芯片测试数据溯源方法和装置

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片测试数据溯源方法和装置。

背景技术

半导体芯片封装完成后，需要进行成品测试。在芯片成品测试中，需要检测芯片是否满足设计标准以及出厂销售标准。在测试过程中会对芯片测试数据进行归档和保存，以便对测试数据进行统计和分析。

目前，对于半导体芯片测试数据只能做到按生产批次索引。一个测试批次的数量从数千到数十万个芯片不等。因此，对测试数据的溯源只能做到一个批次的级别。无法精确的对每个芯片的测试的数据进行溯源操作。当日后需要对芯片进行失效分析或者对芯片生产良率和效率进行查询和追溯时，就无法做到对每个半导体芯片的测试数据进行溯源。

因此，需要提供一种能够对芯片测试数据进行溯源的方法。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种芯片测试数据溯源的方法和装置，用以解决现有技术中的无法对芯片数据进行精确溯源的问题。

根据本发明的第一方面，提出了一种芯片测试数据溯源的方法，该方法包括：

获取芯片的标识符信息；

关联存储所述芯片的标识符信息与所述芯片的测试数据。

根据本发明一优选实施方式，获取芯片的标识符信息包括从所述芯片的RFID中读取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，获取芯片的标识符信息包括：

获取芯片表面的图像；

对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述芯片表面的图像是在芯片测试过程中通过高速相机获取的。

根据本发明一优选实施方式，所述方法还包括，在关联存储所述芯片的标识符与所述芯片的测试数据之前，对所述芯片进行电性测试，得到所述测试数据。

根据本发明一优选实施方式，对芯片表面的图像进行文字识别处理包括：

根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像；

对所述标识符区域的图像进行文字识别处理，得到所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，若对芯片表面的图像进行文字识别处理的步骤失败，则重新执行获取芯片表面的图像的步骤。

根据本发明一优选实施方式，所述方法还包括，根据所述芯片的标识符，查找所述芯片的测试数据。

根据本发明的第二方面，提出了一种芯片测试数据溯源的装置，包括：

获取单元，用于获取芯片的标识符信息；

存储单元，用于关联存储所述芯片的标识符信息与所述芯片的测试数据。

根据本发明一优选实施方式，所述获取单元被配置为从所述芯片的RFID中读取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述获取单元包括：

图像采集单元，用于获取芯片表面的图像；

文字识别单元，用于对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述图像采集单元被配置为通过高速相机获取芯片表面的图像。

根据本发明一优选实施方式，所述装置还包括，测试单元，用于对所述芯片进行电性测试，得到所述测试数据。

根据本发明一优选实施方式，所述文字识别单元包括：

提取单元，用于根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像；

处理单元，用于对所述标识符区域的图像进行文字识别处理，得到所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述装置还包括判断单元，用于判断所述文字识别处理是否失败，若失败则通过图像采集单元重新获取芯片表面的图像。

根据本发明一优选实施方式，所述装置还包括查找单元，用于根据所述芯片的标识符，查找所述芯片的测试数据。

根据本发明的第三方面，提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行以上描述的方法。

由以上技术方案可以看出，本发明通过将芯片的标识符信息与对应的芯片测试数据关联存储，实现了对芯片测试数据的精准溯源。当需要对某一芯片进行失效分析时，可以方便地通过芯片的标识符信息查找到对应的芯片测试数据。

附图说明

参照附图，本发明的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是，这些附图仅仅用于举例说明本发明的技术方案，而并非意在对本发明的保护范围构成限定。图中：

图1为根据本发明一个实施例的芯片测试数据溯源方法的流程图；

图2为根据本发明另一实施例的芯片测试数据溯源方法的流程图；

图3为根据本发明一个实施例的芯片测试数据溯源装置的结构示意图；

图4为根据本发明另一实施例的芯片测试数据溯源装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述。

图1为根据本发明一个实施例的芯片测试数据溯源方法的流程图。如图1所示，芯片测试数据溯源方法包括:

