一种芯片测试装置

技术领域

本发明涉及传感器的测试工装技术领域，具体涉及一种芯片测试装置。

背景技术

磁阻效应传感器是根据磁性材料的磁阻效应制成的，在对芯片测试过程中，对其施加可旋转式磁场，被检测角度传感器芯片的电阻，随磁场旋转角度的变化而变化，进而引起角度传感器芯片的输出变化，通过采集、分析及判别输出的变化，获得角度传感器的输出与外部磁场之间的关系曲线，通过此关系曲线可以得到角度传感器的基本特性，比如其灵敏度、零磁场输出、精度等，通过这些参数可以判断产品的优良。

但是在传统的测试工装中，往往无法给待测试的角度传感器芯片提供外部旋转磁场，从而无法检测角度传感器芯片在外部磁场变化下的输出情况，即无法得到角度传感器芯片的输出与外部磁场之间的关系曲线，无法满足对角度传感器芯片灵敏度、精度等性能的测试要求，从而影响判断角度传感器的性能优良判断。

发明内容

因此，本发明所要解决的技术问题在于现有技术中的测试工装中，往往无法给待测试的角度传感器芯片提供外部旋转磁场，从而无法检测角度传感器芯片在外部磁场变化下的输出情况，即无法得到角度传感器芯片的输出与外部磁场之间的关系曲线，无法满足对角度传感器芯片灵敏度、精度等性能的测试要求，从而影响判断角度传感器的性能优良判断。

为此，本发明提供一种芯片测试装置，包括：

支架组件；

测试组件，与所述支架组件连接，所述测试组件适于与待测芯片连接；

驱动组件，与所述支架组件连接；

磁体，设于所述待测芯片一侧，所述磁体与所述驱动组件连接且受所述驱动组件驱动而相对所述待测芯片转动，以对待测芯片施加旋转式磁场。

可选地，磁体中心线位于所述待测芯片内若干磁电阻构成的磁感应区域内。

可选地，所述测试组件包括：

固定块，与所述支架组件连接，所述固定块内设有适于放置所述磁体的第一放置腔；

芯片测试座，与所述固定块连接，所述芯片测试座上设有适于放置所述待测芯片的第二放置腔；

测试件，设于所述固定块与所述芯片测试座之间，且所述测试件与所述待测芯片电性连接，以测试所述待测芯片。

可选地，所述测试组件还包括若干测试探针，任一所述测试探针一端与所述测试件电性连接，所述测试探针另一端贯穿所述芯片测试座适于与所述待测芯片电性连接。

可选地，所述测试件包括电压输入端和电流输入端，所述电压输入端和/或电流输入端连接电源线组，以通入电压和/或电流，且所述测试件适于与检测装置连接。

可选地，所述驱动组件包括：

气动元件，所述气动元件驱动端与所述磁体连接，所述气动元件的进气端适于与外接气源连通；

夹持件，连接在所述气动元件安装端与所述支架组件之间；

其中，所述气动元件具有在外接气源的作用下，驱动所述磁体相对所述待测芯片转动。

可选地，所述夹持件包括两个相互连接的夹持块，两个所述夹持块之间形成有适于放置所述气动元件安装端的第三放置腔。

可选地，所述支架组件包括：

固定架，所述固定架连接于所述测试组件与所述驱动组件之间；

底座，与所述固定架连接。

可选地，所述固定架包括限位板，所述限位板上设有通槽，所述驱动组件中气动元件驱动端穿设所述通槽设于所述固定架内。

可选地，所述支架组件包括还包括支撑架，所述支撑架连接在所述固定架与所述底座之间，且所述支撑架一侧设有滑轨，所述限位板上设有与所述滑轨相适配的滑槽。

本发明提供的一种芯片测试装置，具有如下优点：

1.本发明提供的一种芯片测试装置，包括支架组件、测试组件、驱动组件和磁体，其中，测试组件与所述支架组件连接，所述测试组件适于与待测芯片连接，驱动组件与所述支架组件连接，磁体设于所述待测芯片一侧，所述磁体与所述驱动组件连接且受所述驱动组件驱动而相对所述待测芯片转动，以对待测芯片施加旋转式磁场。

