近场通信装置的非接触式测试方法及其系统

技术领域

本发明涉及一种通信装置的非接触式测试方法及其系统，特别是涉及一种近场通信装置的非接触式测试方法及其系统。

背景技术

近场通信(Near Field Communication；NFC)产品在制造完成之后，出厂之前须进行功能测试，以确保产品可正常运作，公知的测试板通过探针实体接触近场通信产品进行电性及通信功能测试。然而，由于测试板与近场通信产品实体接触，测试板须额外设置匹配电路与近场通信产品阻抗匹配。因此，若异常产品的测试数值与正常状态的测试数值差异较小，可能会被视为阻抗匹配的误差容许值而被判定为正常产品。图1绘示公知测试板对近场通信产品测试的回路损失曲线示意图。双层软性电路板贴附异常状态的回路损失曲线与正常状态的回路损失曲线相近，亦即，公知的测试板无法检测出近场通信产品中双层软性电路板的贴附异常。

由此可知，目前市场上缺乏一种可检测出细微数值变化量且灵敏度高的近场通信装置的非接触式测试方法及其系统，故相关业者均在寻求解决之道。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种近场通信装置的非接触式测试方法及其系统，其通过将测试装置耦合近场通信装置，测试近场通信装置是否异常。

依据本发明的方法态样的一实施方式提供一种近场通信装置的非接触式测试方法，用以对一近场通信装置进行测试。近场通信装置的非接触式测试方法包含一测试装置耦合步骤、一检测步骤以及一比对步骤。测试装置耦合步骤是将一测试装置耦合近场通信装置。测试装置耦合近场通信装置而产生至少一回路损失(Return Loss)值。检测步骤是驱动一网络分析仪依据至少一回路损失值产生一回路损失曲线。比对步骤是驱动一处理器比对回路损失曲线是否位于一无异常回路损失区间而产生一测试结果。当回路损失曲线位于无异常回路损失区间内时，测试结果为近场通信装置处于一正常状态；当回路损失曲线位于无异常回路损失区间以外时，测试结果为近场通信装置处于一异常状态。

藉此，本发明的近场通信装置的非接触式测试方法以耦合方式检测近场通信装置的回路损失曲线，并过滤出处于异常状态的近场通信装置。

依据本发明的结构态样的一实施方式提供一种近场通信装置的非接触式测试系统，用以对一近场通信装置进行测试。近场通信装置的非接触式测试系统包含一测试装置、一网络分析仪以及一处理器。测试装置用以耦合近场通信装置。测试装置耦合近场通信装置时产生至少一回路损失值。网络分析仪电性连接测试装置，并依据至少一回路损失值产生一回路损失曲线。处理器电性连接网络分析仪，并用以比对回路损失曲线是否位于一无异常回路损失区间而产生一测试结果。当回路损失曲线位于无异常回路损失区间内时，测试结果为近场通信装置处于一正常状态；当回路损失曲线位于无异常回路损失区间以外时，测试结果为近场通信装置处于一异常状态。

藉此，本发明的近场通信装置的非接触式测试系统以耦合方式检测近场通信装置的回路损失曲线，并过滤出处于异常状态的近场通信装置。

附图说明

图1绘示公知测试板对近场通信产品测试的回路损失曲线示意图；

图2绘示本发明的第一实施例的近场通信装置的非接触式测试方法的流程图；

图3绘示依照图2实施方式的近场通信装置的非接触式测试方法的测试装置耦合步骤的示意图；

图4绘示依照图2实施方式的近场通信装置的非接触式测试方法的正常状态的回路损失曲线的示意图；

图5绘示依照图2实施方式的近场通信装置的非接触式测试方法的异常状态的回路损失曲线的示意图；以及

图6绘示本发明的第二实施例的近场通信装置的非接触式测试系统的示意图。

主要组件符号说明：

S10           非接触式测试方法

S02           测试装置耦合步骤

S04           检测步骤

S06           比对步骤

10            近场通信装置

13            天线

100           非接触式测试系统

110           测试装置

112           线圈

120           网络分析仪

130           处理器

RL            回路损失曲线

NL            无异常回路损失区间

d             间距

具体实施方式

以下将参照附图说明本发明的多个实施例。为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施例中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些公知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示；并且重复的元件将可能使用相同的编号表示。

此外，本文中当某一元件(或单元或模块等)“连接”于另一元件，可指所述元件是直接连接于另一元件，亦可指某一元件是间接连接于另一元件，意即，有其他元件介于所述元件及另一元件之间。而当有明示某一元件是“直接连接”于另一元件时，才表示没有其他元件介于所述元件及另一元件之间。而第一、第二、第三等用语只是用来描述不同元件，而对元件本身并无限制，因此，第一元件亦可改称为第二元件。且本文中的元件/单元/电路的组合非此领域中的一般周知、常规或公知的组合，不能以元件/单元/电路本身是否为公知，来判定其组合关系是否容易被技术领域中的普通技术人员轻易完成。

请参阅图2至图5，图2绘示本发明的第一实施例的近场通信装置10的非接触式测试方法S10的流程图；图3绘示依照图2实施方式的近场通信装置10的非接触式测试方法S10的测试装置耦合步骤S02的示意图；图4绘示依照图2实施方式的近场通信装置10的非接触式测试方法S10的正常状态的回路损失曲线RL的示意图；以及图5绘示依照图2实施方式的近场通信装置10的非接触式测试方法S10的异常状态的回路损失曲线RL的示意图。近场通信装置10的非接触式测试方法S10用以对一近场通信装置10进行测试。近场通信装置10的非接触式测试方法S10包含一测试装置耦合步骤S02、一检测步骤S04以及一比对步骤S06。测试装置耦合步骤S02是将一测试装置110耦合近场通信装置10。测试装置110耦合近场通信装置10而产生至少一回路损失(Return Loss)值。检测步骤S04是驱动一网络分析仪120(见图6)依据至少一回路损失值产生一回路损失曲线RL。比对步骤S06是驱动一处理器130(见图6)比对回路损失曲线RL是否位于一无异常回路损失区间NL而产生一测试结果。当回路损失曲线RL位于无异常回路损失区间NL内时，测试结果为近场通信装置10处于一正常状态；当回路损失曲线RL位于无异常回路损失区间NL以外时，测试结果为近场通信装置10处于一异常状态。藉此，本发明的近场通信装置10的非接触式测试方法S10以耦合方式检测近场通信装置10的回路损失曲线RL，并检测出处于异常状态的近场通信装置10。

