荧光免疫反应曲线修正方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及医疗检测技术领域，尤其是涉及一种荧光免疫反应曲线修正方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

荧光免疫层析检测技术是一种结合了层析技术与抗原抗体特异性反应的免疫检测技术。检测时将待测样品滴加到试纸条的样本垫上，吸水滤纸和硝酸纤维素膜(nitrocellulose filter membrane，NC膜)中的毛细孔洞产生的毛细现象提供了样本向层析方向流动的动力，有些用于全血检验的免疫层析试纸条，在样品垫底下会添加一片全血滤血膜，将全血中的血细胞阻挡在样品垫上。样本流经结合垫时，样本中的待测抗原会与结合垫上的荧光修饰的抗体结合，并在层析作用下继续往层析方向流动，流经检测线(T线)时，待测物与T线处的捕获抗体结合将待测抗原捕获在T线上，游离的标记物越过检测线与质控线上的免疫蛋白结合形成如图1所示的荧光免疫反应曲线示意图。

然而，在荧光免疫定量检测中，可能存在荧光信号测定值饱和的情况，即表现为荧光反应曲线上的形式为削顶的形状，如图2所示。如果采用这种饱和数据进行测量，会使得测量浓度不准确。

发明内容

为解决现有存在的技术问题，本申请提供一种快速且准确修正荧光饱和区域的荧光免疫反应曲线修正方法、装置、设备以及计算机可读存储介质。

为达到上述目的，本申请实施例的技术方案是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供一种荧光免疫反应曲线修正方法，包括：

获取荧光免疫检测分析设备在初始的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的初始的荧光免疫反应曲线；

在所述初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别所述初始的荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域；

选取所述荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的所述预设数量的第二荧光数字信号；

对所述第一荧光数字信号和所述第二荧光数字信号进行二次多项式曲线拟合，得到与所述荧光饱和区域对应的拟合数据；

基于所述拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。

第二方面，本申请实施例提供一种荧光免疫反应曲线修正装置，包括：

初始曲线获取模块，用于获取荧光免疫检测分析设备在初始的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的初始的荧光免疫反应曲线；

饱和区域识别模块，用于在所述初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别所述初始的荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域；

选取模块，用于选取所述荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的所述预设数量的第二荧光数字信号；

拟合数据得到模块，用于对所述第一荧光数字信号和所述第二荧光数字信号进行二次多项式曲线拟合，得到与所述荧光饱和区域对应的拟合数据；

修正曲线得到模块，用于基于所述拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。

第三方面，本申请实施例提供一种荧光免疫反应曲线修正设备，包括处理器及存储器，所述存储器内存储有可被所述处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如本申请任一实施例所述的荧光免疫反应曲线修正设备方法。

第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被控制器执行时本申请任一实施例所述的荧光免疫反应曲线修正设备方法。

本申请上述实施例提供的荧光免疫反应曲线修正设备方法、装置、设备及计算机可读存储介质，获取初始的荧光免疫反应曲线，在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别该初始荧光免疫反应曲线中的荧光饱和区域，如此可以准确确定修正区域，以便后续精确修正曲线。选取所述荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的所述预设数量的第二荧光数字信号，并根据正常的荧光免疫反应曲线的形状特征，选取二次多项式对第一荧光数字信号和第二荧光数字信号进行曲线拟合，得到与荧光饱和区域对应的拟合数据，最后基于拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。如此，采用二次多项式拟合方法，得到符合抛物线特征的拟合数据，并采用拟合数据替换饱和区域的荧光数字信号，可以得到修正后的荧光免疫反应曲线，减少饱和数据的出现，从而使得后续待测物浓度计算更加精确。

