一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质

技术领域

本申请涉及图像传感器技术领域，尤其涉及一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

传统类型的图像传感器包括互补金属氧化物半导体(CMOS，Complementary MetalOxide Semiconductor)图像传感器，其有体积小、质量轻、功耗低、集成度高等优点，被广泛应用于星敏感器、太阳敏感器、遥感成像等空间领域，在星识别、恒星追踪、姿态确定、空间对接、特征跟踪、着陆控制的降落成像及目标跟踪等空间任务中发挥了重要的作用。近年来，基于CMOS Image Sensor(CIS)工艺的图像传感器发展日益迅猛，在汽车电子、智能制造、工业监控、军事侦察等领域的应用越来越广泛。然而，当图像传感器应用在上述领域时将会受到空间质子辐照损伤，导致图像传感器性能退化甚至功能失效。因此开展图像传感器质子辐照损伤研究具有重要的意义。

图像滞留是图像传感器所采集图像质量的重要指标之一，它表征这一帧图像是否留有上一帧图像痕迹的一个参数，是图像传感器质子辐照损伤程度评估的重要参数。

在质子辐照后的图像传感器连续采集多帧图像时，前几帧图像可能出现灰度值较大的问题，导致无法对图像传感器的图像滞留进行准确测量，严重影响了图像传感器辐照损伤评估的准确性。

发明内容

本申请实施例提供了一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质，至少能够解决相关技术中针对质子辐照后的图像传感器进行图像滞留测量的准确性较低的问题。

本申请实施例第一方面提供了一种传感器测试方法，包括：

控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的所述第一图像采集阶段、所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段；

获取所述N帧图像的平均灰度值，以及获取所述图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；

基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数。

本申请实施例第二方面提供了一种传感器测试装置，包括：

采集模块，用于控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的所述第一图像采集阶段、所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段；

获取模块，用于获取所述N帧图像的平均灰度值，以及获取所述图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；

计算模块，用于基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数。

本申请实施例第三方面提供了一种终端设备，包括：存储器及处理器，其中，处理器用于执行存储在存储器上的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现上述本申请实施例第一方面提供的传感器测试方法中的各步骤。

本申请实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现上述本申请实施例第一方面提供的传感器测试方法中的各步骤。

由上可见，根据本申请方案所提供的传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质，控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。通过本申请方案的实施，采用多帧图像求平均值的方法可以排除单次测量造成的偶然误差，测试方法简单，图像滞留检测的准确度高，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效支持。

附图说明

图1为本申请第一实施例提供的一种传感器测试方法的基础流程示意图；

图2为本申请第一实施例提供的一种传感器曝光时间分布示意图；

图3为本申请第一实施例提供的一种图像帧序列与灰度值的相关关系示意图；

图4为本申请第二实施例提供的一种传感器测试方法的细化流程示意图；

图5为本申请第三实施例提供的传感器测试装置的程序模块示意图；

图6为本申请第四实施例提供的终端设备的结构示意图。

具体实施方式

为使得本申请的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

为了解决相关技术中针对质子辐照后的图像传感器进行图像滞留测量的准确性较低的问题，本申请第一实施例提供了一种传感器测试方法，应用于图像滞留测试系统，该图像滞留系统包括光源、暗箱、温控箱以及处理器，其中，光源用于在图像滞留测试时提供光照环境，暗箱用于在图像滞留测试时提供暗场环境，温控箱可以提供相应温度环境，处理器用于控制APS图像传感器的图像采集、存储、处理等。应该说明的是，有源像素传感器(APS)是一种常用的图像传感器，其中每个像素传感器单元具有光电检测器和至少一个有源晶体管，在金属氧化物半导体(MOS)有源像素传感器中，MOS场效应晶体管(MOSFET)用作放大器，APS的类型有多种，包括早期的NMOS型APS和更常见的互补MOS(CMOS)型APS。

