芯片检测夹具及芯片检测工装

技术领域

本申请涉及芯片检测技术领域，更具体地说，涉及芯片检测夹具及芯片检测工装。

背景技术

目前，对于半导体激光芯片的目检方式是采用在方形条上设置黏性贴纸，然后再使用镊子将半导体激光芯片从运输盒中夹取放置于方形条上，通过黏性贴纸将半导体激光芯片固定在方形条上，通过手动翻动方形条来目检半导体激光芯片两侧端面。

现有技术公开号为CN215574681U的文献提供一种芯片检测夹具及芯片检测工装，该装置通过壳体、盖板和第一槽体的设置，可以将芯片放在第一槽体的内部，然后使用盖板固定，从第一槽体中设置的观测部对芯片的两侧端面进行目检。

上述中的现有技术方案虽然实现了对芯片夹持固定及目检，但是其通过手动的方式将盖板盖在壳体上面，使得盖板和壳体之间存在较大的缝隙，转动目检时芯片会产生晃动，从而对目检造成影响，进而导致目检结果不准确。

鉴于此，我们提出芯片检测夹具及芯片检测工装。

发明内容

为了克服现有技术存在的一系列缺陷，本专利的目的在于针对上述问题，提供芯片检测夹具及芯片检测工装，包括：

检测放置箱1，所述检测放置箱1用于放置芯片主体105以便于进行目检；

固定机构，所述固定机构用于对芯片主体105进行限位，防止目检时芯片主体105晃动，所述固定机构设置于检测放置箱1的内部和一侧，所述固定机构包括马达A4和两个螺杆403，所述螺杆403的外侧螺纹连接有移动块404，两个所述移动块404的上端转动有同一个锁紧盖板6；

两个所述螺杆403的前端均套接有皮带轮A401，两个所述皮带轮A401对称设置于马达A4的左右两侧，所述马达A4的输出端套接有皮带轮C，两个所述皮带轮A401均通过同步带A402与皮带轮C摩擦传动配合；

推动连杆602，所述推动连杆602用于实现锁紧盖板6和检测放置箱1的连接，使锁紧盖板6可以稳定盖合在检测放置箱1的顶端达到固定效果，所述锁紧盖板6的两侧均开设有滑槽603，所述推动连杆602的一端均滑动限位于相对应的滑槽603中，所述推动连杆602的另一端转动设置于检测放置箱1的两侧；

所述锁紧盖板6的一侧开设有可视槽口701，所述检测放置箱1的顶端对应可视槽口701的位置开设有芯片放置槽102，所述芯片放置槽102的内侧对称设置有扣槽104，所述检测放置箱1的两侧对称开设有观察槽口103。

上述技术方案中，将芯片主体105放在芯片放置槽102时，在扣槽104的配合作用下，夹持芯片主体105的工具可以很便捷地进出芯片放置槽102；在马达A4、皮带轮A401、皮带轮C螺杆403以及同步带A402的配合下，移动块404带动锁紧盖板6的一侧开始前进，锁紧盖板6开始倾斜，同时推动连杆602的一端会在滑槽603的内侧向下滑动，直到锁紧盖板6完全盖在检测放置箱1的顶端，即可完成对芯片主体105的初步夹持固定：而设置的可视槽口701不仅便于观察芯片主体105的固定状态，也便于对芯片主体105的两侧端面进行目检。

进一步的，所述检测放置箱1的前端均固定设置有马达托架106，所述马达A4固定设置于马达托架106的顶端，所述螺杆403转动设置于检测放置箱1内部相互远离的一侧，所述移动块404滑动设置于检测放置箱1的内部两侧。

上述技术方案中，马达托架106可以使马达A4更好的使用。

进一步的，所述检测放置箱1的顶端一侧开设有开合孔101，所述开合孔101的内部设置有紧固机构2，所述检测放置箱1的底端一侧转动设置有承载板5。

上述技术方案中，开合孔101的开设是便于卡锁柱207的插入，从而固定锁紧盖板6和检测放置箱1；而设置的承载板5是便于将多个检测放置箱1固定起来，且便于紧固机构2的使用。

进一步的，所述紧固机构2包括固定垫201，所述固定垫201的中间内侧滑动设置有螺柱204，所述固定垫201的顶端固定设置有弹簧202，所述弹簧202的另一端固定设置有紧固套环203，所述螺柱204螺纹连接于紧固套环203的底端内侧，所述螺柱204的一端滑动设置有顶升杆205，所述螺柱204一端外侧对称转动设置有紧固支脚206，所述紧固支脚206通过连杆转动设置于顶升杆205的外侧。

