一种图像传感器图像坏点的校正装置、方法、设备及介质

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种图像传感器图像坏点的校正装置、方法、设备及介质。

背景技术

图像传感器由于制造工艺的原因，使得在某些位置出现坏点，并在使用的过程中也会不断的产生新的坏点。图像传感器的坏点是指不随感光变化，始终呈现一种颜色的像素点。如果不进行坏点校正，会由于颜色差值导致生成的图像质量下降。动态坏点校正方法是基于图像在领域内的颜色相关性和空间相关性，预测出中心像素点像素值的正常范围，若是实际值超出正常范围则判断其为坏点。现有动态坏点校正方法用于存储数据的缓存空间较大，增加了图像传感器芯片的面积和功耗。因此，存在待改进之处。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种图像传感器图像坏点的校正装置、方法、设备及介质，改善现有图像传感器芯片面积和功耗较大的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种图像传感器图像坏点的校正装置，包括：

至少一个随机存储器，用以存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；以及

主控制器，电连接于所述随机存储器，所述主控制器包括：

读取模块，用以读取所述像素阵列中每一行像素点的像素值和待定标志；

写入模块，用以根据不同行中相邻像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入当前行像素点对应的像素值和待定标志；

处理器模块，用以根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

在本发明的一个实施例中，所述处理器模块用以获取所述检测行中像素点的像素值时，读取第一参考行中像素点的像素值；

所述处理器模块还用以对于所述检测行中的待测像素点，计算其与所述第一参考行和所述检测行中相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加待定标志，并通过所述写入模块向所述随机存储器写入所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志，其中，所述待测像素点位于所述检测行中；

其中，所述第一参考行、所述检测行和所述第二参考行是按先后顺序排列的三行。

在本发明的一个实施例中，所述处理器模块用以获取第二参考行中像素点的像素值时，读取所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志；

所述处理器模块还用以获取第二参考行中像素点的像素值时，计算出所述检测行中待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点添加校正标志，将所述待测像素点添加校正标志；

所述处理器模块还用以统计出同时具有所述待定标志和所述校正标志的待测像素点，校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

在本发明的一个实施例中，所述处理器模块用以在所述第一参考行及所述检测行的像素阵列中，计算出与行相邻、列相邻及对角相邻的像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定标志。

在本发明的一个实施例中，所述处理器模块用以在所述第一参考行和所述检测行中，计算出大于等于相邻像素点像素值，且与相邻像素点之间的像素差值大于等于预设亮阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定亮坏点标志；

所述处理器模块还用以计算出小于相邻像素点的像素值，且与相邻像素点之间的像素差值大于等于预设暗阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入待定暗坏点标志。

在本发明的一个实施例中，所述处理器模块用以在所述第一参考行和所述检测行中，计算出与所述参考行中的相邻像素点的像素差值大于等于所述像素阈值，且与所述检测行中的部分相邻像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，通过所述写入模块向所述随机存储器写入像素点对应的像素值和待定标志；

所述处理器模块还用以在所述检测行和所述第二参考行中，计算出与所述校正行中的相邻像素点的像素差值大于等于所述像素阈值，且与所述检测行中的其余相邻像素点之间的像素差值大于等于所述像素阈值的所述待测像素点，添加校正标志。

本发明还提出一种图像传感器图像坏点的校正方法，包括：

通过随机存储器，存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；

通过写入模块，根据不同行中相邻所述像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入像素点对应的像素值和待定标志；

通过读取模块，读取所述像素阵列中每一行所述像素点的像素值和所述待定标志；以及

通过处理器模块，根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

在本发明的一个实施例中，所述通过处理器模块，根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值，或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值的步骤，包括：

选取按照先后顺序排列的第一参考行、检测行和第二参考行；

在获取所述检测行中像素点的像素值时，读取所述第一参考行中像素点的像素值；

对于所述检测行中的待测像素点，计算其与所述第一参考行和所述检测行中相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加待定标志，通过所述写入模块向所述随机存储器写入检测行中像素点对应的像素值和待定标志；

在获取所述第二参考行中像素点的像素值时，读取所述检测行中像素点对应的像素值和待定标志；

获取所述第二参考行中像素点的像素值时，计算出所述检测行中的待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于所述像素阈值的待测像素点添加校正标志；

统计出同时具有所述待定标志和所述校正标志的待测像素点，校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

本发明还提出一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述任一项所述图像传感器图像坏点的校正方法的步骤。

