202由于腐蚀而短路的情况下,电流在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动,该电流由电阻121转换为电压。此时,检查电位Vs上升。在第1布线图案201与第2布线图案202未短路的情况下,不在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动电流。此时,检查电位Vs成为与基准电位GND相等的值。

接下来,在步骤S4中,电流检测电路120判定是否在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动有电流。

电流检测电路120在检查电位Vs比参照电位Vref高的情况下,判定为在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动有电流(是)。如果在第1布线图案201与第2布线图案202之间流动有电流,则可知在腐蚀检测图案200产生由腐蚀引起的短路,在布线基板100产生了腐蚀。在步骤S4为“是”时,电流检测电路120从比较器122的输出端子输出电流检测信号,进入到步骤S5。

电流检测电路120在检查电位Vs比参照电位Vref低的情况下,判定为在第1布线部11与第3布线部13之间没有流动电流(否)。如果在第1布线图案201与第2布线图案202之间没有流动电流,则可知至少在腐蚀检测图案200没有产生因腐蚀引起的短路。在步骤S4为“否”时,电流检测电路120不从比较器122的输出端子输出电流检测信号,返回到步骤S1。

最后,在步骤S5中,被输入了电流检测信号的警报电路130输出警报。在图3所示的例子中,在步骤S5将腐蚀检查结束。通过在结束了步骤S5后返回到步骤S1或步骤S3,能够还继续进行腐蚀检查。再者,通过在结束了步骤S5后返回到步骤S1或步骤S3,能够还继续进行腐蚀检查。用户通过接收警报,能够得知在电子设备300产生了腐蚀。用户可以在腐蚀错误产生前将电子设备300安全地停止,也可以修理电子设备300。

在图3所示的例子中,在步骤S5中将腐蚀检查结束。再者,通过在结束了步骤S5后返回到步骤S1或步骤S3,能够还继续进行腐蚀检查。在步骤S4为“是”时,开始信号输出电路140通过输出开始信号而反复进行步骤S3与步骤S4,也可以在步骤S4中为预定次数的“是”时输出警报。

对电子设备300能够高精度检测因腐蚀引起的布线间的短路即腐蚀的产生这一情况,进行说明。

在布线基板100上的相邻的布线间产生了电压的情况下,引起下述现象:由于离子化了的金属在该相邻的布线间移动而产生短路的、被称为离子迁移(或电化学迁移)的现象。引起离子迁移的原因之一是长时间在相邻布线间产生电压。当在腐蚀检测图案200产生了离子迁移的情况下,即使未在布线基板100上产生腐蚀,也在第1布线图案201与第2布线图案之间流动电流,所以在腐蚀检查的结果方面会产生错误。

在第1实施方式中,每次预定时间经过,就从开始信号输出电路140输出开始信号,由此实施腐蚀检查。在第1布线图案201与第2布线图案之间,不是一直施加电压,而是每次预定时间经过就暂时地施加电压,所以难以产生离子迁移。在第1实施方式中,一边抑制离子迁移的产生一边实施腐蚀检查,所以能够高精度地仅检测由腐蚀引起的短路即腐蚀的产生。

图4是表示第1实施方式所涉及的腐蚀产生了的腐蚀检测图案200的示意图。在图4中,对从过孔21、22产生的腐蚀生成物,沿Y方向按顺序赋予104A、104B、104C、104D的附图标记。在布线基板100上,腐蚀生长的方向即从过孔21、22产生的腐蚀生成物104A、104B、104C、104D延伸的方向和/或形状不是固定的。

如图2及图4所示,在第2布线部12与第4布线部14的X方向前端侧及Y方向侧设置另一方的布线图案的布线。即,第2布线部12在X方向前端侧设置第3布线部13,在Y方向侧设置第4布线部14。第4布线部14在X方向前端侧设置第1布线部11,在Y方向侧设置第2布线部12。在例如腐蚀生成物104B那样在一方的布线图案上产生了腐蚀时,由于在腐蚀生长了的部位具有另一方的布线图案,所以产生腐蚀检测图案的短路。在第2布线部12及第4布线部14产生了腐蚀的情况下,不管腐蚀在Y方向上生长还是在X方向上向前端侧生长,都能够与另一方的布线图案接触。即,使用了腐蚀检测图案200的电子设备300成为了在第2布线部12及第4布线部14产生了腐蚀时、短路的产生难以受到腐蚀的生长方向的偏差的影响的形状,因腐蚀引起的短路的检测精度、即腐蚀产生的检测精度高。

