掌桥专利:专业的专利平台
掌桥专利
首页

一种电缆材料用粉末电性能测试装置以及电性能测试方法

文献发布时间:2024-07-23 01:35:21


一种电缆材料用粉末电性能测试装置以及电性能测试方法

技术领域

本发明属于电缆及其附件的原材料检测设备技术领域,具体涉及一种电缆材料用粉末电性能测试装置以及电性能测试方法。

背景技术

在电缆及其附件的材料制备工艺中需添加粉末材料,从而满足电气和机械的性能要求,例如高压电缆的缓冲层阻水带材中添加聚丙烯酸钠粉末,保证电缆的缓冲层阻水膨胀的功能;矿物绝缘电缆中采用氧化镁粉末作为绝缘。而针对应用于电缆中粉末材料的电阻测试装置及测试方法较少,若能够检测出粉末的电阻性能,将完善电缆原材料质量评价技术。

中国专利202010203454.4公开了电阻测试模具以及粉末电性能测试装置,该电阻测试模具通过第一模具体、第二模具体和第三模具体可拆卸、可组装构成,所以当电池材料粉末在测试孔内压片后,可以通过将第二模具体和第三模具体相对于第一模具体拆卸分离,从而使填充有电池材料粉末的测试孔的两端均打开,此时再从测试孔的任意一端朝向另一端推出电池材料粉末将会更加容易脱模。该专利主要用于锂离子电池材料的粉末电阻测试,对电缆材料中粉末电阻测试的适用性较小,原因在于电缆不仅应用于不超过100V的低压环境,也应用于超过100V的高压环境,电缆材料用粉末用于电缆用挤出混合料、带材、填充绝缘料中,其电性能对电缆材料体系设计与开发至关重要,而现有的粉末电性能测试装置不能适用于电缆材料用粉末的电阻检测。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺陷,本发明提供一种电缆材料用粉末电性能测试装置以及电性能测试方法,该测试装置能应用于电缆材料用粉末的电阻性能测试,该电性能测试方法能完善电缆材料用粉末的质量评价方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种电缆材料用粉末电性能测试装置,包括绝缘容器,所述绝缘容器内放置有下电极,所述绝缘容器内在下电极上表面上放置有待测电缆材料用粉末,所述待测电缆材料用粉末为半导电粉末,所述绝缘容器内在下电极上方放置有第一上电极,所述第一上电极下表面紧贴待测电缆材料用粉末上表面,所述下电极连接第一电压源装置,所述第一上电极连接第二电压源装置。

进一步地,所述绝缘容器呈上端开口的圆筒形,所述绝缘容器的底板外底面一周均匀固定有多个绝缘支柱,所述绝缘容器的底板中部设有第一通孔;所述下电极呈圆柱形且直径与绝缘容器的内径相适配,所述下电极下端中部固定有第一金属圆柱,所述第一金属圆柱穿过第一通孔,所述第一金属圆柱通过第一测试导线与第一电压源装置连接;所述第一上电极呈圆柱形且直径与绝缘容器的内径相适配,所述第一上电极上端中部固定有第二金属圆柱,所述第二金属圆柱通过第二测试导线与第二电压源装置连接。

进一步地,所述绝缘支柱旋接于绝缘容器底板上的相应第一螺纹孔内,所述第一金属圆柱旋接于下电极下端中部的第二螺纹孔内,所述第二金属圆柱旋接于第一上电极上端中部的第三螺纹孔内。

一种电缆材料用粉末电性能测试装置,包括绝缘容器,所述绝缘容器内放置有下电极,所述绝缘容器内在下电极上表面上放置有待测电缆材料用粉末,所述待测电缆材料用粉末为绝缘粉末,所述绝缘容器内在下电极上方放置有导电的屏蔽环,所述屏蔽环内放置有第二上电极,所述第二上电极与屏蔽环的间隙处设有绝缘隔离套,所述第二上电极下表面紧贴待测电缆材料用粉末上表面,所述下电极连接第一电压源装置,所述第二上电极连接第二电压源装置,所述屏蔽环连接地线。

