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一种晶体探测器检测装置

文献发布时间:2023-06-19 12:04:09


一种晶体探测器检测装置

技术领域

本发明属于材料测试技术领域,尤其涉及一种晶体探测器检测装置。

背景技术

闪烁晶体可用于x射线、γ射线、中子及其他高能粒子的探测,以闪烁晶体为核心的探测和成像技术已经在核医学、高能物理、安全检查、工业无损探伤、空间物理及核探矿等方面得到了广泛的应用。

闪烁晶体在大规模使用时需要检测标定其发光光产额,这一过程需要使用放射源。当检定的闪烁晶体数量庞大时,放射源的使用频次高、时间长,从而使得操作人员与放射源共处时间长受到辐射危险。

现有的,通过采用固定放射源,让包括闪烁晶体的晶体探测器移动,但晶体探测器本身一般都会带有大量接线,包括控制线、数据传输线和电源线等,测量工装移动到放射源照射范围测量时会带动接线,工装移动频繁容易造成接线吃力位置断裂甚至脱落,造成测量工装损伤,测试数据不准确等问题。且在操作人员更换晶体探测器上的闪烁晶体时,实际放射源处于闲置空闲状态,增加了晶体探测器的检定时间。

发明内容

(一)要解决的技术问题

为了解决现有技术的上述问题,本发明提供了一种晶体探测器检测装置,能够提高晶体探测器的检测效率且降低了操作人员的辐射剂量。

(二)技术方案

为了达到上述目的,本发明采用的主要技术方案包括:

本发明提供了一种晶体探测器检测装置包括基板、设置在基板上的至少两个安装件、放射源检测机构及带动放射源检测机构运动的移动机构;

安装件用于放置待检测的晶体探测器;

移动机构带动放射源检测机构沿基板的长度方向移动;

安装件沿移动机构的移动方向布置,放射源检测机构依次经过安装件的上方并对安装在安装件上的晶体探测器进行检测。

优选地,移动机构包括沿基板长度方向设置的两条导轨及沿导轨滑动连接的滑块;

两条导轨平行设置在基板上,安装件沿导轨的长度方向设置,且安装件设置在两条导轨之间;

放射源检测机构与滑块连接,滑块带动放射源检测机构沿导轨滑动以依次检测安装在安装件上的晶体探测器。

优选地,放射源检测机构包括放射源本体、用于支撑放射源本体的支架和套设在放射源本体外侧的防护罩;

支架包括放置板和支撑框架,放置板设置在支撑框架的顶端,防护罩设置在放置板上,放射源本体设置在防护罩的内部,且放置板对应设有放射源出口,放射源本体通过放射源出口照射在安装件上;

支撑框架的底端与滑块连接,支撑框架通过滑块在滑轨上移动。

优选地,在防护罩内设有被铅围合形成的铅腔,铅腔的开口向下,所述放射源本体设置在铅腔的内部顶端,铅腔呈长方体。。

优选地,基板的宽度w

w

其中,放射源本体的宽度为w

基板的顶端距地面的距离为h

铅腔的宽度为w

防护罩底端距基板顶端的距离为h

优选地,放射源本体通过亚克力托板连接在铅腔的内部顶端。

优选地,在滑块上设有通孔,在导轨侧壁上对应设有相匹配的定位孔,每个定位孔对应一个安装件,通孔与定位孔对准后,通过插销连接。

优选地,还包括限位块,限位块分别设置在每条导轨的两端。

优选地,放射源检测机构还包括把手;

把手设置在防护罩的顶端。

优选地,放射源检测机构还包括锁扣;

锁扣设置在防护罩的侧壁上以将防护罩和放置板锁合。

(三)有益效果

本发明的有益效果是:

本发明提供了一种晶体探测器检测装置,通过设置移动机构带动放射源检测机构依次经过安装件的上方并对其上的晶体探测器进行检测,当操作人员更换其中一个晶体探测器时,放射源检测机构能够对其他晶体探测器进行检测,实现了分时使用,互不干涉,提高放射源的使用效率且能够提高晶体探测器的检测效率且降低了操作人员受辐射的风险。

