显示面板以及电子设备

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，更具体的说，涉及一种显示面板以及电子设备。

背景技术

随着科学技术的不断进步，越来越多的具有显示功能的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。

电子设备实现显示功能的主要部件是显示面板，随着电子设备功能的不断强大，要求显示面板不仅仅具有图像显示功能，还需要集成其他功能，如集成触控电极具有触控检测功能等，导致显示面板需要具有更多的走线，不便于窄边框设计与全面屏设计。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种显示面板以及电子设备，方案如下：

一种显示面板，所述显示面板具有显示区以及边框区，显示面板包括：

设置在显示区的多个子像素，子像素与数据线电连接；

位于显示区的触控电极；

与触控电极电连接的触控信号线；

设置在边框区的测试电路；测试电路包括信号传输线，信号传输线电连接触控信号线；

连接走线，连接走线与数据线一一对应，在测试阶段，信号传输线与数据线之间通过连接走线连通，信号传输线为数据线输入测试信号，在非测试阶段，连接走线与测试电路断路，信号传输线输出触控电极检测的触控信号。

本申请技术方案提供的显示面板中，测试电路具有信号传输线，信号传输线电连接触控信号线，信号传输线还与数据线通过连接走线电连接。这样，在测试阶段，可以通过信号线传输线为数据线输入测试信号，通过信号传输线实现面板测试，在非测试阶段，连接走线与测试电路断路，信号传输线输出触控电极检测的触控信号，通过信号传输线实现触控检测，可见测试电路中的信号传输线即可以用于面板测试，又可以用于触控检测，降低了走线数量。

本申请还提供了一种电子设备，电子设备包括上述显示面板。

本申请技术方案提供的电子设备采用上述显示面板，能够降低走线数量，便于实现窄边框设计以及全面屏设计。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种测试电路的结构示意图；

图4为图3所示测试电路中选通电路单元的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的显示面板中显示阵列的示意图；

图6为本申请实施例提供的另一种测试电路的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的显示面板中信号传输线的排布方式示意图；

图8为本申请实施例提供的显示面板中开关信号线的排布方式示意图；

图9为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图10为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图12为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请中的实施例进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

现有显示面板中，测试电路仅用于出厂前的面板测试，用于测试是否存在数据线断路或是不能正常显示的子像素，测试电路需要设置单独的走线以及选通电路与数据线电连接。而触控电极的触控信号线也需要设置单独的走线以及选通电路，导致面板中信号线以及选通电路的数量多，需要占用较多的台阶面积。

为了解决上述问题，本申请实施例提供的显示面板以及电子设备中，设计触控走线复用测试电路的信号传输线，从而无需单独为触控走线设置走线以及选通电路，降低了走线数量以及选通电路数量，便于电子设备窄边框和全面屏设计。

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。

如图1所示，图1为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图，所示显示面板100具有显示区AA以及边框区BB，显示面板包括：

设置在显示区AA的多个子像素P，子像素P与数据线DATA电连接；

位于显示区AA的触控电极200；

与触控电极200电连接的触控信号线TP；

设置在边框区BB的测试电路11；测试电路11包括信号传输线TPX，信号传输线TPX电连接触控信号线TP；

连接走线13，连接走线13与数据线DATA一一对应，在测试阶段，信号传输线TPX与数据线DATA之间通过连接走线13连通，信号传输线TPX为数据线DATA输入测试信号，在非测试阶段，连接走线13与测试电路11断路，信号传输线TPX输出触控电极检测的触控信号。

需要说明的是，图1中仅是示出了一个触控电极200，显示面板具有多个触控电极200，多个触控电极200阵列排布，本申请对触控电极200的具体数量以及排布方式不做限定。触控电极200与触控信号线TP不同层，二者之间可以通过过孔连接，为了降低连接阻抗，触控电极200与电连接的触控信号线TP之间可以通过多个过孔连接，图1中未示出过孔。

