老化测试装置、系统、方法及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种老化测试装置、系统、方法及计算机可读存储介质。

背景技术

目前在柔性AMOLED(Active Matrix/Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极体面板)的生产工艺中需要对产品进行大电压(通常为正常点亮电压1～10倍)和大电流(通常为正常点亮电流5～20倍)老化测试，在此过程中当产品存在翘曲或其它问题时，翘曲区域在大电压和/或大电流老化时容易形成高温，导致对产品造成高温烧伤。

发明内容

基于此，有必要针对老化测试时产品可能出现高温烧伤的问题，提供一种老化测试装置、系统、方法及计算机可读存储介质。

一种老化测试装置，所述老化测试装置用于对待测显示面板进行老化测试，所述待测显示面板包括多组显示电路，其中，各组所述显示电路的显示面积均相同，所述老化测试装置包括控制模块和多组电学测试模块，一组所述电学测试模块分别与一组所述显示电路对应连接，所述电学测试模块用于向所述显示电路提供测试电信号，还用于实时监测所述显示电路的采样信号；所述控制模块分别与多组所述电学测试模块相连接，用于在多组所述电学测试模块采集到的所述采样信号满足预设异常条件时，控制各组所述电学测试模块停止向各组所述显示电路提供测试电信号。

在其中一个实施例中，所述电学测试模块包括驱动单元，与所述显示电路相连接，用于向所述显示电路提供测试电信号；采样单元，与所述显示电路相连接，用于实时监测所述显示电路的采样信号。

在其中一个实施例中，所述控制模块包括传输单元，分别与多组所述采样单元相连接，用于获取多组所述采样单元采集到的多组所述采样信号；分析单元，分别与所述传输单元和多组所述驱动单元相连接，用于对多组所述采样信号进行对比，在多组所述采样信号间的最大差值大于预设阈值时输出控制信号，所述控制信号用于控制所述驱动单元停止向所述显示电路提供测试电信号。

在其中一个实施例中，所述电学测试模块还包括开关单元，所述驱动单元通过所述开关单元与所述显示电路相连接，所述开关单元还与所述分析单元相连接，用于根据所述控制信号断开所述驱动单元与所述显示电路之间的连接。

在其中一个实施例中，所述采样信号包括电流值和/或电阻值，所述采样单元包括电流采样单元，与所述显示电路相连接，用于采集所述显示电路的电流值；和/或，电阻采样单元，与所述显示电路相连接，用于采集所述显示电路的电阻值。

在其中一个实施例中，所述电学测试模块的数量与所述显示电路的数量相同，所述老化测试装置包括2-5组所述电学测试模块。

一种老化测试系统，包括待测显示面板，所述待测显示面板包括多组显示电路，其中，各组所述显示电路的显示面积均相同；上述任意一项实施例所述的老化测试装置，所述老化测试装置用于对所述待测显示面板进行老化测试。

一种老化测试方法，应用于上述任意一项实施例所述的老化测试装置，所述老化测试装置用于对待测显示面板进行老化测试，所述待测显示面板包括多组显示电路，其中，各组所述显示电路的显示面积均相同，所述老化测试方法包括向多组所述显示电路分别提供测试电信号；实时监测多组所述显示电路的采样信号；在多组所述采样信号满足预设异常条件时，停止向所述显示电路提供测试电信号。

在其中一个实施例中，所述在多组所述采样信号满足预设异常条件时，停止向所述显示电路提供测试电信号包括对多组所述采样信号进行对比；在多组所述采样信号间的最大差值大于预设阈值时输出控制信号，停止向所述显示电路提供测试电信号。

一种显示面板，所述显示面板包括多组显示电路，其中，各组所述显示电路的显示面积均相同。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项实施例所述的老化测试方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例所述的老化测试方法的步骤。