本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述图像传感器图像坏点的校正方法的步骤。

如上所述，本发明的一种图像传感器图像坏点的校正装置、方法、设备及介质，具有以下有益效果：本发明节省了图像传感器的缓存空间，减少了缓存数据的延迟时间，提高了坏点的校正效果。

附图说明

图1显示为本发明一种图像传感器图像坏点的校正装置的结构示意图。

图2显示为本发明第一类型图像传感器像素输入示意图。

图3显示为本发明第二类型图像传感器像素输入示意图。

图4显示为本发明第三类型图像传感器像素输入示意图。

图5显示为本发明第四类型图像传感器像素输入示意图。

图6显示为本发明像素输入中待测像素点的位置示意图。

图7显示为本发明对待测像素点的像素差值的第一种计算示意图。

图8显示为本发明对待测像素点的像素差值的第二种计算示意图。

图9显示为本发明对待测像素点的像素差值的第三种计算示意图。

图10显示为本发明对待测像素点检测的时序信号图。

图11显示为本发明一种图像传感器图像坏点的校正方法的步骤示意图。

图12显示为本发明图11中步骤S20的步骤示意图。

图13显示为本发明一计算机设备的一结构示意图。

元件标号说明

10、随机存储器；11、行/列地址译码器；12、灵敏放大器和写入电路；13、存储单元阵列；14、控制电路；15、缓冲/驱动电路；110、第一参考行；111、第一参考对角相邻像素点；112、第一参考行相邻像素点；120、检测行；121、检测列相邻像素点；122、待测像素点；130、第二参考行；131、第二参考对角相邻像素点；132、第二参考行相邻像素点；20、主控制器；21、写入模块；22、读取模块；23、处理器模块；200、计算机设备；201、处理器；202、存储器；203、内存储器；204、网络接口。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。还应当理解，本发明实施例中使用的术语是为了描述特定的具体实施方案，而不是为了限制本发明的保护范围。下列实施例中未注明具体条件的试验方法，通常按照常规条件，或者按照各制造商所建议的条件。

须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容所能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本发明可实施的范畴。

请参阅图1至图12，本发明提供一种图像传感器图像坏点的校正装置、方法、设备及介质，可应用于图像传感器领域，例如可应用于CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor，互补金属氧化物半导体)图像传感器或者CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合器件)图像传感器的动态坏点校正方法中。本发明可节省了用于存储数据的缓存空间，减少了图像传感器芯片的面积和功耗，降低了图像传感器的成本，同时减少了数据延迟时间。下面通过具体的实施例进行详细的描述。

请参阅图1所示，在本发明的一个实施例中，本发明提出一种图像传感器图像坏点的校正装置，可包括随机存储器10和主控制器20，随机存储器10的数量可至少为一个。随机存储器10可用以存放图像传感器的像素阵列，像素阵列可包括多个像素点。随机存储器10可包括行/列地址译码器11、灵敏放大器和写入电路12、存储单元阵列13、控制电路14和缓冲/驱动电路15。主控制器20与随机存储器10电性连接，用于对随机存储器10中存储图像传感器的坏点进行校正。主控制器20可包括写入模块21、读取模块22和处理器模块23。其中，写入模块21用以根据不同行中相邻像素点之间的像素差值和预设的像素阈值的关系，向随机存储器10写入当前行像素点的像素值和待定标志。像素标志可为正常像素标志和坏点像素标志。读取模块22可用以读取像素阵列中每一行中每个像素点的像素值和待定标志。在待测像素点与相邻像素点之间的像素差值小于预设像素阈值时，待测像素点属于正常像素点，处理器模块23保持待测像素点的像素值为原像素值。在待测像素点与相邻像素点之间的像素差值大于等于像素阈值时，待测像素点属于坏点，处理器模块23校正待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。本发明以像素阵列的一行为单位，可计算每一行中每个像素点的像素值与其他行相邻像素点的像素值之间的像素差值，并与像素阈值进行比较以判断待测像素点是否为坏点。

请参阅图2、图3、图4和图5所示，在本发明的一个实施例中，图像传感器输入的像素，奇数行和偶数行传输的颜色不同，有四种类型。图2中，奇数行传输的颜色依次是B(蓝色)和Gb(绿色)，偶数行传输的颜色依次是Gr(绿色)和R(红色)。图3中，奇数行传输的颜色依次是Gb和B，偶数行传输的颜色依次是R和Gr。图4中，奇数行传输的颜色依次是Gr和R，偶数行传输的颜色依次是B和Gb。图5中，奇数行传输的颜色依次是R和Gr，偶数行传输的颜色依次是Gb和B。在5*5像素的色彩滤波阵列(color filter array，CFA)基础上，可选择相同颜色的相邻像素点组成3*3阵列。图2是从CFA中选择颜色B的9个相邻像素点组成3*3阵列，图3是从CFA中选择颜色Gb的9个相邻像素点组成3*3阵列，图4是从CFA中选择颜色Gr的9个相邻像素点组成3*3阵列，图5是从CFA中选择颜色R的9个相邻像素点组成3*3阵列。