可以单独在显示面板中增加金属层，用于制作触控电极200，也可以复用显示面板中已有金属层作为触控电极200。例如，当显示面板为LCD面板时，可以复用公共电极作为触控电极200，当显示面板为OLED面板时，OLED子像素需要通过封装层封装保护，封装层的背离OLED子像素的一侧增加金属层，用于形成触控电极200。本申请实施例中，对触控电极200的实现方式不做具体限定。

其中，数据线DATA可以与位于边框区BB的显示控制芯片14电连接，在非测试阶段，显示控制芯片14通过数据线DATA为子像素P提供数据信号，以实现子像素P的发光显示。

本申请技术方案提供的显示面板中，在测试阶段，测试电路11的信号传输线TPX不仅能够通过连接走线13为数据线DATA提供测试信号，实现面板测试(如VT测试)，可以基于输入的测试信号时显示面板的显示图像，测试是否存在数据线DATA断路或是坏点子像素P，在非测试阶段，信号传输线TPX还能够通过触控信号线TP获取并输出触控电极200检测的触控信号到触控芯片，触控芯片基于触控信号实现触控检测。可见，测试电路11中的信号传输线TPX即可以用于面板测试，又可以用于触控检测，降低了走线数量。

本申请技术方案中，可以在测试阶段完成后，直接将测试电路11和数据线DATA之间的连接走线13切断，从而实现非测试阶段，连接走线13与测试电路11的断路，如图1中虚线L所示，可以通过激光切断测试电路11和数据线DATA之间的连接走线13。或者，在测试电路11和数据线DATA之间的连接走线13中设置开关元件，通过开关元件使得测试电路11和数据线DATA之间的连接走线13断路。

在测试阶段，测试电路11通过信号传输线TPX为数据线DATA输入测试信号，此时，触控信号线TP与信号传输线TPX电连接，信号传输线TPX作为输入信号线，虽然触控走线TP输入测试信号，但是不影响测试效果。

现有技术中，测试电路仅仅用于VT测试，当完成VT测试后，测试电路将弃之不用，而本申请技术方案中，测试电路11在测试阶段能够进行面板测试，在非测试阶段，可以用于作为触控检测的选通电路，输出触控电极200检测的触控信号，用于触控检测。

如图2所示，图2为本申请实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，基于图1所示方式，图2所示显示面板中，测试电路11具有多个第一选通晶体管T1；测试电路11还具有开关信号线sw。

第一选通晶体管T1具有栅极、第一电极和第二电极。第一选通晶体管T1的栅极电连接开关信号线sw，第一选通晶体管T1的第一电极与触控信号线TP电连接，且通过连接走线13与所对应的数据线DATA电连接，第一选通晶体管T1的第二电极与信号传输线TPX电连接。通过开关信号线sw控制第一选通晶体管T1的导通状态。本申请实施例中，选通晶体管的第一电极和第二电极中的一者为漏极，另一者为源极。

其中，第一选通晶体管T1与数据线DATA一一对应电连接，不同的第一选通晶体管T1电连接不同的数据线DATA。每个第一选通晶体管T1的第一电极均通过一条单独的连接走线13与所对应的数据线DATA电连接。在测试阶段，通过开关信号线sw控制第一选通晶体管T1的导通状态，以便于通过信号传输线TPX为数据线提供测试信号，实现面板测试，在非测试阶段，通过开关信号线sw控制第一选通晶体管T1的导通状态，通过信号传输线TPX获取触控电极200输出的触控信号，实现触控检测。

测试电路具有多个选通电路单元111，至少部分选通电路单元111包括多个第一选通晶体管T1。设置选通电路单元111具有多个第一选通晶体管，能够降低触控信号线TP与所电连接选通电路单元111的等效阻抗。同一选通电路单元111中，第一选通晶体管T1电连接相同的触控信号线TP、信号传输线TPX和开关信号线sw。该方式中，同一选通电路单元111能够通过同一信号传输线TPX同时为多条数据线DATA提供测试信号，多个第一选通晶体管T1能够基于同一开关信号线sw控制，降低信号传输线TPX和开关信号线sw的数量。