这样,电子设备300通过抑制离子迁移的影响和腐蚀的生长方向的偏差的影响,能够高精度检测腐蚀的产生。

对腐蚀检测图案200比内部电路布线101容易产生腐蚀这一情况进行说明。腐蚀检查用于检测在腐蚀检测图案200产生的腐蚀引起的短路,所以如果在腐蚀检测图案200容易产生腐蚀,则腐蚀检查的腐蚀检测灵敏度提高。

内部电路布线101由保护层102覆盖,难以与气氛中所含的成为腐蚀的原因的物质(硫化物、水等)接触。另一方面,腐蚀检测图案200没有设置保护层102而向气氛露出,所以难以与气氛中所含的成为腐蚀的原因的物质接触。因此,腐蚀检测图案200比内部电路布线101容易产生腐蚀,腐蚀容易生长,所以容易发生因腐蚀引起的短路。

如图4所示,布线基板100的腐蚀容易从过孔21、22的内壁和/或开口部的边缘产生及生长。这可以认为:微粒容易附着于过孔21、22、微粒容易成为核而形成成为腐蚀产生的原因的水滴(结露),是原因之一。第2布线部12及第4布线部14不但腐蚀检测的精度高,而且由于具有过孔21、22所以容易产生腐蚀。

再者,第2布线部12及第4布线部14不仅设置过孔21、22,还通过增加设置于腐蚀检测图案200的数量和/或增长第2布线部12及第4布线部14的X方向的长度L5,能够提高腐蚀产生的可能性。

这样,在从保护层102露出并设置有过孔21、22的腐蚀检测图案200容易产生腐蚀,所以电子设备300能够高灵敏度地检测产生了腐蚀。

对腐蚀检测图案200在产生了腐蚀时在比内部电路布线101早的定时(腐蚀错误产生前)短路这一情况,进行说明。腐蚀检测图案200较早短路,由此电子设备300能够在腐蚀错误产生前高灵敏度地检测腐蚀。

相邻的布线间的短路也会由于在第1布线图案201产生的腐蚀生成物与在第2布线图案202产生的腐蚀生成物接触而产生。在图4中,腐蚀生成物104C与腐蚀生成物104D接触,产生了布线图案间的短路。

在第1实施方式中,过孔21与过孔22互相隔着长度L8的间隔,在Y方向上直线状排列设置。过孔21与过孔22通过在Y方向上直线状排列设置,而互相接近。腐蚀检测图案200中,在相邻的2个过孔21、22的边缘产生的2个腐蚀生成物最短合计生长为长度L8的量(平均每1个腐蚀生成物为0.5×L8的量)时,两布线图案间就能够短路。

设为内部电路布线101的过孔20与腐蚀检测图案200的过孔21、22这两方中在相同定时产生腐蚀。此时,在腐蚀检查中,需要:在从设置于某内部电路布线101上的过孔20产生的腐蚀与相邻的内部电路布线101接触之前(腐蚀错误产生之前),在腐蚀检查图案产生因腐蚀引起的短路。即,需要:在产生于内部电路布线101的过孔20的腐蚀生成物向相邻的内部电路布线101的方向生长长度L1之前,产生于腐蚀检测图案200的过孔21、22的腐蚀生成物分别至少生长0.5×L8。如果设布线基板100上的腐蚀的生长速度是一定的,则通过满足最低限0.5×L8≦L1,能够在腐蚀错误产生之前检测腐蚀。

也可能从设置于相邻的内部电路布线101的2个过孔20产生的腐蚀生成物彼此接触。需要:在腐蚀生成物从设置于相邻的内部电路布线101上的2个过孔20分别最短生长0.5×L2之前,腐蚀检测图案103的过孔21、22的腐蚀生成物分别最短生长0.5×L8。即,通过满足最低限L8≦L2,能够在腐蚀错误产生之前检测腐蚀。

通过使第1布线图案201与第2布线图案202的间隔(长度L6或长度7)比相邻的内部电路布线101彼此的间隔(长度L1)小,腐蚀检测图案200变得比内部电路布线101容易产生因腐蚀引起的布线间的短路。

再者,通过将长度L6、L7与长度L1设为相同长度,能够使由腐蚀检测图案200检测腐蚀的定时接近会比内部电路布线101早产生短路的定时。或者,通过在满足0.5×L8≦L1且L8≦L2的范围内将长度L6、L7设为比长度L1大的值,能够调整腐蚀的检测灵敏度和/或定时。