如图1为本实施例提供的传感器测试方法的基础流程示意图，该传感器测试方法包括以下的步骤：

步骤101、控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像。

其中，N为取值大于1的正整数(例如10)，M为取值大于或等于1的正整数(例如5)，单个完整的图像采集周期包括时序连续的第一图像采集阶段、第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段。

在本实施例中，本实施例首先将质子辐照后的APS图像传感器放置于暗箱中，使APS图像传感器处于无光照环境，然后复位APS图像传感器，以清空图像传感器的电子残余量，之后即在第一图像采集阶段于无光照环境采集多帧图像；接下来，控制光源开启，通过APS图像传感器在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像；最后，当第二图像采集阶段的单帧图像采集完成之后，立即关闭光源恢复无光照环境，继续执行第三图像采集阶段的图像采集。也即，在本实施例的单个图像采集周期包括两个无光照图像采集阶段以及一个有光照图像采集阶段，有光照图像采集阶段仅执行单帧图像采集，且该有光照图像采集阶段位于两个无光照图像采集阶段之间。应当说明的是，本实施例的光源优选的可以采集脉冲光源，用于在图像滞留测试时提供均匀的脉冲光照环境，在实际应用中，脉冲光束的占空比较小，操作方便且前后帧不会相互影响，有利于提高测试精度。

在本实施例一种可选实施方式中，上述控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的步骤之前，还包括：控制APS图像传感器的测试环境的环境温度保持为恒定温度。

具体的，在实际应用中，质子辐照后的图像传感器的成像结果往往对环境温度非常敏感，而传统的图像传感器图像滞留测量系统一般忽视了温度因素，会导致辐照后的图像传感器图像滞留测试因为环境温度变化而具备较大不确定度性，甚至可能出现由于温度波动所导致的图像滞留变化值大于辐照所诱发的图像滞留退化值。基于此，本实施例的暗箱置于温控箱中之后，可以控制温控箱保持恒定温度，为传感器测试过程提供恒温环境，本实施例优选的可以将温控箱温度设置为25℃，由此可以保证传感器测试的稳定性和准确性。

在本实施例一种可选实施方式中，上述控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的步骤，包括：根据APS图像传感器的图像采集场景参数，设定第一图像采集阶段中N个图像采集时刻组成的等差时间数列的初始值以及公差；按照所设定的等差时间数列，控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像。

具体的，本实施例的图像采集场景参数包括以下至少之一：光照环境的光源工作参数、APS图像传感器与光源的相对距离、APS图像传感器的最大曝光时长。在本实施例中，第一图像采集阶段可以包括多个等间隔分布的图像采集时间，本实施例参考实际图像采集场景灵活调整该图像采集阶段的时间分布，保证图像数据采集行为与实际场景的适应性，提高所采集的图像数据的有效性。此外，还应当说明的是，处于第一图像采集阶段之后的第二图像采集阶段和第三图像采集阶段也可以采用与第一图像采集阶段相同的曝光间隔时长。

如图2所示为本实施例提供的一种传感器曝光时间分布示意图，在本实施例中，控制光源与APS图像传感器工作，APS图像传感器前10帧等间隔曝光10次，以获取无光环境下图像的灰度值，第11帧时控制与处理器控制光源发出均匀脉冲光束的同时控制APS图像传感器曝光，从而实现同步以避免前后帧相互影响造成测量误差。

步骤102、获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值。

如图3所示为本实施例提供的一种图像帧序列与灰度值的相关关系示意图，第1至10帧为第一图像采集阶段所采集的10帧图像，第11帧图像为第二图像采集阶段所采集的单帧图像，第12帧至第16帧为第三图像采集阶段所采集的五帧图像，由于三个阶段的图像采集环境的光照行为有所不同，从而所采集的图像的灰度值也呈现一定区别。应当理解的是，本实施例上述图3仅是为了示出不同光照行为下图像灰度值的差异，在实际应用中，同一光照行为所采集的多帧图像的灰度值通常也会存在一定差异，并非图中所示的恒定不变。另外，根据图3示例，N帧图像的平均灰度值也即图3中第1至10帧图像的灰度值的平均值，最后一帧图像的目标灰度值也即图3中第16帧图像的灰度值。