在图2中示仅示出了一个选通电路单元111，选通电路单元111具有四个第一选通晶体管T1。同一选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量可以基于需求设定为任意多个，不局限于为如图2所示的四个，还可以设置为3个或是6个。可以基于显示面板中数据线DATA的数量以及每个选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量设置选通电路单元111的数量，本申请实施例中，对显示面板中数据线DATA的数量以及选通电路单元111的数量不做具体限定。

如图3和图4所示，图3为本申请实施例提供的一种测试电路的结构示意图，图4为图3所示测试电路中选通电路单元的结构示意图，结合图2-图4所示，测试电路11具有多个选通电路组10，选通电路组10具有多个选通电路单元111；同一选通电路组10中，选通电路单元111电连接相同的信号传输线TPX；不同选通电路组10中的选通电路单元111，电连接不同信号传输线TPX。

本申请实施例中，设置选通电路组10包括多个选通电路单元111，同一选通电路组10中多个选通电路单元111共用同一信号传输线TPX，从而大大降低信号传输线TPX的数量。

可以设置每个选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量相同，设置每个选通电路组10中通电路单元111的数量相同，以便于电路布局、测试驱动和触控检测。其他方式中，也可以设置每个选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量不同，设置每个选通电路组10中通电路单元111的数量不同。或者，也可以设置部分选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量相同，另一部分选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量不同。同理，可以设置部分选通电路组10中通电路单元111的数量不同，另一部分选通电路组10中通电路单元111的数量不同。在此不做限定。

结合图3和图4所示，每个选通电路组10包括Y个选通电路单元111，Y为大于1的正整数；同一选通电路组10中，选通电路单元111分别对应连接一条开关信号线sw，选通电路组10均电连接Y条开关信号线sw，且各个选通电路组10电连接相同的Y条开关信号线。本申请实施例中，以Y＝30为例进行说明，每个选通电路组10包括30个选通电路单元111，对应电连接30条开关信号线sw，以及30条触控信号线TP。显然，可以基于需求设定Y为大于1的任意正整数，不局限于为Y为30，本申请实施例中对于Y的取值不做限定。

本申请实施例中，设置同一选通电路组10电连接有Y条开关信号线sw，同一选通电路组10中，Y条开关信号线sw与选通电路单元111一一对应电连接，不同的选通电路单元111电连接不同的开关信号线sw。所有选通电路组10共用Y条开关信号线sw，从而大大降低开关信号线sw的数量。

结合图3和图4所示，测试电路11具有N个选通电路组10，N为大于1的正整数；选通电路组10中的选通电路单元111的排列延伸方向为第一方向F1，多个所述选通电路单元111在一直线方向上依次排布，该直线方向即为其延伸方向，第一方向F1平行于所述直线；同一选通电路组10中，沿第一方向F1，Y个(图4中Y取值为30)选通电路单元111依次为第1选通电路单元至第Y选通电路单元。沿第二方向Y，开关信号线sw依次为第1开关信号线sw1至第Y开关信号线swY。测试电路11具有N条(图3中N取值为12)信号传输线TPX，沿第一方向F1，信号传输线TPX依次为第1信号传输线TPX1至第N信号传输线TPXN。其中，选通电路组10中，第y选通电路单元电连接第y开关信号线swy，y为不大于Y的正整数；第n选通电路组中的选通电路单元111电连接第n信号传输线TPXn，n为不大于N的正整数。第二方向F2垂直于第一方向F1。