步骤11：获取芯片的标识符信息；

步骤12：关联存储芯片的标识符信息与芯片的测试数据。

在步骤11中，芯片的标识符信息例如可以是芯片的ID号。芯片的标识符信息可以是芯片生产方提供的，也可以是由测试方按照一定规则生成的。本发明对标识符生成的规则不进行限制，芯片的标识符信息只需要满足可以唯一识别相应的芯片即可。

根据不同的实施例，为了将标识符信息与芯片绑定在一起，在对芯片进行测试前或者在测试的过程中，可以将标识符信息激光蚀刻或喷印在芯片表面，将印刷有芯片标识符信息的贴纸贴在芯片表面上，或者也可以将存储有芯片标识符信息的RFID固定在芯片上。在步骤11中，可以通过光学字符识别技术(OCR)识别芯片的标识符信息，或者也可以通过RFID读取器读取RFID中的芯片标识符信息。本发明对此不做限定。

在步骤12中，将获取的芯片标识符信息与芯片的测试数据关联存储在数据日志或据库中。芯片的测试数据可以是在获取芯片标识符信息之前或之后获得的，也可以是与芯片标识符信息同时获得的，本发明对此不做限制。只需要保证在存储步骤之前完成测试，并且存储的芯片测试数据与芯片标识符信息对应于同一个芯片。

当后续需要针对一个特定芯片获取其测试数据时，可以根据该特定芯片的标识符信息，从数据日志或数据库中获得对应的测试数据。

图2为根据本发明另一实施例的芯片测试数据溯源方法的流程图。如图2所示，芯片测试数据溯源方法包括:

步骤21：获取芯片表面的图像；

步骤22：对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息；

步骤23：判断是否识别成功，若不成功则返回步骤21，若成功则执行步骤24；

步骤24：对芯片进行电性测试，得到测试数据；

步骤25：关联存储芯片的标识符信息与芯片的测试数据。

在步骤21中，获取芯片表面的图像。该图像例如可以是通过高速CCD相机获取的。由于芯片表面上有芯片的标识符信息，获取的芯片表面的图像中包括芯片的标识符信息的图像。

在步骤22中，利用光学字符识别方法识别芯片表面的图像中的标识符信息。根据优选的实施方式，在步骤22中，可以首先根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像，然后再对标识符区域的图像进行文字识别处理，得到芯片的标识符信息。事实上，可以将标识符区域设置在芯片表面的固定位置上，并且将该位置预先存储起来。当识别芯片的标识符信息时，可以仅对标识符区域的图像进行光学字符识别处理，从而提高了标识符信息的识别效率。

在步骤23中，判断步骤22是否成功执行。若步骤22未成功执行，则返回步骤21重新获取芯片表面的图像，若步骤22成功执行，则执行步骤24。事实上，在实际操作中，会存在各种原因导致识别失败。例如，当获取的芯片表面的图像不清楚时，会导致不能成功识别出芯片的标识符信息或者识别时间超时。通过再次获取芯片表面的图像并进行识别，可以避免由于图像不清楚导致的芯片标识符信息缺失的问题。

在步骤24中，对芯片进行电性测试，得到测试数据。电性测试指对芯片进行上电并测试芯片的各项参数，以便确定芯片是否满足设计标准以及出厂销售标准。

在步骤25中，将芯片的标识符信息与芯片检测数据关联存储在数据日志或数据库中。当后续需要针对某一芯片查找测试数据时，技术人员可以轻松地从芯片表面读取标识符信息，并且以该标识符信息为索引从数据日志或数据库中检索到与该标识符信息对应的检测数据。

以上是对本发明所提供方法进行的描述，下面结合实施例对本发明提供的装置进行详细描述。

图3为根据本发明一个实施例的芯片测试数据溯源的装置的结构示意图。如图3所示，芯片测试数据溯源装置3包括:

