缺陷检测方法、电子设备及存储介质

技术领域

本申请属于检测领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、电子设备及存储介质。

背景技术

随着电子产品的普及，对于电子产品零部件制造工艺的要求越来越高，基于产品外观的美观也有了更高要求。大部分电子产品，例如手机、平板、笔记本电脑等的外壳多用合金制造，例如铝合金等。合金外壳从原材料到可用于装配的外壳所进行的制造工艺的工序多达十多步，在不同工艺的工序中，产品可能会出现缺陷，从而影响工艺正常运行。因此，需要对产品外观面的缺陷进行检测，以及时发现产品缺陷。

然而，在对产品的外观面进行缺陷检测时，会将外观面存在的可擦拭脏污的产品检测为不良品，导致产品整体良率降低，过杀率较高，造成产品缺陷检测的准确性较低。

发明内容

本申请实施例提供了一种缺陷检测方法、电子设备及存储介质，以解决产品缺陷检测的准确性较低的问题。

本申请实施例第一方面提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：获取产品的外观图像；调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，所述第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污，则调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷，所述第二缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，所述检测信息指示所述产品检测合格或者所述产品检测不合格，所述根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息，包括：若根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定所述产品存在可擦拭脏污，则确定所述产品检测合格；若根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定所述产品存在不可擦拭脏污，则确定所述产品检测不合格。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，在所述调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷之后，所述方法还包括：若所述第一缺陷与所述第二缺陷不相同，则确定检测结果为异常结果；确定所述异常结果对应的异常类型，并根据所述异常类型确定模型优化策略；根据所述模型优化策略，调整所述第一产品缺陷识别模型与所述第二产品缺陷识别模型。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，所述方法还包括：所述确定所述异常结果对应的异常类型，包括：若所述第一缺陷指示所述产品存在可擦拭脏污，所述第二缺陷指示所述产品存在不可擦拭脏污，则确定所述异常类型为缺陷误检；若所述第一缺陷指示所述产品存在可擦拭脏污，所述第二缺陷指示所述产品无缺陷，则确定所述异常类型为缺陷检测过杀；若所述第一缺陷指示所述产品存在不可擦拭脏污，所述第二缺陷指示所述产品存在可擦拭脏污，则确定所述异常类型为缺陷误检；若所述第一缺陷指示所述产品存在不可擦拭脏污，所述第二缺陷指示所述产品无缺陷，则确定所述异常类型为缺陷检测过杀。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，所述调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，包括：将所述外观图像输入至所述第一产品缺陷识别模型，得到分割出的缺陷区域；根据所述缺陷区域与预设区域阈值，确定所述第一缺陷。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，在所述获取产品的外观图像之前，所述方法还包括：通过产品擦拭装置擦拭所述产品的外观面，并将所述产品移动至产品除尘装置，用于去除所述产品的灰尘。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，所述产品擦拭装置包括载具设备、传送设备以及擦拭设备，其中，所述载具设备用于装载并移动所述产品；所述传送设备设于所述载具设备的上方，包括传送件与擦拭材料，所述擦拭材料通过所述传送件在所述产品的外观面移动；所述擦拭设备连接并设于所述擦拭材料的上方，包括擦拭件与喷液件，所述喷液件用于将液体喷至所述擦拭材料上，通过所述擦拭件按压所述产品外观面的擦拭材料，使得所述产品外观面经过湿擦工艺与干擦工艺。

进一步地，在本申请实施例提供的上述缺陷检测方法中，所述产品除尘装置包括吹气设备与吸尘设备，通过所述吹气设备对所述产品的外观面进行除尘处理，之后通过所述吸尘设备对所述产品的外观面进行吸尘处理。

本申请实施例第二方面还提供一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置包括：外观图像获取模块，用于获取产品的外观图像；第一缺陷确定模块，用于调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，所述第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；第二缺陷确定模块，用于若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污，则调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷，所述第二缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；检测信息确定模块，用于根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息。

本申请实施例第三方面还提供一种电子设备，所述电子设备包括控制器与存储器，所述控制器用于执行所述存储器中存储的计算机程序时实现上述任意一项所述的缺陷检测方法。

本申请实施例第四方面还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被控制器执行时实现上述任意一项所述的缺陷检测方法。