可以通过设置Y和N的取值，使得同一选通电路组10中多个选通电路单元111共用同一信号传输线TPX，使得不同的选通电路组10共用Y条开关信号线sw，大大降低信号传输线TPX和开关信号线sw的数量。而且多个选通电路组10在第一方向F1上依次排布，对应电连接的多条信号传输线TPX在第一方向F1上依次排布，并设置多个选通电路组10所公共的多条开关信号线在第二方向F2上依次排布，便于布线，无需复杂的绕线。

本申请实施例中，可以设置第一方向F1垂直于显示区AA中数据线DATA的延伸方向。第二方向F2平行于显示区AA中数据线DATA的延伸方向，由显示区AA指向测试电路11。

在非测试阶段，进行触控检测时，同一选通电路组10连接Y条触控信号线TP分时进行触控检测，以确定当前时刻输出触控信号的触控信号线TP。

Y与N的取值与显示面板中数据线DATA的数量相关，可以基于需求设定，本申请实施例对此不做具体限定。如以显示面板具有1440列子像素为例，每一列子像素单独电连接一条数据线DATA，共具有1440条数据线DATA，可以设置N＝12，Y＝30，每个选通电路单元111中具有4个第一选通晶体管T1，4*Y*N＝1440。

如以Y＝30，N＝12为例，在第一方向F1上，图4所示第1选通电路组中30个选通电路单元111依次为第1选通电路单元至第30选通电路单元，依次对应电连接第1触控信号线TP1至第30触控信号线TP30。图3中，具有30条开关信号线sw，在第二方向F2上，该30条开关信号线sw依次为第1开关信号线sw1至第30开关信号线sw30，具有12个选通电路组10，对应电连接12条信号传输线TPX，该12条信号传输线TPX依次为第1信号传输线TPX1至第12信号传输线TPX12，共计具有360条触控信号线TP，在第一方向F1上依次为第1触控信号线TP1至第360触控信号线TP360，第1选通电路组中30个选通电路单元111分别对应电连接第1触控信号线TP1至第30触控信号线TP30，第2选通电路组中30个选通电路单元111分别对应电连接第31触控信号线TP31至第60触控信号线TP60，…，第12选通电路组中30个选通电路单元111分别对应电连接第331触控信号线TP331至第360触控信号线TP360。

可见，对于具有1440列子像素的显示面板，基于本申请实施例技术方案，，同一选通电路单元111能够为4条数据线同时提供测试信号，仅需要30条开关信号线sw与12条信号传输线TPX，大大降低走线数量。

如图5所示，图5为本申请实施例提供的显示面板中显示阵列的示意图，显示面板具有显示阵列，显示阵列具有多个阵列排布的子像素P，显示阵列具有三种颜色子像素P，该三种颜色子显示P分别为红色子像素R、绿色子像素G和蓝色子像素B。设置同一行任意相邻的三种子像素P的颜色不同。设置任意相邻的两列子像素P中，一列子像素P为红色子像素R和蓝色子像素B交替排布，另一子像素P均为绿色子像素G。从而使得每个像素单元具有四个子像素P，该四个子像素P形成2×2的拜尔阵列，具有一个蓝色子像素B、一个红色子像素R和两个绿色子像素G，如是排列方式，能够模拟人眼对绿色敏感特定来实现色彩还原，同时该排布方式便于彩色还原。

需要说明的是，显示阵列中子像素P的行数以及列数基于需求设定，图5仅是示意说明，不表示显示面板中子像素P的实际行数以及列数。而且本申请实施例提供的显示面板中，显示阵列中子像素P的排布方式不局限于图5所示方式，也可以采用RYYB和RGBW等排布方式，本申请实施例对此不作具体限定。

如图6所示，图6为本申请实施例提供的另一种测试电路的结构示意图，结合图2-图6所示，边框区BB中具有多个与第一选通晶体管T1一一对应的第二选通晶体管T2，第二选通晶体管T2与第一选通晶体管T1均具有栅极、第一电极和第二电极。第二选通晶体管T2的第一电极与所对应的第一选通晶体管T1的第一电极电连接；其中，在测试阶段，第一选通晶体管T1与第二选通晶体管T2分时导通，以分别为所电连接的数据线DATA提供测试信号，在测试阶段之后，第二选通晶体管T2的栅极输入关断信号，使得第二选通晶体管T2的第二电极与数据线DATA断路。