详细地说，测试装置110以耦合方式连接近场通信装置10，并测量近场通信装置10在不同频率(f)的回路损失值(dB)。回路损失曲线RL由近场通信装置10在不同频率的回路损失值连接而成。无异常回路损失区间NL用以界定可正常工作的近场通信装置10在特定频率时的回路损失值范围。如图4所示，正常状态的回路损失曲线RL位于被无异常回路损失区间NL限制的区域内，在本实施方式中，正常状态的近场通信装置10在频率介于63MHz～75MHz时，回路损失值小于-8dB；在频率介于75MHz～78MHz时，回路损失值小于-22dB；在频率介于78MHz～83MHz时，回路损失值介于-6dB及-22dB之间；在频率介于83MHz～86MHz时，回路损失值小于-22dB；在频率大于86MHz时，回路损失值小于-8dB。

具体而言，异常状态包含一开路状态、一短路状态、一金手指折断状态、一双层软性电路板贴附异常状态以及一双层铁氧体贴附异常状态的一者。当近场通信装置10处于上述异常状态时，回路损失曲线RL可如图5所示。当近场通信装置10为开路状态、短路状态时，回路损失值皆恒为零。当近场通信装置10为金手指折断状态、双层软性电路板贴附异常状态或双层铁氧体贴附异常状态的至少一者时，回路损失曲线RL皆会与无异常回路损失区间NL交会，亦即，当近场通信装置10为金手指折断状态、双层软性电路板贴附异常状态或双层铁氧体贴附异常状态时，在特定频率时所检测的回路损失值超出近场通信装置10可正常工作的数值。此外，当近场通信装置10同时处于前述异常状态的至少二者(例如：金手指折断状态及双层软性电路板贴附异常状态)时，近场通信装置10的回路损失曲线RL亦会与无异常回路损失区间NL交会。藉此，本发明的近场通信装置10的非接触式测试方法S10可检测出与正常状态之间的差异微小的双层软性电路板贴附造成的异常及双层铁氧体贴附造成的异常，且当近场通信装置10出现多个异常状态时，亦可通过回路损失曲线RL判断出近场通信装置10的异常原因。

请配合参阅图4至图6，图6绘示本发明的第二实施例的近场通信装置10的非接触式测试系统100的示意图。近场通信装置10的非接触式测试系统100用以对一近场通信装置10进行测试。近场通信装置10的非接触式测试系统100包含一测试装置110、一网络分析仪120以及一处理器130。测试装置110用以耦合近场通信装置10。测试装置110耦合近场通信装置10时产生至少一回路损失值。网络分析仪120电性连接测试装置110，并依据至少一回路损失值产生一回路损失曲线RL。处理器130电性连接网络分析仪120，并用以比对回路损失曲线RL是否位于一无异常回路损失区间NL而产生一测试结果。当回路损失曲线RL位于无异常回路损失区间NL内时，测试结果为近场通信装置10处于一正常状态；当回路损失曲线RL位于无异常回路损失区间NL以外时，测试结果为近场通信装置10处于一异常状态。藉此，本发明的近场通信装置10的非接触式测试系统100由测试装置110耦合近场通信装置10，避免因测试装置110与近场通信装置10通过匹配电路实体连接而降低检测灵敏度。

近场通信装置10与测试装置110之间的间距d大于0毫米且小于等于2毫米。在本发明的其他实施方式中，测试装置可设置于一测试机台的一固定位置，而近场通信装置可设置于测试机台的可上下位移动的夹具上，以调整近场通信装置与测试装置欲进行测试时的耦合间距。

测试装置110可包含一线圈112，而近场通信装置10可包含一天线13，线圈112对应天线13。测试装置110的线圈112的形状与近场通信装置10的天线13的形状相似，且测试装置110的面积大于近场通信装置10的面积。换句话说，测试装置110的线圈112的面积覆盖近场通信装置10的天线13的面积。

具体而言，近场通信装置10可为近场通信天线13或设有近场通信控制芯片的电子装置；测试装置110可为设有线圈112的测试电路板；处理器130可为微处理单元、中央处理器或其他电子运算处理器；测试装置110可通过射频电缆线(RF cable)连接至网络分析仪120，但本发明不以此为限。

由上述实施方式可知，本发明具有下列优点，其一，本发明的近场通信装置的非接触式测试方法以耦合方式检测近场通信装置的回路损失曲线，并检测出处于异常状态的近场通信装置；其二，近场通信装置的非接触式测试方法可检测出与正常状态之间的差异微小的双层软性电路板贴附造成的异常及双层铁氧体贴附造成的异常，且当近场通信装置出现多个异常状态时，亦可通过回路损失曲线判断出近场通信装置的异常原因；其三，本发明的近场通信装置的非接触式测试系统由测试装置耦合近场通信装置，避免因测试装置与近场通信装置通过匹配电路实体连接而降低检测灵敏度。

虽然本发明已以实施方式公开如上，然而其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，应当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围应当视所附的权利要求书的范围所界定者为准。