一种量子芯片测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及量子芯片测试技术领域，具体为一种量子芯片测试装置及测试方法。

背景技术

量子芯片是现今世界上唯一采用微电子技术制造，用以提升人体能量功效、对抗现代科技环境污染、改善因现代生活所引致的病变之最新高科技保健产品。量子芯片使用积体/集成电路(IC或微芯片)科技，产生生物无线电频率(生物电波)，交互作用于人类与动物的能量场。量子芯片在加工后，需要对芯片进行封装检测，以确保流出的芯片品质合格。

在对芯片检测的过程中，由于芯片检测需要对芯片的各个指标进行逐步检测，在检测的过程中，操作人员需要等候检测的结果，而芯片的摆放同样需要时间，从而导致时间利用不充足，检测的效率较低，此外，在对不同芯片进行检测时，需要对检测设备进行调试，使检测用的探针在下降的过程中，与芯片进行接触，达到电性连接的目的，但在调试的过程中，由于对新规格的芯片的调试，探针下降的高度无法准确的把控，易造成探针损坏。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种量子芯片测试装置，具备时间利用充足、效率高、自启动、安全性强等优点，解决了新规格的芯片的调试，探针下降的高度无法准确的把控，易造成探针损坏以及时间利用不充足，检测的效率较低的问题。

(二)技术方案

为解决上述新规格的芯片的调试，探针下降的高度无法准确的把控，易造成探针损坏以及时间利用不充足，检测的效率较低的技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种量子芯片测试装置，包括主体，所述主体的一侧开设有转换槽，所述转换槽转动连接有测试板，所述测试板与所述转换槽通过转轴转动连接，所述测试板的两侧中部均固定连接有半圆形抵架，所述转换槽的内壁一侧中部固定连接有点触箱，所述点触箱内壁滑动连接有弹簧基座，所述弹簧基座的一侧固定连接有动触极，所述点触箱内壁靠近所述动触极的一侧中部固定连接有与所述动触极相对应的静触极，所述弹簧基座远离所述动触极的一侧中部固定连接有导杆，所述导杆贯穿所述点触箱固定连接有与所述半圆形抵架相对应的弧形抵座，所述弹簧基座远离所述动触极的一侧中部与所述导杆同轴心固定连接有复位弹簧，所述复位弹簧远离所述弹簧基座的一端固定连接在所述点触箱的内壁一侧。

优选地，所述测试板的两侧的两端中部均开设有卡球孔，所述转换槽的内壁两侧的中部均固定连接有气缸，所述气缸的输出轴端部固定连接有与所述卡球孔相对应的卡球。

优选地，所述测试板的上表面两侧均开设有模具槽，所述模具槽内设置有测试模具，所述模具槽的上表面两侧均开设有限位柱，所述测试模具的上表面开设有若干芯片放置槽，所述测试模具的上表面两侧均开设有与所述限位柱相对应的限位孔，所述限位柱贯穿所述限位孔实现对所述测试模具的位置限定。

优选地，所述主体的上部开设有内腔，所述内腔的顶部两侧均固定连接有电动滑轨一，所述电动滑轨一滑动连接有电动滑块一，所述电动滑块一的下表面固定连接有电动滑轨二，所述电动滑轨二滑动连接有电动滑块二，所述电动滑块二的下表面固定连接有液压缸，所述液压缸的输出轴固定连接有探针缓冲箱，所述探针缓冲箱的下表面贯穿并滑动连接有探针。

优选地，所述探针缓冲箱的内壁顶部固定连接有压力传感器，所述压力传感器的下表面固定连接有压力弹簧，所述压力弹簧的一端固定连接有绝缘弹簧板，所述绝缘弹簧板的下表面中部固定连接有探针，所述探针贯穿所述探针缓冲箱的下表面，所述绝缘弹簧板的下表面两侧均固定连接有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的一端固定连接在所述探针缓冲箱的内壁底部，所述探针缓冲箱的下表面中部固定连接有橡胶防护锥台。