本申请实施例中，复用面板中已有的第一选通晶体管T1形成本申请测试电路11，在测试阶段，通过本申请测试电路11中的第一选通晶体管T1和面板中已有的第二选通晶体管T2分时为同一数据线DATA中子像素P提供测试信号，测试效率更快。

第一选通晶体管T1可以基于需求设定为PMOS或是NMOS，第二选通晶体管T2以基于需求设定为PMOS或是NMOS。

图6中示出了三条相邻的数据线DATA

本申请技术方案复用显示面板中VT测试的短路棒(shorting bar)中的第一选通晶体管T1组成选通电路单元111，具体的，将四个输入相同颜色子像素测试信号的第一选通晶体管T1的第二电极短接，组成一个选通电路单元111，例如将输入红色子像素测试信号r的四个第一选通晶体管T1的第二电极短接，能够组成一个选通电路单元111，将输入绿色子像素测试信号g的四个第一选通晶体管T1的第二电极短接，能够组成一个选通电路单元111，将输入蓝色子像素测试信号b的四个第一选通晶体管T1的第二电极短接，能够组成一个选通电路单元111。

设定显示区AA具有M条在第一方向F1上依次排布的数据线DATA，M为正整数，且为3的倍数。M条数据线DATA在第一方向F1上依次为第1数据线DATA

第一数据线组中多条数据线DATA满足第一通项公式a

第二数据线组中多条数据线DATA满足第二通项公式b

第三数据线组中多条数据线DATA满足第三项公式c

其中，a

同一数据线组中，数据线DATA分别对应连接一个第一选通晶体管T1，在测试阶段，第一选通晶体管T1的第二电极均输入相同颜色子像素的测试信号，结合图6，如可以设定第一数据线组中各个数据线DATA所连接的第一选通晶体管T1的第二电极在测试阶段输入红色子像素测试信号r，可以设定第二数据线组中各个数据线DATA所连接的第一选通晶体管T1的第二电极在测试阶段输入绿色子像素测试信号g，可以设定第三数据线组中各个数据线DATA所连接的第一选通晶体管T1的第二电极在测试阶段输入蓝色子像素测试信号b。

同一数据线组中，所有数据线DATA均分为多个数据线子组，每个数据线子组具有X条在第一方向F1上依次排布的数据线DATA，X为大于1的正整数，m为X的整数倍。同一数据线子组中X条数据线DATA所对应电连接的X个第一选通晶体管T1组成一个选通电路单元111，如X＝4，则每个选通电路单元111具有四个第一选通晶体管T1。设置同一数据线组中，Y个相邻的选通电路单元111为一个选通电路组10。

如M＝1440，X＝4，Y＝30，同一数据线组中，具有480条数据线DATA，所对应连接的480个第一选通晶体管T1分为120个选通电路单元111，120个选通电路单元111分为4个选通电路组10，三个数据线组形成12个选通电路组10，每个选通电路组10对应电连接30条触控信号线TP，共计30*12条触控信号线TP。这样，同一选通电路组10对应连接30条触控信号线TP，通过同一信号传输线TPX分时输出触控信号，共计需要12条信号传输线TPX。信号传输线TPX连接触控芯片，触控芯片用于基于触控信号进行触控检测。触控芯片与显示控制芯片14可以为同一芯片，此时，显示控制芯片不仅用于驱动子像素P进行图像显示，还能够基于信号传输线TPX输出的触控信号进行触控检测，或触控芯片与显示控制芯片14为两个独立的芯片。

例如，对于第一数据线组，30个接入红色子像素测试信号r的选通电路单元111构成一个选通电路组10，对应连接的30条触控信号线TP通过同一信号传输线TPX分时输出触控信号。