附图说明

图1示出了本申请实施例提供了一种荧光免疫反应曲线示意图；

图2示出了本申请实施例提供的另一种荧光免疫反应曲线示意图；

图3示出了本申请实施例提供的一种荧光免疫检测系统的架构示意图；

图4示出了本申请实施例提供的一种荧光免疫反应曲线修正方法的流程示意图；

图5示出了本申请实施例提供的另一种荧光免疫反应曲线修正方法的流程示意图；

图6示出了本申请实施例提供的一种荧光免疫反应曲线修正装置；

图7示出本申请实施例提供的一种荧光免疫反应曲线修正设备的结构示意图。

具体实施方式

以下结合说明书附图及具体实施例对本申请技术方案做进一步的详细阐述。

为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，所描述的实施例不应视为对本申请的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”的表述，其描述了所有可能实施例的子集，需要说明的是,“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

在以下的描述中，所涉及的术语“第一、第二、第三”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一、第二、第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。

在对本申请提供的荧光免疫反应曲线修正方法进行介绍之前，对本申请实施例涉及的荧光免疫层析试纸条进行介绍。

荧光免疫层析试纸条的工作原理是：将检测样本滴落在样本垫上，检测样本通过层析作用向固定方向移动，并与结合垫上固化的标记试剂进行溶解与反应，之后检测样本与试剂的复合物移动至检测带，复合物与之发生特异性结合后被截留，结合物在检测线上富集，附着的结合物与检测样本中待测物含量成正比。该结合物可以在不可见光的激发下，产生荧光信号，荧光信号强度与结合物数量成正比。

通过每个采样点的荧光信号强度形成荧光反应曲线。具体的，在图1中，纵坐标表示荧光信号强度，横坐标表示采样点数。在图1中，部分荧光反应曲线为抛物线，并含有峰值区域。然而，通过大量样本测试，发明人发现有些荧光反应曲线出现削顶区域，如图2所示，缺陷荧光反应曲线包含削顶区域。如果采用这种缺陷荧光免疫反应曲线计算，会导致得到的检测样本的浓度有误。因此，需要对荧光免疫反应曲线进行修正，以减少削顶区域的出现。

需要说明的是，削顶区域是由荧光免疫检测分析设备输出的饱和数据形成的。饱和数据是由于荧光免疫检测分析设备存在硬件上的检测上限导致的。

图3示出了本申请实施例提供的一种荧光免疫检测系统的架构示意图，如图3所示，该系统包括荧光免疫检测分析设备和荧光免疫反应曲线修正设备。其中，荧光免疫检测分析设备可以用于进行荧光免疫检测。荧光免疫反应曲线修正设备用于获取荧光免疫检测分析设备输出的检测信息以及荧光反应曲线；还可以用于修正荧光反应曲线；还可以用于确定荧光免疫检测分析设备的检测参数，控制荧光免疫检测分析设备基于检测参数进行荧光免疫检测。

这里，荧光免疫检测分析设备可以包括光源扫描模块、采集模块、信号处理模块和显示模块。其中，光源扫描模块用于通过移动光源扫描荧光免疫层析。采集模块用于采集荧光免疫层析试纸条上受激产生的荧光，以及将采集的荧光转换为电信号。信号处理模块用于将电信号放大，以及将放大后的电信号从模拟信号转换为数字信号。显示模块用于显示显示检测信息和荧光反应曲线。

在本申请实施例中，检测参数可以包括以下至少之一：采样参数以及放大增益。采样参数可以包括采样点数和采样时间之一。采样点数可以为荧光免疫检测分析设备对采集荧光免疫层析试纸条进行采样的点数。放大增益可以为荧光免疫检测分析设备中放大电信号的倍数。

在本申请实施例中，荧光免疫反应曲线修正设备可以为具有数字处理功能的设备。荧光免疫反应曲线修正设备可以实现本申请实施例中任意一种荧光免疫反应曲线修正方法。荧光免疫反应曲线修正设备和荧光免疫检测分析设备可以分开独立设置，也可以集成为一体。

本申请实施例一方面，提供的一种荧光免疫反应曲线修正方法，该荧光免疫反应曲线修正方法可以应用于如图3所示的荧光免疫反应曲线修正设备，图4示出了本申请实施例提供的一种荧光免疫反应曲线修正方法的流程示意图，如图4所示，该荧光免疫反应曲线修正方法可以包括以下步骤：