附图说明

图1为晶体探测器检测装置的结构示意图;

图2为图1中的正视图;

图3为图1中的俯视图;

图4为图1中的截面示意图。

【附图标记说明】

1:基板;2:晶体探测器安装板;3:导轨;4:滑块;5:放射源本体;6:支架;601:放置板;602:支撑框架;7:防护罩;8:亚克力托板;9:限位块;10:把手;11:锁扣;12:安装台面;13:铅;14:安装件。

具体实施方式

为了更好的解释本发明,以便于理解,下面结合附图,通过具体实施方式,对本发明作详细描述。

如图1所示,本实施例提供了一种晶体探测器检测装置包括基板1、设置在基板1上的至少两个安装件14、放射源检测机构及带动放射源检测机构运动的移动机构。安装件14用于放置待检测的晶体探测器,在实际应用的过程中,在安装件上设有晶体探测器安装板2,晶体探测器可通过与探测器安装板2上凹槽卡接的方式连接,移动机构带动放射源检测机构沿基板1的长度方向移动,安装件14沿移动机构的移动方向布置,放射源检测机构设置在安装件14的正上方,晶体探测器通过安装件14安装在基板1上,并通过螺丝销孔等方式与基板1固定及定位,放射源检测机构依次经过安装件14的上方并对安装在安装件14上的晶体探测器进行检测。在本实施例中,根据实际需要在基板1上设有两个安装件14,当然为了适应检测需求,进一步提高检测效率,可在基板1上安装三个、四个安装件14,实际安装件14的数量与实际使用测试使用状态相关,对于安装件14的具体数量在此不做限定,只要大于两个即可。

本实施例提供的一种晶体探测器检测装置,通过设置移动机构带动放射源检测机构依次经过安装件14的上方并对其上的晶体探测器中的晶体或光敏探测件进行检测,当操作人员更换其中一个晶体探测器中的晶体或者光敏探测件时,放射源检测机构能够对其他晶体探测器进行检测,实现了分时使用,互不干涉,提高放射源的使用效率、降低了检测成本且能够提高晶体探测器的检测效率且降低了操作人员受辐射的风险。

应当说明的是,在本实施例中晶体探测器包括闪烁晶体和光敏探测件,当需要检测闪烁晶体的发光光产额时,仅需更换晶体探测器上的闪烁晶体,需要标定光敏探测件即光敏元件探头的探测增益时,固定标准闪烁晶体,更换晶体探测器装置上的光敏元件探头。本实施例中更换晶体探测器指更换闪烁晶体或光敏探测件。

如图1-3所示,移动机构包括沿基板1长度方向平行设置的两条导轨3及沿导轨3滑动连接的滑块4,其中,两条导轨3相对设置且通过螺钉固定在基板1上,安装件14沿导轨3的长度方向设置,且安装件14设置在两条导轨3之间,放射源检测机构与滑块4连接,滑块4带动放射源检测机构沿导轨3滑动以依次检测安装在安装件14上的晶体探测器。当然在实际应用的过程中,移动机构也可为滚珠丝杠机构、齿轮齿条机构等,只要能够实现带动放射源检测机构直线运动即可。如果安装件14上的单个晶体探测器空闲时间较长,有多探测器共用需求,可以通过延长导轨3的方式,在轨道中间位置增加安装件的数量,可以同时放置三个以上工装。

在本实施例中,在滑块4上设有通孔,在导轨3侧壁上对应设有相匹配的定位孔,其中,每个定位孔对应一个安装件14,当对安装件14上的晶体探测器进行检测时,使滑块4上的通孔与导轨3侧壁上的对应的定位孔对准后,通过插销将滑块4和导轨3固定连接,限制滑块4的移动,从而保证了从而保证了当放射源检测机构每次位置重复、精度高,进一步减小了由于放射源检测机构位置不确定引起的晶体探测器装置检测的误差,提高了对晶体探测器检测的准确率。

当然,为了防止放射源检测机构移动出导轨3,移动机构还包括限位块9,限位块9分别设置在每条导轨3的两端。在限位块9的侧边还可设置缓冲软垫,当放射源检测机构的滑动速度较快时,缓冲垫可以减少放射源检测机构对整体装置的冲击。

