烹饪设备的烹饪量检测方法及烹饪设备

技术领域

本申请涉及生活电器的技术领域，具体涉及烹饪设备的烹饪量检测方法、烹饪设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着生活水平的提高，烹饪方式越来越多样化，电压力锅进入越来越多的家庭。相关技术中，电压力锅的烹饪量判断方法为：对烹饪锅加热，烹饪锅锅底温度从T1加热到T2，用时越长，则烹饪量越大。

为了增大T1与T2之间的差值，减小干扰，保证烹饪量判断的准确性，T1的设置值一般较低，在30-50℃范围内。由于T1设置值较低，烹饪量判断受初始温度影响较大，若热锅状态(初始温度为Tr，Tr＞T1)进行量判断，则烹饪锅锅底实际从Tr加热到T2，所用时间小于从T1加热到T2，造成烹饪量判断偏小。因此，烹饪量判断的准确性有待进一步提高。

发明内容

本申请提供一种烹饪设备的烹饪量检测方法、烹饪设备以及计算机可读存储介质，以提高烹饪设备的量判断的准确性。

本申请采用的第一个技术方案是：提供一种烹饪设备的烹饪量检测方法，包括：在烹饪过程中，获取烹饪设备的烹饪温度随时间变化的升温曲线；在升温曲线中确定平台升温阶段，其中平台升温阶段的斜率分别小于平台升温阶段的前后两侧烹饪阶段的斜率；根据平台升温阶段的持续时间确定烹饪设备的烹饪量。

可选地，在升温曲线中确定平台升温阶段的步骤包括：以预定的温度步长设置多个温度参考点，其中多个温度参考点以温度步长依次间隔设置；根据升温曲线依次确定从每个温度参考点升温预设的第一升温幅度所需的第一时间间隔；将第一时间间隔大于或等于第一时间阈值的温度参考点所对应的时间点作为平台升温阶段的起始点。

可选地，在升温曲线中确定平台升温阶段的步骤进一步包括：根据升温曲线依次确定从平台升温阶段的起始点后续的每个温度参考点升温预设的第二升温幅度所需的第二时间间隔；将第二时间间隔小于或等于第二时间阈值的温度参考点所对应的时间点作为平台升温阶段的终止点。

可选地，在烹饪过程中，获取烹饪设备的烹饪温度随时间变化的升温曲线的步骤包括：以多个温度参考点为采样点，并记录烹饪温度达到温度参考点的时间点，进而形成升温曲线。

可选地，多个温度参考点大于或等于60℃，温度步长小于或等于3℃。

可选地，第一升温幅度和第二升温幅度分别为整数个温度步长之和。

可选地，第一升温幅度和第二升温幅度分别为1-5个温度步长之和，第一时间阈值和第二时间阈值为30-200秒，且第二时间阈值与第二升温幅度的比值小于第一时间阈值与第一升温幅度的比值。

可选地，根据平台升温阶段的持续时间确定烹饪设备的烹饪量的步骤包括：以平台升温阶段的终止点与起始点之间的差值作为平台升温阶段的持续时间；根据预设的转换方式将平台升温阶段的持续时间转换为烹饪设备的烹饪量。

可选地，烹饪设备为电压力锅，且包括外锅、设置于外锅内的烹饪锅以及设置于烹饪锅底部的加热盘，烹饪温度为烹饪锅的底部外表面的温度。

本申请采用的第二个技术方案是：提供一种烹饪设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的烹饪程序，处理器执行烹饪程序时实现以上所述的任一方法。

本申请采用的第三个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，其上存储有烹饪程序，烹饪程序被处理器执行时实现以上所述的任一方法。

本申请的有益效果：在烹饪过程中，利用平台升温阶段的持续时间来判断烹饪量，能够避免初始温度干扰，有利于提高烹饪设备的烹饪量判断的精准度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请烹饪设备一实施例的结构示意图；