步骤41，获取荧光免疫检测分析设备在初始的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的初始的荧光免疫反应曲线。

这里，荧光免疫检测分析设备可以如上述实施例所述。荧光免疫检测分析可以为基于荧光免疫层析试纸条进行的荧光免疫检测。待测物可以为包含生物活性化合物的溶液，其中，生物活性化合物可以为蛋白质、激素、药物以及微生物等。可选地，待测物可以为体液等。

在本申请实施例中，荧光免疫检测分析设备在初始的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到初始的荧光免疫反应曲线。荧光免疫反应曲线修正设备从荧光免疫检测分析设备获取初始的荧光免疫反应曲线。

步骤42，在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别初始的荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域。

这里，信号饱和阈值可以根据荧光免疫检测分析设备理论输出的最大值确定。例如信号饱和阈值可以为最大值的80％及上。当荧光免疫检测分析设备为16位数字仪器时，最大输出值可以为65536，信号饱和阈值可以为52459及以上的数据。

需要说明的是，即使荧光强度超过实际输出最大值，由于荧光免疫检测分析设备存在检测上限，因此，荧光免疫检测分析设设备检测并输出的数值为实际输出最大值，而不是超过实际输出最大值的数值。

荧光数字信号可以为荧光免疫反应曲线上的点，属于荧光免疫检测分析设备输出的检测信息之一。荧光数字信号的数值可以表示荧光强度。荧光饱和区域可以为不小于信号饱和阈值的荧光数字信号构成的区域，可以表现为荧光免疫反应曲线上削顶的区域。在本申请实施例中，通过比较初始的荧光免疫反应曲线上的荧光数字信号与信号饱和阈值的大小，从初始的荧光免疫反应曲线中识别不小于信号饱和阈值的荧光饱和区域。

步骤43，选取荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的预设数量的第二荧光数字信号。

这里，预设数量可以为不小于10的正整数。第一荧光数字信号为初始的荧光免疫反应曲线中位于荧光饱和区域之前的、且小于信号饱和阈值的荧光数字信号。第二荧光数字信号为初始的荧光免疫反应曲线中位于荧光饱和区域之后的、且小于信号饱和阈值的荧光数字信号。

在本申请实施例中，在初始的荧光免疫反应曲线上，确定荧光饱和区域的左边界和右边界，并选取预设数量的位于荧光饱和区域的左边界之前的荧光数字信号作为第一荧光数字信号，以及相同数量的位于荧光饱和区域的右边界之后的荧光数字信号作为第二荧光数字信号。

步骤44，对第一荧光数字信号和第二荧光数字信号进行二次多项式曲线拟合，得到与荧光饱和区域对应的拟合数据。

这里，拟合数据可以包括局部最大的峰值点。由于标准的荧光反应曲线如图3所示，含有抛物线区域。因此，可以通过二次多项式拟合方法，基于预设数量的第一荧光数字信号和预设数量的第二荧光数字信号，得到与荧光饱和区域对应的拟合数据。其中，拟合数据、第一荧光数字信号和第二荧光数字信号可以构成抛物线区域。

在本申请实施例中，二次多项式可以表示为：

y＝a

其中，y表示荧光数字信号，x表示采样点数，a

步骤45，基于拟合数据修正初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。

这里，修正的荧光免疫反应曲线可以为类似标准荧光免疫反应曲线的曲线，可以包含至少一个峰值点。在本申请实施例中，基于拟合数据修正初始的荧光免疫反应曲线，具体可以执行为将初始的荧光免疫反应曲线中荧光饱和区域对应的荧光信号替换成拟合数据，如此，可以得到类似正常荧光免疫反应曲线的修正的荧光免疫反应曲线。

在上述实施例中，获取初始的荧光免疫反应曲线，在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别该初始荧光免疫反应曲线中的荧光饱和区域，如此可以准确确定修正区域，以便后续精确修正曲线。选取所述荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的所述预设数量的第二荧光数字信号，并根据正常的荧光免疫反应曲线的形状特征，选取二次多项式对第一荧光数字信号和第二荧光数字信号进行曲线拟合，得到与荧光饱和区域对应的拟合数据，最后基于拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。如此，采用二次多项式拟合方法，得到符合抛物线特征的拟合数据，并采用拟合数据替换饱和区域的荧光数字信号，可以得到修正后的荧光免疫反应曲线，减少饱和数据的出现，从而使得后续待测物浓度计算更加精确。