进一步地,所述绝缘容器呈上端开口的圆筒形,所述绝缘容器的底板外底面一周均匀固定有多个绝缘支柱,所述绝缘容器的底板中部设有第一通孔;所述下电极呈圆柱形且直径与绝缘容器的内径相适配,所述下电极下端中部固定有第一金属圆柱,所述第一金属圆柱穿过第一通孔,所述第一金属圆柱通过第一测试导线与第一电压源装置连接;所述屏蔽环呈圆筒形且上端和下端均开口,所述屏蔽环外径与绝缘容器内径相适配,所述屏蔽环上端边缘处固定有第三金属圆柱,所述第三金属圆柱连接地线,所述第二上电极呈圆柱形且与屏蔽环的高度相等,所述第二上电极上端中部固定有第四金属圆柱,所述绝缘隔离套呈下端开口的圆筒形,所述绝缘隔离套的顶板直径大于侧壁外径,所述绝缘隔离套的侧壁内径与第二上电极的直径相适配,所述绝缘隔离套的侧壁外径与屏蔽环的内径相适配,所述绝缘隔离套的顶板中部设有第二通孔,所述绝缘隔离套的侧壁插设于第二上电极与屏蔽环的间隙处,所述第四金属圆柱穿过第二通孔,所述第四金属圆柱通过第二测试导线与第二电压源装置连接。

进一步地,所述绝缘支柱旋接于绝缘容器底板上的相应第一螺纹孔内,所述第一金属圆柱旋接于下电极下端中部的第二螺纹孔内,所述第三金属圆柱旋接于屏蔽环上端边缘处的第四螺纹孔内,所述第四金属圆柱旋接于第二上电极上端中部的第五螺纹孔内。

进一步地,所述待测电缆材料用粉末的平均粒径在100目以下,所述待测电缆材料用粉末的高度不超过绝缘容器内部净高的20%;所述待测电缆材料用粉末的平均粒径在100-200目,所述待测电缆材料用粉末的高度不超过绝缘容器内部净高的50%;所述待测电缆材料用粉末的平均粒径在200目以上,所述待测电缆材料用粉末的高度不低于绝缘容器内部净高的50%。

一种电缆材料用粉末的电性能测试方法,采用上述电缆材料用粉末电性能测试装置进行测试,包括以下步骤:

S1、将所述下电极放置于绝缘容器内,所述第一金属圆柱穿过第一通孔且第一金属圆柱连接第一测试导线;将一定重量的所述待测电缆材料用粉末倒入绝缘容器内,其中所述待测电缆材料用粉末为半导电粉末,并将所述绝缘容器放置于振动台上振动,保证所述待测电缆材料用粉末的上表面平整;将所述第一上电极放入绝缘容器内且第一上电极的下表面紧贴待测电缆材料用粉末的上表面,所述第二金属圆柱连接第二测试导线;

S2、将所述第一测试导线连接第一电压源装置,将所述第二测试导线连接第二电压源装置,待所述第一电压源装置和第二电压源装置稳定一段时间后,记录所述待测电缆材料用粉末的试验电压U与对应的电流值I,得到所述待测电缆材料用粉末的电阻值

一种电缆材料用粉末的电性能测试方法,采用上述电缆材料用粉末电性能测试装置进行测试,包括以下步骤:

S1、将所述下电极放置于绝缘容器内,所述第一金属圆柱穿过第一通孔且第一金属圆柱连接第一测试导线;将一定重量的所述待测电缆材料用粉末倒入绝缘容器内,其中所述待测电缆材料用粉末为绝缘粉末,并将所述绝缘容器放置于振动台上振动,保证所述待测电缆材料用粉末的上表面平整;将所述屏蔽环放入绝缘容器内,将所述第二上电极放入屏蔽环内且第二上电极的下表面紧贴待测电缆材料用粉末的上表面,将所述隔离套放置于第二上电极与屏蔽环的间隙处,所述第四金属圆柱穿过第二通孔且第四金属圆柱连接第二测试导线,所述第三金属圆柱连接地线;

S2、将所述第一测试导线连接第一电压源装置,将所述第二测试导线连接第二电压源装置,待所述第一电压源装置和第二电压源装置稳定一段时间后,记录所述待测电缆材料用粉末的试验电压U与对应的电流值I,得到所述待测电缆材料用粉末的电阻值

进一步地,还包括以下步骤:将电压分别调至所述试验电压的一定百分比,记录所对应的稳定电流值,并得到所述待测电缆材料用粉末的稳态极化变化率;将电压分别调至所述试验电压的一定百分比,记录所对应的瞬时电流值,并得到所述待测电缆材料用粉末的动态极化变化率。

相对于现有技术,本发明的有益效果为:

本发明的电缆材料用粉末电性能测试装置,通过与下电极连接的第一电压源装置以及通过与第一上电极连接的第二电压源装置,能得到作为半导电粉末的待测电缆材料用粉末的电阻值和体积电阻率,其中作为半导电粉末的待测电缆材料用粉末的试验电压U小于100V,即作为半导电粉末的待测电缆材料用粉末应用于不超过100V的低压环境。

本发明中,通过与下电极连接的第一电压源装置以及通过与第二上电极连接的第二电压源装置,能得到作为绝缘粉末的待测电缆材料用粉末的电阻值和体积电阻率,其中作为绝缘粉末的待测电缆材料用粉末的试验电压100V≤U≤1500V,即作为绝缘粉末的待测电缆材料用粉末应用于100-1500V的高压环境,其中屏蔽环连接地线,以使第二上电极不受泄露电流的影响,其中绝缘隔离套将第二上电极与屏蔽环隔开,避免第二上电极与屏蔽环之间发生通电现象。

本发明中,绝缘容器能避免待测电缆材料用粉末在电阻测试过程中受到外界金属材质的影响,提高电阻测试的准确性。

综上,本发明适用于1500V及以下交流和直流电压的测试环境,其中屏蔽环、第二上电极、绝缘隔离套用于高压检测,第一上电极用于低压检测,本发明中的体积电阻率反映了待测电缆材料用粉末在一定电压下的电气性能,稳态极化变化率反映了不同电压下稳态的待测电缆材料用粉末电导的变化,动态极化变化率反映了不同电压下动态的待测电缆材料用粉末电导的变化,以综合表征待测电缆材料用粉末的特性,该测试装置能应用于电缆材料用粉末的电阻性能测试,该电性能测试方法能完善电缆材料用粉末的质量评价方法。

附图说明

图1为本发明实施例1的电缆材料用粉末电性能测试装置的爆炸结构示意图;

图2为本发明实施例2的电缆材料用粉末电性能测试装置的爆炸结构示意图;

图3为图1和图2中绝缘容器的另一个方向的立体结构示意图;

图4为图1和图2中下电极的另一个方向的立体结构示意图;

图5为图2中屏蔽环的立体结构示意图;

图6为图2中第二上电极的立体结构示意图;

图7为图2中绝缘隔离套的另一个方向的立体结构示意图;

图8为图1中第一上电极的立体结构示意图;

图9为本发明适用于低压条件中电缆材料用粉末电性能测试装置的立体结构示意图;

图10为本发明适用于高压条件中电缆材料用粉末电性能测试装置的立体结构示意图;

图11为图9的剖面结构示意图;

图12为图10的剖面结构示意图。

图中附图标记说明:1、绝缘支柱,2、绝缘容器,21、第一螺纹孔,22、第一通孔,3、下电极,31、第二螺纹孔,4、第一上电极,41、第三螺纹孔,5、屏蔽环,51、第四螺纹孔,6、第二上电极,61、第五螺纹孔,7、绝缘隔离套,71、第二通孔,8、第一金属圆柱,9、第二金属圆柱,10、第三金属圆柱,11、第四金属圆柱,12、半导电粉末,13、绝缘粉末。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细说明。这些实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制。

实施例1

如图1、9和11所示,一种电缆材料用粉末电性能测试装置,包括绝缘容器2,绝缘容器2内放置有下电极3,绝缘容器2内在下电极3上表面上放置有待测电缆材料用粉末,待测电缆材料用粉末为半导电粉末12,绝缘容器2内在下电极3上方放置有第一上电极4,第一上电极4下表面紧贴待测电缆材料用粉末上表面,下电极3连接第一电压源装置,第一上电极4连接第二电压源装置。

本发明中,通过与下电极3连接的第一电压源装置以及通过与第一上电极4连接的第二电压源装置,能得到作为半导电粉末12的待测电缆材料用粉末的电阻值和体积电阻率,其中作为半导电粉末12的待测电缆材料用粉末的试验电压U小于100V,即作为半导电粉末12的待测电缆材料用粉末应用于不超过100V的低压环境。