图2是图1所示的烹饪设备在某一烹饪量时的升温曲线的示意图；

图3是图1所示的烹饪设备在不同烹饪量时的升温曲线的对比示意图；

图4是本申请烹饪设备的烹饪量检测方法一实施例的流程示意图；

图5是图4中S102一实施例的流程示意图；

图6是图4中S103一实施例的流程示意图；

图7是本申请烹饪设备的控制方法一实施例的流程示意图；

图8是图7中S202一实施例的流程示意图；

图9是本申请烹饪设备的压力检测方法一实施例的流程示意图；

图10是图9中S302一实施例的流程示意图；

图11是烹饪设备的烹饪温度与锅体内压力的对应表的示意图；

图12是本申请烹饪设备的异物检测方法一实施例的流程示意图；

图13是图12中S403一实施例的流程示意图；

图14是本申请烹饪设备的异物检测方法另一实施例的流程示意图；

图15是本申请烹饪设备另一实施例的结构示意图；

图16是本申请计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本申请作进一步的详细描述。特别指出的是，以下实施例仅用于说明本申请，但不对本申请的范围进行限定。同样的，以下实施例仅为本申请的部分实施例而非全部实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

请参阅图1，图1是本申请烹饪设备一实施例的结构示意图，具体地，本申请所提及的烹饪设备100可以为电压力锅，包括锅体10和用于对锅体10进行加热的加热盘20。其中，锅体10可以包括外锅11和烹饪锅12，烹饪锅12设置于外锅11内。加热盘20设置于烹饪锅12的底部，用于支撑烹饪锅12，并对烹饪锅12进行加热。烹饪设备100还可以进一步包括设置于烹饪锅12底部的温度传感器30，以检测烹饪锅12的底部外表面的温度，作为烹饪温度。

请参阅图2，图2是图1所示的烹饪设备在某一烹饪量时的升温曲线的示意图，烹饪设备100在烹饪过程中，升温曲线一般包括快速升温阶段、平台升温阶段、起压升温阶段、保压阶段以及降压降温阶段。

其中，烹饪的初始阶段，升温较快，升温曲线斜率大，为快速升温阶段。随着温度的升高，升温曲线效率变小，曲线平缓，表现为一段平台，该阶段为平台升温阶段。平台升温阶段后为起压升温阶段，升温曲线斜率大，锅体10内的压力逐渐增大。当锅体10内的压力达到目标压力时，进入保压阶段，在保压阶段中，加热盘20继续以较小的功率进行加热，以使得锅体10内的压力保持在一定的范围内。保压阶段的时长达到预设时长时，保压阶段结束，加热盘20停止加热，烹饪设备100进入降压降温阶段。直到锅体10内压力降到与外界压力相同。此时用户可开盖，若不开盖，则进入保温阶段(图2中未示出)。保温阶段烹饪温度先降低，然后维持在某一预设温度附近。

<烹饪设备的烹饪量检测方法>

本申请一方面提供一种烹饪设备的烹饪量检测方法，相比相关技术中的烹饪量检测方法，能够提高烹饪量检测的准确性。

相关技术中，电压力锅的烹饪量判断方法为：对烹饪锅12加热，烹饪锅12锅底温度从T1加热到T2，用时越长，则烹饪量越大。为了增大T1与T2之间的差值，减小干扰，保证烹饪量判断的准确性，T1的设置值一般较低，在30-50℃范围内。由于T1设置值较低，烹饪量判断受初始温度影响较大，若热锅状态(初始温度为Tr，Tr＞T1)进行量判断，则烹饪锅12锅底实际从Tr加热到T2，所用时间小于从T1加热到T2，造成烹饪量判断偏小。因此，烹饪量判断的准确性有待进一步提高。

本申请发明人经长期研究发现，平台升温阶段的持续时间与烹饪量呈正相关，即烹饪量越大，平台升温阶段的持续时间越长，烹饪量越小，平台升温阶段的持续时间越短，具体如图3所示，图3是图1所示的烹饪设备在不同烹饪量时的升温曲线的对比示意图。

发明人还发现，平台升温阶段所处的温度区间通常较高，一般大于90℃，且需要持续加热，该平台升温阶段持续时间的长短几乎不受初始温度的影响。除此之外，平台升温阶段的升温曲线平缓，斜率较小，位于斜率较大的快速升温阶段和起压升温阶段之间，容易被识别出来。

因此，在烹饪过程中，可以利用平台升温阶段的持续时间来判断烹饪量，并且利用平台升温阶段的持续时间来判断烹饪量，能够避免初始温度干扰，有利于提高烹饪设备的烹饪量判断的精准度。