这样,电子设备300中,腐蚀检测图案200的布线图案彼此的距离或者过孔彼此的距离比内部电路布线101的近,所以能够在比内部电路布线101早的定时短路。

如以上说明那样,第1实施方式的电子设备300具有:具备设置有过孔21、22且容易产生腐蚀的第1布线图案201及第2布线图案202的腐蚀检测图案200。电子设备300,每当预定时间经过,就向第1布线图案201与第2布线图案202之间施加电压,判定是否在两布线图案间流动有电流,由此能够检测产生了因腐蚀引起的短路。电子设备300通过进行离子迁移的抑制和抑制腐蚀的生长方向的影响,能够高精度检测腐蚀引起的短路。腐蚀检测图案200从保护层102露出,并具有过孔20、21,所以比内部电路布线101容易产生腐蚀,容易产生短路。因此,电子设备300能够在腐蚀错误产生之前检测腐蚀。电子设备300,在检测到腐蚀检测图案200中的短路时,警报电路130输出警报,由此能够向用户通知在电子设备300内部产生了腐蚀。

通过第1实施方式,能够提供:经由因腐蚀引起的短路的检测,能够在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测在布线基板产生了腐蚀这一情况的电子设备。

在对电子设备300安装腐蚀检查功能的情况下,根据电子设备300的构成,能够设置腐蚀检测图案200的空间的形状和/或面积受到限制。腐蚀检测图案200的形状能够根据实际安装空间而变形,能够通过使其变形而调整腐蚀的检测灵敏度。

之后,一边分别参照附图一边对腐蚀检测图案的形状和/或构成与第1实施方式不同的第1实施方式的变形例进行说明。对与第1实施方式同样的构成,赋予相同附图标记,将说明省略。再者,为了作图的方便,各附图的纵横比例不一定一致。

[变形例1]

图5是表示变形例1所涉及的电子设备310的腐蚀检测图案210的示意图。变形例1的腐蚀检测图案210在过孔21、22被分别设置于第2布线部12及第4布线部14的前端与基端之间这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

通过使用变形例1的腐蚀检测图案210,与第1实施方式同样,能够提供在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀的电子设备310。

[变形例2]

图6是表示变形例2所涉及的电子设备320的腐蚀检测图案220的示意图。变形例2的腐蚀检测图案220在第2布线部12的过孔21与第4布线部14的过孔22被设置成交错状这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

第2布线部12的过孔21在Y方向上排列。第4布线部14的过孔22在X方向上从第2布线部12的过孔20离开的位置,在Y方向上排列。在图6中,示出第2布线部12的过孔21位于比第4布线部14的过孔22靠第1布线部11侧处的例子,但第2布线部12的过孔21也可以位于比第4布线部14的过孔22靠第3布线部13侧处。腐蚀检测图案220将过孔21、22配置成交错状,所以通过变更过孔21、22所设置的X方向的位置,能够调整过孔21、22的间隔即长度L8。即,腐蚀检测图案220在调整长度L8的大小时,不需要变更布线间的宽度。

因此,通过使用变形例2的腐蚀检测图案220,能够不变更腐蚀检测图案220的安装所需要的空间地调整腐蚀的检测灵敏度,与第1实施方式同样,能够提供在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀的电子设备320。

[变形例3]

图7是表示变形例3所涉及的电子设备330的腐蚀检测图案230的示意图。变形例3的腐蚀检测图案230,在第2布线部12与第4布线部14在X方向上分离且另一方的布线位于一方的布线的前端侧这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

变形例3的第2布线部12与第4布线部14在X方向上延伸,互相的前端对向。第2布线部12的过孔21与第4布线部14的过孔22在X方向上排列。腐蚀检测图案230通过调整第2布线部12与第4布线部14的X方向的间隔,能够调整相邻的过孔20彼此的间隔即长度L8。

通过使用变形例3的腐蚀检测图案230,与第1实施方式同样,能够提供在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀的电子设备330。

[变形例4]

图8是表示变形例4所涉及的电子设备340的腐蚀检测图案240的示意图。变形例4的腐蚀检测图案240,在第2布线部12与第4布线部14在X方向上分离这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

变形例4的第2布线部12在X方向上延伸,第3布线部13位于前端侧。第2布线部12的过孔20在Y方向上排列。第4布线部14在X方向上延伸,第1布线部11位于前端侧。第4布线部14的过孔20在Y方向上排列。如图8所示,腐蚀检测图案240将过孔21、22配置成交错状。腐蚀检测图案240通过变更过孔21、22所设置的X方向的位置、通过变更第2布线部12与第4布线部14的X方向及Y方向的距离,都能够调整过孔21、22的距离即长度L8。