请参阅图6和图7所示，在本发明的一个实施例中，选取由同一颜色的9个相邻像素组成的3*3像素阵列，例如，第1行可为第一参考行110，第3行可为检测行120，第5行可为第二参考行130。例如，Pc为待测像素点122，P1-P8为待测像素点122周围的8个像素点。其中，P1和P3为参考对角相邻像素点111，P2为参考行相邻像素点112，P4和P5为检测列相邻像素点121。P6和P8为校正对角相邻像素点131，P7为第二参考行相邻像素点。主控制器20每次可处理的数据有两行，其中第一行是主控制器20从随机存储器10中读取的上一行数据，第二行是主控制器20处理的当前数据。第一参考行110的数据直接写入至随机存储器10中，在主控制器20对检测行120的数据进行处理时，可先读取随机存储器10中保存的第一参考行110的数据。对于检测行120中的待测像素点(Pc)122，当待测像素点(Pc)122与相邻像素点P1至P5之间的像素差值大于等于像素阈值时，写入模块21可向随机存储器10写入检测行120中像素点的像素值和待定标志。在主控制器20获取第二参考行130中像素点的像素值时，可读取检测行120中像素点的像素值和待定标志。在主控制器20获取第二参考行130中像素点的像素值后，可计算出检测行120中待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，并将像素差值大于等于像素阈值的待测像素点(Pc)122添加校正标志，将待测像素点(Pc)122添加校正标志。当选取由第3行、第5行和第7行中同一颜色的9个相邻像素组成的3*3像素阵列时，第3行可为第一参考行110，第5行可为检测行120，第7行可为第二参考行130。并在第5行作为检测行120时，对检测行120中的待测像素点是否为坏点进行计算。

请参阅图6和图7所示，在本发明的一个实施例中，对于检测行120中的待测像素点(Pc)122，在第一参考行110和检测行120中，当待测像素点(Pc)122的像素值大于等于相邻像素点P1至P5的像素值，且当待测像素点(Pc)122与相邻像素点P1至P5之间的像素差值大于等于预设亮阈值时，写入模块21可向随机存储器10写入待定亮坏点标志。对于检测行120中的待测像素点(Pc)122，在第一参考行110和检测行120中，当待测像素点(Pc)122的像素值小于相邻像素点P1至P5的像素值，且当待测像素点(Pc)122与相邻像素点P1至P5之间的像素差值大于等于预设暗阈值时，写入模块21可向随机存储器10写入待定暗坏点标志。

请参阅图6和图7所示，在本发明的一个实施例中，对于检测行120中的待测像素点(Pc)122，在检测行120和第二参考行130中，当检测行120中待测像素点(Pc)122与相邻像素点P6至P8之间的像素差值大于等于像素阈值时，将待测像素点(Pc)122添加校正标志。例如，在检测行120和第二参考行130中，当待测像素点(Pc)122的像素值大于等于相邻像素点P6至P8的像素值，且当待测像素点(Pc)122与相邻像素点P6至P8之间的像素差值大于等于预设亮阈值时，将待测像素点(Pc)122添加校正亮坏点标志。在检测行120和第二参考行130中，当待测像素点(Pc)122的像素值小于相邻像素点P6至P8的像素值，且当待测像素点(Pc)122与相邻像素点P6至P8之间的像素差值大于等于预设暗阈值时，将待测像素点(Pc)122添加校正暗坏点标志。

请参阅图6和图7所示，在本发明的一个实施例中，在写入模块21可向随机存储器10写入待定标志后，读取模块22可从随机存储器10中读取待定标志。在将待测像素点(Pc)122添加校正标志后，处理器模块23可将待定标志对应的待测像素点122和校正标志对应的待测像素点122进行对比分析。随机存储器10的缓存空间实际使用了两行缓存，分别用以存放奇数行和偶数行的数据。当待定标志对应的待测像素点122和校正标志对应的待测像素点122相同时，即一个像素点同时具有待定标志和校正标志时，该待测像素点122为亮坏点或者暗坏点，处理器模块23用以校正该待测像素点122的像素值为相邻其他像素点的平均值。本发明坏点检测准确，并且节省了缓存空间，减少了数据延迟时间，坏点校正效果好，可广泛的应用于图像处理领域。

