一种COS老化测试装置

技术领域

本发明属于COS测试技术领域，尤其涉及一种COS老化测试装置。

背景技术

半导体激光器在通讯、军事和医疗等领域越来越广泛，半导体激光器(chip onsubmount，简称COS)作为一种半导体激光器的核心元器件，一般在制作过程中需要经过可靠性的验证，让半导体激光器COS加速老化，并且通过COS老化测试获取相关技术参数。

因此，很多厂家都要提前通过电应力或者电应力与热应力同时作用下，需要把生产中的半导体激光器的COS潜在的缺陷和一些性能指标达不到要求的提前暴露出来，通过老化测试把最佳的半导体激光器的COS提前筛选出来，这就是半导体激光器生产过程中的COS的老化测试。

通过半导体激光器COS的长期可靠性验证，可以判断COS的失效机制，进而优化产品性能和改进工艺，要对半导体泵浦定时且长期的多种COS老化测试是必须要做的。

但是，目前的半导体激光器COS老化测试的系统的散热均是使COS产生的热量传递至下方的盛放件内，然后对盛放件进行散热。但是COS产生的是光能量，这种散热方式未对光能量产生的热量进行散热，导致其散热效率低，不宜进行长期的老化测试。而且，无法对COS进行光检测，确定其性能。

因此，亟需一种COS老化测试装置，以解决上述技术问题。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种COS老化测试装置，其既可以进行老化测试，又可以检测其光学性能，还能够对COS的光能量进行冷却散热，保证了老化测试结果的准确性。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种COS老化测试装置，包括：

冷却件；

测试机构，其包括固定板和多个加电针组件，所述加电针组件用于将COS固定在所述固定板上，并为所述COS加电；

积分球，其设置在所述冷却件上，且与所述测试机构对应设置，所述COS的光源能够射入所述积分球内；

检测组件，其设置在所述积分球内，用于光检测所述COS。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述积分球上设置有多个入光孔，所述入光孔与所述加电针组件一一对应设置。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述冷却件内设置有水冷回路，所述水冷回路内流通有冷却液。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述测试机构和所述积分球均为多个，所述冷却件上设置有定位销，所述定位销用于定位所述测试机构。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述测试机构还包括金属块，其固定在所述固定板上，所述金属块上设置有与所述加电针组件对应设置的容纳槽，所述COS放置在所述容纳槽内，所述加电针组件至少部分位于所述容纳槽内。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述加电针组件包括导电插针组件和压板，所述压板用于驱使所述导电插针组件抵接于所述COS，以使所述导电插针组件与所述COS电连接。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述导电插针组件包括基板和两个导电插针，所述导电插针至少部分设置在所述基板内，所述导电插针能够与所述COS电连接。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述压板和所述基板通过固定件固定在所述固定板上，以使所述压板驱使所述导电插针与所述COS相抵接。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，所述测试机构还包括插针连接座，所述导电插针远离所述COS的一端连接于所述插针连接座。

作为一种COS老化测试装置的优选技术方案，还包括夹持机构，其设置中所述冷却件上，用于将所述测试机构夹持在所述冷却件上。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

加电针组件将COS固定在固定板上，并为COS加电，对COS进行老化测试；COS加电之后发出光亮，COS的光源能够射入积分球内，积分球内的检测组件光检测COS，确定COS的光学性能；COS的光能量被积分球所吸收，然后将热量传递至冷却件；积分球可以对COS的光能量进行冷却散热，提高了COS的散热效率，保证了老化测试结果的准确性。

附图说明

图1为本发明提供的COS老化测试装置的结构示意图；

图2是图1中A处的局部放大视图；

图3是本发明提供的测试机构的结构示意图。

其中，1、冷却件；11、定位销；

2、测试机构；21、固定板；22、加电针组件；221、导电插针组件；2211、导电插针；2212、基板；222、压板；2221、主体部；2222、压条；223、固定件；

23、金属块；231、容纳槽；24、插针连接座；

3、积分球；31、入光孔；4、夹持机构；41、四连杆夹具；42、夹持垫块；100、COS。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。本领域技术人员应该明了，所述具体实施方式仅仅是帮助理解本发明，不应视为对本发明的具体限制。

实施例1

如图1至图3所示，本实施例公开了一种COS老化测试装置，其包括冷却件1、测试机构2、积分球3和检测组件。

测试机构2包括固定板21和多个加电针组件22，加电针组件22用于将COS100固定在固定板21上，并为COS100加电，以对COS100进行老化测试。积分球3设置在冷却件1上，且与测试机构2对应设置，COS100的光源能够射入积分球3内。检测组件设置在积分球3内，用于光检测COS100，以确定COS100的光学性能，检测组件具体为PD传感器，可以将光信号转换至电信号，以对COS100的光学性能进行测试。