此结构的芯片测试装置，通过在待测芯片一侧设置磁体，且磁体能够在驱动组件的驱动下相对所述待测芯片转动，以对待测芯片施加旋转式磁场，待测芯片的电阻，随磁场旋转角度的变化而变化，进而引起待测芯片的输出变化，通过将待测芯片与测试组件连接，通过采集、分析及判别输出的变化，获得待测芯片的输出与外部磁场之间的关系曲线，通过此关系曲线可以得到待测芯片的基本特性，比如其灵敏度、零磁场输出、精度等，通过这些参数判断产品的优良。通过设置支架组件以将测试组件、驱动组件和磁体进行固定。

2.本发明提供的一种芯片测试装置，磁体中心线位于所述待测芯片内若干磁电阻构成的磁感应区域内。

此结构的芯片测试装置，通过设置磁体中心线位于所述待测芯片内若干磁电阻构成的磁感应区域内，确保磁场旋转均匀分布，以免对测试结果造成干扰。

3.本发明提供的一种芯片测试装置，所述驱动组件包括气动元件和夹持件，所述气动元件驱动端与所述磁体连接，所述气动元件的进气端适于与外接气源连通，夹持件连接在所述气动元件安装端与所述支架组件之间，所述气动元件具有在外接气源的作用下，驱动所述磁体相对所述待测芯片转动。

此结构的芯片测试装置，通过设置气动元件驱动端与所述磁体连接，所述气动元件的进气端适于与外接气源连通，能够带动磁体相对所述待测芯片转动，采用气动元件可通过节气阀或流量计来控制气体流量以控制磁体转动速度，且杜绝了传统电机驱动情况下的磁场干扰，能够提高测试准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的实施例中提供的芯片测试装置的结构示意视图；

图2为本发明的实施例中提供的芯片测试装置的爆炸视图；

图3为本发明的实施例中提供的芯片测试装置中固定块底部示意图；

图4为本发明的实施例中提供的芯片测试装置中驱动组件的结构示意视图；

图5为图4中圈A处的结构放大图；

图6为本发明的实施例中提供的芯片测试装置中固定架与支撑架的配合示意图；

图7为本发明的实施例中提供的芯片测试装置中磁体的结构示意图。

附图标记说明：

1、支架组件；11、固定架；111、限位板；1111、滑槽；12、底座；13、支撑架；131、滑轨；

2、测试组件；21、固定块；211、第一放置腔；22、芯片测试座；23、测试件；24、测试探针；

3、待测芯片；

4、驱动组件；41、气动元件；42、夹持件；

5、磁体；

6、外接气源；

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

实施例

本申请实施例的芯片测试装置用于对芯片的测试，在本申请实施例中，待测芯片3为角度传感器芯片，角度传感器芯片的电阻，随磁场旋转角度的变化而变化，进而引起角度传感器芯片的输出变化，通过采集、分析及判别输出的变化，获得角度传感器的输出与外部磁场之间的关系曲线，通过此关系曲线可以得到角度传感器的基本特性，比如其灵敏度、零磁场输出、精度等。

本申请实施例的芯片测试装置不局限于测试角度传感器芯片，也可应用于其他需要改变外部磁场进行测试的芯片。

如图1至图6所示，本实施例提供的芯片测试装置，包括支架组件1、测试组件2、待测芯片3、驱动组件4和磁体5。其中，支架组件1连接在测试组件2与驱动组件4之间，测试组件2适与待测芯片3连接，磁体5设于所述待测芯片3一侧且与驱动组件4连接，且磁体5受所述驱动组件4驱动而相对所述待测芯片3转动，以对待测芯片3施加旋转式磁场。

如图2所示，所述测试组件2包括固定块21、芯片测试座22和测试件23，固定块21与所述支架组件1中的固定架11固定连接，固定块21内设有适于放置所述磁体5的第一放置腔211，芯片测试座22与所述固定块21连接，芯片测试座22上设有适于放置所述待测芯片3的第二放置腔，第二放置腔朝向远离固定块21方向开口，以方便对待测芯片3放置或拾取。测试件23设于所述固定块21与所述芯片测试座22之间，且所述测试件23与所述待测芯片3电性连接，以测试所述待测芯片3。其中测试件23为印制电路板，固定块21、芯片测试座22和测试件23采用螺钉进行固定连接，用于紧固的螺钉均采用无磁的黄铜或铝合金材质。