接下来，将对本申请所提供的烹饪设备的烹饪量检测方法进行详细描述。请参阅图4，图4是本申请烹饪设备的烹饪量检测方法一实施例的流程示意图，具体地，该方法可以包括以下步骤：

S101：在烹饪过程中，获取烹饪设备100的烹饪温度随时间变化的升温曲线。

在本实施例中，升温曲线可以是由离散的点组成。该步骤具体可以通过以下方法实现：以预设的温度步长，设置若干个采样点，并记录每一个采样点对应的时间点，进而形成升温曲线。

具体地，可以在烹饪温度T达到T1时开始进行采样，此时T1对应的时间点记为t＝t0。温度传感器30继续检测烹饪温度T，当T＝T1+1*T0时，时间点记为t＝t1；当T＝T1+2*T0时，时间点记为t＝t2；当T＝T1+3*T0时，时间点记为t＝t3；如此，依次设置多个采样点，并记录每个采样点所对应的时间点，进而形成升温曲线。

为了便于对本申请实施例进行描述，以T0表示温度步长，但这并不表示，任意相邻的两个采样点之间的温度步长都是相等的。事实上，T0并不是固定不变的，可以在一定的范围内浮动。比如，温度传感器可以是热敏电阻，热敏电阻的电阻值变化一个预设电阻步长时，则认为烹饪温度变化一个温度步长，此时可以设置一个采样点。由于热敏电阻的阻值与烹饪温度并不完全呈线性状态，热敏电阻的电阻值每变化一个预设电阻步长时，其对应的温度步长并不是一个定值，而是在一定的范围内波动的。

由于平台升温阶段所处的温度区间通常大于90℃，因此，T1＜90℃即可，也就是说，在90℃之前开始采样即可，比如，T1可以为50℃、60℃、65℃、70℃、75℃、80℃或者85℃，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

对于预设的温度步长T0，可以在1℃-3℃之间，比如，T0可以为1℃、1.5℃、2℃、2.5℃或者3℃，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

在一些实施例中，还可以以预设的时间步长，设置若干个采样点，并记录每一个采样点对应的温度点，进而形成升温曲线。举例而言，可以在烹饪过程开始之后，每隔30s采集一个采样点，并记录该采样点对应的温度点，进而形成升温曲线。

如前所述，升温曲线可以是由若干个离散的点形成的曲线，在一些实施例中，升温曲线也可以是通过对烹饪温度进行连续检测形成的连续曲线，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

S102：在升温曲线中确定平台升温阶段，其中平台升温阶段的斜率分别小于平台升温阶段的前后两侧烹饪阶段的斜率。

请参阅图5，图5是图4中S102一实施例的流程示意图，本实施例中，在升温曲线中确定平台升温阶段，具体可以通过其所包含的如下步骤实现：

S1021：以预定的温度步长设置多个温度参考点，其中多个温度参考点以温度步长依次间隔设置。

在本实施例中，每一个采样点均可作为一个温度参考点，此时，相邻两个温度参考点之间的温度步长即为前述的相邻两个采样点之间的温度步长T0。在一些实施例中，还可以间隔若干个采样点取一个温度参考点。在一些实施例中，温度参考点还可以和前述的采样点不同，比如，温度参考点还可以是从升温曲线上间隔预设的温度步长选取的任意点。本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

S1022：根据升温曲线依次确定从每个温度参考点升温预设的第一升温幅度所需的第一时间间隔。

S1023：将第一时间间隔大于或等于第一时间阈值的温度参考点所对应的时间点作为平台升温阶段的起始点。

具体地，第一升温幅度可以是整数个温度步长T0之和。举例而言，第一升温幅度可以是a个温度步长T0之和，在本实施例中，a的取值可以为1、2、3、4或者5，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

举例而言，在烹饪温度T达到T1时开始进行采样，以检测平台升温阶段的起始点，此时T1对应的时间点记为t＝t0。温度传感器30继续检测烹饪温度T，当T＝T1+1*T0时，时间点记为t＝t1；当T＝T1+2*T0时，时间点记为t＝t2；当T＝T1+3*T0时，时间点记为t＝t3；当T＝T1+a*T0时，时间点记为t＝ta。此时计算烹饪温度从T1达到T1+a*T0所需的第一时间间隔Δt1＝ta-t0，若第一时间间隔Δt1大于或等于第一时间阈值tp，则判断烹饪设备100进入平台升温阶段，将t0记为平台升温阶段的起始点，起始点对应的温度T1即为进入平台升温阶段的温度。