通过采用上述技术方案，紧固机构2与卡锁柱207配合使用，用于将锁紧盖板6固定在检测放置箱1的顶端以保证目检效果。

进一步的，所述固定垫201固定设置于承载板5的顶端，所述紧固套环203转动设置于检测放置箱1的底端一侧。

通过采用上述技术方案，便于紧固机构2的使用。

进一步的，所述卡锁柱207的一端内侧开设有锁槽208，所述锁槽208设置为倒T字形，所述卡锁柱207设置为T字形。

上述技术方案中，将卡锁柱207设置为T字形便于将锁紧盖板6固定在检测放置箱1的顶端。

进一步的，所述检测放置箱1和马达托架106相互远离的一侧转动设置有底部架3，所述底部架3的一侧设置有马达B301，所述马达B301的驱动端固定设置有皮带轮B302，所述检测放置箱1和马达托架106均设置有多个，所述马达托架106的一侧均固定设置有皮带轮B302，所述皮带轮B302之间通过同步带B303传动连接。

进一步的，位于最左侧或者最右侧的所述锁紧盖板6底端均开设有插孔601，所述插孔601的内侧可插接卡锁柱207配合固定；距离最远的两个锁紧盖板6一侧均固定设置有定位柱604，所述锁紧盖板6的一侧活动放置有记位盖板7，所述记位盖板7的一侧开设有可视槽口701，所述可视槽口701与芯片放置槽102一一对应设置，所述记位盖板7对应定位柱604的位置开设有扣合孔。

上述技术方案中，若是目检中有芯片主体105不合格，则将检测放置箱1转动回到原位，将记位盖板7通过扣合孔和定位柱604安装在锁紧盖板6的顶端，然后使用马克笔在可视槽口701的周围进行标记，用于记录不合格的芯片主体105，接着目检结束后，根据可视槽口701周围的标记将不合格芯片主体105拿出即可。

上述技术方案中，启动马达B301，马达B301驱动端的皮带轮B302就能通过同步带B303带动其他的皮带轮B302转动，从而带动每个检测放置箱1同步转动，实现了芯片主体105的批量目检。

进一步的，所述马达B301固定设置于底部架3的一侧，所述马达托架106与皮带轮B302之间通过联动杆固定连接，所述联动杆贯穿转动设置于底部架3的一侧内部。

上述技术方案中，联动杆的设置是便于皮带轮B302的转动带动马达托架106转动，从而带动检测放置箱1进行转动，达到合适目检的最好角度。

本发明目的还在于提供一种芯片检测夹具及芯片检测工装的使用方法，包括以下步骤：

通过工具夹持芯片主体105放入芯片放置槽102中；

启动马达A4，皮带轮C通过同步带A402带动相对应的皮带轮A401转动，皮带轮A401的转动带动移动块404移动，从而带动锁紧盖板6的一侧开始前进，锁紧盖板6慢慢倾斜，同时推动连杆602的一端会在滑槽603的内侧向下滑动，直到锁紧盖板6完全盖在检测放置箱1的顶端，此时定位柱604就会朝上；

将卡锁柱207插入开合孔101中，转动紧固套环203带动螺柱204升起，紧固支脚206向外展开并卡在锁槽208的内侧，从而固定卡锁柱207，进而将锁紧盖板6固定在检测放置箱1的顶端；

启动马达B301，皮带轮B302通过同步带B303开始转动，检测放置箱1转动90°以使观察槽口103朝上以进行目检；

继续将检测放置箱1朝着另外一个方向旋转90°，从另一个观察槽口103观察芯片主体105；

进行目检时，若是有不合格的芯片主体105，则将检测放置箱1恢复原位，然后将记位盖板7通过扣合孔和定位柱604安装，使用记号笔在相应可视槽口701位置周围记录，然后将其取下即可。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本申请中，采用固定机构驱动锁紧盖板，使锁紧盖板盖合在检测放置箱的顶端，使锁紧盖板在固定时更加稳定，锁紧盖板与检测放置箱之间也不会存在较大的缝隙，有效避免了芯片本体因检测放置箱转动而晃动偏离位置；