获取单元31，用于获取芯片的标识符信息；

存储单元32，用于关联存储芯片的标识符信息与芯片的测试数据。

在获取单元31负责获取芯片的标识符信息。芯片的标识符信息例如可以是芯片的ID号。芯片的标识符信息可以是芯片生产方提供的，也可以是由测试方按照一定规则生成的。本发明对标识符生成的规则不进行限制，芯片的标识符信息只需要满足可以唯一识别相应的芯片即可。

根据不同的实施例，为了将标识符信息与芯片绑定在一起，在对芯片进行测试前或者在测试的过程中，可以将标识符信息激光蚀刻或喷印在芯片表面，将印刷有芯片标识符信息的贴纸贴在芯片表面上，或者将存储有芯片标识符信息的RFID固定在芯片上。在步骤11中，可以通过光学字符识别技术(OCR)识别芯片的标识符信息，或者通过RFID读取器读取RFID中的芯片标识符信息。

存储单元32负责将获取的芯片标识符信息与芯片的测试数据关联存储在数数据日志或据库中。芯片的测试数据可以是在获取芯片标识符信息之前或之后获得的，也可以是与芯片标识符信息同时获得的，本发明对此不做限制。只需要保证在存储步骤之前完成测试，并且存储的芯片测试数据与芯片标识符信息对应于同一个芯片。

当后续需要针对一个特定芯片获取其测试数据时，可以根据该特定芯片的标识符信息，从数据日志或数据库中获得对应的测试数据。

图4为根据本发明另一实施例的芯片测试数据溯源的装置的结构示意图。如图4所示，芯片测试数据溯源的装置4包括:

图像采集单元41，用于获取芯片表面的图像；

文字识别单元42：用于对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息；

判断单元43，用于判断文字识别处理是否失败，若失败则通过图像采集单元重新获取芯片表面的图像；

测试单元44：对芯片进行电性测试，得到测试数据；

存储单元45：关联存储芯片的标识符信息与芯片的测试数据。

图像采集单元41负责获取芯片表面的图像。该图像例如可以是通过高速CCD相机获取的。由于芯片表面上有芯片的标识符信息，获取的芯片表面的图像中包括芯片的标识符信息的图像。

文字识别单元42负责利用光学字符识别方法识别芯片表面的图像中的标识符信息。根据优选的实施方式，文字识别单元42可以首先根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像，然后再对标识符区域的图像进行文字识别处理，得到芯片的标识符信息。事实上，可以将标识符区域设置在芯片表面的固定位置上，并且将该位置预先存储起来。当识别芯片的标识符信息时，可以仅对标识符区域的图像进行光学字符识别处理，从而提高了标识符信息的识别效率。

判断单元43负责判断步骤22是否成功执行。若文字识别单元42未成功识别标识符信息，则返图像采集单元41重新获取芯片表面的图像，若文字识别单元42成功识别标识符信息，则进入测试单元44对芯片进行测试。事实上，在实际操作中，会存在各种原因导致识别失败。例如，当获取的芯片表面的图像不清楚时，会导致不能成功识别出芯片的标识符信息或者识别时间超时。通过再次获取芯片表面的图像并进行识别，可以避免由于图像不清楚导致的芯片标识符信息缺失的问题。

测试单元44负责对芯片进行电性测试，得到测试数据。电性测试指对芯片进行供电并测试芯片的各项参数，以便确定芯片是否满足设计标准以及出厂销售标准。

存储单元45负责将芯片的标识符信息与芯片检测数据关联存储在数据日志或数据库中。当后续需要针对某一芯片查找测试数据时，技术人员可以轻松地从芯片表面读取标识符信息，并且以该标识符信息为索引从数据日志或数据库中检索到与该标识符信息对应的检测数据。

以上描述的装置实施例仅是示意性的。各单元的划分可以是基于逻辑功能的划分，在实际实现时可以采用其他的划分方式。例如多个单元可以结合或者可以集成到另一个单元或系统中。上述各个单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

上述各个单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案可以采用软件产品的形式体现，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使计算机设备的处理器执行本发明各个实施例的方法的全部或部分步骤。存储介质包括但不限于闪存盘、只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、移动硬盘、磁盘或者光盘等可以存储程序代码的介质。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。