一种FCCL材料介电指标一致性和稳定性验证方法

技术领域

本发明涉及微电子技术领域，更具体地讲，涉及一种FCCL材料介电指标一致性和稳定性验证方法。

背景技术

介电常数、介电损耗性能为FCCL(柔性覆铜板)材料的重要电性能指标，目前此两项指标主要通过在材料上随机取点并采用谐振环法测获得；在FCCL材料的实际工程应用中常发现该材料制成的同批电子产品电性能波动大以及产品在使用一段时间后出现电性能下降问题，导致产品电性能波动大/电性能下降的原因即为FCCL材料基板不同位置处介电常数和损耗角正切两项指标差异较大和指标恶化所致，反映出对FCCL材料上述指标的一致性和稳定性验证不充分。

目前的FCCL材料介电常数及损耗因素指标测试方法有以下不足：

1.材料取点制样随机性大，导致材料各位置处的介电常数、介电损耗指标一致性验证不充分；

2.材料的介电常数、介电损耗指标只在室温、常规湿度条件下测试获取，未考虑后期材料制成电子产品后实际使用环境，所以对材料的介电常数、介电损耗指标稳定性验证不充分。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种FCCL材料介电指标一致性和稳定性验证方法，能够高效可靠的实现对于FCCL材料介电常数及介电损耗指标一致性、稳定性的验证；

本发明解决技术问题所采用的解决方案是：

一种FCCL材料介电指标一致性和稳定性验证方法，具体包括以下步骤：

步骤S1:FCCL材料准备，并在FCCL材料制作多组相同的谐振环及馈线，形成多组测试单元；

步骤S2：在室温、常规湿度条件下分别测试和计算各测试单元的介电常数、介电损耗指标；

步骤S3:根据测试得到的介电常数、介电损耗指标数据分别计算出的标准偏差；其中，介电常数指标的标准偏差不大于0.05，介电损耗指标的标准偏差不大于0.0005

步骤S4:将各测试单元进行湿热试验；

步骤S5：在湿热试验完成后，测试和计算各测试单元的介电常数、介电损耗指标，分别计算出介电常数和介电损耗指标的标准偏差；

步骤S6:对比各测试单元在湿热试验前后的介电常数和介电损耗指标的标准偏差变化情况；其中介电常数指标的标准偏差试验前后变化不大于0.003，介电损耗指标的标准偏差试验前后变化不大于0.00003，完成验证。

在一些可能的实施方式中，

所述步骤S1具体包括以下步骤：

步骤S11:截取一段FCCL材料并均分为多个测试区；

步骤S12:在多个测试区内分别制作谐振环及馈线，形成多个测试单元。

在一些可能的实施方式中，

所述谐振环的直径为D，D＝52mm；谐振环与馈线耦合间隙为S，S＝0.1mm；谐振环中微带线的宽度为W，W＝2.37mm；馈线中微带线的长度为L，L＝40.75mm，谐振频率为f,f＝1.1GHz。

在一些可能的实施方式中，

所述步骤S11中的FCCL材料的尺寸为500mm×1000mm，均分为八个测试区，每个所述测试区的尺寸为250mm×250mm；所述谐振环及馈线为八组分别位于八个测试区内且形成八组测试单元。

在一些可能的实施方式中，

每个测试区中的谐振环的圆心与该测试区的中心同心。

在一些可能的实施方式中，

所述湿热试验包括高温高湿阶段试验和低温高湿阶段试验。

在一些可能的实施方式中，

所述高温高湿阶段的温度为60℃-65℃，相对湿度为90-95％；所述低温高湿阶段的温度为25℃-30℃，相对湿度为90-95％。

在一些可能的实施方式中，

所述步骤S2中的室温为23℃±5℃，常规湿度为40％-70％。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

本发明采用在整块FCCL材料划分并制定了多个测试区，提高了材料指标测试取样规范性和一致性；

本发明通过室温、常规湿度下对各基本测试单元开展材料介电常数、介电损耗指标测试，有效验证了FCCL材料各位置处指标的一致性；

本发明通过对比湿热老化试验前后各测试单元材料的介电常数、介电损耗指标变化情况，有效验证了材料性能指标的稳定性。

附图说明

图1为本发明的工作流程图；

图2为本发明中谐振环及馈线的结构示意图；

图3为本发明FCCL材料、谐振环及馈线的布置关系示意图；

其中：1、FCCL材料；11、测试区；2、谐振环及馈线。

具体实施方式

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。本申请所提及的"第一"、"第二"以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，"一个"或者"一"等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。在本申请实施中，“和/或”描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指两个或两个以上。例如，多个定位柱是指两个或两个以上的定位柱。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面对本发明进行详细说明。

