一种光模块老化测试装置、系统及老化测试方法

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，为光模块老化测试技术，具体为一种光模块老化测试装置、系统及老化测试方法。

背景技术

随着光通信技术的发展和日趋广泛的运用，光网络的稳定性以及可靠性更加凸显，由于光网络品质很大程度上受到光模块质量的影响，因而进行批量生产时，通过对光模块进行老化，提前暴露出会在寿命终止前出现异常的光模块。

传统光模块老化板，插上电源接头后，打开机械开关，一块老化板上的所有光模块瞬间同时上电，由于可插拔光模块存在浪涌电流（虽然光模块内部做了缓启动电路，也只能减缓浪涌电流到一定程度，却无法完全消除），这么多个光模块的浪涌电流叠在在一起，将会对供电设备造成极大的冲击，另外由于多个光模块同时上电瞬间，电源线路上的压降过大，导致光模块无法获得合适的供电电压，会造成光模块内部芯片的损伤，在老化结束后，再切换机械开关至断开状态，此时，所有的光模块又是同时断电，根据U=-L*(di/dt)，此时会产生极大的反向冲击电压，即使有些高端供电电源有着较好的浪涌抑制电路，但也很难经受得住浪涌电流得频繁冲击，更何况有些电源设备本身抗浪涌能力较弱，再加上光模块的功耗越来越大，个体光模块在上电/断电时的浪涌电流也显著增加，这更加剧了这种破坏性的冲击力度，再者打开和闭合机械开关时，由于瞬间的高压，会产生电弧，造成打火现象。

发明内容

为了解决以上的技术问题，本申请提供光模块老化测试装置、系统及老化测试方法，能够同时充分老化多个光模块的低成本方法，使相同时间、空间内充分老化更多的模块。

为了达到上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，提供一种光模块老化测试装置，所述装置包括：处理模块；以及与所述处理模块连接的模拟开关和老化电源，所述模拟开关和所述老化电源分别与多个待测试光模块连接；所述老化电源用于对所述处理模块和待测试所述光模块进行供电；所述处理模块根据待测试所述光模块的高速通道数量，产生相对应数量的脉宽调制信号从而驱动待测试的所述光模块的高速引脚，并接受对应待测试所述光模块的输出光功率。

第一方面的第一种实现方式中，所述老化电源中还设置有降压单元，所述降压单元与多个所述光模块连接，用于将电源电路中的输出电压进行降压处理对所述光模块上电。

第一方面的第二种实现方式中，所述模拟开关被配置在所述处理模块输出的I2C总线上，用于将所述I2C总线进行切换至待检测所述光模块连接。

第一方面的第三种实现方式中，所述光模块的输出光口通过LC/UPC-LC/UPC的短光纤接入该光模块的输入光口。

结合第一方面的第三种实现方式，在第一方面的第四种实现方式中，在所述光模块的输出光口与所述输入光口的线路中配置有固定衰减。

结合第一方面的第四种实现方式，在第一方面的第五种实现方式中，所述固定衰减为10dB的LC固定衰减。

第二方面，提供一种光模块老化测试系统，其特征在于，包括上述任一项所述的光模块老化测试装置，还包括老化测试板，所述老化测试板中设置有多个待测试光模块。

第三方面，提供一种光模块老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：将所述光模块插接在所述老化电源的所述降压单元中的电压输出端口，并将所述老化电源与处理模块电连接；基于老化程序借助于微处理器对所述处理模块上电；所述处理模块上电后，给模拟开关发送使能信号并上电，上电后按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压单元，以及断开第一开关模块的使能信号，并按照光模块测试逻辑依次关闭每一个降压单元。

在第三方面的第一种实现方式中，所述降压单元将所述老化电源的输出电压转换为3.3V供电电压。

在第三方面的第二种实现方式中，所述处理模块获取每一所述光模块在老化过程中的老化信息。

本申请实施例提供的技术方案中，通过设置处理模块、模拟开关和老化电源以及在老化电源中设置降压单元实现对于多个光模块的老化测试。解决了现有技术中无法同时充分老化大量模块的问题，并且本申请实施例中针对于装置以及系统的配置，不需要新增额外成本，使用原本用于实现在线监控功能的微处理器产生交流信号即可。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

附图中的方法、系统和/或程序将根据示例性实施例进一步描述。这些示例性实施例将参照图纸进行详细描述。这些示例性实施例是非限制的示例性实施例，其中示例数字在附图的各个视图中代表相似的机构。

图1是现有技术中一种针对于光模块老化测试系统的结构示意图。

图2是现有技术中另一种针对于光模块老化测试系统的结构示意图。

图3是本申请实施例提供的光模拟老化测试系统的框架结构示意图。

图4是本申请实施例提供的光模拟老化测试方法的方法流程示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明实施例中，端口、接口和端均指的是电路的接口或集成有指定电路的芯片的引脚，本发明实施例中为描述方便不同位置使用了不同的用语。