附图说明

图1为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装的整体结构示意图；

图2为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装的左右轴测整体结构示意图；

图3为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装中部分固定机构以及检测放置箱和承载板的拆分结构示意图；

图4为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装中紧固机构的整体结构示意图；

图5为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装中卡锁柱的剖视结构示意图；

图6为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装中记位盖板的整体结构示意图；

图7为本申请优选实施例公开的芯片检测夹具及芯片检测工装中检测放置箱和部分固定机构的拆分结构示意图。

图中附图标记为：

1、检测放置箱；101、开合孔；102、芯片放置槽；103、观察槽口；104、扣槽；105、芯片主体；106、马达托架；

2、紧固机构；201、固定垫；202、弹簧；203、紧固套环；204、螺柱；205、顶升杆；206、紧固支脚；207、卡锁柱；208、锁槽；

3、底部架；301、马达B；302、皮带轮B；303、同步带B；

4、马达A；401、皮带轮A；402、同步带A；403、螺杆；404、移动块；

5、承载板；

6、锁紧盖板；601、插孔；602、推动连杆；603、滑槽；604、定位柱；

7、记位盖板；701、可视槽口。

具体实施方式

为使本发明实施的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行更加详细的描述。在附图中，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下面通过参考附图描述的实施例以及方位性的词语均是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的一个宽泛实施例中，芯片检测夹具及芯片检测工装，包括底部架3，所述底部架3的后侧内壁转动连接有多个检测放置箱1，所述检测放置箱1用于放置芯片主体105以便于进行目检；所述检测放置箱1上均安装有固定机构以实现对芯片主体105的限位，防止芯片主体105晃动。

优选的，所述固定机构包括马达A4和两个螺杆403，所述螺杆403的外侧螺纹连接有移动块404，两个所述移动块404的上端转动有同一个锁紧盖板6，所述推动连杆602用于实现锁紧盖板6和检测放置箱1的连接，使锁紧盖板6可以稳定盖合在检测放置箱1的顶端达到固定效果；两个所述螺杆403的前端均套接有皮带轮A401，两个所述皮带轮A401对称设置于马达A4的左右两侧，所述马达A4的输出端套接有皮带轮C，两个所述皮带轮A401均通过同步带A402与皮带轮C摩擦传动配合。

优选的，所述锁紧盖板6的两侧均开设有滑槽603，所述推动连杆602的一端均滑动限位于相对应的滑槽603中，所述推动连杆602的另一端转动设置于检测放置箱1的两侧。

优选的，所述检测放置箱1的前端均固定连接有马达托架106，所述马达A4固定设置于马达托架106的顶端，所述螺杆403转动设置于检测放置箱1内部相互远离的一侧，所述移动块404滑动设置于检测放置箱1的内部两侧。

优选的，所述检测放置箱1的顶端一侧开设有开合孔101，所述开合孔101的内部设置有紧固机构2，所述检测放置箱1的底端一侧转动设置有承载板5。

优选的，所述锁紧盖板6的一侧开设有可视槽口701，所述检测放置箱1的顶端对应可视槽口701的位置开设有芯片放置槽102，所述芯片放置槽102的内侧对称设置有扣槽104，所述检测放置箱1的两侧对称开设有观察槽口103。

优选的，所述紧固机构2包括固定垫201，所述固定垫201的中间内侧滑动设置有螺柱204，所述固定垫201的顶端固定设置有弹簧202，所述弹簧202的另一端固定设置有紧固套环203，所述螺柱204螺纹连接于紧固套环203的底端内侧，所述螺柱204的一端滑动设置有顶升杆205，所述螺柱204一端外侧对称转动设置有紧固支脚206，所述紧固支脚206通过连杆转动设置于顶升杆205的外侧。

优选的，所述固定垫201固定设置于承载板5的顶端，所述紧固套环203转动设置于检测放置箱1的底端一侧。

优选的，所述卡锁柱207的一端内侧开设有锁槽208，所述锁槽208设置为倒T字形，所述卡锁柱207设置为T字形。

优选的，位于最左侧或者最右侧的所述锁紧盖板6底端均开设有插孔601，所述插孔601的内侧可插接卡锁柱207配合固定；距离最远的两个锁紧盖板6一侧均固定设置有定位柱604，所述锁紧盖板6的一侧活动放置有记位盖板7，所述记位盖板7的一侧开设有可视槽口701，所述可视槽口701与芯片放置槽102一一对应设置，所述记位盖板7对应定位柱604的位置开设有扣合孔。