步骤103、基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。

在本实施例中，通过采用多帧图像求平均值的方法，能够排除单次测量造成的随机误差，又通过发射脉冲光束，能够避免前后帧图像的相互影响造成的误差，提高了APS图像传感器质子辐照后图像滞留的测量精度，具有稳定性好、测量精确度高和测量方法简便等优点，可适用于质子辐照后APS图像传感器图像滞留的精确测量，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效技术支持。

进一步地，在本实施例中，还可以在多个图像采集周期分别执行上述步骤101以及步骤102，然后在步骤103中，针对多个图像采集周期的平均灰度值求取第一均值，并针对多个图像采集周期的目标灰度值求取第二均值，然后基于第一均值以及第二均值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数，如此，避免单个图像采集周期的偶然误差，进一步保证图像滞留测量的准确度。

在本实施例一种可选实施方式中，所述基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数的步骤，包括：将平均灰度值以及目标灰度值输入至预设图像滞留计算公式，计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数；图像计算公式表示为：I

在本实施例一种可选实施方式中，上述基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数的步骤之前，还包括：判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件；若是，则执行基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数的步骤。

具体的，在本实施例中，在基于所采集的图像的灰度值进行图像滞留测量之前，可以先针对图像灰度值进行条件判断，以对所采集的图像的有效性进行确定，若确定当前图像支持有效进行图像滞留测量，则进一步触发后续的图像滞留测量步骤，由此可保证图像滞留测量的准确性。

进一步地，在本实施例一种可选实施方式中，上述判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件的步骤，包括：判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像中，是否存在单帧图像的灰度值满足预设关系式：u

具体的，本实施例基于图像传感器的系统增益常数判断当前采集图像是否适于执行图像滞留测量，当第一图像采集阶段之后所采集的所有图像中任一帧图像满足其灰度值为系统增益常数的200倍时，确定当前的图像采集行为满足图像滞留测量标准。当然在实际应用中，还可以基于实际应用场景设定其它条件关系式，本实施例对此不作唯一限定。

进一步地，在本实施例另一种可选实施方式中，上述判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件的步骤之后，还包括：若否，则对APS图像传感器的曝光时长和/或光照环境的光源工作参数进行重置，然后返回执行控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的步骤。

具体的，在本实施例中，若基于图像灰度值进行条件判断确定当前图像采集行为无法满足图像滞留测量标准，则对图像传感器的工作参数、光源工作参数两者至少之一进行调整，然后重新执行前述步骤101以及步骤102，以保证最终进行图像滞留测量的图像灰度值满足图像滞留测量标准，提升图像滞留测量的准确性。

基于上述本申请实施例的技术方案，控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。通过本申请方案的实施，采用多帧图像求平均值的方法可以排除单次测量造成的偶然误差，测试方法简单，图像滞留检测的准确度高，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效支持。

图4中的方法为本申请第二实施例提供的一种细化的传感器测试方法，该传感器测试方法包括：

步骤401、控制APS图像传感器的测试环境的环境温度保持为恒定温度。

具体的，本实施例在用于为图像滞留测试提供暗场环境的暗箱置于温控箱中之后，可以控制温控箱保持恒定温度，为传感器测试过程提供恒温环境。

步骤402、控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像。

在本实施例中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的第一图像采集阶段、第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段。

应当理解的是，在本实施例的单个图像采集周期包括两个无光照图像采集阶段以及一个有光照图像采集阶段，有光照图像采集阶段仅执行单帧图像采集，且该有光照图像采集阶段位于两个无光照图像采集阶段之间。

步骤403、获取所采集的所有图像的灰度值。

步骤404、判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像中，是否存在单帧图像的灰度值满足预设关系式：u