在一些实施例中，在初始的荧光免疫反应曲线中，不存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，可以确定初始的荧光免疫反应曲线可以用于计算待测物的浓度。

在一些实施例中，步骤41，获取荧光免疫检测分析设备在初始的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的初始的荧光免疫反应曲线，包括：

获取荧光免疫检测分析设备的第一采样参数对待测物进行荧光免疫检测分析，得到参考曲线；

根据参考曲线，确定待测物的荧光免疫层析试纸条中检测线至质控线之间的采样区域；

获取荧光免疫检测分析设备基于第二采样参数对采样区域进行荧光免疫检测分析，得到初始的荧光免疫反应曲线。

这里，第一采样参数大于第二采样参数。第一采样参数和第二采样参数可以包括采样点数和采样时间之一。参考曲线可以为荧光免疫检测分析设备以第一采样参数扫描待测物的荧光免疫层析试纸条的全部区域，所得到的结果。参考曲线可以反映荧光免疫层析试纸条的整体荧光强度情况。例如，参考曲线可以反映是否含有荧光饱和区域，检测线与质控线对应的采样点等。

由于在荧光免疫反应曲线中，有明显波动的区域可以表示检测线或者质控线。因此，荧光免疫反应曲线修正设备可以通过参考曲线确定检测线至质控线之间的采样区域。如此，可以缩小检测区域。

为了进行针对性检测，荧光免疫检测分析设备可以采用第二采样参数对采样区域进行扫描检测。根据扫描检测结果可以得到对应的荧光数字信号，生成初始的荧光免疫反应曲线。荧光免疫反应曲线修正设备从荧光免疫检测分析设备获取初始的荧光免疫反应曲线。

在上述实施例中，可以在得到初始的荧光免疫反应曲线之前，获取荧光免疫检测分析设备对待测物的荧光免疫层析试纸条以第一采样参数进行整体检测，得到的参考曲线，然后根据参考曲线精准确定荧光免疫层析试纸条的采样区域，最后让荧光免疫检测分析设备采用第二采样参数进行检测得到初始的荧光免疫反应曲线。如此，可以精确确定采样区域，从而对采样区域进行详细测量，进而局部放大荧光免疫反应曲线中所需区域。

在一些实施例中，在获取荧光免疫检测分析设备的第一采样参数对待测物进行荧光免疫检测分析，得到参考曲线之后，该方法还包括：

根据参考曲线中荧光数字信号的最大值，确定初始的荧光免疫反应曲线对应的放大增益。

这里，放大增益可以为荧光免疫检测分析设备中放大电信号的倍数。在本申请实施例中，可以根据参考曲线中荧光数字信号的最大值是否大于信号饱和阈值的情况，调整荧光免疫检测分析设备的放大增益的大小，从而得到初始的荧光免疫反应曲线对应的放大增益。

例如，在参考曲线中荧光数字信号的最大值小于信号饱和阈值时，可以不调整放大增益。在参考曲线中荧光数字信号的最大值不小于信号饱和阈值时，降低放大增益。

在上述实施例中，根据参考曲线的最大值调节放大增益，可以尽量减少初始的荧光免疫反应曲线出现饱和数据的概率。并且通过调节放大增益可以解决解决荧光信号超出检测设备上限的问题，扩大了信号的检测范围。

在一些实施例中，步骤42，在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别初始的荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域，包括：

在初始的荧光免疫反应曲线中，依序比较每一荧光数字信号与信号饱和阈值的大小；

在部分荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，将部分荧光数字信号中第一个荧光数字信号作为荧光饱和区域的左边界，以及将最后一个荧光数字信号作为荧光饱和区域的右边界；