优选的，所述底部架3的一侧设置有马达B301，所述马达B301的驱动端固定设置有皮带轮B302，所述皮带轮B302之间通过同步带B303传动连接，所述马达托架106与皮带轮B302之间通过联动杆固定连接，所述联动杆贯穿转动设置于底部架3的一侧内部。

本发明目的还在于提供一种芯片检测夹具及芯片检测工装的使用方法，包括以下步骤：

通过工具夹持芯片主体105放入芯片放置槽102中；

启动马达A4，皮带轮C通过同步带A402带动相对应的皮带轮A401转动，皮带轮A401的转动带动移动块404移动，从而带动锁紧盖板6的一侧开始前进，锁紧盖板6慢慢倾斜，同时推动连杆602的一端会在滑槽603的内侧向下滑动，直到锁紧盖板6完全盖在检测放置箱1的顶端，此时定位柱604就会朝上；

将卡锁柱207插入开合孔101中，转动紧固套环203带动螺柱204升起，紧固支脚206向外展开并卡在锁槽208的内侧，从而固定卡锁柱207，进而将锁紧盖板6固定在检测放置箱1的顶端；

启动马达B301，皮带轮B302通过同步带B303开始转动，检测放置箱1转动90°以使观察槽口103朝上以进行目检；

继续将检测放置箱1朝着另外一个方向旋转90°，从另一个观察槽口103观察芯片主体105；

进行目检时，若是有不合格的芯片主体105，则将检测放置箱1恢复原位，然后将记位盖板7通过扣合孔和定位柱604安装，使用记号笔在相应可视槽口701位置周围记录，然后将其取下即可。

下面结合附图，列举本发明的优选实施例，对本发明作进一步的详细说明。

参照图1和图3，本申请实施例公开芯片检测夹具及芯片检测工装，包括：

检测放置箱1，检测放置箱1用于放置芯片主体105以便于进行目检；

固定机构，固定机构用于对芯片主体105进行限位，防止目检时芯片主体105晃动，固定机构设置于检测放置箱1的内部和一侧，固定机构包括马达A4和两个螺杆403，螺杆403的外侧螺纹连接有移动块404，两个移动块404的上端转动有同一个锁紧盖板6；两个螺杆403的前端均套接有皮带轮A401，两个皮带轮A401对称设置于马达A4的左右两侧，马达A4的输出端套接有皮带轮C，两个皮带轮A401均通过同步带A402与皮带轮C摩擦传动配合；

推动连杆602，推动连杆602用于实现锁紧盖板6和检测放置箱1的连接，使锁紧盖板6可以稳定盖在检测放置箱1的顶端达到固定效果，锁紧盖板6的两侧均开设有滑槽603，推动连杆602的一端均滑动限位于滑槽603的内侧，推动连杆602的另一端转动设置于检测放置箱1的两侧；

锁紧盖板6的一侧开设有可视槽口701，检测放置箱1的顶端对应可视槽口701的位置开设有芯片放置槽102，芯片放置槽102的内侧对称设置有扣槽104，检测放置箱1的两侧对称开设有观察槽口103，卡锁柱207的一端内侧开设有锁槽208，锁槽208设置为倒T字形，卡锁柱207设置为T字形。

将芯片主体105放在芯片放置槽102时，在扣槽104的配合作用下，夹持芯片主体105的工具可以很便捷地进出芯片放置槽102；在马达A4、皮带轮A401、皮带轮C螺杆403以及同步带A402的配合下，移动块404带动锁紧盖板6的一侧开始前进，锁紧盖板6开始倾斜，同时推动连杆602的一端会在滑槽603的内侧向下滑动，直到锁紧盖板6完全盖在检测放置箱1的顶端，即可完成对芯片主体105的初步夹持固定：而设置的可视槽口701不仅便于观察芯片主体105的固定状态，也便于对芯片主体105的两侧端面进行目检。

参照图3，检测放置箱1的前端均固定设置有马达托架106，马达A4固定设置于马达托架106的顶端，螺杆403转动设置于检测放置箱1内部相互远离的一侧，移动块404滑动设置于检测放置箱1的内部两侧。

