一种外置式GPU芯片测试装置

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种外置式GPU芯片测试装置。

背景技术

GPU是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备(如平板电脑、智能手机等)上图像运算工作的微处理器，GPU根据图形图像计算的特点设计，一块GPU设备上通常集成了数百至上千的轻量级计算核心，针对相互独立的SIMD、MIMD计算具有极高的计算能力，由于其并行加速等特性，GPU已经应用到各个领域。

GPU在生产时需要对其性能进行测试，GPU性能指标中温度指标比较重要，温度对GPU的影响最大，但在测试过程中大多是开放式的测试温度，GPU在使用的环境是在相对封闭的机箱中，温度和外界有一定的差距，这导致温度测试过程中误差较大。

现有技术中专利号为CN202010348397.9的中国发明公开了一种GPU性能测试装置，包括测试台，所述测试台顶部外壁的一侧开设有安装口，且安装口的内壁通过螺栓固定有机箱，所述机箱的两侧外壁均开设有矩形口，且两个矩形口的内壁均通过螺栓固定有进气格栅，所述机箱底部内壁均开设有等距离分布的气孔，所述机箱底部内壁通过螺栓固定有测试座，该发明通过在机箱内设置GPU的安装座，通过机箱来模拟GPU的工作环境，进而降低测试的误差，但是该装置对GPU测温并不是直接与GPU芯片相接触，存在一定的温差，测试结果不准确。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的问题，而提出的一种外置式GPU芯片测试装置。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种外置式GPU芯片测试装置，包括测试外壳，所述测试外壳内滑动连接有滑板，所述滑板外壁连接有测试座，所述测试座内连接有GPU主体，所述测试外壳的顶部连接有U形板，所述U形板外壁连接有第一电机，所述第一电机的输出端连接有转轴，所述转轴远离第一电机的一端穿过U形板并连接有第一转杆，所述第一转杆外壁连接有第一锥齿轮，所述第一转杆的底壁连接有L形板，所述L形板外壁连接有与第一锥齿轮相互啮合的第二锥齿轮，所述第二锥齿轮外壁连接有第一丝杆，所述第一丝杆外壁螺纹连接有套筒，所述套筒的底部连接有测温机构，所述测试外壳的外壁连接有显示屏。

优选的，所述测温机构包括管体，所述管体连接在套筒的底部，所述管体内壁连接有弹性元件，所述弹性元件远离管体内壁的一端连接有温度探头，所述温度探头滑动连接在管体内，所述温度探头与GPU主体活动相抵，且所述温度探头与显示屏电性连接。

优选的，所述温度探头两侧外壁均连接有限位块，所述管体内开凿有与限位块相配合的限位槽。

优选的，所述温度探头的外壁套接有橡胶套，所述橡胶套的底壁设置有弧形面，且所述橡胶套与GPU主体活动相抵。

优选的，所述U形板外壁连接有报警器，所述报警器与温度探头电性相连。

优选的，所述U形板外壁连接有第二电机，所述第二电机与报警器电性相连，所述第二电机的输出端连接有第二转杆，所述第二转杆远离第二电机的一端穿过U形板并连接有第一齿轮，所述第一转杆外壁套接有套管，所述套管外壁连接有与第一齿轮相配合的第二齿轮，所述套管外壁连接有转动座，所述转动座外壁连接有扇叶。

优选的，所述测试外壳的两侧外壁均设置有均匀分布的散热孔，所述测试外壳外壁连接有防尘板，所述防尘板设置在散热孔的外侧。

优选的，所述U形板内通过轴承转动连接有第三转杆，所述第三转杆外壁连接有蜗轮，所述第一转杆外壁连接有与蜗轮相互啮合的蜗杆。

优选的，所述第三转杆的两端均连接有第一连板，所述第一连板外壁转动连接有第二连板，所述第二连板远离第一连板的一端连接有移动板，所述移动板的底壁连接有刷板，所述刷板与防尘板的外壁活动相抵。

优选的，所述测试外壳的外壁连接有限位框，所述移动板滑动连接在限位框内。

与现有技术相比，本发明提供了一种外置式GPU芯片测试装置，具备以下有益效果：

1、该外置式GPU芯片测试装置，通过测试外壳来模拟机箱内GPU的工作环境，进而降低测试的误差，通过温度探头与GPU相抵，精准测量GPU的温度，且使温度探头呈螺旋状运动去动态测量GPU各个位置的温度，进而降低温度测量时的误差。