一种FCCL材料介电指标一致性和稳定性验证方法，具体包括以下步骤：

步骤S1:FCCL材料准备，并在FCCL材料制作多组相同的谐振环及馈线，形成多组测试单元；

步骤S1具体包括以下步骤：

步骤S11:截取一段FCCL材料并均分为多个测试区；

所述步骤S11中的FCCL材料的尺寸为500mm×1000mm，均分为八个测试区，每个所述测试区的尺寸为250mm×250mm；所述谐振环及馈线为八组分别位于八个测试区内且形成八组测试单元。

步骤S12:在多个测试区内分别制作谐振环及馈线，形成多个测试单元；

优选的，每个测试区中的谐振环的圆心与该测试区的中心同心。

步骤S2：在室温、常规湿度条件下分别测试和计算各测试单元的介电常数、介电损耗指标；

所述步骤S2中的室温为23℃±5℃，常规湿度为40％-70％。

步骤S3:根据测试得到的介电常数、介电损耗指标数据分别计算出各自的标准偏差；其中各介电常数指标的标准偏差不大于0.05，各介电损耗指标的标准偏差不大于0.0005

步骤S4:将各测试单元进行湿热试验；所述湿热试验包括高温高湿阶段试验和低温高湿阶段试验。

优选的，所述高温高湿阶段的温度为60℃-65℃，相对湿度为90-95％；所述低温高湿阶段的温度为25℃-30℃，相对湿度为90-95％。

步骤S5：在湿热试验完成后，测试和计算各测试单元的介电常数、介电损耗指标，分别计算出介电常数和介电损耗指标的标准偏差；

步骤S6:对比各测试单元在湿热试验前后的介电常数和介电损耗指标的标准偏差变化情况，其中，介电常数指标的标准偏差试验前后变化不大于0.003，介电损耗指标的标准偏差试验前后变化不大于0.00003，完成验证。

实施例1：

本实施例的测试谐振频率为1.1Ghz,谐振环及馈线的尺寸与测试频率相关，

在该测试谐振频率下，谐振环的直径为D，D＝52mm；谐振环与馈线耦合间隙为S，S＝0.1mm；谐振环中微带线的宽度为W，W＝2.37mm；馈线中微带线的长度为L，L＝40.75mm。基于上述测试谐振频率，进行介电常数及介电损耗指标一致性和稳定性验证方法

一种FCCL材料介电指标一致性和稳定性验证方法，具体包括以下步骤：

步骤S1:FCCL材料准备，并在FCCL材料制作多组相同的谐振环及馈线，形成多组测试单元；

步骤S1具体包括以下步骤：

步骤S11:截取一段FCCL材料并均分为多个测试区；

所述步骤S11中的FCCL材料的尺寸为500mm×1000mm，均分为八个测试区，每个所述测试区的尺寸为250mm×250mm；所述谐振环及馈线为八组分别位于八个测试区内且形成八组测试单元。

步骤S12:在多个测试区内分别制作谐振环及馈线，形成多个测试单元；

优选的，每个测试区中的谐振环的圆心与该测试区的中心同心。

步骤S2：在室温、常规湿度条件下分别测试和计算各测试单元的介电常数、介电损耗指标；

所述步骤S2中的室温为25℃，常规湿度为40％-70％。

步骤S3:根据测试得到的介电常数、介电损耗指标数据分别计算出各自的标准偏差；其中各介电常数指标的标准偏差不大于0.05，各介电损耗指标的标准偏差不大于0.0005；

步骤S4:将各测试单元进行湿热试验；所述湿热试验包括高温高湿阶段试验和低温高湿阶段试验。

优选的，所述高温高湿阶段的温度为60℃，相对湿度为95％；所述低温高湿阶段的温度为30℃，相对湿度为95％。

步骤S5：在湿热试验完成后，测试和计算各测试单元的介电常数、介电损耗指标，分别计算出介电常数和介电损耗指标的标准偏差；

步骤S6:对比各测试单元在湿热试验前后的介电常数和介电损耗指标的标准偏差变化情况，其中，介电常数指标的标准偏差试验前后变化不大于0.003，介电损耗指标的标准偏差试验前后变化不大于0.00003，完成验证。

本发明相比于现有FCCL材料介电常数及介电损耗指标测试验证方法具有如下有益效果：

(1)将整块材料划分并制定了基本测试单元，提高了材料指标测试取样规范性和一致性；

(2)室温、常规湿度下对各基本测试单元开展材料介电常数、介电损耗指标测试，有效验证了材料各位置处指标的一致性；

(3)通过对比湿热老化试验前后测试单元材料的介电常数、介电损耗指标变化情况，有效验证了材料性能指标的稳定性。

本发明并不局限于前述的具体实施方式。

应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干变形和改进，如裁取多个尺寸相同或不同的FCCL材料开展测试，这些变更和改变应视为属于本发明的保护范围。

本发明扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。