本申请实施例提供的上述缺陷检测方法，获取产品的外观图像；调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，所述第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污，则调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷，所述第二缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息。上述方法通过模型确定产品外观面的缺陷是可擦拭脏污或是不可擦拭脏污，确定产品的检测信息，避免将外观面存在可擦拭脏污的产品检测为不良品，提高产品缺陷检测的准确性；且上述方法结合第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型确定产品的缺陷信息，提高可擦拭脏污与不可擦拭脏污检测的准确性，提高产品缺陷检测的准确性。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的设备示意图；

图2是本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的一种缺陷模型调整方法的流程示意图；

图4是本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图；

图5为本申请实施例提供的产品擦拭装置的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的产品除尘装置的结构示意图；

图7是本申请实施例提供的缺陷检测装置的结构示意图。

元件符号标记

电子设备 10

存储器 11

控制器 12

通信总线 13

产品擦拭装置 20

载具设备 21

传送设备 22

传送件 221

擦拭材料 222

擦拭设备 23

擦拭件 231

擦拭刷 2311

压紧气缸 2312

喷液件 232

产品除尘装置 30

吹气设备 31

吹气件 311

除尘刷 312

吸尘设备 32

空气净化设备 33

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，指示的方位或位置关系的术语为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，需要说明的是，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在对产品表面的缺陷检测问题上，通常采用深度学习的方式进行缺陷检测。将产品的外观面图像输入至深度学习模型中，由深度学习模型确定产品的缺陷类型。在缺陷类型中，有一类为产品外表面的脏污。脏污包括可擦拭脏污与不可擦拭脏污，其中，可擦拭脏污可以包括水滴、油污、空气灰尘、包装泡棉、油污、污垢等污渍，这类脏污可以通过擦拭的方式清除。

然而，在对产品的外观面进行缺陷检测时，会将外观面存在可擦拭脏污的产品检测为不良品，导致产品整体良率降低，过杀率较高，产品缺陷检测的准确性较低。

鉴于上述问题，本申请实施例提供一种缺陷检测方法，用于提高缺陷检测的准确性。

以下将结合附图对本申请的一些实施例进行详细说明。

图1是本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的设备示意图，缺陷检测方法应用于电子设备，如图1所示，电子设备10包括存储器11、至少一个控制器12以及至少一条通信总线13。在一些实施例中，至少一条通信总线13被设置为实现存储器11以及至少一个控制器12等之间的连接通信。所述控制器12用于执行所述存储器11中存储的计算机程序时实现缺陷检测方法。

在一实施例中，在对产品的外观图像进行缺陷检测之前，通过产品擦拭装置20擦拭所述产品的外观面，并将所述产品移动至产品除尘装置30，用于去除所述产品的灰尘。在一实施例中，电子设备10可以与产品擦拭装置20或产品除尘装置30结合为一体式设备，示例性地，电子设备10与产品除尘装置30结合为一体式设备，在由产品除尘装置30去除产品的灰尘后，由产品除尘装置30(也即一体式设备)内的电子设备10获取产品的外观图像，并对产品的外观图像进行缺陷检测。在其他实施例中，电子设备10还可以与产品除尘装置30进行连接，示例性地，在通过产品擦拭装置20擦拭所述产品的外观面，以及将所述产品移动至产品除尘装置30，去除所述产品的灰尘之后，产品除尘装置30将除尘完成的指令输出至电子设备10，电子设备10根据该除尘完成的指令，获取产品的外观图像，并对产品的外观图像进行缺陷检测。

本领域技术人员应该了解，图1示出的电子设备的结构并不构成本申请实施例的限定，电子设备10还可以包括比图示更多或更少的其他硬件或者软件，或者不同的部件布置。

需要说明的是，电子设备10仅为举例，其他现有的或今后可能出现的电子产品如可适应于本申请，也应包含在本申请的保护范围以内，并以引用方式包含于此。

图2是本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图。缺陷检测方法应用于电子设备中，如图2所示，包括如下流程：