基于荧光饱和区域的左边界和右边界，确定初始荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域。

这里，比较初始的荧光免疫反应曲线中每一个荧光数字信号与信号饱和阈值的大小，在确定部分荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，筛选出部分荧光数字信号，并将部分荧光数字信号中第一个荧光数字信号作为荧光饱和区域的左边界，以及将部分荧光数字信号中最后一个荧光数字信号作为荧光饱和区域的右边界，从而将荧光饱和区域的左边界至右边界的曲线区域确定为荧光饱和区域。

在上述实施例中，通过逐个比较荧光数字信号与信号饱和阈值的大小，可以选取部分不小于信号饱和阈值的荧光数字信号。并将部分荧光数字信号中第一个和最后一个作为荧光饱和区域的左右边界，从而根据左右边界确定荧光饱和区域。如此，可以准确确定出荧光饱和区域。

在一些实施例中，在步骤45，基于拟合数据修正初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线之后，该方法还可以包括：

根据修正的荧光免疫反应曲线对荧光免疫检测分析设备的放大增益进行调节，获取荧光免疫检测分析设备在调节后的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线，返回在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域的步骤。

这里，荧光免疫反应曲线修正设备根据修正的荧光免疫反应曲线调节荧光免疫检测分析设备的放大增益。荧光免疫检测分析设备在调节后的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线。

荧光免疫反应曲线修正设备从荧光免疫检测分析设备获取新的荧光免疫反应曲线，并返回荧光免疫反应曲线修正步骤，对新的荧光免疫反应曲线进行修正。

在上述实施例中，通过修正的免疫反应曲线调节放大增益，并获取根据调节后放大增益得到的新的荧光免疫反应曲线，如此，通过调节放大增益可以使得新的荧光免疫反应曲线出现饱和数据的概率降低，由于调节后的放大增益不一定合适，还可以通过重复执行荧光免疫反应曲线修正步骤，可以使得在新的荧光免疫反应曲线出现饱和数据的情况下，修正新的荧光免疫反应曲线，以便后续提高计算待测物浓度的精确度。此外，通过调节放大增益可以解决解决荧光信号超出检测设备上限的问题，扩大了信号的检测范围。

在一些实施例中，根据修正的荧光免疫反应曲线对荧光免疫检测分析设备的放大增益进行调节，获取荧光免疫检测分析设备在调节后的所述放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线，包括：

根据修正的荧光免疫反应曲线中荧光数字信号的最大值，确定目标放大增益，以使荧光免疫检测分析设备的放大增益调节至目标放大增益；

获取荧光免疫检测分析设备在目标放大增益下再次对待测物进行荧光免疫检测分析，得到新的荧光免疫反应曲线。

这里，荧光免疫反应曲线修正设备可以从修正的荧光免疫反应曲线确定荧光数字信号的最大值，计算信号饱和阈值与最大值的比值，将初始的放大增益与比值相乘，得到目标放大增益。

荧光免疫反应曲线修正设备将目标放大增益发送至荧光免疫检测分析设备，以使荧光免疫检测分析设备将放大增益调整至目标放大增益。荧光免疫检测分析设备在目标放大增益下再次对待测物进行荧光免疫检测分析，得到新的荧光数字信号，并根据新的荧光数字信号生成新的荧光免疫反应曲线。荧光免疫反应曲线修正设备从荧光免疫检测分析设备获取新的荧光免疫反应曲线。

在上述实施例中，通过最大值确定目标放大增益，可以进一步精确确定合适的放大增益，降低新的荧光免疫反应曲线出现饱和数据的概率。并且通过调节放大增益可以解决解决荧光信号超出检测设备上限的问题，扩大了信号的检测范围。

在一些实施例中，获取荧光免疫检测分析设备在目标放大增益下再次对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线，包括：

降低荧光免疫检测分析设备的采样参数；

获取荧光免疫检测分析设备在降低后的采样参数以及目标放大增益下再次对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线。