通过使用变形例4的腐蚀检测图案240,能够调整腐蚀的检测灵敏度,与第1实施方式同样,能够提供在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀的电子设备340。

[变形例5]

图9是表示变形例5所涉及的电子设备350的腐蚀检测图案250的示意图。变形例5的腐蚀检测图案250,在第1布线部11设置有过孔23并在第3布线部13设置有过孔24这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

在图9中,示出过孔23、24在Y方向上被分别设置于与过孔21、22相同的位置的例子,但也可以分别设置于与过孔21、22不同的位置。在变形例5中,设置有过孔23、24,所以从过孔21、22产生的腐蚀不仅在Y方向上生长时、在X方向上生长时也会与从另一方的布线图案的过孔产生的腐蚀生成物接触而短路。

通过使用变形例5的腐蚀检测图案250,能够提供如下的电子设备350:能够在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀,减小腐蚀的生长方向给腐蚀生成物彼此接触的短路的产生带来的影响,能够使腐蚀的检测精度提高。

[变形例6]

图10是表示变形例6所涉及的电子设备360的腐蚀检测图案260的示意图。变形例6的腐蚀检测图案260,在第2布线部12设置有多个过孔21并在第4布线部14设置有多个过孔22且过孔21、22在Y方向上成直线状的多列地排列这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

在变形例6中,与第1实施方式比较,过孔21、22的数量增加,所以能够不增加第2布线部12及第4布线部14地提高腐蚀产生的可能性。通过使用变形例6的腐蚀检测图案260,能够提供下述的电子设备360:能够在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀,能够不增大腐蚀检测图案260的安装所需要的空间地使腐蚀的检测灵敏度提高。

[变形例7]

图11是表示变形例7所涉及的电子设备370的腐蚀检测图案270的示意图。变形例7的腐蚀检测图案270,在第2布线部12设置有多个过孔21并在第4布线部14设置有多个过孔22且过孔21、22交错状成多个列地排列这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

在变形例7中,与第1实施方式比较,相对于第2布线部12及第4布线部14的数量而言所设置的过孔21、22的数量增加。因此,能够不增加第2布线部12及第4布线部14地提高腐蚀产生的可能性。通过使用变形例7的腐蚀检测图案270,能够提供下述的电子设备370:能够在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀,且能够不增大腐蚀检测图案270的安装所需要的空间地使腐蚀的检测灵敏度提高。

[变形例8]

图12是表示变形例8所涉及的电子设备380的腐蚀检测图案280的示意图。变形例8的腐蚀检测图案280,在没有设置第1布线部11与第3布线部13而由1个第2布线部12和1个第4布线部14构成这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同。

变形例4的第2布线部12与第4布线部14在Y方向上隔着长度L7的间隔地在X方向上延伸。过孔21与过孔22被设置成隔着长度L8的距离。腐蚀检测图案280没有设置第1布线部11与第3布线部13,由此与第1实施方式的腐蚀检测图案200比较,能够减小安装所需要的Y方向的宽度。通过使用变形例8的腐蚀检测图案280,能够提供下述的电子设备380:能够在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测腐蚀,能够以比第1实施方式小的空间安装腐蚀检查功能。

[变形例9]

图13是表示变形例9所涉及的电子设备390的腐蚀检测图案290的示意图。变形例9的腐蚀检测图案290在为下述的形状这一点,与第1实施方式的腐蚀检测图案200不同:第1布线图案291和第2布线图案292彼此的布线图案隔着长度L9的间隔地设置,以随着回旋而从中心远离的方式形成涡旋。

第1布线图案291具有各自的端部按记载的顺序被连接了的第5布线部15A、15B、15C、15D、15E。第5布线部15E为第1布线图案291的基端,被与未图示的电源电路110连接。第1布线图案291被设置成,形成将第5布线部15A的端部作为中心的涡旋,第5布线部15A、15C、15E在Y方向上延伸,第5布线部15B、15D在X方向上延伸。第1布线图案291具有多个过孔25。

第2布线图案292具有各自的端部按记载的顺序被连接了的第6布线部16A、16B、16C、16D、16E。第6布线部16E为第2布线图案292的基端,被与未图示的电流检测电路120连接。第2布线图案292被设置成,形成将第6布线部16A的端部作为中心的涡旋,第6布线部16A、16C、16E在Y方向上延伸,第6布线部16B、16D在X方向上延伸。第1布线图案291具有与过孔25按长度L8分离地设置的多个过孔26。