优选地，所述主体的下部开设有电气室，所述电气室内安装有若干控制器，所述电气室的正面转动连接有安全门。

优选地，所述主体的上表面固定连接有操作面板，所述操作面板与所述控制器电性连接，所述控制器与所述电动滑轨一、电动滑轨二、气缸均进行电性连接。

优选地，所述转换槽的两侧开设有弧形边，所述测试板的一端与所述转换槽的两侧的距离满足所述测试板绕所述转轴进行转动。

(三)有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种量子芯片测试装置，具备以下有益效果：

1、本发明通过在动触极与静触极相分离时，静触极将信号反馈到控制器，使控制器控制气缸复位，使卡球脱离卡球孔，进而实现对测试板的解锁，反之同理，当动触极余静触极接触相接触时，控制器控制气缸输出，使卡球卡进卡球孔内，进而实现对测试板的锁定，避免在测试的过程中测试板出现误动导致探针检测的位置发生偏差，进而导致探针损坏以及芯片损坏。

2、本发明通过电动滑轨一与电动滑块一的滑动连接、电动滑轨二与电动滑块二的滑动连接等的配合使用，实现对探针的平面平移，同时在液压缸的配合作用下，整体实现了探针的升降平移，其中探针的升降平移，通过操作面板根据测试模具上对应位置对探针的行走路径进行设定，实现探针的自动化测试，测试结构根据芯片位置在操作面板上进行显示。

3、本发明通过当探针与芯片接触后，探针向下会导致压力弹簧压缩而发生形变，进而压力弹簧进行弹力，由于力的作用时相互的，压力弹簧对压力传感器施加同等大小的力，压力传感器根据设定的安全值进行实时监测，当压力传感器接收到的压力值达到设定值时，液压缸停止输出，此时探针对量子芯片施加的力满足探针与芯片紧密连接的连接，当测试完成后，液压缸复位，而探针在缓冲弹簧、压力弹簧的配合作用下复位，从而实现对探针下降高度的智能控制，进而避免调试的过程中，由于对新规格的芯片的调试，探针下降的高度无法准确的把控，易造成探针损坏的问题，同时提高了测试调试和正式测试的安全性。

附图说明

图1为本发明的立体结构图；

图2为本发明的爆炸视图；

图3为本发明的测试板结构图；

图4为本发明的测试板结构爆炸图；

图5为本发明的半圆形抵架与弧形抵座连接图；

图6为本发明的半圆形抵架与弧形抵座连接爆炸图；

图7为本发明的内腔内部结构爆炸图；

图8为本发明的探针缓冲箱内部结构简图。

图中：1、主体；2、转换槽；3、测试板；4、转轴；5、半圆形抵架；6、点触箱；7、弹簧基座；8、动触极；9、静触极；10、导杆；11、弧形抵座；12、复位弹簧；13、卡球孔；14、气缸；15、卡球；16、模具槽；17、限位柱；18、芯片放置槽；19、限位孔；20、内腔；21、电动滑轨一；22、电动滑块一；23、电动滑轨二；24、电动滑块二；25、探针缓冲箱；26、探针；27、压力传感器；28、压力弹簧；29、绝缘弹簧板；30、液压缸；31、缓冲弹簧；32、橡胶防护锥台；33、电气室；34、控制器；35、安全门；36、操作面板；37、测试模具。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

正如背景技术所介绍的，现有技术中存在的不足，为了解决如上的技术问题，本申请提出了一种量子芯片测试装置。

请参阅图1-8，一种量子芯片测试装置，包括主体1，所述主体1的一侧开设有转换槽2，所述转换槽2转动连接有测试板3，所述测试板3与所述转换槽2通过转轴4转动连接，所述测试板3的两侧中部均固定连接有半圆形抵架5，所述转换槽2的内壁一侧中部固定连接有点触箱6，所述点触箱6内壁滑动连接有弹簧基座7，所述弹簧基座7的一侧固定连接有动触极8，所述点触箱6内壁靠近所述动触极8的一侧中部固定连接有与所述动触极8相对应的静触极9，所述弹簧基座7远离所述动触极8的一侧中部固定连接有导杆10，所述导杆10贯穿所述点触箱6固定连接有与所述半圆形抵架5相对应的弧形抵座11，所述弹簧基座7远离所述动触极8的一侧中部与所述导杆10同轴心固定连接有复位弹簧12，所述复位弹簧12远离所述弹簧基座7的一端固定连接在所述点触箱6的内壁一侧。