S11，获取产品的外观图像。

在一实施例中，产品的外观图像可以是由图像采集设备(例如，摄像头)采集产品的预设表面的图像，产品可以为平板、手机、笔记本电脑等电子设备的外壳。在获取产品的外观图像后，还可以对产品的外观图像进行预处理，预处理可以包括但不限于：图像背景屏蔽、图像裁剪、调整图像对比度等。其中，图像背景屏蔽指屏蔽图像中除产品区域外的背景，例如使用纯黑或纯白将背景覆盖，以免背景中的特征和光影变化干扰产品缺陷的检测；图像裁剪可以在产品尺寸较大，而缺陷尺寸较小的情况下，通过图像裁剪的方式减少图像中非产品缺陷的部分，提高产品缺陷在图像中的占比，从而减少因产品缺陷过小导致缺陷检测过程中图像信息丢失的情况；调整图像对比度，例如，由于产品材质的影响，有些产品缺陷在原图像中并不明显，因此可以增强图像对比度，以使得产品缺陷明显的呈现于图像。

S12，调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，所述第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个。

在一实施例中，第一产品缺陷识别模型是指预先训练至收敛的、用于确定外观图像对应缺陷信息的模型，第一产品缺陷识别模型可以为分割模型，分割模型是基于像素级的检测，能够提取更多的缺陷特征信息，以便于区分可擦拭脏污和不可擦拭脏污。第一产品缺陷识别模型可以为卷积神经网络模型、全卷积网络等深度学习模型，通过这些模型对产品的外观图像进行缺陷预测实现图像分割，从而确定分割图像对应的缺陷。在一实施例中，第一产品缺陷识别模型的输入数据为产品的外观图像，输出数据为第一缺陷，第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个，其中，可擦拭脏污包括水滴、空气灰尘、包装泡棉、油污、污垢等污渍，这类脏污可以通过擦拭的方式完全清除。不可擦拭脏污包括锈迹、氧化层等污渍，这类脏污无法通过擦拭的方式清除。无缺陷是指该产品既无可擦拭脏污或不可擦拭脏污，也无其余类型的缺陷，其余类型的缺陷可以包括压伤、刮伤、腐蚀点、染色不均等，在此不做限制。

S13，若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污，则调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷，所述第二缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个。

在一实施例中，若所述第一缺陷为无缺陷，则确定产品检测合格；若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污，则将产品的外观图像作为输入数据再输入至第二产品缺陷识别模型，由第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到产品的第二缺陷。在一实施例中，第二产品缺陷识别模型可以为分类模型，该分类模型可以为卷积神经网络、循环神经网络和长短时记忆网络等深度学习模型。通过这些模型对产品的外观图像进行缺陷特征提取与分类，从而确定外观图像对应的缺陷。第二产品缺陷识别模型可以为分类模型，其输入数据为存在可擦拭脏污或不可擦拭脏污等缺陷的产品的完整外观图像，或者为产品对应缺陷区域的外观图像，输出数据为第二缺陷。

S14，根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息。

在一实施例中，产品的检测信息包括产品检测合格与产品检测不合格，若第一缺陷与第二缺陷相同，且第一缺陷与第二缺陷均为可擦拭脏污，则确定产品检测合格；若第一缺陷与第二缺陷相同，且第一缺陷与第二缺陷均为不可擦拭脏污，则确定产品检测不合格；若第一缺陷与第二缺陷不相同，则确定检测结果为异常结果，需对上述第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型进行调整。

本申请实施例提供的上述缺陷检测方法，获取产品的外观图像；调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，所述第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷；若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污中的一个，则调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷，所述第二缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个；根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息。上述方法通过模型确定产品外观面的缺陷是可擦拭脏污或是不可擦拭脏污，确定产品的检测信息，避免将外观面存在可擦拭脏污的产品检测为不良品，提高产品缺陷检测的准确性；且上述方法结合第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型确定产品的缺陷信息，提高可擦拭脏污与不可擦拭脏污检测的准确性，提高产品缺陷检测的准确性。

在一实施例中，若第一缺陷与第二缺陷不相同，则确定检测结果为异常结果，需对第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型进行调整。图3是本申请实施例提供的一种缺陷模型调整方法的流程示意图。缺陷模型调整方法应用于电子设备中，如图3所示，包括如下步骤：

S21，若所述第一缺陷与所述第二缺陷不相同，则确定检测结果为异常结果。

在一实施例中，若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述不可擦拭脏污；或者，若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述无缺陷；或者，若所述第一缺陷为所述不可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述可擦拭脏污；或者，若所述第一缺陷为所述不可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述无缺陷，则确定第一缺陷与第二缺陷不相同，确定第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型的检测结果为异常结果。