如图4所示,放射源检测机构包括放射源本体5、用于支撑放射源本体5的支架6和套设在放射源本体5外侧的防护罩7。其中,支架6包括放置板601和支撑框架602,放置板601设置在支撑框架602的顶端,防护罩7设置在放置板601上,放射源本体5设置在防护罩7内部且放置板601对应设有放射源出口减少散射影响,放射源本体5通过放射源出口照射在安装件14上,支撑框架602的底端与滑块4连接,支撑框架602通过滑块4在滑轨上移动。在本实施例中,设有4个滑块4分别与支撑框架602的四角连接,以带动支撑框架602在导轨3上移动,当然为了保证支撑框架602滑动的稳定性,可将滑块4设置为长条形滑块4,支撑框架602与导轨3连接的两侧分别通过一整条长条形滑块4连接,以增大支撑框架602底端与导轨3的接触面积,从而提高了支撑框架602移动的稳定性。

在防护罩7内设有被铅13围合形成的铅腔,铅腔的开口向下,为了便于放射源本体5的安装,放射源本体5可通过亚克力托板8设置连接在铅腔的内部顶端,其中,铅腔为长方体。由于铅腔为铅13围合形成,当放射源本体5放射时,绝大部分γ光子被吸收,有效减少辐射剂量。其中,铅腔开口的大小只要放射源本体5通过铅铅开口后能够覆盖安装件14上的晶体探测器的面积即可。应当说明的是,为了便于亚克力托板8的生产,减少生产成本,亚克力托板8对应放射源出口处可不设置出口,由于亚克力托板8为低原子序数材质且薄,因此不设置出口,放射源本体5也可以透过亚克力托板8照射在晶体探测器上。

参照图4所示,基板1设置在安装台面12上,其中安装台面12距地面有一定距离,基板1的宽度w

w

其中,放射源本体5的宽度为w

由于,放射源本体5照射在地面的光源宽度覆盖范围小于基板1的宽度,这样操作人员只要保持站在基板1外,操作人员身体身体任意部位都不会受到放射源直接照射,有效减少辐射剂量。

当操作人员更换晶体探测器中的晶体或光敏探测件时,仅需带有放射源本体5的放射源检测机构向远端移动,此时操作人员的手部也不在放射源的直接照射范围内,减少源直接照射,最大限度减少人员辐照剂量。

为了便于防护罩7的取放,放射源检测机构还包括两个把手10,把手10设置在防护罩7的顶端。

如图3所示,放射源检测机构还包括锁扣11,锁扣11设置在防护罩7的侧壁上以将防护罩7和放置板601锁合即防护罩7能够通过锁扣11与支架6连为一体,也可将锁扣11上锁,锁死防护罩7和支架6,保证防护罩7内部和放射源本体5不易被触碰到,保证使用安全。

在晶体探测器检测装置的实际操作过程,当操作人员更换闪烁晶体或光敏探测件时,首先解除轨道两侧的限位块9,移动支架6,使放射源本体5远离安装件14的安装位和该操作人员,当更换完毕时,将支架6拉回安装件14的安装位,通过插销将滑块4和导轨3固定使放射源检测机构对准晶体探测器,整个过程操作人员任何部位都没有处于放射源本体5的暴露状态,最大限度减少了辐射剂量。在更换闪烁晶体或光敏探测件时,下一安装件14安装位上操作人员可以将支架6拉到下一检测点,开始放射源相关测试,利用处理测试数据和处理更换测试样品的放射源实际空闲时间,放射源可以简单有效地提供给其他工装使用,分时使用,互不干涉,提高放射源的使用效率。

在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连通”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连通,也可以是连通,或成一体;可以是机械连通,也可以是电连通;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连;可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”,可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”,可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”,可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。

在本说明书的描述中,术语“一个实施例”、“一些实施例”、“实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述,是指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行改动、修改、替换和变型。

相关技术
  • 一种晶体探测器检测装置
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技术分类

06120113149518