一种带有保护功能的半导体测试用老化座

技术领域

本发明涉及元器件测试领域的技术领域，尤其涉及一种带有保护功能的半导体测试用老化座。

背景技术

电子元器件中带引脚的元器件（芯片、电容和电阻等）越来越多，这些元器件的质量对电路很重要，对这些元器件的品质进行测试在电子工业领域内很重要。中国专利公开了一种测试座、电路板、以及老化测试装置（公开号：CN116047126A），其包括：座体、第一电连接部、第二电连接部以及压紧件。座体设有至少两个安装部，安装部用于放置芯片样品。第一电连接部用于与芯片样品电性连接。第二电连接部用于与电路板电性连接，还与第一电连接部电性连接。但是这种现有的芯片半导体老化座由于没有专门的保护设计，导致在检测时待测件及老化座本体容易损坏，且待测件检测装配操作复杂，工作效率较低，为此，我们提出了一种带有保护功能的半导体测试用老化座来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了克服现在现有的芯片半导体老化座由于没有专门的保护设计，导致在检测时待测件及老化座本体容易损坏，且待测件检测装配操作复杂的不足，而提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种带有保护功能的半导体测试用老化座，包括上盖、扣件和底座，所述的底座一侧通过连接合页与上盖相连，所述的上盖内设有收纳槽，所述的收纳槽内安装有压紧机构，所述的压紧机构内设有压紧芯，所述的底座内设有定位机构，所述的定位机构内设有垫块，所述的垫块上安装有待测件，所述的底座底部设有检测座连接部，所述的检测座连接部内设有异形Pin针组，所述的待测件四周Pin针与异形Pin针组相连接，所述的底座底部设有底板，所述的扣件通过扣件转轴安装在上盖之上，所述的底座一侧对应扣件设有锁止板，当所述上盖和底座通过扣件与锁止板扣紧时，所述压紧芯抵触在待测件表面，所述检测座连接部通过底板进行保护。

优选的，所述的定位机构包括设置在底座内的定位板，所述的定位板内设有检测件放置槽，所述的垫块对应设置在检测件放置槽底部，所述的垫块四周均设有定位块，所述的垫块四周设有四个限位件，所述的限位件通过定位块对垫块进行上下移动的限位，所述的限位件内等间距设有Pin针槽，所述的异形Pin针组安装在对应的Pin针槽内。

优选的，所述的压紧机构包括安装在收纳槽内的压紧芯弹簧，所述的压紧芯表面设有待测件接触部，所述的压紧芯背面对应压紧芯弹簧设有安装孔，所述的压紧芯弹簧一端安装在安装孔内，另一端抵触在上盖的收纳槽上，所述的压紧芯中部贯穿设有浮动限位孔，所述的浮动限位孔内安装有压紧芯转杆，所述的压紧芯转杆两端均转动连接在上盖上，所述的收纳槽上下两端均设有压紧芯挡板，当所述压紧芯抵触待测件在收纳槽内上下浮动时，所述压紧芯弹簧提供压紧芯浮动时的缓冲，同时维持压紧芯与待测件的紧密抵触，并通过所述压紧芯挡板和压紧芯转杆，进行所述压紧芯上下浮动时前后移动的限位。

优选的，所述的扣件中部贯穿开设有通孔，所述的扣件转轴水平设置在通孔内，所述的扣件转轴两端均连接在上盖之上，所述的通孔底部设有止位板，所述止位板对应上盖的一面设有弹簧固定杆，所述的弹簧固定杆上连接有复位弹簧，所述的复位弹簧一端固定连接在上盖上，所述的扣件对应底座一端一体成型设有卡板，所述的锁止板与底座为一体成型设计，所述的锁止板上表面为向下倾斜的斜面，当所述卡板抵触在锁止板上斜面向下倾斜滑动时，所述扣件通过扣件转轴在上盖向上转动，所述止位板抵触在上盖上限制扣件转动最大角度为45°，同时所述复位弹簧在止位板底部蓄力，当所述卡板L形下端滑动至锁止板底部时，所述复位弹簧推动扣件沿扣件转轴向下转动，锁紧所述卡板与锁止板的扣接。