若第一时间间隔Δt1小于第一时间阈值tp，则温度传感器30继续检测烹饪温度T，当T＝T1+(a+1)*T0时，时间点记为t＝t(a+1)。此时，计算烹饪温度从T1+1*T0达到T1+(a+1)*T0所需的第一时间间隔Δt2＝t(a+1)-t1，若第一时间间隔Δt2大于或等于第一时间阈值tp，则判断烹饪设备100进入平台升温阶段，将t1记为平台升温阶段的起始点，起始点对应的温度T1+1*T0即为进入平台升温阶段的温度。

若第一时间间隔Δt2小于第一时间阈值tp，则温度传感器30继续检测烹饪温度T，当T＝T1+(a+2)*T0时，时间点记为t＝t(a+2)。此时，计算烹饪温度从T1+2*T0达到T1+(a+2)*T0所需的第一时间间隔Δt3＝t(a+2)-t2，若第一时间间隔Δt3大于或等于第一时间阈值tp，则判断烹饪设备100进入平台升温阶段，将t2记为平台升温阶段的起始点，起始点对应的温度T1+2*T0即为进入平台升温阶段的温度。

若第一时间间隔Δt3小于第一时间阈值tp，则继续进行上述过程，直至烹饪温度T＝T1+(a+r)*T0时，对应的时间点为t＝t(a+r)，判断出烹饪设备100进入平台升温阶段，将tr记为平台升温阶段的起始点，起始点对应的温度T1+r*T0即为进入平台升温阶段的温度。

在本实施例中，第一时间阈值tp的取值可以在30-200秒之间，比如tp可以取30秒、60秒、90秒、120秒、150秒、180秒或者200秒等等，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

S1024：根据升温曲线依次确定从平台升温阶段的起始点后续的每个温度参考点升温预设的第二升温幅度所需的第二时间间隔。

S1025：将第二时间间隔小于或等于第二时间阈值的温度参考点所对应的时间点作为平台升温阶段的终止点。

具体地，第二升温幅度可以是整数个温度步长T0之和。举例而言，第二升温幅度可以是n个温度步长T0之和，在本实施例中，n的取值可以为1、2、3、4或者5，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。在本实施例中，n的取值可以与a的取值相同，在一些实施例中，n的取值也可以与a的取值不同。

举例而言，进入平台升温阶段之后，温度传感器30继续检测烹饪温度T，以检测离开平台升温阶段的终止点。如前，当T＝T1+(a+r)*T0时，时间点为t＝t(a+r)，检测出烹饪设备100进入平台升温阶段。当T＝T1+(a+r+1)*T0时，时间点记为t＝t(a+r+1)，当T＝T1+(a+r+1+n)*T0时，时间点记为t＝t(r+a+1+n)。此时计算锅底温度从T＝T1+(a+r+1)*T0到T＝T1+(a+r+1+n)*T0的第二时间间隔Δtc1＝t(a+r+1+n)-t(a+r+1)，若第二时间间隔Δtc1小于或等于第二时间阈值tc0，则判断烹饪设备100离开平台升温阶段，将t(a+r+1)记为平台升温阶段的终止点，终止点对应的温度T1+(a+r+1)*T0即为离开平台升温阶段的温度。

若第二时间间隔Δtc1大于第二时间阈值tc0，则温度传感器30继续检测烹饪温度T，当T＝T1+(a+r+2+n)*T0时，时间点记为t＝t(a+r+2+n)。此时，计算烹饪温度从T1+(a+r+2)*T0达到T1+(a+r+2+n)*T0所需的第二时间间隔Δtc2＝t(a+r+2+n)-t(a+r+2)，若第二时间间隔Δtc2小于或等于第二时间阈值tc0，则判断烹饪设备100离开平台升温阶段，将t(a+r+2)记为平台升温阶段的终止点，终止点对应的温度T1+(a+r+2)*T0即为离开平台升温阶段的温度。

若第二时间间隔Δtc2大于第二时间阈值tc0，则，则继续进行上述过程，直至烹饪温度T＝T1+(a+r+q+n)*T0时，对应的时间点为t＝t(a+r+q)，判断出烹饪设备100离开平台升温阶段，将t(a+r+q)记为平台升温阶段的终止点，终止点对应的温度T1+(a+r+q)*T0即为离开平台升温阶段的温度。