一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例所述的老化测试方法的步骤。

上述老化测试装置，老化测试装置可以用于对待测显示面板进行老化测试，待测显示面板可以包括多组显示电路，其中，各组显示电路的显示面积均相同。老化测试装置可以包括控制模块和多组电学测试模块，多组电学测试模块分别与多组显示电路对应连接，电学测试模块可以用于对显示电路提供测试电信号，还可以用于采集显示电路的采样信号。控制模块可以根据各组电学测试模块所采集到的多组采样信号来判断显示电路是否出现异常。当控制模块判断多组采样信号满足预设异常条件时，可以控制各组电学测试模块向各组显示电路提供测试电信号。上述老化测试装置在老化过程中对显示电路进行监控，通过对比采样信号来确认待测显示面板是否出现高温异常，并在出现高温异常时及时对待测显示面板进行断电处理，以防止待测显示面板因高温异常而出现烧伤，从而提高产品品质。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请其中一个实施例中老化测试装置的结构示意图；

图2为本申请其中一个实施例中电学测试模块的结构示意图；

图3为本申请其中一个实施例中控制模块的结构示意图；

图4为本申请其中一个实施例中老化测试方法的流程示意图；

图5为本申请其中一个实施例中异常情况判断的流程示意图；

图6为本申请其中一个实施例中用于实现老化测试方法的装置结构示意图；

图7为本申请其中一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的优选实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反的，提供这些实施方式的目的是为了对本发明的公开内容理解得更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

在使用本文中描述的“包括”、“具有”、和“包含”的情况下，除非使用了明确的限定用语，例如“仅”、“由......组成”等，否则还可以添加另一部件。除非相反地提及，否则单数形式的术语可以包括复数形式，并不能理解为其数量为一个。

应当理解，尽管本文可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件和另一个元件区分开。例如，在不脱离本申请的范围的情况下，第一元件可以被称为第二元件，并且类似地，第二元件可以被称为第一元件。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

目前在柔性AMOLED的生产老化工艺中当产品存在翘曲或其它问题时，翘曲区域在大电压/大电流老化时容易形成高温，从而可能会对产品造成烧伤。本申请提供了一种老化测试装置通过监测产品的信号变化来对测试信号进行通断控制，可以有效防止产品烧伤。

图1为本申请其中一个实施例中老化测试装置的结构示意图，在其中一个实施例中，老化测试装置可以对待测显示面板10进行老化测试。待测显示面板10可以包括多组显示电路11，其中，各组显示电路11的显示面积均相同。在实际应用中，待测显示面板10中显示电路11的数量可以根据不同的应用需求适应性设置。图1所示的待测显示面板10包括4组显示电路11，可以分别命名为显示电路1至显示电路4，显示电路1至显示电路4的显示面积均相等。

当待测显示面板10的显示电路11的显示面积均相等时，待测显示面板10在进行老化测试时，各组显示电路11的电流值理论上是相等的，在实际应用中也应趋近于相等。另外，每一组显示电路11的电流值与电阻值理论上也是相等的。因此，老化测试装置可以通过监控待测显示面板10中各组显示电路11电流值和/或电阻值的变化，来判断待测显示面板10中各组显示电路11是否出现异常。

老化测试装置可以包括控制模块100和多组电学测试模块200。其中，多组电学测试模块200分别与多组显示电路11对应连接，一组电学测试模块200与一组显示电路11相连接。电学测试模块200可以用于向显示电路11提供测试电信号。在一些实施例中，测试电信号可以为老化电流或老化电压。其中，老化电流可以为显示电路11的正常点亮电流的5～20倍，老化电压可以为显示电路11的正常点亮电压的1～10倍。

电学测试模块200还可以用于对显示电路11的采样信号进行实时监测，一组电学测试模块200可以获取一组采样信号，从而多组电学测试模块200可以获取多组采样信号。

控制模块100可以分别与多组电学测试模块200相连接，以获取各组电学测试模块200采集到的采样信号。控制模块100中还可以预先设置有预设异常条件，当多组采样信号满足预设异常条件时，即可判断待测显示面板10中存在异常，可能会形成高温从而导致烧伤问题。控制模块100通过在多组采样信号满足预设异常条件时，控制各组电学测试模块200停止向显示电路11提供测试电信号，可以在待测显示面板10烧伤前对其进行断电处理，以防止待测显示面板10出现高温烧伤，从而提高产品品质。