优选的，所述的连接合页内转动连接有连接合页转轴，所述的连接合页转轴上套接有助力弹簧，所述的助力弹簧为扭力弹簧，所述的连接合页助力弹簧一端固定连接在底座上，所述的助力弹簧另一端抵触在上盖内侧底面，当所述上盖通过连接合页在底座上关闭老化座时，所述助力弹簧弹性形变蓄力，当所述上盖打开时，所述助力弹簧释放蓄力，辅助所述上盖在底座上的打开。

优选的，所述的底座内一体成型设有底座固定框，所述的检测座连接部设置在底座固定框内，所述的底座固定框四角均连接有固定螺母，所述的定位板通过定位板螺钉连接固定螺母固定在底座固定框上，所述的定位板表面对应定位板螺钉设有安装槽，所述的限位件外侧底部一体成型设有档条，所述的限位件位于定位板底部，通过所述档条进行在定位板底部的限位。

优选的，所述的底板通过底板螺钉连接底板螺母固定在底座底部。

优选的，所述的定位板表面对称安装有两个固定销，所述的固定销依次贯穿定位板和底座固定框并固定在底板底面。

优选的，所述的底座底面对应底板螺母设有螺母安装孔，所述的底座固定框表面对应固定螺母设有固定螺母安装孔。

优选的，所述的底座两侧开设有散热窗，所述的散热窗为矩形设计。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、通过扣件、上盖和底座等部件的配合使用，下压扣件或上盖至卡板底部抵触锁止板，卡板沿锁止板斜面向下倾斜滑动，同时述扣件旋转，复位弹簧推动扣件，卡板与锁止板锁紧到位，并发出“吧嗒”一声（卡板与锁止板碰撞到位碰撞产生），完成上盖与底座自动扣接并锁紧，便于待测件在老化座内取拿；

2、通过底座、底板和底板螺钉等部件的配合使用，在老化座运输时，通过底板进行底座底部检测座连接部和内部异形Pin针组底部的保护，避免由于运输导致老化座碰撞，检测座连接部受损的情况；

3、通过上盖、压紧芯转杆和压紧芯弹簧等部件的配合使用，在进行老化座老化检测使用时，通过压紧芯弹簧提供压紧芯浮动时的缓冲，维持压紧芯与待测件的紧密抵触，可以有效避免待测件在底座与上盖之间晃动造成的损坏，提高待测件的检测精准度；

4、通过垫块、限位件和异形Pin针组等部件的配合使用，可以将待测件通过定位板快速准确的放置到老化座内，同时待测件的Pin针与异形Pin针组电性连接，将待测件的老化检测情况通过信号方式，传递异形Pin针组，进而传递至老化板上，进行数据的处理，提高待测件的检测效率；

综上所述，本发明能在老化座运输和使用时，提供内部待测件和老化座底部检测座连接部的双重保护，配合按压上盖或扣件自动扣接并锁紧老化座整体，便于在进行检测待测件等半导体电路时，提高半导体芯片等待测件的取拿效率，通过异形Pin针组传输老化检测时待测件的运行情况数据信号，具有操作简单的优点，避免现有的芯片半导体老化座由于没有专门的保护设计，导致在检测时待测件及老化座本体容易损坏，且待测件检测装配操作复杂的问题。

