一种整料机台、整料设备以及测试系统

技术领域

本发明涉及封装IC技术领域，具体涉及一种整料机台、整料设备以及测试系统。

背景技术

近十年来，随着PCB及封装IC相关产业的高速发展，每个PCB上设置的封装IC的数量也随之增加，因此，对于IC测试厂商而言，如何加速封装IC的测试速度，成为了重要的课题之一。

封装IC在运送过程中，通常是设置于料管组件中，设置于料管组件中的封装IC的接脚的朝向不是统一的，为了快速的对封装IC进行测试，通常需要操作人员对料管组件进行手动排列，使得封装IC的接脚的朝向统一，从而能够使得相关测试设备能够快速地对封装IC进行检测。但是，利用人工的方式对多个料管组件进行排列，会提高成本，同时降低测试的效率。

上述问题是本领域亟需解决的问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种整料机台、整料设备以及测试系统，从而能够对料管组件进行自动化的排列，能够大大的提高测试的效率，并且降低成本。

为了解决上述技术问题，本发明提供的方案是：一种整料机台，包括集料机构，所述集料机构底部设置有旋转机构，所述旋转机构一侧设置有感测模块，所述旋转机构另一侧设置有推抵机构，所述集料机构外部设置有控制所述旋转机构和所述感测模块的处理装置。

作为本发明的进一步改进，所述旋转机构包括转动件以及驱动转动件旋转的旋转驱动器，所述旋转驱动器与所述处理装置连接，所述转动件上开有容置槽，所述转动件下方设置有限位件，所述限位件上开有避让凹槽。

作为本发明的进一步改进，所述推抵机构包括推动模块，所述推动模块输出端设置有伸入至所述容置槽内部的推杆，

作为本发明的进一步改进，所述集料机构包括挡墙，所述挡墙一侧设置有导引板，所述导引板包括斜向部和直线部，所述斜向部与所述挡墙形成集料槽，所述直线部与所述挡墙形成入料通道，所述集料槽处设置有拨料组件，所述拨料组件与所述处理装置连接。

作为本发明的进一步改进，所述拨料组件包括连接杆，所述连接杆上设置有滚轮，所述滚轮外圆面上设置有拨杆，所述连接杆连接有驱动器。

作为本发明的进一步改进，位于所述入料通道和所述旋转机构之间设置有止挡机构，所述止挡机构包括止挡件，所述止挡件连接驱动模块，所述驱动模块与所述处理装置连接。

作为本发明的进一步改进，所述挡墙侧面上位于所述斜向部上方设置有限位结构，所述限位机构与所述斜向部之间形成导引通道。

作为本发明的进一步改进，所述挡墙侧面上位于所述入料通道底部设置有辅助限位结构，所述辅助限位结构上设置有倾斜面，所述辅助限位结构与所述直线部形成等待区域。

作为本发明的进一步改进，整料设备包括整料机台，所述整料机台一侧设置有拔塞机台。

作为上述技术方案的进一步改进，测试系统包括整料设备，所述整料设备侧面依次设置有交换设备和测试设备。

本发明的有益效果：

本发明结构合理、简单，操作便捷，将料管组件放入至集料机构中，料管组件在集料槽中沿着斜向依次进入导引通道、入料通道中以及等待区域，等待区域中的料管组件通过止挡机构进行限制，此时感测模块对限制的料管组件进行检测，确认料管组件凹槽的的位置，检测完毕后，止挡机构缩回使得料管组件进入至旋转机构中，处理装置根据之前检测的信息从而控制旋转机构旋转的方向，从而对料管组件凹槽的位置进行统一，最后通过推抵机构将料管组件推出收集，从而能够提高测试的效率，并且降低人工成本。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是本发明料管组件的结构示意图；

图3是发明另一视角的结构示意图；

图4是本发明的局部剖面示意图；

图5是图4的主视图；

图6是本发明旋转机构的结构示意图；

图7是图5局部放大示意图；

图8是图5局部放大示意图；

图9是图5局部放大示意图；

图10是本发明中集料机构、旋转机构及止挡机构的结构示意图；

图11是本发明整料设备的结构示意图；

图12是本发明测试系统的结构示意图。

附图标记：1、处理装置；2、集料机构；21、导引板；211、斜向部；212、直线部；22、挡墙；23、拨料组件；231、滚轮；232、连接杆；233、拨杆；234、驱动器；24、限位结构；25、辅助限位结构；3、入料通道；4、旋转机构；41、转动件；42、旋转驱动器；43、限位件；431、避让凹槽；5、感测模块；6、止挡机构；61、止挡件；62、驱动模块；7、推抵机构；71、推杆；72、推动模块；S、测试系统；S1、整料设备；S2、交换设备；S3、测试设备；S11、整料机台；S12、拔塞机台；2A、集料槽；3A、等待区域；2B、导引通道。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。