上述老化测试装置，在针对待测显示面板10的老化测试过程中，通过对待测显示面板10的各组显示电路进行监控，对比各组显示电路的采样信号来确认待测显示面板10是否出现高温异常，并在出现高温异常时及时对待测显示面板10进行断电处理，以防止待测显示面板10因高温异常而出现烧伤，从而提高产品的良品率。

图2为本申请其中一个实施例中电学测试模块的结构示意图，在其中一个实施例中，电学测试模块200可以包括驱动单元210和采样单元220。

驱动单元210可以与显示电路11相连接，驱动单元210可以用于向显示电路11提供测试电信号。在一些实施例中，驱动单元210可以为电压源和/或电流源。电学测试模块200可以利用驱动模块210提供老化电压或老化电流至待测显示面板10的显示电路11。

采样单元220也可以与显示电路11相连接，采样单元220可以用于实时监测显示电路11的采样信号。电学测试模块200可以利用采样单元220对显示电路11进行实时监控。老化测试装置利用多组电学测试模块200分别对待测显示面板10的多组显示电路11进行监控并对比变化，可以确认待测显示面板10在老化过程中是否出现高温异常，从而可以及时针对异常情况进行应对处理。

图3为本申请其中一个实施例中控制模块的结构示意图，在其中一个实施例中，控制模块100可以包括传输单元110和分析单元120。

传输单元110可以分别与各组电学测试模块200的采样单元220相连接，控制模块100可以通过传输单元110来获取各组采样单元220采集到的采样信号。在一些实施例中，传输单元110可以通过有线和/或无线通信的方式实现与采样单元220的数据传输。

分析单元120可以分别与传输单元110和各组电学测试模块200的驱动单元210相连接，传输单元110获取的多组采样信号可以传输至分析单元120进行异常分析。控制模块100可以通过分析单元120对多组采样信号进行对比，分析单元120中可以预先设置有预设异常条件。

考虑到产品在老化过程中若存在翘曲或其它问题时，翘曲区域在大电压和/或大电流老化时容易形成高温，此时翘曲区域的电流和电阻相比正常区域也更高。因此，本实施例中采样信号可以为电流值和/或电阻值。本申请提供的老化测试装置在老化过程中，可以对待测显示面板10中各组显示电路11的电流和/或电阻进行对比检测，从而实现对显示面板的异常判断。

当多组采样信号间的最大差值大于预设阈值时分析单元120可以输出控制信号至驱动单元210。其中，控制信号可以用于控制驱动单元210停止向显示电路11提供测试电信号。例如，当老化测试装置200采集到4组采样信号，4组采样信号分别为I1-I4，分析单元120对4组采样信号进行比较分析，可以分别对I1-I4这四组采样信号两两作差，计算各组信号之间的差值，然后分别将各组信号之间的差值与预设阈值进行对比，当任意两组信号之间的差值大于预设阈值时，分析单元120可以判断待测显示面板10中有显示线路11存在翘曲等异常，此时分析单元120输出控制信号至驱动单元210，以在待测显示面板10烧伤前对其进行断电处理。

如图2所示，在其中一个实施例中，电学测试模块200还可以包括开关单元230，驱动单元210可以通过开关单元230与显示电路11相连接。电学测试模块200可以通过控制开关单元230的通断来改变开关单元230与显示电路11间连接的通断。开关单元230还可以与分析单元120相连接，当分析单元120对多组采样单元220采集到的多组采样信号进行分析，多组采样信号间的最大差值大于预设阈值时，分析单元120输出控制信号至开关单元230。此时，开关单元230可以根据控制信号关断，以断开驱动单元210与显示电路11之间的连接。

在其中一个实施例中，考虑到产品在老化过程中若存在翘曲或其它问题时，翘曲区域在大电压和/或大电流老化时容易形成高温，此时翘曲区域的电流和电阻相比正常区域也更高。因此，采样信号可以包括电流值和/或电阻值，对应地，采样单元可以包括电流采样单元和/或电阻采样单元。

电流采样单元可以与显示电路11相连接，电学测试模块200可以利用电流采样单元采集显示电路11的电流值，并将实时采集到的电流值传输至控制模块100。电阻采样单元可以与显示电路11相连接，电学测试模块200可以利用电阻采样单元采集显示电路11的电阻值，并将实时采集到的电阻值传输至控制模块100。