其中，如图7所示，磁体5为圆盘状，磁体5水平放置在第一放置腔211内，且磁体5一半为N极，磁体5另一半为S极。

进一步的，如图2、图4和图5所示，测试组件2还包括测试探针24，测试探针24一端与所述测试件23电性连接，所述测试探针24另一端贯穿所述芯片测试座22适于与所述待测芯片3电性连接。测试件23通过测试探针24给待测芯片3提供电源，并采集待测芯片3的输出信号。可以理解，测试探针24的数量可以根据测试需求进行设置。

进一步的，电源线组固定在测试件23的电压输入端或电流输入端，用于对测试件23通入可变电压或电流，或者电源线组固定在测试件23的电压输入端和电流输入端，同时对测试件23通入可变电压和电流。并且在测试件23输出端口连接检测装置，检测装置可以将采集到的数据输出进行分析检测。

如图2所示，驱动组件4包括气动元件41和夹持件42，其中气动元件41优选为风磨笔，气动元件41驱动端与所述磁体5连接，且磁体5中心线位于所述待测芯片3内若干磁电阻构成的磁感应区域内，确保磁场旋转均匀分布，以免对测试结果造成干扰。

气动元件41的进气端适于与外接气源6连通，使得气动元件41在外接气源6的作用下，驱动所述磁体5相对所述待测芯片3转动，以对待测芯片3施加旋转式磁场。且采用气动元件41可通过节气阀或流量计来控制气体流量以控制磁体5转动速度，进而控制磁场旋转的角速度，且杜绝了传统电机驱动情况下的磁场干扰，能够提高测试准确性。其中，气动元件41为现有技术，在此处不过多赘述。

仍参阅图2，夹持件42包括两个相互连接的夹持块，两个所述夹持块之间形成有适于放置所述气动元件41安装端的第三放置腔，两个所述夹持块之间通过螺钉进行固定，以防止气动元件41安装端在第三放置腔内滑动。

如图3所示，固定块21靠近气动元件41一侧设有转动槽，转动槽中心处设有第一放置腔211，安装时，气动元件41驱动端设于转动槽内，磁体5设于第一放置腔211内，且气动元件41驱动端与转动槽槽壁之间设有间隔，磁体5与第一放置腔211腔壁之间设有间隔，防止气动元件41驱动端旋转过程中剐蹭到固定块21，导致旋转角速度不均匀，对测试结果造成干扰。

如图1和图2所示，支架组件1包括固定架11、底座12和支撑架13，支撑架13连接在固定架11与底座12之间，固定架11为倒h型，固定架11呈开口的一端与固定块21固定连接。

进一步的，如图1和图6所示，固定架11包括限位板111，限位板111上设有通槽，所述驱动组件4中气动元件41驱动端穿设所述通槽设于所述固定架11内，且气动元件41固定端通过夹持件42与通槽侧壁固定连接。气动元件41驱动端朝向固定架11呈开口的一端设置，以使设于固定块21第一放置腔211内的磁体5能够穿过限位板111上的通槽设于待测芯片3下方。

如图2和图6所示，支撑架13为L型，所述支撑架13一侧设有滑轨131，所述限位板111上设有与所述滑轨131相适配的滑槽1111，通过滑轨131与滑槽1111的配合实现支撑架13与限位板111的连接，进而实现支撑架13与固定架11的连接。同时，如图6所示，限位板111底部设有四个螺栓孔，支撑架13上设有条状通槽，通过将条状通槽与螺栓孔对齐，在条状通槽与螺栓孔内旋入螺丝，通过螺丝挤压支撑架13与限位板111实现固定架11与支撑架13的固定连接。

本发明提供的芯片测试装置，测试时，将待测芯片3放入芯片测试座22的第二放置腔中，对测试件23通入可变电压或电流，同时气动元件41驱动端带动磁体5转动，随磁场旋转角度的变化而变化，进而引起待测芯片3的输出变化，通过采集、分析及判别输出的变化，获得待测芯片3的输出与外部磁场之间的关系曲线，通过此关系曲线可以得到角度传感器的基本特性，比如其灵敏度、零磁场输出、精度等，通过这些参数判断产品的优良。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。