S22，确定所述异常结果对应的异常类型，并根据所述异常类型确定模型优化策略。

在一实施例中，异常类型可以包括缺陷误检与缺陷检测过杀，示例性地，若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述不可擦拭脏污，则确定所述异常类型为缺陷误检；若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述无缺陷，则确定所述异常类型为缺陷检测过杀；若所述第一缺陷为所述不可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述可擦拭脏污，则所述异常类型为缺陷误检；若所述第一缺陷为所述不可擦拭脏污，所述第二缺陷为所述无缺陷，则确定所述异常类型为缺陷检测过杀。

在一实施例中，预先建立异常类型与模型优化策略的对应关系，通过查询该对应关系，能够得到异常类型对应的模型优化策略，其中，模型优化策略是指用于调整第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型的策略。示例性地，若异常类型为缺陷检测过杀，则对应的模型优化策略可以包括：在模型训练过程中，增加标签为良品的缺陷图像样本的比例，标签为良品的缺陷图像样本与标签为不良品的缺陷图像样本的数据比例可以设置在0.8以下，通过增加标签为良品的缺陷图像样本，能够提高模型识别良品(也即可擦拭脏污)的准确性，避免缺陷检测过杀；或者，将被过杀的外观图像加入缺陷图像样本，例如，同种缺陷的同一种图像至少增加50张图像，以增强检测逻辑。若异常类型为缺陷误检，对应的模型优化策略可以包括：增加易混类缺陷对应数据集，强化学习。例如可擦拭脏污误检为不可擦拭脏污，原有数据各50片，则可增加至各100片；或者，将模型切换为更高级神经网络实现分类。

S23，根据所述模型优化策略，调整所述第一产品缺陷识别模型与所述第二产品缺陷识别模型。

在一实施例中，根据模型优化策略，继续训练第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型，使得第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型得到优化，提高缺陷检测的准确性。

本申请实施例根据第一缺陷与第二缺陷确定异常结果对应的异常类型，之后根据异常类型确定模型优化策略，并根据模型优化策略调整第一产品缺陷识别模型与第二产品缺陷识别模型，提高缺陷检测的准确性。

在一实施例中，缺陷的尺寸对产品良品率的影响较大，对于尺寸较小的缺陷，其对生产工艺的影响很小。若将该类缺陷对应的产品归类为不良品，会导致产品过杀，导致缺陷检测的准确性降低。图4是本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图。缺陷检测方法应用于电子设备中，如图4所示，包括如下步骤：

S31，将所述外观图像输入至所述第一产品缺陷识别模型，得到分割出的缺陷区域。

在一实施例中，第一产品缺陷识别模型可以为分割模型，通过第一产品缺陷识别模型对产品的外观图像进行缺陷预测实现图像分割，得到分割出的缺陷区域。缺陷区域是指包含完整缺陷的外接矩形，首先，确定缺陷在第一方向(例如，第一方向为竖直方向)的第一坐标点(例如，第一坐标点为最高点)与第二坐标点(例如，第二坐标点为最低点)；之后确定缺陷在第二方向(例如，第二方向为水平方向)的第三坐标点(例如，第三坐标点为最左侧点)与第四坐标点(例如，第四坐标点为最右侧点)；然后根据第一坐标点与第二坐标点确定外接矩形的第一边长，根据第三坐标点与第四坐标点确定外接矩形的第二边长，根据第一边长与第二边长确定缺陷对应的外接矩形，将该外接矩形作为分割出的缺陷区域。根据缺陷区域，可以确定该缺陷对应的第一边长、第二边长以及缺陷面积(也即第一边长*第二边长)。S32，根据所述缺陷区域与预设区域阈值，确定所述第一缺陷。

在一实施例中，确定该缺陷对应的第一边长、第二边长以及缺陷面积(也即第一边长*第二边长)，对于第一边长，存在对应的第一预设区域阈值；对于第二边长，存在对应的第二预设区域阈值；对于第三边长，存在对应的第三预设区域阈值。其中，第一预设区域阈值、第二预设区域阈值以及第三预设区域阈值可以根据实际产品良率需求与过杀率优化设置，在此不做限制，过杀率是指异常类型为缺陷检测过杀的产品数量占缺陷检测的产品总数量的比例。