如图7所示，图7为本申请实施例提供的显示面板中信号传输线的排布方式示意图，在测试阶段，为了便于探针统一输入相同颜色子像素测试信号，设置具有多个信号传输线组，信号传输线组具有多条信号传输线TPX；同一信号传输线组中的多条信号传输线TPX相邻排布。可以设置所有信号传输线TPX在第一方向F1上依次排布。如可以设置具有3个信号传输线组21、22、23。

可以设置所有输入红色子像素测试信号r的信号传输线TPX依次相邻排布，设置所有输入绿色子像素测试信号g的信号传输线TPX依次相邻排布，设置所有输入蓝色子像素测试信号b的信号传输线TPX依次相邻排布，从而可以便于测试信号输入探针与信号传输线TPX的连接测试。如上述实施例描述，当具有1440条数据线DATA，对应设置12条信号传输线TPX时，具有4条输入红色子像素测试信号r的信号传输线TPX，该4条信号传输线TPX依次相邻排布，为传输线组21；具有4条输入绿色子像素测试信号g的信号传输线TPX，该4条信号传输线TPX依次相邻排布，为传输线组22；具有4条输入蓝色子像素测试信号b的信号传输线TPX，该4条信号传输线TPX依次相邻排布，为传输线组23。

本申请实施例中，显示面板具有多个子像素P，多个子像素包括：多个第一子像素、多个第二子像素和多个第三子像素；如可以设置第一子像素为红色子像素R，第二子像素为绿色子像素G，第三子像素为蓝色子像素B。具有三个信号传输线组21、22、23；在测试阶段的同一时刻，同一信号传输线组中的多条信号传输线TPX输入相同的测试信号，该三个信号传输线组分别用于不同的测试信号。这样，如上述第一数据线组所对应的信号传输线TPX均输入红色子像素测试信号r，第二数据线组所对应的信号传输线TPX均输入绿色子像素测试信号，第三数据线组所对应的信号传输线TPX均输入蓝色子像素测试信号，并通过与第一选通晶体管T1对应的第二选通晶体管T2实现所有子像素的显示测试。

如图8所示，图8为本申请实施例提供的显示面板中开关信号线的排布方式示意图，在测试阶段，为了便于探针与开关信号线sw接触，使得第一选通晶体管T1导通进行测试，设置所有开关信号线sw依次相邻排布，相邻开关信号线sw之间没有其他走线。可以设置开关信号线sw在第二方向F2上依次排布。开关信号线sw可以与触控芯片连接，在触控检测时，通过触控芯片为其提供控制信号，以控制其导通状态。如上述，当具有30条开关信号线sw时，该30条开关信号线sw在第二方向F2可以依次为第1开关信号线sw1至第30开关信号下sw30。

如图9所示，图9为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，结合图2-图4、图6和图9，边框区BB具有绑定区CC，绑定区CC具有和数据线DATA电连接的焊盘，焊盘用于固定电连接显示控制芯片14；第一选通晶体管T1位于绑定区CC背离显示区AA的一侧，选通电路单元111均位于绑定区CC背离显示区AA的一侧。可以设置同一选通电路单元111中，所连接的多条连接走线13在第一方向F1上连续相邻排布，便于后续统一进行切割断路。需要说明的是，图9示出了选通电路单元111，以选通电路单元111的位置来表示第一选通晶体管T1相对于绑定区CC的位置，并未示出第一选通晶体管T1，第一选通晶体管T1的结构以及连线原理可以参考上述描述。