参照图1至图10所示，通过将物料组件的凹槽部位的朝向统一，进而使得物料组件排列的方向一致，本实施例的整料机台S11，包括集料机构2，集料机构2底部设置有旋转机构4，旋转机构4一侧设置有感测模块5，旋转机构4另一侧设置有推抵机构7，集料机构2外部设置有控制旋转机构4和感测模块5的处理装置1，将料管组件放置在集料机构2中，感测模块5对物料组件的凹槽部位朝向进行检测，之后料管组件移动至旋转机构4中，旋转机构4旋转的方向通过感测模块5检测的结果进行调节，经过旋转后的物料组件通过推抵机构7退出，最后进行收集。

本实施例中，旋转机构4包括转动件41以及驱动转动件41旋转的旋转驱动器42，旋转驱动器42与处理装置1连接，通过处理装置1控制旋转驱动器42旋转的方向，旋转的方向通过感测模块5对料管组件的检测结果进行确定，转动件41上开有容置槽411，能够让转动件41下方设置有限位件43，实际生产中，转动件41与限位件43之间的间隙小于料管组件的高度，使得料管组件A无法通过间隙，提高安全性，限位件43上开有避让凹槽431，避让凹槽431能够呈现为类似于倒梯形状或是类似圆弧状，能够使得料管组件的一部分沿着避让凹槽431的侧壁滑动。

本实施例中，推抵机构7包括推动模块72，推动模块72输出端设置有伸入至容置槽411内部的推杆71，推动模块72通过处理装置1进行控制。

本实施例中，集料机构2包括挡墙22，挡墙22一侧设置有导引板21，导引板21包括斜向部211和直线部212，斜向部211与挡墙22形成集料槽2A，直线部212与挡墙22形成入料通道3，入料通道3的宽度设置在料管组件的高度和宽度之间，使得料管组件的较宽面是面对入料通道3的侧壁的，料管组件放置在集料槽2A中，沿着斜向部211滑动至入料通道3中，集料槽2A处设置有拨料组件23，拨料组件23与处理装置1连接，处理装置1能够控制拨料组件23进行工作，使得集料槽2A中的料管组件能够逐一地进入入料通道3中。

本实施例中，拨料组件23包括连接杆232，连接杆232上设置有滚轮231，滚轮231外圆面上设置有拨杆233，连接杆232连接有驱动器234，驱动器234可以是各式马达，能够控制连接杆232根据需求进行正反转，使得拨杆233波动料管组件，从而使得料管组件能够逐一地进入入料通道3中。

本实施例中，位于入料通道3和旋转机构4之间设置有止挡机构6，止挡机构6包括止挡件61，止挡件61连接驱动模块62，驱动模块62与处理装置1连接，驱动模块62控制止挡件61对入料通道3中的料管组件进行阻挡，此时，处理装置1将控制感测模块5工作，以使感测模块5对被止挡件61阻挡的料管组件进行感测作业，并产生感测信息，当处理装置1接收到感测信息时，处理装置1将控制止挡件61缩回，而使止挡件61的一部分不再位于入料通道3中，使得只能够最靠近转动件41的那一个料管组件离开入料通道3，而进入转动件41中。

本实施例中，挡墙22侧面上位于斜向部211上方设置有限位结构24，限位机构24与斜向部211之间形成导引通道2B，使得料管组件通过导引通道2B进入至入料通道3中，提高料管组件进入入料通道3的流畅性。

本实施例中，挡墙22侧面上位于入料通道3底部设置有辅助限位结构25，辅助限位结构25上设置有倾斜面251，辅助限位结构25与直线部212形成等待区域3A，能够对入料通道3中的料管组件进行进一步的限位，提高料管组件流通的顺畅性。

参照图11所示，整料设备S1包括整料机台S11和多个配套的拔塞机台S12。整料机台S11参照上述实施例，于此不再赘述。拔塞机台S12邻近于整料机台S11设置，拔塞机台S12用以将通过整料机台S11的各个料管组件的至少一个塞体拔离料管本体。

参照图12所示，测试系统S包括整料设备S1，整料设备S1包括上述实施例的整料机台S11和拔塞机台S12，整料设备S1侧面依次设置有交换设备S2和测试设备S3。实际应用中，测试设备S3可以包含烤箱，将料管组件中的芯片送入温度在120℃至130℃之间的烤箱中烘烤2-6小时后，再继续进行高温测试。依上所述，测试系统S可以快速、大量且自动化地，将多个料管组件中的芯片进行相关测试。

以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例，本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换，均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。