附图说明

图1为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的整体示意图；

图2为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的扣件旋转示意图；

图3为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的打开示意图；

图4为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的装配图；

图5为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的底座及连接部件结构图；

图6为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的待测件放置定位板内示意图；

图7为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的定位板及其部件结构图；

图8为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的底板及连接部件结构图；

图9为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的上盖及连接部件结构图；

图10为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的压紧芯及连接部件结构图；

图11为本发明提出的一种带有保护功能的半导体测试用老化座的上盖连接底座示意图。

图中：10、上盖；11、收纳槽；12、压紧芯挡板；13、连接合页；131、连接合页转轴；132、助力弹簧；20、扣件；21、卡板；211、锁止板；22、通孔；23、止位板；24、扣件转轴；25、弹簧固定杆；251、复位弹簧；30、底座；31、底座固定框；32、检测座连接部；33、固定螺母；34、固定销；40、压紧芯；401、待测件接触部；41、压紧芯转杆；411、浮动限位孔；42、压紧芯弹簧；421、安装孔；50、定位板；501、定位板螺钉；51、检测件放置槽；52、安装槽；53、垫块；54、定位块；55、限位件；56、档条；57、Pin针槽；58、异形Pin针组；60、底板；61、底板螺钉；62、底板螺母；63、螺母安装孔；70、待测件。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书实施例对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

其次，此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本发明至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例，也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。

实施例中所采用的原料如无特别说明均为商业购买。

参照图1-图11，本申请公开的一种带有保护功能的半导体测试用老化座，包括上盖10、扣件20和底座30，底座30一侧通过连接合页13与上盖10相连，上盖10内设有收纳槽11，收纳槽11内安装有压紧机构，压紧机构内设有压紧芯40，底座30内设有定位机构，定位机构内设有垫块53，垫块53上安装有待测件70，底座30底部设有检测座连接部32，检测座连接部32内设有异形Pin针组58，待测件70四周Pin针与异形Pin针组58相连接，底座30底部设有底板60，扣件20通过扣件转轴24安装在上盖10之上，底座30一侧对应扣件20设有锁止板211，当上盖10和底座30通过扣件20与锁止板211扣紧时，压紧芯40抵触在待测件70表面，检测座连接部32通过底板60进行保护，当底板60处于安装状态，此时，老化座处在转运过程中，当老化座进行工作时，底板60拆卸并放置他处备用，并将检测座连接部32从底座30内露出，便于其与老化板等测试设备连接，进行待测件70的测试，底座30两侧开设有散热窗，散热窗为矩形设计，进行待测件70测试时的散热，避免温度影响，提高测试小国。

在上述实施方式中，参考图4-8，定位机构包括设置在底座30内的定位板50，进行待测件11在老化座内测试安装时的定位，同时定位板50内设有检测件放置槽51，进行待测件70的放置，垫块53对应设置在检测件放置槽51底部，顶起待测件70的同时，提供待测件70与压紧芯40抵触时底部的支撑，垫块53四周均设有定位块54，定位块54与垫块53为一体成型设计，分别处于垫块53四周的中心位置，垫块53四周设有四个限位件55，限位件55内部为弧形中空设计，限位件55内部弧形中空缺口与定位块54卡接，进而对垫块53进行上下移动的限位，即将垫块53固定在底座30内，限位件55外侧底部一体成型设有档条56，限位件55位于定位板50底部，通过档条56进行在定位板50底部的限位。

其中，限位件55内等间距设有Pin针槽57，Pin针槽57位于限位件55的中空内壁上，异形Pin针组58中的Pin针均为弧形设计，Pin针上下两端的引脚分别连接待测件70与老化测试设备，进行信号牌传输，异形Pin针组58中的Pin针一一对应安装在对应的Pin针槽57内，待测件70可为电容、二极管、芯片等元器件，底座30内一体成型设有底座30固定框，用于连接和固定定位板50，检测座连接部32设置在底座30固定框内，底座30固定框四角均连接有固定螺母33，定位板50通过定位板螺钉501连接固定螺母33固定在底座30固定框上，定位板50表面对应定位板螺钉501设有安装槽52，定位板螺钉501顶部安装在安装槽52内，底部与固定螺母33相连。