在本实施例中，第二时间阈值tc0的取值可以在30-200秒之间，比如tc0可以取30秒、60秒、90秒、120秒、150秒、180秒或者200秒等等，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

可选地，由于进入平台升温阶段时，升温曲线斜率减小，而离开平台升温阶段时，升温曲线斜率变大，因此，第二时间阈值与第二升温幅度的比值可以小于第一时间阈值与第一升温幅度的比值。

S103：根据平台升温阶段的持续时间确定烹饪设备100的烹饪量。

请参阅图6，图6是图4中S103一实施例的流程示意图，具体地，该步骤可以包括：

S1031：以平台升温阶段的终止点与起始点之间的差值作为平台升温阶段的持续时间。

具体地，计算终止点t(a+r+q)与起始点tr之间的差值，即可得到平台升温阶段的持续时间tb＝t(a+r+q)-tr。

S1032：根据预设的转换方式将平台升温阶段的持续时间转换为烹饪设备100的烹饪量。

如前，平台升温阶段的持续时间与烹饪量呈正相关，烹饪量越大，平台升温阶段的持续时间越长，烹饪量越小，平台升温阶段的持续时间越短。可以通过大量实验，确定平台升温阶段的持续时间与烹饪量之间的转换方式，然后将该转换方法内置到烹饪设备100中，在计算出平台升温阶段的持续时间之后，即可根据该转换方式得到烹饪设备100的烹饪量。

<烹饪设备的控制方法>

本申请另一方面提供一种烹饪设备的控制方法，相比相关技术中的压力控制方法，适用性较好、准确度较高、且成本较低。

相关技术中，电压力锅一般通过设置顶部温度传感器或底部压力开关来进行压力控制。使用顶部温度传感器进行压力控制的方案，适用性较差，比如分体电压力锅上盖难以供电，上盖难以设置温度传感器或设置温度传感器成本高。使用底部压力开关进行压力控制的方案中，压力开关工艺复杂，装配成本高，并且使用一段时间后，准确度也会逐渐衰减。

请继续参阅图2，平台升温阶段结束之后，烹饪设备100进入起压升温阶段，锅体10内开始产生压力，加热盘20需要继续对烹饪锅12进行加热，以使锅体10内的压力达到用户预设的目标压力。本申请发明人经长期研究发现，起压升温阶段中，锅体10内的压力与加热时长密切相关。因此，可以根据烹饪量和用户预设的目标压力来设置起压升温阶段的加热时长，然后通过控制起压升温阶段的加热时长，来控制锅体10内的压力，这种压力控制方法无须额外设置顶部温度传感器或者底部压力开关，适用性较好、准确度较高、且成本较低。

请参阅图7，图7是本申请烹饪设备的控制方法一实施例的流程示意图，具体地，该方法可以包括以下步骤：

S201：在烹饪过程中，获取烹饪设备100的烹饪温度随时间变化的升温曲线。

具体地，该步骤可以和S101相同或者相似，此处不再赘述。

S202：在升温曲线中确定起压升温阶段的起始点，其中起压升温阶段的斜率大于起压升温阶段的前侧烹饪阶段的斜率。

请参阅图8，图8是图7中S202一实施例的流程示意图，本实施例中，在升温曲线中确定起压升温阶段的起始点，具体可以通过其所包含的如下步骤实现：

S2021：在升温曲线中确定平台升温阶段，其中平台升温阶段的斜率分别小于平台升温阶段的前后两侧烹饪阶段的斜率。

本实施例中，在升温曲线中确定平台升温阶段的步骤，可以与S102中在升温曲线中确定平台升温阶段的步骤相同或者相似，此处不再赘述。

S2022：以平台升温阶段的终止点或以终止点后续的预设时间点作为起压升温阶段的起始点。

如图2所示，平台升温阶段结束之后，烹饪设备100进入起压升温阶段。因此，可以将平台升温阶段的终止点t(a+r+q)作为起压升温阶段的起始点。在一些实施例中，还可以以检测出该终止点的时间点t(a+r+q+n)作为起压升温阶段的起始点，或者以平台升温阶段的终止点t(a+r+q)与检测出该终止点的时间点t(a+r+q+n)之间的任意时间点作为起压升温阶段的起始点，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