这里，采样参数可以包括采样点数和采样时间之一。降低荧光免疫检测分析设备的采样参数，可以理解为，针对检测线区域与质控线进行采样，整体降低采样点数或采样时间。

荧光免疫检测分析设备在降低后的采样参数以及目标放大增益下再次对待测物进行荧光免疫检测分析，得到新的荧光免疫反应曲线。荧光免疫反应曲线修正设备从荧光免疫检测分析设备获取新的荧光免疫反应曲线。如此，新的荧光反应曲线不仅可以详细显示检测线与质控线区域的荧光数字信号，还可以降低饱和数据出现的概率。

在上述实施例中，通过降低荧光免疫检测分析设备的采样参数，一方面可以进行精准采样，另一方面可以减少荧光淬灭的风险。并且基于调整后的采样参数得到的新的荧光反应曲线，不仅可以详细显示检测线与质控线区域的荧光数字信号，还可以降低饱和数据出现的概率。

在一些实施例中，在步骤45，基于拟合数据修正初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线之后，该方法还包括：

对目标荧光免疫反应曲线进行特征检测，得到待测物的特征值，目标荧光免疫反应曲线包括如下至少之一：初始的荧光免疫反应曲线、修正的荧光免疫反应曲线和新的荧光免疫反应曲线；

基于待测物的特征值和浓度与特征值关联的定标曲线，得到待测物的浓度。

这里，特征检测可以为峰高值检测，峰值区域积分检测以及峰值面积比值检测。峰高值检测可以为检测目标荧光免疫反应曲线中，光斑与检测线重叠部分反馈的最大信号值，也即检测目标荧光免疫反应曲线中检测线的峰高值。峰值区域积分检测可以为检测目标荧光免疫反应曲线中所有光斑重叠部分反馈的荧光信号的积分求和值。峰值面积比值检测可以为检测检测线信号峰值与质控线信号峰值的面积比。特征值可以包括以下之一：峰值、峰值区域积分值和峰值面积比值。

定标曲线可以根据多组标准物测定的。定标曲线可以反映浓度与特征值关联关系。荧光免疫反应曲线修正设备将待测物的特征值与定标曲线关联，可以得到对应的待测物浓度。

需要说明的是，进行特征检测的初始的荧光免疫反应曲线是不包含不下于信号饱和阈值的。新的荧光免疫反应曲线可以为根据修正的荧光免疫曲线调节采集参数或放大增益后再次进行检测得到的。

在上述实施例中，通过目标荧光免疫反应曲线计算待测物浓度，可以提高待测物浓度的计算精度。

为了能够对本申请提供的荧光免疫反应曲线修正方法具有更加整体的理解，另一种荧光免疫反应曲线修正方法，可应用于如图3所示的荧光免疫反应曲线修正设备。图5示出了本申请实施例提供的另一种荧光免疫反应曲线修正方法的流程示意图，如图5所示，该荧光免疫反应曲线修正方法包括：

步骤51，获取待测物对应的初始的荧光免疫反应曲线。

这里，荧光免疫检测分析设备通过光源扫描模块扫描荧光免疫试纸条，并通过采集模块将激发的荧光信号转换为电信号，放大电信号，将放大的电信号从模拟信号转化为数字信号，并根据荧光数字信号产生初始的荧光免疫反应曲线。荧光免疫反应曲线修正设备从荧光免疫检测分析设备获取初始的荧光免疫反应曲线。

步骤52，比较初始的荧光免疫反应曲线中每一个荧光数字信号与信号饱和阈值的大小。若存在至少一个荧光数字信号不小于信号饱和阈值，转入步骤53。若荧光数字信号小于信号饱和阈值，转入步骤54。

这里，可以结合荧光免疫检测分析设备的实际检测上限，设定信号饱和阈值。

步骤53，对初始的荧光免疫反应曲线中削顶区域(即荧光饱和区域)进行修正，得到修正的荧光免疫反应曲线，转入步骤54。

步骤54，对目标荧光免疫反应曲线进行特征检测，结合定标曲线，得到待测物浓度。

这里，目标荧光免疫反应曲线可以为初始的荧光免疫反应曲线或者修正的荧光免疫反应曲线。

在上述实施例中，为了解决设备检测上限导致设备输出的反应曲线出现饱和数据的问题，可以识别初始的荧光免疫反应曲线中削顶区域，并基于削顶区域前后的数据进行拟合，得到符合正常曲线特征的拟合数据，如此，可以提高后续测量浓度的准确性。