加电针组件22将COS100固定在固定板21上，并为COS100加电，对COS100进行老化测试；COS100加电之后发出光亮，COS100的光源能够射入积分球3内，检测组件光检测COS100，确定COS100的光学性能；COS100的光能量被积分球3所吸收，然后将热量传递至冷却件1；积分球3可以对COS100的光能量进行冷却散热，提高了COS100的散热效率，保证了老化测试结果的准确性。

具体地，测试机构2和积分球3均为多个，且测试机构2和积分球3一一对设置。冷却件1上设置有定位销11，定位销11用于定位测试机构2，每个固定板21的两端均有一个定位销11，可以使测试机构2和与之对应的积分球3相对应。

积分球3上设置有多个入光孔31，入光孔31与加电针组件22一一对应设置，本实施例中，测试机构2包括四个加电针组件22，积分球3的侧壁上与之对应的设置有四个入光孔31。

冷却件1具体为板状物，其内设置有水冷回路，水冷回路内流通有冷却液，冷却液可以将冷却件1的热量带走，以对积分球3测试机构2进行冷却。

测试机构2还包括金属块23，金属块23具体为铜块。金属块23固定在固定板21上，金属块23上设置有与加电针组件22对应设置的容纳槽231，COS100放置在容纳槽231内，具体地，在固定板21上设置有与容纳槽231相对应的凸台，凸台伸入于容纳槽231内，COS100放置在凸台上，位于容纳槽231内。

加电针组件22包括导电插针2211组件221和压板222，导电插针2211组件221包括基板2212和两个并排设置的导电插针2211，导电插针2211至少部分设置在基板2212内。本实施例中，基板2212为陶瓷板，导电插针2211部分预埋在陶瓷板内，导电插针2211的两端均外露于陶瓷板设置。导电插针2211整体位于容纳槽231内，第一端外露于陶瓷板的部分比较长，第二端外露于陶瓷板的部分较短。导电插针2211的第一端能够抵接于COS100，以与COS100电连接。

测试机构2还包括插针连接座24，导电插针2211远离COS100的一端连接于插针连接座24，也即导电插针2211的第二端连接于插针连接座24，具体可以通过导线连接。插针连接座24由塑料绝缘防静电材料制得，插针连接座24内预埋有连接套，导线部分内置于连接套内。

压板222和基板2212通过固定件223固定在固定板21上，使压板222驱使导电插针2211与COS100相抵接，以使导电插针2211与COS100电连接。压板222包括主体部2221和自主体部2221延伸的两个压条2222，主体部2221与基板2212相对应设置，压条2222与导电插针2211对应设置。固定件223具体为螺钉，其穿设于压板222和基板2212，在固定板21上设置有螺纹孔，将COS100放置在凸台上之后，将导电插针2211组件221和压板222放置在COS100上之后，然后螺钉穿设于压板222和基板2212之后，将COS100压装在凸台上。

COS老化测试装置还包括夹持机构4，其设置中冷却件1上，用于将测试机构2夹持在冷却件1上。夹持机构4包括四连杆夹具41、夹持压片和夹持垫块42。

测试机构2的两端均设置有四连杆夹具41，四连杆夹具41固定在冷却件1上，在测试机构2长度方向相邻的两个测试机构2共用一个四连杆夹具41，两个测试机构2上搭接有夹持垫块42，四连杆夹具41作用于夹持垫块42上，下压夹持垫块42，以使测试机构2的一端被固定在冷却件1上。测试机构2未被夹持垫块42下压的一端，在金属块23上放置于夹持压片，四连杆夹具41作用在夹持压片上，下压夹持压片使测试机构2的端部被固定在冷却件1上，此处的端部指的是未被夹持垫块42所固定的端部。测试机构2的两端被两个夹持垫块42，或，夹持垫块42和夹持压片相配合下压固定在冷却件1上，以便对COS100进行老化测试。夹持压片、夹持垫块42和四连杆夹具41均采用导热性能较好的金属材质，COS100加电后产生的热量传递至金属块23，然后经夹持压片或夹持垫块42，以及四连杆夹具41传递至冷却件1，热量被冷却液带走。

虽然，上文中已经用一般性说明、具体实施方式及试验，对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。