本实施例提供一种针对于光模块进行老化测试的系统，在现有技术中参阅图1和图2分别为两种针对于光模块进行老化测试的系统。其中针对于图1，一种针对于光模块的老化测试方法，仅通过供电设备给光模块提供电流，去缺点在于直流模式下，无法施加交流信号老化其交流链路。针对于图2，一种针对于光模块的老化测试方法，除了通过供电设备给光模块提供电流外，还通过多通道误码仪给光模块提供交流高速信号，其具有以下技术缺点：（1）误码仪价格较高，通道数有限，（2）高速射频线价格较高，数量很多，老化窗口空间不足的限制，导致相同时间、空间内可以老化的模块数量较少。

参与图3，针对于以上现有技术的技术缺陷，本实施例提供一种光模块老化测试系统，包括用于放置光模块的老化测试板，在本实施例中光模块为SEP光模块，老化测试板的满载是40只SFP光模块，单个SFP光模块的功耗最大为3W，则单块老化测试板的最大功耗为120W。

其中，在系统中还包括光模块老化测试装置，其中光模块老化测试装置包括处理模块以及与处理模块连接的模拟开关和老化电源，其中模拟开关和老化电源分别与老化测试板中的多个待测试SEP光模块连接。其中老化电源用于对处理模块和待测试的光模块进行供电。

在本实施例中，处理模块根据待测试光模块的高速通道数量，产生相对应数量的脉宽调制信号从而驱动待测试的光模块的高速引脚，并接受对应待测试光模块的输出光功率。其中，针对于处理模块产生相应数量的脉宽调制信号即PWM信号，此信号用于驱动光模块的高速引脚。因为脉宽调制信号是单端信号，而光模块的高速信号引脚为差分信号，还需要将无信号输入的高速信号脚进行匹配。本实施例中的处理模块的主频在百兆数量级，可以驱动光模块的交流电路正常工作。

其中，为了实现对于光模块的电压进行降压处理以满足测试过程中满足光模块的输出电压，在本实施例中针对于老化电源中设置有降压单元，降压单元与多个SEP光模块连接，用于将电源电路中的输出电压进行降压处理从而实现对光模块的上电处理。具体的，因为本测试系统不会涉及到模拟小信号的处理，所以对电源的信噪比冗余量很大，再考虑到功率降额，可以直接选择220V交流转5V直流的老化电源，其额定电流30A。老化电源产生的5V可以直接给处理模块供电，然后再通过降压单元将5V转3.3V的二次电源，给老化测试板上的光模块进行供电。

在本实施例中，模拟开关被配置在处理模块输出的I2C总线上，用于将I2C总线进行切换至待检测的SEP光模块连接。其中，在光模块的输出光口与光模块的输入光口的线路中配置有固定衰减，其中固定衰减为10dB的LC固定衰减。

具体的，针对于本实施例中的器件选型，针对于处理模块选择可为Silicon Lab公司的C8051F340，该处理模块自带USB驱动器，可以节约一个外挂的USB驱动器。并且，该处理模块产生8路120M的脉宽调制信号用于驱动光模块的高速引脚。模拟开关为ADI公司型号为ADG707BRUZ的模拟开关，模拟开关可以实现8路I2C总线切换。在本实施例中，每块老化板上放置5组C8051F340+ADG707BRUZ的组合即可实现对40个光模块的充分老化。

参阅图4，针对于本实施例提供的系统还提供一种针对于光模块的老化测试方法，应用于老化测试系统中，其方法包括以下处理过程：

步骤S410. 将所述光模块插接在所述老化电源的所述降压单元中的电压输出端口，并将所述老化电源与处理模块电连接。

在本实施例中，此过程用于将光模块放置于本实施例提供的老化测试系统中的老化测试板中，通过对光模块进行上电实现老化测试的开启，其中针对于光模块的电连接关系为通过降压单元与老化电源进行连接。针对于老化测试板放置于老化测试箱内，老化测试箱用于对光模块提供老化测试场景。其中，降压单元将老化电源输出电压由5V转换为3.3V。针对于降压单元实现降压处理方式可以通过设置分压电阻方式进行，其中本实施例是将5V转换为3.3V，在其他实施例中还可以将5V转换为其他对应的电阻内，采用同样的方式在本实施例中不再进行累述。

步骤S420. 基于老化程序借助于微处理器对所述处理模块上电。

在本实施例中，针对于微处理器为向所述处理模块进行命令下发的部件，其中对于命令基于老化程序进行确定，老化程序为具体的老化测试命令，实现对于老化测试板中的光模块的具体采集信号以及采集数据进行规定，在本实施例中不再进行累述。

步骤S430. 所述处理模块上电后，给模拟开关发送使能信号并上电，上电后按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压单元，以及断开第一开关模块的使能信号，并按照光模块测试逻辑依次关闭每一个降压单元。

在本实施例中，此步骤为测试系统的主要过程步骤，通过老化程序中的命令基于光模块测试逻辑通过模拟开关对光模块进行上电处理实现对于多个光模块的测试开断处理，从而实现测试过程。

本申请实施例提供的技术方案中，通过设置处理模块、模拟开关和老化电源以及在老化电源中设置降压单元实现对于多个光模块的老化测试。解决了现有技术中无法同时充分老化大量模块的问题，并且本申请实施例中针对于装置以及系统的配置，不需要新增额外成本，使用原本用于实现在线监控功能的微处理器产生交流信号即可。

本实施例中，以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。本实施例中，以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。