其中，u

步骤405、获取第一图像采集阶段N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值。

应当说明的是，在本实施例中，N帧图像也即第一图像采集阶段所采集的所有图像，图像采集周期最后一帧图像也即第三图像采集阶段所采集的最后一帧图像。

步骤406、将平均灰度值以及目标灰度值输入至预设图像滞留计算公式：I

在本实施例中，I

步骤407、对APS图像传感器的曝光时长以及光照环境的光源工作参数进行重置；然后返回执行步骤402。

具体的，本实施例在基于所采集的图像的灰度值进行图像滞留测量之前，可以先针对图像灰度值进行条件判断，以对所采集的图像的有效性进行确定，若确定当前图像支持有效进行图像滞留测量，则进一步触发图像滞留参数计算，反之，则对图像传感器的工作参数、光源工作参数两者至少之一进行调整，然后重新执行图像采集，直至采集到满足图像滞留测量条件的图像，由此可最大程度保证图像滞留测量的准确性。

应当理解的是，本实施例中各步骤的序号的大小并不意味着步骤执行顺序的先后，各步骤的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成唯一限定。

图5为本申请第三实施例提供的一种传感器测试装置。该传感器测试装置可用于实现前述实施例中的传感器测试方法。如图5所示，该传感器测试装置主要包括：

采集模块501，用于控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的第一图像采集阶段、第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段；

获取模块502，用于获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；

计算模块503，用于基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。

在本实施例的一些实施方式中，计算模块具体用于：将平均灰度值以及目标灰度值输入至预设图像滞留计算公式，计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数；图像计算公式表示为：I

在本实施例的一些实施方式中，该传感器测试装置还包括：判断模块，用于判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件。相应的，计算模块具体用于：在第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值满足预设条件时，基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。

进一步地，在本实施例的一些实施方式中，判断模块具体用于：判断第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像中，是否存在单帧图像的灰度值满足预设关系式：u

进一步地，在本实施例的另一些实施方式中，该传感器测试装置还包括：重置模块，用于在第二图像采集阶段以及第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值不满足预设条件时，对APS图像传感器的曝光时长和/或光照环境的光源工作参数进行重置，并触发采集模块重新执行其功能。

在本实施例的一些实施方式中，采集模块在执行上述控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的功能时，具体用于：根据APS图像传感器的图像采集场景参数，设定第一图像采集阶段中N个图像采集时刻组成的等差时间数列的初始值以及公差，其中，图像采集场景参数包括以下至少之一：光照环境的光源工作参数、APS图像传感器与光源的相对距离、APS图像传感器的最大曝光时长；按照所设定的等差时间数列，控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像。

在本实施例的一些实施方式中，该传感器测试装置还包括：控制模块，用于控制APS图像传感器的测试环境的环境温度保持为恒定温度。

应当说明的是，第一、二实施例中的传感器测试方法均可基于本实施例提供的传感器测试装置实现，所属领域的普通技术人员可以清楚的了解到，为描述的方便和简洁，本实施例中所描述的传感器测试装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

根据本实施例所提供的传感器测试装置，控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。通过本申请方案的实施，采用多帧图像求平均值的方法可以排除单次测量造成的偶然误差，测试方法简单，图像滞留检测的准确度高，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效支持。

图6为本申请第四实施例提供的一种终端设备。该终端设备可用于实现前述实施例中的传感器测试方法，主要包括：

存储器601、处理器602及存储在存储器601上并可在处理器602上运行的计算机程序603，存储器601和处理器602通过通信连接。处理器602执行该计算机程序603时，实现前述实施例一或二中的方法。其中，处理器的数量可以是一个或多个。

存储器601可以是高速随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)存储器，也可为非不稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器601用于存储可执行程序代码，处理器602与存储器601耦合。

进一步的，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是设置于上述各实施例中的电子装置中，该计算机可读存储介质可以是前述图6所示实施例中的存储器。

该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现前述实施例中的传感器测试方法。进一步的，该计算机可存储介质还可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的可读存储介质包括：U盘、移动硬盘、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本申请所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本申请所提供的传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质的描述，对于本领域的技术人员，依据本申请实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。