优选地,绝缘容器2呈上端开口的圆筒形,绝缘容器2的底板外底面一周均匀固定有多个绝缘支柱1,绝缘容器2的底板中部设有第一通孔22,见图1和3;下电极3呈圆柱形且直径与绝缘容器2的内径相适配,下电极3下端中部固定有第一金属圆柱8,见图1和4,第一金属圆柱8穿过第一通孔22,第一金属圆柱8通过第一测试导线与第一电压源装置连接;第一上电极4呈圆柱形且直径与绝缘容器2的内径相适配,第一上电极4上端中部固定有第二金属圆柱9,见图1和8,第二金属圆柱9通过第二测试导线与第二电压源装置连接。这样下电极3通过第一金属圆柱8连接第一测试导线,第一测试导线与第一电压源装置连接,第一上电极4通过第二金属圆柱9连接第二测试导线,第二测试导线与第二电压源装置连接,第一金属圆柱8和第二金属圆柱9的设置提高了本电缆材料用粉末电性能测试装置的实用性。

优选地,绝缘支柱1旋接于绝缘容器2底板上的相应第一螺纹孔21内,见图1和3,第一金属圆柱8旋接于下电极3下端中部的第二螺纹孔31内,见图1和4,第二金属圆柱9旋接于第一上电极4上端中部的第三螺纹孔41内,见图1和8。

优选地,绝缘支柱1和绝缘容器2在20℃条件下的体积电阻率不小于1×10

优选地,待测电缆材料用粉末采用密封包装,待测电缆材料用粉末的平均粒径在100目以下,待测电缆材料用粉末的高度不超过绝缘容器2内部净高的20%;待测电缆材料用粉末的平均粒径在100-200目,待测电缆材料用粉末的高度不超过绝缘容器2内部净高的50%;待测电缆材料用粉末的平均粒径在200目以上,待测电缆材料用粉末的高度不低于绝缘容器2内部净高的50%。

一种电缆材料用粉末的电性能测试方法,采用上述电缆材料用粉末电性能测试装置进行测试,包括以下步骤:

S1、将绝缘容器2放置于绝缘的水平台面上,避免数据受到干扰,将第一金属圆柱8固定于下电极3下端中部,将下电极3放置于绝缘容器2内,第一金属圆柱8穿过第一通孔22,下电极3通过第一金属圆柱8连接第一测试导线,第一测试导线从第一通孔22穿出;

S2、将一定重量的待测电缆材料用粉末倒入绝缘容器2内,其中待测电缆材料用粉末为半导电粉末12,并将绝缘容器2放置于振动台上振动,保证待测电缆材料用粉末的上表面平整,其中振动频率不低于1000次/min,振幅范围为0.2-0.5mm,振动时间为1-5min;

S3、将第一上电极4放入绝缘容器2内且第一上电极4的下表面紧贴待测电缆材料用粉末的上表面,第一上电极4通过第二金属圆柱9连接第二测试导线;

S4、将第一测试导线连接第一电压源装置,将第二测试导线连接第二电压源装置,待第一电压源装置和第二电压源装置的稳定时间不少于15s时,记录待测电缆材料用粉末的试验电压U与对应的电流值I,其中作为半导电粉末12的待测电缆材料用粉末的试验电压U小于100V,优选地,试验电压U包括1V、5V、10V、50V,为保证数据的准确性,试验电压U与对应的电流值I的测试次数不低于三次;

S5、通过公式

S6、已知绝缘容器2的深度为L

S7、根据得到的待测电缆材料用粉末的高度L和上表面面积S,计算出待测电缆材料用粉末的体积电阻率

S8、将电压分别调至试验电压的10%、30%、50%、70%时,分别记录对应的稳定电流值,其中电压加载速率不超过50V/s,优选地,电压加载速率包括0.1V/s、0.5V/s、1V/s、5V/s、10V/s;

S9、采用10%、30%、50%、70%、100%试验电压时的稳定电流值和对应的电压值,绘制出稳定电流值与对应的电压值的散点图,其中稳定电流值作为纵坐标,对应的电压值作为横坐标,取得线性拟合斜率,作为待测电缆材料用粉末的稳态极化变化率;

S10、电压从零位以一定速率连续加载至试验电压,测量出电压至10%、30%、50%、70%、100%试验电压时的瞬时电流值,分别记录瞬时电流值与对应的电压值;

S11、采用10%、30%、50%、70%、100%试验电压时的瞬时电流值和对应的电压值,绘制出瞬时电流值与对应的电压值的散点图,其中瞬时电流值作为纵坐标,对应的电压值作为横坐标,取得线性拟合斜率,作为待测电缆材料用粉末的动态极化变化率。