如图10所示，图10为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，结合图2-图4、图6、图9和图10，边框区BB具有多个与数据线DATA一一对应的第二选通晶体管T2，第二选通晶体管T2具有栅极、第一电极和第二电极；第二选通晶体管T2的第一电极与所对应的第一选通晶体管T1的第一电极电连接；第二选通晶体管T2位于显示区AA与绑定区CC之间。将第一选通晶体管T1和第二选通晶体管T2分别设置绑定区CC的两侧，便于选通电路单元111所连接的连接走线13进行切割断路。需要说明的是，图10示出了选通电路单元111，以选通电路单元111的位置来表示第一选通晶体管T1相对于绑定区CC的位置，并未示出第一选通晶体管T1，第一选通晶体管T1的结构以及连线原理可以参考上述描述；以和选通电路单元111一一对应的电路模块的位置来表示第二选通晶体管T2相对于绑定区CC的位置，并未示出第二选通晶体管T2，电路模块包括四个与对应选通电路单111的第二选通晶体管T2。

本申请实施例中，子像素P具有像素晶体管。第一选通晶体管T1与第二选通晶体管T2与像素晶体管同层，在形成像素晶体管的同时形成第一选通晶体管T1与第二选通晶体管T2，无需单独工艺制作第一选通晶体管T1与第二选通晶体管T2，制作工艺简单，制作成本低。

本申请实施例中，子像素具有像素晶体管；第一选通晶体管T1与像素晶体管同层。基于布线需求，设置第二晶体管T2与像素晶体管同层或是不同层。

本申请实施例显示面板可以为LCD面板，也可以为OLED面板，OLED面板可以硬质面板或是柔性可弯曲面板。

本申请实施例中，可以如上述，设置各个选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量相同，其他方式中，还可以如图11所示，设置选通电路单元111中第一选通晶体管T1不同。

如图11所示，图11为本申请实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，基于上述实施例，图11所示方式中，信号传输线TP用于连接触控芯片；显示面板具有多个触控电极200，多个触控电极200至少包括第一触控电极201和第二触控电极202，第一触控电极201到触控芯片的距离大于第二触控电极202到触控芯片的距离；其中，第一触控电极201所对应连接的选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量大于第二触控电极202所对应连接的选通电路单元111中第一选通晶体管T1的数量。

图11中以第一触控电极201对应连接的选通电路单元111中具有4个第一选通晶体管T1，第二触控电极202所对应连接的选通电路单元111中具有2个第一选通晶体管T1为例进行说明，可以基于需求设置各个触控电极200所对应连接的第一选通晶体管T1的数量，不局限于图4所示方式。

由于触控电极200和触控芯片的距离不同，二者之间的连线长度不同，连线长度不同导致阻抗不均匀，影响触控的准确性。基于图11所示方式，设置与触控芯片具有较大距离的触控电极200对应连接数量较少的第一选通晶体管T1，与触控芯片具有较小距离的触控电极200对应连接数量较多的第一选通晶体管T1，从而可以减小与触控芯片距离不同的触控电极200连接电阻的差异程度，提高触控准确性。

需要说明的是，本申请技术方案中，可以设置多个触控电极200阵列排布，触控电极200与触控芯片之间的距离为显示区AA中触控走线TP延伸反向上的距离，阵列排布的触控电极200中，如果该延伸方向为阵列的列方向，同一列中的各个触控电极200和触控芯片的距离均不相同，各个触控电极200对应连接第一选通晶体管T1的数量由显示区指向触控芯片的方向上逐渐增多，同一行中各个触控电极200和触控芯片的距离相同，对应连接相同数量的第一选通晶体管T1。

基于上述实施例，本申请另一实施例还提供了一种电子设备，如图12所示，图12为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图，电子设备包括显示面板41，显示面板41为上述实施例任一种方式的显示面板。

电子设备可以为手机、平板电脑或是智能穿戴设备等具有显示功能的电子设备。电子设备采用上述实施例的显示面板，能够减少走线数量，便于窄边框和全面屏设计。

本说明书中各个实施例采用递进、或并列、或递进和并列结合的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的电子设备而言，由于其与实施例公开的显示面板相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见显示面板对应部分说明即可。

需要说明的是，在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括上述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。