马达托架106可以使马达A4更好的使用，移动块404在检测放置箱1的内部两侧滑动也便于固定机构可以更好的使用。

参照图1和图4，检测放置箱1的顶端一侧开设有开合孔101，开合孔101的内部设置有紧固机构2，检测放置箱1的底端一侧转动设置有承载板5，紧固机构2包括固定垫201，固定垫201的中间内侧滑动设置有螺柱204，固定垫201的顶端固定设置有弹簧202，弹簧202的另一端固定设置有紧固套环203，螺柱204螺纹连接于紧固套环203的底端内侧，螺柱204的一端滑动设置有顶升杆205，螺柱204一端外侧对称转动设置有紧固支脚206，紧固支脚206通过连杆转动设置于顶升杆205的外侧，固定垫201固定设置于承载板5的顶端，紧固套环203转动设置于检测放置箱1的底端一侧。

承载板5的设置可以使紧固机构2被使用，当锁紧盖板6完全盖在检测放置箱1的顶端后，插孔就会与开合孔101重合，将卡锁柱207插入开合孔101的内部操作紧固机构2既可固定卡锁柱207，从而固定锁紧盖板6，防止检测放置箱1在转动过程中锁紧盖板6会脱落影响芯片主体105的检测，这样可以提供更好的目检过程。

参照图6和图7，距离最远的两个锁紧盖板6一侧均固定设置有定位柱604，锁紧盖板6的一侧可放置记位盖板7，记位盖板7的一侧开设有可视槽口701，可视槽口701与芯片放置槽102的数量相同，记位盖板7对应定位柱604的位置开设有扣合孔。

若是发现有不合格的芯片主体105，将检测放置箱1转回初始状态的位置，然后将记位盖板7通过扣合孔和定位柱604装好，使用记号笔在可视槽口701的周围标记，然后进行下一个角度的目检。

参照图2，检测放置箱1和马达托架106相互远离的一侧转动设置有底部架3，底部架3的一侧设置有马达B301，马达B301的驱动端固定设置有皮带轮B302，检测放置箱1和马达托架106均设置有多个，马达托架106的一侧均固定设置有皮带轮B302，皮带轮B302之间通过同步带B303传动连接，马达B301固定设置于底部架3的一侧，马达托架106与皮带轮B302之间通过联动杆固定连接，联动杆贯穿转动设置于底部架3的一侧内部。

底部架3可以固定装置的总体位置，马达B301的启动可以使皮带轮B302通过同步带B303传动转动，从而通过联动杆使检测放置箱1转动，检测放置箱1的转动便于工作人员的目检。

工作原理：将芯片主体105放在芯片放置槽102的内侧，扣槽104可以便于芯片主体105放置，便于夹持芯片主体105的工具可以放入，然后启动固定机构中的马达A4，马达A4驱动端的皮带轮A401就会通过同步带A402带动其他的皮带轮A401转动，皮带轮A401的转动带动移动块404开始移动，移动块404的启动带动锁紧盖板6的一侧开始前进，锁紧盖板6开始倾斜，同时推动连杆602的一端会在滑槽603的内侧向下滑动，直到锁紧盖板6完全盖在检测放置箱1的顶端，此时定位柱604就会朝上；

接着将卡锁柱207插入开合孔101的内部，然后转动紧固机构2中的紧固套环203，在没使用紧固机构2的时候，检测放置箱1设置紧固机构2的一侧倾斜向下，卡锁柱207插入开合孔101的内部后，顶升杆205会顶住锁槽208的顶端，然后紧固套环203的转动就会使螺柱204升起，紧固支脚206就会向外张开，连杆的设置使限定紧固支脚206的张开口径，紧固支脚206就能卡在锁槽208的内侧，从而固定卡锁柱207，进而将锁紧盖板6固定在检测放置箱1的顶端；

固定完成后启动马达B301，使皮带轮B302通过同步带B303转动，检测放置箱1就能被转动90°，使观察槽口103朝上，进行目检，若是有不合格的芯片主体105，则将检测放置箱1反向转动90°恢复原位，然后将记位盖板7通过扣合孔和定位柱604安装，使用记号笔在相应可视槽口701位置周围记录，然后将其取下即可，防止工作人员忘记，继续将检测放置箱1朝着另外一个方向旋转90°，从另一个观察槽口103观察芯片主体105，然后根据上一个步骤记录相同的不合格芯片主体105，这样便于对芯片主体105进行详细的目检，且更好的固定芯片主体105，防止在目检过程中锁紧盖板6会脱落。

最后需要指出的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制。尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。