S203：根据预设的目标压力和/或烹饪设备100的烹饪量设置起压升温阶段的加热时长。

具体地，预设的目标压力越大，则起压升温阶段的加热时长越长。烹饪设备100的烹饪量越大，则起压升温阶段的加热时长越长。在本实施例中，起压升温阶段的加热时长一般在5-240秒之间。

进入起压升温阶段之后，加热盘20继续对烹饪锅12进行加热，直至达到设置的加热时长，此时，烹饪温度达到最高，此时锅体10内的压力接近用户预设的目标压力，烹饪设备100进入保压阶段。进入保压阶段之后，可以控制加热盘20以较小的功率继续对烹饪锅12进行加热，以使得锅体10内的压力保持在一定的范围内，进行压力烹饪。

进一步地，在S203之前，还可以通过如下步骤获取烹饪设备100的烹饪量：

根据平台升温阶段的持续时间确定烹饪量。

具体地，该步骤可以和S103相同或者相似，此处不再赘述。

在一些实施例中，还可以通过相关技术中的烹饪量检测方法获取烹饪设备100的烹饪量，比如，根据烹饪锅12的锅底温度从T1加热到T2，所需要的时长来判断烹饪量，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

<烹饪设备的压力检测方法>

本申请又一方面提供一种烹饪设备的压力检测方法，能够在降压降温阶段中获取锅体10内的压力，准确度相对较高、适用性较好，且成本较低。

相关技术中，电压力锅一般通过设置顶部温度传感器或底部压力开关在降压降温阶段中获取锅体10内的压力。使用顶部温度传感器进行压力检测的方案，适用性较差，比如分体电压力锅上盖难以供电，上盖难以设置温度传感器或设置温度传感器成本高。使用底部压力开关进行压力检测的方案中，压力开关工艺复杂，装配成本高，并且使用一段时间后，准确度也会逐渐衰减。并且，压力开关适用性较差，只可对单一压力进行检测，若采用压力开关进行起压升温阶段的压力控制，则在降压降温阶段中不能使用该压力开关进行压力检测。

本申请发明人经长期研究发现，降压降温阶段中，在烹饪量一定的情况下，锅体10内的压力和烹饪温度之间存在对应关系，每一烹饪温度都对应一个压力值。因此，在降压降温阶段中，可以根据烹饪量和烹饪温度来获取锅体10内的压力，无需设置额外的顶部温度传感器或底部压力开关，准确度相对较高、适用性较好，且成本较低。

请参阅图9，图9是本申请烹饪设备的压力检测方法一实施例的流程示意图，具体地，该方法可以包括以下步骤：

S301：获取烹饪设备100的烹饪量。

具体地，可以通过前述的烹饪设备100的烹饪量的检测方法来获取烹饪设备100的烹饪量，此处不再赘述。

在一些实施例中，还可以通过相关技术中的烹饪量检测方法获取烹饪设备100的烹饪量，比如，根据烹饪锅12锅底温度从T1加热到T2，所需要的时长来判断烹饪量，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

S302：在烹饪设备100的降压降温阶段，根据烹饪量和烹饪设备100的烹饪温度确定锅体10内的压力。

保压阶段结束后，烹饪设备100进入降压降温阶段，为使锅体10内降压降温，S302还可以包括：控制加热盘20停止对锅体10进行加热。

具体地，请参阅图10，图10是图9中S302一实施例的流程示意图，根据烹饪量和烹饪设备100的烹饪温度确定锅体10内的压力，可以包括：

S3021：根据烹饪量选择对应的转换方式。

举例而言，可以通过大量实验，获取每一烹饪量对应的烹饪温度与锅体10内压力的对应表，如图11所示，图11是烹饪设备的烹饪温度与锅体内压力的对应表的示意图，Tj1对应Pj1，Tj2对应Pj2，……Tjn对应Pjn……。将对应表内置到烹饪设备100中，在检测出烹饪设备100的烹饪量之后，即可根据烹饪量确定出对应的烹饪温度与锅体10内压力之间的转换方式。