在一些实施例中，步骤53可以包括：

识别初始的荧光免疫反应曲线中荧光饱和区域的左边界和右边界；

选取左边界往左和右边界往右各N个数据；

对选取数据进行二次项拟合，将拟合数据作为荧光饱和区域的修正数据。

这里，N为大于10的正整数。在初始的荧光免疫反应曲线中，将第一个不小于信号饱和阈值的荧光数字信号作为左边界，以及将最后一个不小于信号饱和阈值的荧光数字信号作为右边界。

在一些实施例中，步骤51可以包括：

获取初次荧光免疫检测分析得到的参考曲线；

在参考曲线的最大值不小于信号饱和阈值的情况下，调整放大增益；

获取基于调整后的放大增益进行荧光免疫检测分析，得到的初始的荧光免疫反应曲线。

这里，由于参考曲线的最大值不小于信号饱和阈值，可以确认初次的放大增益不合适，因此，需要进行调整放大增益。具体地，在参考曲线的最大值不小于信号饱和阈值的情况下，可以根据前述荧光饱和区域修正的方法，确定修正后的最大值，然后根据修正后的最大值调整放大增益。

在一些实施例中，步骤51可以包括：

获取基于采样参数得到的参考曲线；

根据参考曲线降低采样参数；

获取基于降低后的采样参数得到的初始的荧光免疫反应曲线。

这里，采样参数可以包括采样点数或采样时间。根据参考曲线降低采样参数可以理解为，根据参考曲线确定具体采样区域，从而整体降低采样点数或采样时间。初始的荧光免疫反应曲线可以为针对检测区域与质控线区域进行采样检测获得的曲线。

本申请实施例另一方面，还提供一种荧光免疫反应曲线修正装置。图6示出了本申请实施例提供的一种荧光免疫反应曲线修正装置，如图6所示，该荧光免疫反应曲线修正装置可以包括：

初始曲线获取模块61，用于获取荧光免疫检测分析设备在初始的放大增益下对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的初始的荧光免疫反应曲线；

饱和区域识别模块62，用于在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别初始的荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域；

选取模块63，用于选取荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的所述预设数量的第二荧光数字信号；

拟合数据得到模块64，用于对第一荧光数字信号和第二荧光数字信号进行二次多项式曲线拟合，得到与所述荧光饱和区域对应的拟合数据；

修正曲线得到模块65，用于基于拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。

在上述实施例中，获取初始的荧光免疫反应曲线，在初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别该初始荧光免疫反应曲线中的荧光饱和区域，如此可以准确确定修正区域，以便后续精确修正曲线。选取所述荧光饱和区域的左边界之前的预设数量的第一荧光数字信号，以及右边界之后的所述预设数量的第二荧光数字信号，并根据正常的荧光免疫反应曲线的形状特征，选取二次多项式对第一荧光数字信号和第二荧光数字信号进行曲线拟合，得到与荧光饱和区域对应的拟合数据，最后基于拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线。如此，采用二次多项式拟合方法，得到符合抛物线特征的拟合数据，并采用拟合数据替换饱和区域的荧光数字信号，可以得到修正后的荧光免疫反应曲线，减少饱和数据的出现，从而使得后续待测物浓度计算更加精确。

在一些实施例中，饱和区域识别模块62包括：

比较子模块，用于在初始的荧光免疫反应曲线中，依序比较每一荧光数字信号与所述信号饱和阈值的大小；

边界作为子模块，用于在部分荧光数字信号不小于所述信号饱和阈值的情况下，将所述部分荧光数字信号中第一个荧光数字信号作为荧光饱和区域的左边界，以及将最后一个不小于信号饱和阈值的荧光数字信号作为荧光饱和区域的右边界；