在一实施例中，若第一边长小于第一预设区域阈值，第二边长小于第二预设区域阈值，且缺陷面积小于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为无缺陷；若第一边长大于或等于第一预设区域阈值，第二边长小于第二预设区域阈值，且缺陷面积小于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为无缺陷；若第一边长小于第一预设区域阈值，第二边长大于或等于第二预设区域阈值，且缺陷面积小于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为无缺陷；若第一边长大于或等于第一预设区域阈值，第二边长大于或等于第二预设区域阈值，且缺陷面积小于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为无缺陷；若第一边长大于或等于第一预设区域阈值，第二边长小于第二预设区域阈值，且缺陷面积大于或等于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为无缺陷；若第一边长小于第一预设区域阈值，第二边长小于第二预设区域阈值，且缺陷面积大于或等于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为无缺陷；若第一边长大于或等于第一预设区域阈值，第二边长大于或等于第二预设区域阈值，且缺陷面积大于或等于第三预设区域阈值，则确定第一缺陷为可擦拭脏污与不可擦拭脏污中的一个。

本申请实施例通过确定缺陷区域，之后根据缺陷区域与预设区域阈值，确定第一缺陷。上述方法能够避免将尺寸较小的缺陷对应的产品归类为不良品导致产品过杀的问题，提高缺陷检测的准确性。

在一实施例中，在所述获取产品的外观图像之前，通过产品擦拭装置20擦拭所述产品的外观面，并将所述产品移动至产品除尘装置30，用于去除所述产品的灰尘。上述方法通过在获取产品的外观图像之前，对产品的外观面进行擦拭与除尘处理，能够在后续缺陷检测时，减少可擦拭脏污在产品缺陷中的占比，降低模型误将可擦拭脏污检测为不良品(本申请也称产品检测不合格)的概率，提高产品缺陷检测的准确性。参阅图5，图5为本申请实施例提供的产品擦拭装置20的结构示意图。所述产品擦拭装置20包括载具设备21、传送设备22以及擦拭设备23，其中，所述载具设备21用于装载并移动所述产品。所述传送设备22设于所述载具设备21的上方，包括传送件221与擦拭材料222，所述擦拭材料222通过所述传送件221在所述产品的外观面移动。在一实施例中，所述擦拭材料222可以为无尘纸或其他能够擦拭产品的材料，在此不做限制。所述擦拭设备23连接并设于所述擦拭材料222的上方，包括擦拭件231与喷液件232，所述喷液件232用于将液体喷至所述擦拭材料222上，通过所述擦拭件231按压所述产品外观面的擦拭材料222，使得所述产品外观面经过湿擦工艺与干擦工艺。在一实施例中，所述擦拭件231包括擦拭刷2311与压紧气缸2312，所述压紧气缸2312连接所述擦拭刷2311，并将所述擦拭刷2311压紧所述擦拭材料至产品的外观面，以保证产品的擦拭效果。所述喷液件232用于向擦拭材料222喷出液体，使得擦拭材料222潮湿，从而通过擦拭件231用潮湿的擦拭材料222擦拭产品的外观面，实现对产品的湿擦工艺。之后，所述喷液件232停止向擦拭材料222喷出液体，保持擦拭材料222干爽，从而通过擦拭件231用干爽的擦拭材料222擦拭产品的外观面，实现对产品的干擦工艺。通过上述产品擦拭装置20对产品的外观面进行反复擦拭，对产品的外观面进行擦拭与除尘处理。

参阅图6，图6为本申请实施例提供的产品除尘装置30的结构示意图。所述产品除尘装置30包括吹气设备31与吸尘设备32，通过所述吹气设备31对所述产品的外观面进行除尘处理，之后通过所述吸尘设备32对所述产品的外观面进行吸尘处理。在一实施例中，所述产品除尘装置30还包括空气净化设备33，所述空气净化设备33用于净化产品除尘装置30内的空气，产品通过进料口运输至产品除尘装置30，再通过出料口运输出产品除尘装置30。在一实施例中，吹气设备31包括吹气件311与除尘刷312，其中，吹气件311与除尘刷312共同作用于产品的外观面，用于对产品进行除尘处理；之后将产品运输至吸尘设备32，由吸尘设备32对产品外观面上未清楚的灰尘颗粒(例如，粉尘、絮状物、微小粒子等污染物)进行吸附，进一步减少产品外观面的可擦拭脏污。