S3022：根据所选择的转换方式，将烹饪温度转换为锅体10内的压力。

举例而言，烹饪锅12底部的温度传感器30检测烹饪温度Tjn，烹饪设备100根据烹饪量，调用与烹饪量对应的烹饪温度与锅体10内压力的对应表，反馈锅体10内的压力为Pjn。在降压降温阶段中，可以持续检测锅体10内的压力，直到锅内压力降为0，降压降温阶段结束，烹饪程序结束。

通过上述方法检测出来的锅体10的压力可以在锅体10的显示屏中显示出来，也可以在与烹饪设备100电信号连接的其它电子设备(比如，手机)上显示出来。此外，烹饪设备100还可以通过语音信息向用户提示锅体10内的压力，本申请不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

<烹饪设备的异物检测方法>

本申请再一方面提供一种烹饪设备的异物检测方法，以判断烹饪锅12与加热盘20之间是否存在异物。

相关技术中，电压力锅一般分为弹性平台和刚性平台。其中，弹性平台一般使用加热盘20对烹饪锅12进行加热。使用加热盘20的加热方式存在如下问题：烹饪锅12与加热盘20可分离，取出烹饪锅12后，异物(比如米粒)容易落在加热盘20上，或者烹饪锅12底部容易沾有异物，一方面导致加热盘20和烹饪锅12接触不良，另一方面也会导致温度传感器30与烹饪锅12之间的接触有所改变，从而影响烹饪效果。在加热盘20与烹饪锅12之间存在异物时，如果能检测出异物的存在，就可以调整烹饪程序，对烹饪效果进行补偿。

本申请发明人在烹饪过程中测试锅底外表面的温度发现，锅底升温规律为：初始阶段升温快，升温曲线斜率大，该阶段为快速升温阶段；随着温度的升高，升温曲线效率变小，曲线平缓，表现为一段平台，该阶段为平台升温阶段。且平台温度与环境温度以及加热盘20和烹饪锅12之间是否存在异物相关。环境温度越高，平台温度越高。加热盘20和烹饪锅12之间存在异物时，平台温度高。

加热盘20和烹饪锅12之间存在异物会导致平台温度变高，主要因为加热盘20和烹饪锅12之间存在异物后，加热盘20与烹饪锅12接触不良，加热盘20热量难以快速传递到烹饪锅12上，使得加热盘20上热量不断积累，温度不断上升，直至达到平衡。加热盘20温度过高，对烹饪锅12底部外表面进行加热，使得烹饪锅12底部外表面温度较高，温度传感器30直接与烹饪锅12锅底的外表面接触，使得温度传感器30检测到的温度高。同时加热盘20温度过高，对温度传感器30热辐射作用强，一定程度上使得温度传感器30温度升高。整体上，加热盘20和烹饪锅12之间存在异物时，平台温度与环境温度之差大于没有异物的情况。

请参阅图12，图12是本申请烹饪设备的异物检测方法一实施例的流程示意图，该方法具体可以包括如下步骤：

S401：在烹饪过程中，获取烹饪设备100的烹饪温度随时间变化的升温曲线。

具体地，该步骤可以和S101相同或者相似，此处不再赘述。

S402：在升温曲线中确定平台升温阶段，其中平台升温阶段的斜率分别小于平台升温阶段的前后两侧烹饪阶段的斜率。

具体地，该步骤可以和S102相同或者相似，此处不再赘述。

S403：根据平台升温阶段的平台温度确定烹饪锅12与加热盘20之间是否存在异物。

具体地，如图13所示，图13是图12中S403一实施例的流程示意图，S403可以通过其所包括的如下步骤实现：

S4031：计算平台温度与环境温度的温度差值。

在本实施例中，可以以平台升温阶段内的预定时间点的温度或者平台升温阶段内的预定时间范围的平均温度作为平台温度。

举例而言，将tr记为平台升温阶段的起始点，将t(a+r+q)记为平台升温阶段的终止点，平台升温阶段的平台温度可以是tr对应的温度，可以是t(a+r+q)对应的温度，可以是tr与t(a+r+q)之间的任意一点对应的温度，可以是整个平台升温阶段的平均温度，还可以是tr与t(a+r+q)之间任一时间段的平均温度，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

S4032：判断温度差值是否大于或等于预设的第一温度阈值。

具体地，第一温度阈值可以是基于大量的实验确定的，若平台温度与环境温度的温度差值大于或等于第一温度阈值，则加热盘20与烹饪锅12之间存在异物，若平台温度与环境温度的温度差值小于第一温度阈值，则加热盘20与烹饪锅12之间不存在异物。