饱和区域确定子模块，用于基于荧光饱和区域的左边界和右边界，确定初始荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域。

在一些实施例中，该荧光免疫反应曲线修正装置可以包括：

第一新曲线获取模块，用于在基于拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线之后，根据所述修正的荧光免疫反应曲线对所述荧光免疫检测分析设备的放大增益进行调节，获取所述荧光免疫检测分析设备在调节后的所述放大增益下对所述待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线，返回所述在所述初始的荧光免疫反应曲线中，存在至少一荧光数字信号不小于信号饱和阈值的情况下，识别所述荧光免疫反应曲线的荧光饱和区域的步骤。

在一些实施例中，第一新曲线获取模块，可以包括：

目标增益调节子模块，用于根据修正的荧光免疫反应曲线中荧光数字信号的最大值，确定目标放大增益，以使荧光免疫检测分析设备的放大增益调节至所述目标放大增益；

新曲线获取子模块，用于获取荧光免疫检测分析设备在目标放大增益下再次对待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线。

在一些实施例中，新曲线获取子模块，具体用于降低所述荧光免疫检测分析设备的采样参数；

获取荧光免疫检测分析设备在降低后的采样参数以及所述目标放大增益下再次对所述待测物进行荧光免疫检测分析，得到的新的荧光免疫反应曲线。

在一些实施例中，初始曲线获取模块61，可以包括：

参考曲线获取子模块，用于获取所述荧光免疫检测分析设备的第一采样参数对所述待测物进行荧光免疫检测分析，得到参考曲线；

采样区域确定子模块，用于根据所述参考曲线，确定所述待测物的荧光免疫层析试纸条中检测线至质控线之间的采样区域；

初始曲线获取子模块，用于获取所述荧光免疫检测分析设备基于第二采样参数对所述采样区域进行荧光免疫检测分析，得到初始的荧光免疫反应曲线，所述第一采样参数大于第二采样参数。

在一些实施例中，该荧光免疫反应曲线修正装置，还可以包括：

放大增益确定模块，用于在所述获取所述荧光免疫检测分析设备的第一采样参数对所述待测物进行荧光免疫检测分析，得到参考曲线之后，根据参考曲线中荧光数字信号的最大值，确定所述初始的荧光免疫反应曲线对应的放大增益。

在一些实施例中，该荧光免疫反应曲线修正装置，还可以包括：

特征检测模块，用于在所述基于所述拟合数据修正所述初始的荧光免疫反应曲线，得到修正的荧光免疫反应曲线之后，对目标荧光免疫反应曲线进行特征检测，得到所述待测物的特征值，所述目标荧光免疫反应曲线包括如下至少之一：所述初始的荧光免疫反应曲线、所述修正的荧光免疫反应曲线和新的荧光免疫反应曲线；

浓度得到模块，用于基于所述待测物的特征值和浓度与特征值关联的定标曲线，得到所述待测物的浓度。

需要说明的是：上述实施例提供的荧光免疫反应曲线修正装置在实现荧光免疫反应曲线修正方法过程中，仅以上述各程序模块的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述处理分配由不同的程序模块完成，即可将装置的内部结构划分成不同的程序模块，以完成以上描述的全部或部分方法步骤。另外，上述实施例提供的荧光免疫反应曲线修正装置与荧光免疫反应曲线修正方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。

本申请实施例另一方面，还提供一种荧光免疫反应曲线修正设备。图7示出本申请实施例提供的一种荧光免疫反应曲线修正设备的结构示意图，如图7所示。该荧光免疫反应曲线修正设备包括处理器71及存储器72，所述存储器72内存储有可被所述处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现本申请任一实施例所述的荧光免疫反应曲线修正方法，荧光免疫反应曲线修正设备与前述实施例提供的荧光免疫反应曲线修正方法能够达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述荧光免疫反应曲线修正方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。所述计算机可读存储介质，如只读存储器(Read-OnlyMemory，简称ROM)、随机存取存储器(RandomAccessMemory，简称RAM)、磁碟或者光盘等。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围之内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。