其中,当环境温度不超过90℃时,可模拟工作温度运行时待测电缆材料用粉末的电气性能变化。

其中,实施例1不仅适用于半导电粉末12的电阻测试,也适用于低于100V的低压条件中的待测电缆材料用粉末的电阻测试。

实施例2

如图2、10和12所示,一种电缆材料用粉末电性能测试装置,包括绝缘容器2,绝缘容器2内放置有下电极3,绝缘容器2内在下电极3上表面上放置有待测电缆材料用粉末,待测电缆材料用粉末为绝缘粉末13,绝缘容器2内在下电极3上方放置有导电的屏蔽环5,屏蔽环5内放置有第二上电极6,第二上电极6与屏蔽环5的间隙处设有绝缘隔离套7,第二上电极6下表面紧贴待测电缆材料用粉末上表面,下电极3连接第一电压源装置,第二上电极6连接第二电压源装置,屏蔽环5连接地线。

本发明中,通过与下电极3连接的第一电压源装置以及通过与第二上电极6连接的第二电压源装置,能得到作为绝缘粉末13的待测电缆材料用粉末的电阻值和体积电阻率,其中作为绝缘粉末13的待测电缆材料用粉末的试验电压100V≤U≤1500V,即作为绝缘粉末13的待测电缆材料用粉末应用于100-1500V的高压环境,其中屏蔽环5连接地线,以使第二上电极6不受泄露电流的影响,其中绝缘隔离套7将第二上电极6与屏蔽环5隔开,避免第二上电极6与屏蔽环5之间发生通电现象,即实施例2中屏蔽环5和绝缘隔离套7的设置使得实施例2的电缆材料用粉末电性能测试装置适用于绝缘粉末13的电阻测试,也适用于100-1500V的高压条件中的待测电缆材料用粉末的电阻测试。

优选地,绝缘容器2呈上端开口的圆筒形,绝缘容器2的底板外底面一周均匀固定有多个绝缘支柱1,绝缘容器2的底板中部设有第一通孔22,见图2和3;下电极3呈圆柱形且直径与绝缘容器2的内径相适配,下电极3下端中部固定有第一金属圆柱8,见图2和4,第一金属圆柱8穿过第一通孔22,第一金属圆柱8通过第一测试导线与第一电压源装置连接;屏蔽环5呈圆筒形且上端和下端均开口,屏蔽环5外径与绝缘容器2内径相适配,屏蔽环5上端边缘处固定有第三金属圆柱10,见图2和5,第三金属圆柱10连接地线,第二上电极6呈圆柱形且与屏蔽环5的高度相等,第二上电极6上端中部固定有第四金属圆柱11,见图2和6,绝缘隔离套7呈下端开口的圆筒形,绝缘隔离套7的顶板直径大于侧壁外径,绝缘隔离套7的侧壁内径与第二上电极6的直径相适配,绝缘隔离套7的侧壁外径与屏蔽环5的内径相适配,绝缘隔离套7的顶板中部设有第二通孔71,见图2和7,绝缘隔离套7的侧壁插设于第二上电极6与屏蔽环5的间隙处,第四金属圆柱11穿过第二通孔71,第四金属圆柱11通过第二测试导线与第二电压源装置连接。

这样下电极3通过第一金属圆柱8连接第一测试导线,第一测试导线与第一电压源装置连接,屏蔽环5通过第三金属圆柱10连接地线,第二上电极6通过第四金属圆柱11连接第二测试导线,第二测试导线与第二电压源装置连接,第一金属圆柱8、第三金属圆柱10和第四金属圆柱11的设置提高了本电缆材料用粉末电性能测试装置的实用性。

优选地,绝缘支柱1旋接于绝缘容器2底板上的相应第一螺纹孔21内,见图2和3,第一金属圆柱8旋接于下电极3下端中部的第二螺纹孔31内,见图2和4,第三金属圆柱10旋接于屏蔽环5上端边缘处的第四螺纹孔51内,见图2和5,第四金属圆柱11旋接于第二上电极6上端中部的第五螺纹孔61内,见图2和6。

优选地,绝缘支柱1、绝缘容器2和绝缘隔离套7在20℃条件下的体积电阻率不小于1×10

优选地,待测电缆材料用粉末采用密封包装,待测电缆材料用粉末的平均粒径在100目以下,待测电缆材料用粉末的高度不超过绝缘容器2内部净高的20%;待测电缆材料用粉末的平均粒径在100-200目,待测电缆材料用粉末的高度不超过绝缘容器2内部净高的50%;待测电缆材料用粉末的平均粒径在200目以上,待测电缆材料用粉末的高度不低于绝缘容器2内部净高的50%。