请参阅图7、图8和图9所示，在本发明的一个实施例中，对于检测行120中待测像素点122，与第一参考行110中的相邻像素点及检测行120中的部分相邻像素点之间的像素差值大于等于像素阈值时，写入模块21可向随机存储器10写入待定标志。对于检测行120中待测像素点122，与第二参考行130中的相邻像素点及检测行120中的其余相邻像素点之间的像素差值大于等于像素阈值时，将待测像素点(Pc)122添加校正标志。即对于检测行120中待测像素点122的相邻像素点，可将一部分相邻像素点放到待定标志的计算中，将其余部分相邻像素点放到校正标志的计算中。在图7中，对于检测行120中待测像素点122的相邻像素点，可将相邻像素点P1至P5放到待定标志的计算中。在图9中，对于检测行120中待测像素点122的相邻像素点，可将相邻像素点P4至P8放到校正标志的计算中。在图8中，对于检测行120中待测像素点122的相邻像素点，可将相邻像素点P1至P4放到待定标志的计算中，将相邻像素点P5至P8放到校正标志的计算中。

请参阅图10所示，在本发明的一个实施例中，例如以B和Gb颜色，在时钟信号输入后，在检测行120的待测像素点122和参考行110中的相邻像素点进行统计得出待定标志后，读取模块22可从随机存储器10中读取待定标志。在读取模块22读取待定标志延迟4个时钟周期之后，可以同时得到检测行120和第二参考行130中的6个像素点B0’、B1’、B2’、B0、B1和B2。图10中的B1’为坏点，在经过4个时钟周期时，该处坏点被校正为D-B1’。D-B1’的像素值可为B0’、B2’、B0、B1和B2五个像素点像素值的平均值。图10中的Gb2’为坏点，在经过7个时钟周期时，该处坏点被校正为D-Gb2’。在坏点被校正之后，可输出校正后的像素数据。本发明以行为单位，进行每一行每个待测像素点122的统计分析，以判断是否为坏点。在具体对一个待测像素点122进行分析时，通过以待测像素点122为中心点建立5*5像素矩阵，以周围8个像素点与中心点的差值为判断条件。先计算前5个相邻像素点的差值，统计待定标志，再计算后3个相邻像素点的差值，统计校正标志。将待定标志和校正标志进行对比，确定出坏点对应的具体像素点并进行校正处理。

请参阅图11所示，在本发明的一个实施例中，本发明提出一种图像传感器图像坏点的校正方法，可包括以下的步骤。

步骤S10、通过随机存储器，存放图像传感器的像素矩阵，像素矩阵包括多个像素点。

步骤S20、通过写入模块，根据不同行中相邻像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向随机存储器写入像素点对应的像素值和待定标志。

步骤S30、通过读取模块，读取像素矩阵中每一行像素点的像素值和待定标志。

步骤S40、判断待测像素点与相邻其他像素点之间的像素差值小于像素阈值。

步骤S50、当待测像素点与相邻其他像素点之间的像素差值小于像素阈值时，通过处理器模块保持待测像素点的像素值为原像素值。

步骤S60、当待测像素点与相邻其他像素点之间的像素差值大于等于像素阈值时，通过处理器模块校正待测像素点的像素值为相邻其他像素点的平均值。

步骤S10、通过随机存储器，存放图像传感器的像素矩阵，像素矩阵包括多个像素点。

在本发明的一个实施例中，随机存储器10可用以存放图像传感器的像素阵列，像素阵列可包括多个像素点。在5*5像素的色彩滤波阵列(color filter array，CFA)基础上，可选择相同颜色的相邻像素点组成3*3阵列。例如可选择由同一颜色的9个相邻像素组成的3*3阵列。

步骤S20、通过写入模块，根据不同行中相邻像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向随机存储器写入像素点对应的像素值和待定标志。

在本发明的一个实施例中，主控制器20每次可处理的数据有两行，其中第一行是主控制器20从随机存储器10中读取的上一行数据，第二行是主控制器20处理的当前数据。第一参考行110的数据直接写入至随机存储器10中，在主控制器20对检测行120的数据进行处理时，可先读取随机存储器10中保存的第一参考行110的数据。对于检测行120中的待测像素点(Pc)122，当待测像素点(Pc)122与相邻像素点P1至P5之间的像素差值大于等于像素阈值时，写入模块21可向随机存储器10写入检测行120中像素点的像素值和待定标志。