S4033：若大于或等于预设的第一温度阈值，则判定烹饪锅12与加热盘20之间存在异物。

如前，在检测出加热盘20与烹饪锅12之间存在异物时，可以调整烹饪程序，对烹饪效果进行补偿。

如图14所示，图14是本申请烹饪设备的异物检测方法另一实施例的流程示意图，S403之后，还可以包括如下步骤：

S404：在烹饪设备100的降温降压过程中，判断烹饪温度是否小于或等于预设的第二温度阈值。

具体地，第二温度阈值可以是基于大量的实验确定的。当烹饪温度降低至第二温度阈值时，该烹饪温度对应的锅体10内的压力相对较低，此时进行手动排气不会导致锅体10内的汤汁溢出，可以进行手动排气，以使得锅体10内的压力快速降低。

S405：若小于或等于第二温度阈值且烹饪锅12与加热盘20之间不存在异物，则产生排压提醒信号；若大于第二温度阈值或烹饪锅12与加热盘20之间不存在异物，则不产生排压提醒信号。

具体地，若加热盘20与烹饪锅12之间不存在异物，则烹饪温度能够准确反映锅体10内的压力，当烹饪温度降低至第二温度阈值时，锅体10内的压力相对较低，可以产生排压提醒信号，提醒用户手动排气。若加热盘20与烹饪锅12之间存在异物，则烹饪温度不能准确反映锅体10内的压力，当烹饪温度降低至第二温度阈值时，锅体10内的压力可能仍然比较高，此时若进行手动排气，锅体10内的汤汁可能会溢出，因此，在这种情况下，可以不产生排压提醒信号，以避免汤汁溢出，等待锅体10内的压力自动降低至与外界大气压相同。

请继续参阅图14，S405之后，还可以包括如下步骤：

S406：在烹饪设备100的保温过程中，判断烹饪温度是否小于或等于第三温度阈值。

具体地，在保温过程中，需要对锅体10内的食物进行保温，因此将烹饪温度维持在第三温度阈值附近。

S407：若小于或等于第三温度阈值，则控制加热盘20进行保温加热；其中，烹饪锅12与加热盘20之间存在异物时的第三温度阈值大于烹饪锅12与加热盘20之间不存在异物时的第三温度阈值。

具体地，若烹饪温度小于或等于第三温度阈值，说明锅体10内食物的温度过低，需要控制加热盘20对烹饪锅12进行加热。

加热盘20与烹饪锅12之间存在异物时，烹饪温度不一定能准确反映锅体10内食物的温度。因此，为避免锅体10内食物温度过低，加热盘20与烹饪锅12之间存在异物时的第三温度阈值可以设置的高于加热盘20与烹饪锅12之间不存在异物时的第三温度阈值。两者之间的差值可以在0-8℃之间，比如可以是1℃、3℃、5℃、7℃或者8℃。

请参阅图15，图15是本申请烹饪设备另一实施例的结构示意图，该烹饪设备200包括存储器210、处理器220及存储在存储器210上并可在处理器220上运行的烹饪程序，处理器220执行烹饪程序时实现以上所描述的任一温度控制方法的步骤。

其中，处理器220还可以称为CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)。处理器220可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器220还可以是通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器220也可以是任何常规的处理器等。

存储器210可以包括随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、闪存、可擦除可编程只读存储器210(EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、寄存器、硬盘、可移动盘、CD-ROM，等等。存储器210可以存储有程序数据，程序数据例如可包括单条指令、或许多条指令，且可分布在若干不同的代码段上，分布在不同的程序间以及跨多个存储器分布。存储器210可被耦接到处理器220以使得该处理器220能从/向该存储器210读写信息。当然，存储器210可以被整合到处理器220，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

请参阅图16，图16是本申请计算机可读存储介质一实施例的结构示意图，该计算机可读存储介质300上存储有烹饪程序，烹饪程序被处理器执行时实现以上所描述的任一方法的步骤。本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储装置中，包括若干指令(程序数据)用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的存储装置包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种介质以及具有上述存储介质的电脑、手机、笔记本电脑、平板电脑、相机等电子设备。

以上仅为本申请的部分实施例，并非因此限制本申请的保护范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效装置或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。