进一步地，对于上述测试板3来说，所述测试板3的两侧的两端中部均开设有卡球孔13，所述转换槽2的内壁两侧的中部均固定连接有气缸14，所述气缸14的输出轴端部固定连接有与所述卡球孔13相对应的卡球15，从而在动触极8与静触极9相分离时，静触极9将信号反馈到控制器34，使控制器34控制气缸14复位，使卡球15脱离卡球孔13，进而实现对测试板3的解锁，反之同理，当动触极8余静触极9接触相接触时，控制器34控制气缸14输出，使卡球15卡进卡球孔13内，进而实现对测试板3的锁定，避免在测试的过程中测试板3出现误动导致探针26检测的位置发生偏差，进而导致探针损坏以及芯片损坏。

进一步地，对于上述测试板3来说，所述测试板3的上表面两侧均开设有模具槽16，所述模具槽16内设置有测试模具37，所述模具槽16的上表面两侧均开设有限位柱17，所述测试模具37的上表面开设有若干芯片放置槽18，所述测试模具37的上表面两侧均开设有与所述限位柱17相对应的限位孔19，所述限位柱17贯穿所述限位孔19实现对所述测试模具37的位置限定，从而通过限位柱17、限位孔19的配合使用实现对测试模具37的位置限定，此外，通过在测试模具37上开设有芯片放置槽18实现对量子芯片的固定。

进一步地，对于上述主体1来说，所述主体1的上部开设有内腔20，所述内腔20的顶部两侧均固定连接有电动滑轨一21，所述电动滑轨一21滑动连接有电动滑块一22，所述电动滑块一22的下表面固定连接有电动滑轨二23，所述电动滑轨二23滑动连接有电动滑块二24，所述电动滑块二24的下表面固定连接有液压缸30，所述液压缸30的输出轴固定连接有探针缓冲箱25，所述探针缓冲箱25的下表面贯穿并滑动连接有探针26，从而通过电动滑轨一21与电动滑块一22的滑动连接、电动滑轨二23与电动滑块二24的滑动连接等的配合使用，实现对探针26的平面平移，同时在液压缸30的配合作用下，整体实现了探针26的升降平移，其中探针26的升降平移，通过操作面板36根据测试模具37上对应位置对探针26的行走路径进行设定，实现探针的自动化测试，测试结构根据芯片位置在操作面板36上进行显示。

进一步地，对于上述探针缓冲箱25来说，所述探针缓冲箱25的内壁顶部固定连接有压力传感器27，所述压力传感器27的下表面固定连接有压力弹簧28，所述压力弹簧28的一端固定连接有绝缘弹簧板29，所述绝缘弹簧板29的下表面中部固定连接有探针26，所述探针26贯穿所述探针缓冲箱25的下表面，所述绝缘弹簧板29的下表面两侧均固定连接有缓冲弹簧31，所述缓冲弹簧31的一端固定连接在所述探针缓冲箱25的内壁底部，所述探针缓冲箱25的下表面中部固定连接有橡胶防护锥台32，从而当探针26与芯片接触后，探针26向下会导致压力弹簧28压缩而发生形变，进而压力弹簧28进行弹力，由于力的作用时相互的，压力弹簧28对压力传感器27施加同等大小的力，压力传感器27根据设定的安全值进行实时监测，当压力传感器27接收到的压力值达到设定值时，液压缸30停止输出，此时探针26对量子芯片施加的力满足探针26与芯片紧密连接的连接，当测试完成后，液压缸30复位，而探针在缓冲弹簧31、压力弹簧28的配合作用下复位，从而实现对探针下降高度的智能控制，进而避免调试的过程中，由于对新规格的芯片的调试，探针下降的高度无法准确的把控，易造成探针损坏的问题，同时提高了测试调试和正式测试的安全性。此外，具体应用时，液压缸30的有效行程满足探针26与量子芯片进行紧密接触。