控制模块100可以根据电流值和/或电阻值判断待测显示面板10是否出现异常。控制模块100可以对多组电流值和/或电阻值进行比较分析，可以分别对多组电流值和/或电阻值两两作差，计算各组电流值和/或电阻值之间的差值，然后分别将各组多组电流值和/或电阻值之间的差值与预设阈值进行对比，当任意两组电流值和/或电阻值之间的差值大于预设阈值时，控制模块100可以判断待测显示面板10中有显示线路11存在翘曲等异常，此时控制模块100输出控制信号至电学测试模块200，以在待测显示面板10烧伤前对其进行断电处理。

在其中一个实施例中，电学测试模块200的数量可以与显示电路11的数量相同，即一组电学测试模块200向一组显示电路11提供测试电信号以及采集采样信号，从而老化测试装置可以更精细地对各组显示电路中的电流值和/或电阻值进行比较检测。根据各组显示电路中电流值和/或电阻值的变化来确认产品是否出现高温异常，并在判断出现高温异常时及时对测试电信号进行通断控制，可以有效防止产品烧伤。

待测显示面板10中可以设置2-5组显示面积相同的显示电路11，因此，老化测试装置中也可以包括2-5组电学测试模块200。考虑到产品的翘曲区域在大电压和/或大电流老化时容易形成高温，此时翘曲区域的电流和电阻相比正常区域也更高，因此在本实施例中是通过对比各组显示电路11的电流值和/或电阻值来区分正常显示电路11和存在翘曲区域的显示电路11的。通过将待测显示面板10的显示电路11等显示面积分为2-5组的设计，并利用2-5组电学测试模块200与显示电路11进行针对性的测试与监控，可以更精细地对不同显示区域中电流值和/或电阻值进行对比。

本申请还可以提供一种显示面板，在其中一个实施例中，显示面板可以包括多组显示电路11，其中，各组显示电路11的显示面积均相同。通过令显示面板中各组显示电路11的显示面积均相等，从而显示面板在进行老化测试时，各组显示电路11的电流值理论上是相等的，在实际应用中也应趋近于相等。另外，每一组显示电路11的电流值与电阻值理论上也是相等的。因此，老化测试装置可以通过监控显示面板中各组显示电路11电流值和/或电阻值的变化，来判断待测显示面板10中各组显示电路11是否出现异常。

在其中一个实施例中，显示面板可以包括2-5组显示电路11。通过将显示面板中显示区域设计为2-5组显示面积相同的显示电路11，可以更精细地对不同显示区域中电流值和/或电阻值进行对比。

本申请还可以提供一种老化测试系统，在其中一个实施例中，老化测试系统可以包括待测显示面板10和如上述任意一项实施例所述的老化测试装置。

待测显示面板10可以包括多组显示电路11，其中，各组显示电路11的显示面积均相同。在实际应用中，待测显示面板10中显示电路11的数量可以根据不同的应用需求适应性设置。

老化测试装置可以向各组显示电路11提供测试电信号。在一些实施例中，测试电信号可以为老化电流或老化电压。其中，老化电流可以为显示电路11的正常点亮电流的5～20倍，老化电压可以为显示电路11的正常点亮电压的1～10倍。老化测试装置还可以用于对显示电路11的采样信号进行实时监测，一组电学测试模块200可以获取一组采样信号，从而多组电学测试模块200可以获取多组采样信号。

老化测试装置通过对分组后待测显示面板10中各组采样信号进行监控，在多组采样信号满足预设异常条件时，停止向显示电路11提供测试电信号，可以在待测显示面板10烧伤前对其进行断电处理，以防止待测显示面板10出现高温烧伤，从而提高产品品质。

基于上述老化测试装置实施例的描述，本公开还提供了一种老化测试方法。所述方法可以应用于本说明书实施例所述的装置(包括分布式系统)、软件(应用)、模块、组件、服务器、客户端等并结合必要的实施硬件的装置。基于同一创新构思，本公开实施例提供的一个或多个实施例中的方法如下面的实施例所述。由于方法解决问题的实现方案与装置相似，因此本说明书实施例具体的方法的实施可以参见前述装置的实施，重复之处不再赘述。以下所使用的，术语“单元”或者“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的方法较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图4为本申请其中一个实施例中老化测试方法的流程示意图，本申请还可以提供一种老化测试方法，应用于上述任意一项实施例所述的老化测试装置。老化测试方法可以包括如下步骤S100至步骤S300。