第5布线部15E、第6布线部16C、第5布线部15A、第6布线部16A、第5布线部15C、第6布线部16E在X方向上按记载的顺序互相隔开长度L9的间隔地设置。第6布线部16D、第5布线部15B及第6布线部16A在Y方向上按记载的顺序互相隔开长度L9的间隔地设置。第5布线部15D、第6布线部16B及第5布线部15A在Y方向上按记载的顺序互相隔开长度L9的间隔地设置。

变形例9的第1布线图案291和第2布线图案292,与第1实施方式的第2布线部12和第4布线部14同样,互相的布线隔开预定的间隔地设置。进而,变形例9的第1布线图案291和第2布线图案292,与第1实施方式同样,具有位于另一方的布线图案的在相同方向上延伸的2个布线之间的布线(第5布线部15A、15B、15C及第6布线部16A、16B、16C)。例如,第1布线图案291具有:位于第2布线图案292所具有的在方向(X方向)上延伸的第6布线部16A、16E之间的第5布线部15C。

在第5布线部15A、15B、15C及第6布线部16A、16B、16C产生腐蚀时,不管腐蚀在哪个方向上生长都能够与另一方的布线图案具有的布线接触而短路。另外,过孔25、26的距离与第1实施方式的过孔21、22的距离相同,为长度L8。因此,即使使用变形例9,也在腐蚀错误产生之前,产生因从各过孔25、26产生的腐蚀生成物彼此的接触引起的短路。

再者,在图13中示出了第1布线图案291与第2布线图案292由在X方向与Y方向上延伸的多个布线构成的例子,但并不限定于此。能够设为下述的构成:第1布线图案291与第2布线图案292具有例如形成涡旋的曲线形状的布线,该布线的一部分位于另一方的布线图案的2个部分之间。第1布线图案291与第2布线图案292形成涡旋的朝向可以是随着按顺时针回旋而从中心远离的朝向,也可以是随着按逆时针回旋而从中心远离的朝向。

电子设备通过使用腐蚀检测图案290,与使用了腐蚀检测图案200的情况同样,与第1实施方式同样,能够提供能够在短路错误产生之前以较高的精度和较高的灵敏度检测腐蚀的电子设备390。

在第1实施方式及变形例1至变形例9中,对第1布线图案与第2布线图案具有的各种布线沿着X方向或与X方向正交的Y方向设置的情况进行了说明,但也能够在X方向和Y方向所成的平面上沿着相互交叉的2个以上的方向设置。

在第1实施方式及变形例1至变形例9中,对保护层102未设置于腐蚀检测图案上的情况进行了说明,但也能够通过设置于腐蚀检测图案具有的布线的一部分或全部上而以与内部电路布线101接近的条件实施腐蚀检查。

金是难以与硫反应、难以腐蚀的金属种类,所以通过在布线的金属箔表面实施镀金,能够得到与保护布线不受腐蚀的原因物质的影响的保护层同样的效果。在第1实施方式及变形例1至变形例9中,在内部电路布线上,能够设置绝缘性树脂材料的保护层102与镀金双方。在内部电路布线上设置绝缘性树脂材料与镀金双方的情况下,能够在腐蚀检测图案上不设置绝缘性树脂材料与镀金这两方,或者能够在腐蚀检测图案上设置绝缘性树脂材料与镀金中的一方。

在第1实施方式及变形例1至变形例9中,开始信号输出电路140也可以不必由时间计测部141与开始信号生成部142实现。开始信号输出电路140能够具有例如振荡器和被输入振荡器的输出的计数器,每当计数器值成为预定的值时输出开始信号。即,开始信号输出电路140不是必须判定经过时间。另外,只要开始信号输出电路140隔着间隔地输出开始信号,则输出开始信号的间隔也可以不是一定的。进而,开始信号输出电路140不必是电源电路110具有的专用的电路。例如,为了开始信号输出电路140隔着间隔地输出开始信号,能够使用电子设备300具有的计数器电路、时刻测定电路、时钟信号输出电路等实现该电路的一部分或者全部。

如以上说明那样,根据第1实施方式及变形例1~变形例9,电子设备具备:具有设置有过孔、容易产生腐蚀的第1布线图案及第2布线图案的腐蚀检测图案。电子设备每当预定时间经过,就向第1布线图案与第2布线图案之间施加电压,判定是否在两布线图案间流动有电流,由此能够检测产生了因腐蚀引起的短路这一情况。根据第1实施方式及变形例1~变形例9,能够提供经由因腐蚀引起的短路的检测、能够在腐蚀错误产生之前以较高的灵敏度检测在布线基板产生了腐蚀这一情况的电子设备。

相关技术
  • 电子设备、外部电子设备及包括电子设备和外部电子设备的系统
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