如图9所示，在一种优选的实施方式中，压紧机构包括安装在收纳槽11内的压紧芯40弹簧，压紧芯40表面设有待测件接触部401，应当说明的是，压紧芯40背面对应压紧芯弹簧42设有安装孔421，压紧芯弹簧42一端安装在安装孔421内，另一端抵触在上盖10的收纳槽11上，压紧芯40中部贯穿设有浮动限位孔411，浮动限位孔411内安装有压紧芯转杆41，压紧芯转杆41两端均转动连接在上盖10上，收纳槽11上下两端均设有压紧芯挡板12，当压紧芯40抵触待测件70在收纳槽11内上下浮动时，压紧芯弹簧42提供压紧芯40浮动时的缓冲，同时维持压紧芯40与待测件70的紧密抵触，并通过压紧芯挡板12和压紧芯40转杆，进行压紧芯40上下浮动时前后移动的限位。

在上述实施方式中，待测件接触部401可以拓展为检测用电子器件（例如加热板），或者拓展为冷却待测件70的电子器件（例如冷却板），而压紧芯40上下浮动的最大路程为浮动限位孔411内压紧芯转杆41的直线距离（0-10毫米）。

如图1-图3及图9所示，在一种优选的实施方式中，扣件20中部贯穿开设有通孔22，扣件转轴24水平设置在通孔22内，扣件转轴24两端均连接在上盖10之上，通孔22底部设有止位板23，止位板23对应上盖10的一面设有弹簧固定杆25，弹簧固定杆25上连接有复位弹簧251，复位弹簧251一端固定连接在上盖10上，扣件20对应底座30一端一体成型设有卡板21，锁止板211与底座30为一体成型设计，锁止板211上表面为向下倾斜的斜面，当卡板21抵触在锁止板211上斜面向下倾斜滑动时，扣件20通过扣件转轴24在上盖10向上转动，止位板23抵触在上盖10上限制扣件20转动最大角度为45°，同时复位弹簧251在止位板23底部蓄力，当卡板21L形下端滑动至锁止板211底部时，复位弹簧251推动扣件20沿扣件转轴24向下转动，锁紧卡板21与锁止板211的扣接。

在上述实施方式中，下压扣件20或上盖10至卡板21底部抵触锁止板211时，卡板21沿锁止板211斜面向下倾斜滑动，同时述扣件20旋转，复位弹簧251推动扣件20，卡板21与锁止板211锁紧到位，并发出“吧嗒”一声，“吧嗒”声为卡板21与锁止板211扣接到位碰撞产生，完成上盖10与底座30自动扣接并通过复位弹簧251推动扣件20，锁紧上盖10与底座30的闭合。

如图3、图9及图11所示，在一种优选的实施方式中，连接合页13内转动连接有连接合页13转轴，连接合页13转轴上套接有助力弹簧132，助力弹簧132为扭力弹簧，连接合页13助力弹簧132一端固定连接在底座30上，助力弹簧132另一端抵触在上盖10内侧底面。

在上述实施方式中，当上盖10通过连接合页13在底座30上关闭老化座时，助力弹簧132弹性形变蓄力，当上盖10打开时，助力弹簧132释放蓄力，辅助上盖10在底座30上的快速打开。

如图3-图6及图8所示，在一种优选的实施方式中，底座30内一体成型设有底座30固定框，检测座连接部32设置在底座30固定框内，底座30固定框四角均连接有固定螺母33，定位板50通过定位板50螺钉链接固定螺母33固定在底座30固定框上，定位板50表面对应定位板50螺钉设有安装槽52，限位件55外侧底部一体成型设有档条56，限位件55位于定位板50底部，通过档条56进行在定位板50底部的限位，底板60通过底板60螺钉连接底板60螺母固定在底座30底部，定位板50表面对称安装有两个固定销34，固定销34依次贯穿定位板50和底座固定框31并固定在底板60底面，底座30底面对应底板螺母62设有螺母安装孔63，底座固定框31表面对应固定螺母33设有固定螺母安装孔（图5示出）。

应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。