步骤S100：向多组显示电路分别提供测试电信号。

向待测显示面板10中各组显示电路11提供测试电信号，以对待测显示面板10进行老化测试。在一些实施例中，测试电信号可以为老化电流或老化电压。其中，老化电流可以为显示电路11的正常点亮电流的5～20倍，老化电压可以为显示电路11的正常点亮电压的1～10倍。

步骤S200：实时监测多组显示电路的采样信号。

对显示电路11的采样信号进行实时监测，一组电学测试模块200可以获取一组采样信号，从而多组电学测试模块200可以获取多组采样信号。

步骤S300：在多组采样信号满足预设异常条件时，停止向显示电路提供测试电信号。

可以预先设置有预设异常条件，当多组采样信号满足预设异常条件时，即可判断待测显示面板10中存在异常，可能会形成高温从而导致烧伤问题。通过对多组采样信号进行分析，并在多组采样信号满足预设异常条件时，控制停止向显示电路11提供测试电信号，可以在待测显示面板10烧伤前对其进行断电处理，以防止待测显示面板10出现高温烧伤，从而提高产品品质。

图5为本申请其中一个实施例中异常情况判断的流程示意图，在其中一个实施例中，在多组采样信号满足预设异常条件时，停止向显示电路提供测试电信号可以包括如下步骤S310至步骤S320。

S310：对多组采样信号进行对比。

对采集到的各组采样信号进行比较分析，可以通过对各组采样信号进行两两作差的方式来帮助判断各组显示电路中产生的信号变化。

S320：在多组采样信号间的最大差值大于预设阈值时输出控制信号，停止向显示电路提供测试电信号。

可以分别对多组采样信号两两作差，以计算各组信号之间的差值，然后分别将各组信号之间的差值与预设阈值进行对比。当任意两组信号之间的差值大于预设阈值时，即可判断待测显示面板10中有显示线路11存在翘曲等异常，此时停止向显示电路11提供测试电信号，可以在待测显示面板10烧伤前对其进行断电处理，提高产品的良品率。

应该理解的是，虽然说明书附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其他的顺序执行。而且，说明书附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

可以理解的是，本说明书中上述方法、装置等的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同/相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。相关之处参见其他方法实施例的描述说明即可。

图6为本申请其中一个实施例中用于实现老化测试方法的装置结构示意图。参照图6，老化测试装置S00可以包括处理组件S20，其进一步包括一个或多个处理器，以及由存储器S22所代表的存储器资源，用于存储可由处理组件S20的执行的指令，例如应用程序。存储器S22中存储的应用程序可以包括一个或一个以上的每一个对应于一组指令的模块。此外，处理组件S20被配置为执行指令，以执行上述老化测试方法。

老化测试装置S00还可以包括：电源组件S24被配置为执行老化测试装置S00的电源管理，有线或无线网络接口S26被配置为将老化测试装置S00连接到网络，和输入输出(I/O)接口S28。老化测试装置S00可以操作基于存储在存储器S22的操作系统，例如WindowsServer，Mac OS X，Unix，Linux，FreeBSD或类似。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器S22，上述指令可由老化测试装置S00的处理器执行以完成上述方法。存储介质可以是计算机可读存储介质，例如，所述计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

在示例性实施例中，还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品中包括指令，上述指令可由老化测试装置S00的处理器执行以完成上述方法。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图7所示，图7为本申请其中一个实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储在上述老化测试方法中用到的与用户、任务相关的数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种老化测试方法。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其他介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于硬件+程序类实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的，上述所述的装置、电子设备、服务器等根据方法实施例的描述还可以包括其他的实施方式，具体的实现方式可以参照相关方法实施例的描述。同时各个方法以及装置、设备、服务器实施例之间特征的相互组合组成的新的实施例仍然属于本公开所涵盖的实施范围之内，在此不作一一赘述。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。