进一步地，对于上述主体1来说，所述主体1的下部开设有电气室33，所述电气室33内安装有若干控制器34，所述电气室33的正面转动连接有安全门35，从而通过控制器34实现对量子芯片测试装置各动力元件控制。

进一步地，对于上述主体1来说，所述主体1的上表面固定连接有操作面板36，所述操作面板36与所述控制器34电性连接，所述控制器34与所述电动滑轨一21、电动滑轨二23、气缸14均进行电性连接，从而以操作面板36位终端，通过控制器34实现对电动滑轨一21、电动滑轨二23、气缸14等的智能化控制。

进一步地，对于上述转换槽2来说，所述转换槽2的两侧开设有弧形边，所述测试板3的一端与所述转换槽2的两侧的距离满足所述测试板3绕所述转轴4进行转动，从而通过转换槽2的一侧进行开设有弧边，使测试板3进行转换的过程中避免与主体1发生碰撞，保证测试板3的顺利转换。

工作原理：在使用时，测试模具37为成对使用，分别通过限位柱17、限位孔19等的配合使用，放置在测试板3上表面两侧的模具槽16内，将芯片分别放置在芯片放置槽18内，然后通过半圆形抵架5转动测试板，使测试板3转换位置，当半圆形抵架5与弧形抵座11接触时，至测试板3回正的过程中，半圆形抵架5挤压弧形抵座11，进而通过导杆10带动弹簧基座7和动触极8向静触极9移动，当测试板3回正时，静触极9与动触极8恰好接触，当静触极9与动触极8连通时，静触极9将信号传输到控制器34内，控制器34接收到信号后控制气缸14运动，使卡球15卡进卡球孔13内，实现对测试板3的锁定，锁定完成后，通过控制器34控制电动滑轨一21、电动滑轨二23、液压缸30等对探针进行升降平移，使探针26对芯片进行逐个测试，并将测试结果显示在操作面板36上，在对测试板3一侧的量子芯片进行测试时，可对测试板3另一侧进行放置芯片，当另一侧测试完成后，气缸14带动卡球15复位，测试板3解锁，然后转动测试板3，将测试好的芯片转出，另一侧的半圆形抵架5进入时，重复上述过程；

通过电动滑轨一21与电动滑块一22的滑动连接、电动滑轨二23与电动滑块二24的滑动连接等的配合使用，实现对探针26的平面平移，同时在液压缸30的配合作用下，整体实现了探针26的升降平移，其中探针26的升降平移，通过操作面板36根据测试模具37上对应位置对探针26的行走路径进行设定，实现探针的自动化测试，测试结构根据芯片位置在操作面板36上进行显示；

当探针26与芯片接触后，探针26向下会导致压力弹簧28压缩而发生形变，进而压力弹簧28进行弹力，由于力的作用时相互的，压力弹簧28对压力传感器27施加同等大小的力，压力传感器27根据设定的安全值进行实时监测，当压力传感器27接收到的压力值达到设定值时，液压缸30停止输出，此时探针26对量子芯片施加的力满足探针26与芯片紧密连接的连接，当测试完成后，液压缸30复位，而探针在缓冲弹簧31、压力弹簧28的配合作用下复位，从而实现对探针下降高度的智能控制，进而避免调试的过程中，由于对新规格的芯片的调试，探针下降的高度无法准确的把控，易造成探针损坏的问题，同时提高了测试调试和正式测试的安全性；

通过限位柱17、限位孔19的配合使用实现对测试模具37的位置限定，此外，通过在测试模具37上开设有芯片放置槽18实现对量子芯片的固定。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。