请参阅图7，图7是本申请实施例提供的缺陷检测装置的结构示意图。在一些实施例中，缺陷检测装置40可以包括多个由计算机程序段所组成的功能模块。缺陷检测装置20中的各个程序段的计算机程序可以存储于计算机设备30的存储器中，并由至少一个处理器所执行，以执行(详见图2描述)缺陷检测的功能。

本实施例中，缺陷检测装置40根据其所执行的功能，可以被划分为多个功能模块。功能模块可以包括：外观图像获取模块401、第一缺陷确定模块402、第二缺陷确定模块403以及检测信息确定模块404。本申请所称的模块是指一种能够被至少一个处理器所执行并且能够完成固定功能的一系列计算机程序段，其存储在存储器中。在本实施例中，关于各模块的功能将在后续的实施例中详述。

外观图像获取模块401可以用于获取产品的外观图像。

第一缺陷确定模块402可以用于调用预设的第一产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第一缺陷，所述第一缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个。

第二缺陷确定模块403可以用于若所述第一缺陷为所述可擦拭脏污或所述不可擦拭脏污，则调用预设的第二产品缺陷识别模型处理所述外观图像，得到所述外观图像对应的第二缺陷，所述第二缺陷包括可擦拭脏污、不可擦拭脏污以及无缺陷中的一个。

检测信息确定模块404可以用于根据所述第一缺陷与所述第二缺陷确定产品的检测信息。

可以理解，缺陷检测装置40与上述实施例的缺陷检测方法属于同一发明构思，缺陷检测装置40中的各个模块的具体实现方式，与上述实施例中缺陷检测方法的各步骤对应，本申请在此不赘述。

以上所描述的模块划分，为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在相同处理单元中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在相同单元中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能模块的形式实现。

接着图1对电子设备的描述，在一些实施例中，电子设备10还可连接客户设备，客户设备包括但不限于任何一种可与客户通过键盘、鼠标、遥控器、触摸板或声控设备等方式进行人机交互的电子产品，例如，个人计算机、平板电脑、智能手机、数码相机等。

尽管未示出，电子设备10还可以包括给各个部件供电的电源(比如电池)，优选的，电源可以通过电源管理装置与至少一个控制器12逻辑相连，从而通过电源管理装置实现管理充放电等功能。电子设备10还可以包括多种传感器、蓝牙模块、Wi-Fi模块等，在此不再赘述。

在一些实施例中，存储器11中存储有计算机程序，计算机程序被至少一个控制器12执行时实现如的缺陷检测方法中的全部或者部分步骤。存储器11包括只读存储设备(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储设备(Programmable Read-Only Memory，PROM)、可擦除可编程只读存储设备(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)、一次可编程只读存储设备(One-time Programmable Read-Only Memory，OTPROM)、电子擦除式可复写只读存储设备(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、只读光盘(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)或其他光盘存储设备、磁盘存储设备、磁带存储设备、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。

进一步地，计算机可读存储介质可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序等；存储数据区可存储根据缺陷检测装置20的使用所创建的数据等。

在一些实施例中，至少一个控制器12是电子设备10控制核心(Control Unit)，利用各种接口和线路连接整个电子设备10的各个部件，通过运行或执行存储在存储器11内的程序或者模块，以及调用存储在存储器11内的数据，以执行产品制备装置30的各种功能和处理数据。例如，至少一个控制器12执行存储设备中存储的计算机程序时实现本申请实施例中的缺陷检测方法的全部或者部分步骤；或者实现电子设备的全部或者部分功能。至少一个控制器12可以由集成电路组成，例如可以由单个封装的集成电路所组成，也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成，包括一个或者多个中央处理器(CentralProcessing unit，CPU)、微处理器、数字处理芯片、图形处理器及各种控制芯片的组合等。

上述以软件功能模块的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得处理器(processor)执行本申请各个实施例方法的部分。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，既可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能模块的形式实现。

对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，显然“包括”一词不排除其他单元或，单数不排除复数。说明书中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。

最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本申请进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本申请的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本申请技术方案的精神和范围。