步骤S30、通过读取模块，读取像素矩阵中每一行像素点的像素值和待定标志。

在本发明的一个实施例中，在写入模块21可向随机存储器10写入待定标志后，读取模块22可从随机存储器10中读取待定标志。在将待测像素点(Pc)122添加校正标志后，处理器模块23可将待定标志对应的待测像素点122和校正标志对应的待测像素点122进行对比分析。

步骤S40、判断待测像素点与相邻其他像素点之间的像素差值是否小于像素阈值。

在本发明的一个实施例中，对待测像素点122与相邻其他像素点之间的像素差值与像素阈值进行比较，以判断出待测像素点122是否是坏点。

步骤S50、当待测像素点与相邻其他像素点之间的像素差值小于像素阈值时，通过处理器模块保持待测像素点的像素值为原像素值。

在本发明的一个实施例中，当待测像素点122与相邻其他像素点之间的像素差值小于像素阈值时，表面待测像素点122为正常像素点，通过处理器模块23保持待测像素点122的像素值为原像素值。

步骤S60、当待测像素点与相邻其他像素点之间的像素差值大于等于像素阈值时，通过处理器模块校正待测像素点的像素值为相邻其他像素点的平均值。

在本发明的一个实施例中，当待测像素点122与相邻其他像素点之间的像素差值大于等于像素阈值时，表面待测像素点122为坏点，通过处理器模块23校正待测像素点122的像素值为相邻其他像素点的平均值。

请参阅图12所示，在本发明的一个实施例中，步骤S60可包括步骤S610、步骤S620、步骤S630、步骤S640、步骤S650和步骤S660。其中，步骤S610可表示为选取按照先后顺序排列的第一参考行、检测行和第二参考行。步骤S620可表示为在获取检测行中像素点的像素值时，读取第一参考行中像素点的像素值。步骤S630可表示为对于检测行中的待测像素点，计算其与第一参考行和检测行中相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于像素阈值的待测像素点添加待定标志，通过写入模块向随机存储器写入检测行中像素点对应的像素值和待定标志。步骤S640可表示为在获取第二参考行中像素点的像素值时，读取检测行中像素点对应的像素值和待定标志。步骤S650可表示为获取第二参考行中像素点的像素值时，计算出检测行中的待测像素点与相邻像素点之间的像素差值，将像素差值大于等于像素阈值的待测像素点添加校正标志。步骤S660可表示为统计出同时具有待定标志和校正标志的待测像素点，校正待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

请参阅图13所示，本发明一实施例中计算机设备的一结构示意图。在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备200可以是服务端。该计算机设备200包括通过系统总线连接的处理器201、存储器202、网络接口204和数据库。其中，该计算机设备200的处理器201用于提供计算和控制能力。该计算机设备200的存储器202包括非易失性和/或易失性存储介质、内存储器203。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备200的网络接口用于与外部的客户端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种图像传感器图像坏点的校正方法服务端侧的功能或步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备200，包括存储器202、处理器201及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器201执行计算机程序时实现以下步骤：

通过随机存储器，存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；通过写入模块，根据不同行中相邻所述像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入像素点对应的像素值和像素标志；通过读取模块，读取所述像素阵列中每一行所述像素点的像素值和所述像素标志；以及通过处理器模块，根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

通过随机存储器，存放图像传感器的像素阵列，所述像素阵列包括多个像素点；通过写入模块，根据不同行中相邻所述像素点之间的像素差值和预设像素阈值的关系，向所述随机存储器写入像素点对应的像素值和像素标志；通过读取模块，读取所述像素阵列中每一行所述像素点的像素值和所述像素标志；以及通过处理器模块，根据待测像素点与相邻像素点之间的像素差值与所述像素阈值的比较结果，以保持所述待测像素点的像素值为原像素值或者校正所述待测像素点的像素值为相邻像素点的平均值。

需要说明的是，上述关于计算机可读存储介质或计算机设备所能实现的功能或步骤，可对应参阅前述方法实施例中，服务端侧以及客户端侧的相关描述，为避免重复，这里不再一一描述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

综上所述，本发明提出一种图像传感器图像坏点的校正装置及校正方法，具有坏点检测准确的优点，并且节省了缓存空间，减少了数据延迟时间，坏点校正效果好。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。