一种电缆材料用粉末的电性能测试方法,采用上述电缆材料用粉末电性能测试装置进行测试,包括以下步骤:

S1、将绝缘容器2放置于绝缘的水平台面上,避免数据受到干扰,将第一金属圆柱8固定于下电极3下端中部,将下电极3放置于绝缘容器2内,第一金属圆柱8穿过第一通孔22,下电极3通过第一金属圆柱8连接第一测试导线,第一测试导线从第一通孔22穿出;

S2、将一定重量的待测电缆材料用粉末倒入绝缘容器2内,其中待测电缆材料用粉末为绝缘粉末13,并将绝缘容器2放置于振动台上振动,保证待测电缆材料用粉末的上表面平整,其中振动频率不低于1000次/min,振幅范围为0.2-0.5mm,振动时间为1-5min;

S3、将屏蔽环5放入绝缘容器2内,将第二上电极6放入屏蔽环5内且第二上电极6的下表面紧贴待测电缆材料用粉末的上表面,将隔离套放置于第二上电极6与屏蔽环5的间隙处,第四金属圆柱11穿过第二通孔71,第二上电极6通过第四金属圆柱11连接第二测试导线,屏蔽环5通过第三金属圆柱10连接地线;

S4、将第一测试导线连接第一电压源装置,将第二测试导线连接第二电压源装置,待第一电压源装置和第二电压源装置的稳定时间不少于15s时,记录待测电缆材料用粉末的试验电压U与对应的电流值I,其中作为绝缘粉末13的待测电缆材料用粉末的试验电压范围为100V≤U≤1500V,优选地,试验电压U包括100V、500V、1000V、1500V,为保证数据的准确性,试验电压U与对应的电流值I的测试次数不低于三次,另外,第一电压源装置和第二电压源装置的稳定时间根据待测电缆材料用粉末的绝缘性能可延长至30s或60s;

S5、通过公式

S6、已知绝缘容器2的深度为L

S7、根据得到的待测电缆材料用粉末的高度L和上表面面积S,计算出待测电缆材料用粉末的体积电阻率

S8、将电压分别调至试验电压的10%、30%、50%、70%时,分别记录对应的稳定电流值,其中电压加载速率不超过50V/s,优选地,电压加载速率包括0.1V/s、0.5V/s、1V/s、5V/s、10V/s、50V/s,当电压为试验电压的10%时,电压值需不低于100V;

S9、采用10%、30%、50%、70%、100%试验电压时的稳定电流值和对应的电压值,绘制出稳定电流值与对应的电压值的散点图,其中稳定电流值作为纵坐标,对应的电压值作为横坐标,取得线性拟合斜率,作为待测电缆材料用粉末的稳态极化变化率;

S10、电压从零位以一定速率连续加载至试验电压,测量出电压至10%、30%、50%、70%、100%试验电压时的瞬时电流值,分别记录瞬时电流值与对应的电压值;

S11、采用10%、30%、50%、70%、100%试验电压时的瞬时电流值和对应的电压值,绘制出瞬时电流值与对应的电压值的散点图,其中瞬时电流值作为纵坐标,对应的电压值作为横坐标,取得线性拟合斜率,作为待测电缆材料用粉末的动态极化变化率。

其中,当环境温度不超过90℃时,可模拟工作温度运行时待测电缆材料用粉末的电气性能变化。

综上,本测试装置的结构简单、制作成本低,维修方便,便于操作,本发明适用于1500V及以下交流和直流电压的测试环境,本发明中的体积电阻率反映了待测电缆材料用粉末在一定电压下的电气性能,稳态极化变化率反映了不同电压下稳态的待测电缆材料用粉末电导的变化,动态极化变化率反映了不同电压下动态的待测电缆材料用粉末电导的变化,以综合表征待测电缆材料用粉末的特性,该测试装置能应用于电缆材料用粉末的电阻性能测试,该电性能测试方法能从多方面表征电缆材料用粉末的特性,能完善电缆材料用粉末的质量评价方法。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

相关技术
  • 一种机腹天线罩电性能测试方法
  • 一种电雷管脚线耐磨性能测试方法
  • 一种柔性电子力电性能测试装置
  • 用于交流接触器触头材料电性能测试的装置及采用该装置测试触头材料电性能的方法
  • 用于交流接触器触头材料电性能测试的装置及采用该装置测试触头材料电性能的方法
技术分类

06120116678115