2、该外置式GPU芯片测试装置，通过在管体内壁与温度探头之间设置弹性元件，使温度探头适用于GPU主体表面，提高温度探头的适用性，且在温度探头的两侧设置橡胶套，避免温度探头在移动的过程中与GPU主体外侧相撞，对温度探头或者GPU主体造成损坏。

3、该外置式GPU芯片测试装置，通过在U形板外侧设置报警器，当温度探头检测到GPU主体工作时的温度过高时，会对工作人员进行提醒。

4、该外置式GPU芯片测试装置，当报警器发出警报时，第二电机运行，使第二电机的输出端通过第二转杆带动第一齿轮与套管外侧的第二齿轮相互啮合，使第二齿轮带动套管转动，套管带动转动座外侧的扇叶工作，对温度过高的GPU主体进行快速散热，避免GPU主体过热受损。

5、该外置式GPU芯片测试装置，通过第一转杆外侧的蜗杆与第三转杆外侧的蜗轮相互啮合，使第三转杆带动第一连板转动，第一连板带动第二连板以与第一连板交接处为圆心进行转动，进而带动移动板上下往复移动，使刷板对防尘板外侧粘附的杂质灰尘进行处理，避免影响测试外壳的散热效果。

附图说明

图1为本发明的结构示意图一；

图2为本发明的结构示意图二；

图3为本发明的图2中A部分的结构示意图；

图4为本发明的测试外壳的内部结构示意图；

图5为本发明的第一转杆的外部结构示意图一；

图6为本发明的第一转杆的外部结构示意图二；

图7为本发明的测温机构的结构示意图。

图中：1、测试外壳；2、滑板；201、测试座；3、GPU主体；4、U形板；5、第一电机；501、第一转杆；5011、第一锥齿轮；6、L形板；601、第二锥齿轮；602、第一丝杆；6021、套筒；7、显示屏；8、管体；801、弹性元件；802、温度探头；8021、限位块；8022、橡胶套；803、限位槽；9、报警器；10、第二电机；11、第二转杆；111、第一齿轮；12、套管；121、第二齿轮；122、转动座；1221、扇叶；13、散热孔；131、防尘板；14、第三转杆；141、蜗轮；142、第一连板；143、第二连板；144、移动板；15、蜗杆；16、刷板；17、限位框。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“顶/底端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通；对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例1：

参照图1-7，一种外置式GPU芯片测试装置，包括测试外壳1，测试外壳1内滑动连接有滑板2，滑板2外壁连接有测试座201，测试座201内连接有GPU主体3，测试外壳1的顶部连接有U形板4，U形板4外壁连接有第一电机5，第一电机5的输出端连接有转轴，转轴远离第一电机5的一端穿过U形板4并连接有第一转杆501，第一转杆501外壁连接有第一锥齿轮5011，第一转杆501的底壁连接有L形板6，L形板6外壁连接有与第一锥齿轮5011相互啮合的第二锥齿轮601，第二锥齿轮601外壁连接有第一丝杆602，第一丝杆602外壁螺纹连接有套筒6021，套筒6021的底部连接有测温机构，测试外壳1的外壁连接有显示屏7。

测温机构包括管体8，管体8连接在套筒6021的底部，管体8内壁连接有弹性元件801，弹性元件801远离管体8内壁的一端连接有温度探头802，温度探头802滑动连接在管体8内，温度探头802与GPU主体3活动相抵，且温度探头802与显示屏7电性连接。

温度探头802两侧外壁均连接有限位块8021，管体8内开凿有与限位块8021相配合的限位槽803。

装置在使用时，将GPU安装在测试座201上，然后通电正常检测GPU，GPU在工作时产生热量，不同工作环境下GPU的温度不同，通过控制第一电机5运行，使第一电机5的输出端带动第一转杆501转动，使第一转杆501带动L形板6转动，在此过程中，第一锥齿轮5011与第二锥齿轮601相互啮合，使第二锥齿轮601带动第一丝杆602转动，进而使套筒6021在第一丝杆602外侧移动，使测温机构可以呈螺旋状运动去动态测量GPU各个位置的温度，并在显示屏7中显示所测温度，在管体8内壁与温度探头802之间设置弹性元件801，使温度探头802适用于GPU主体3表面，提高温度探头802的适用性，避免对温度探头802或者GPU主体3造成损坏，本发明通过测试外壳1来模拟机箱内GPU的工作环境，进而降低测试的误差，通过温度探头802与GPU相抵，精准测量GPU的温度，且使温度探头802呈螺旋状运动去动态测量GPU各个位置的温度，进而降低温度测量时的误差。

实施例2：

参照图2-5，一种外置式GPU芯片测试装置，与实施例1基本相同，更进一步的是，U形板4外壁连接有报警器9，报警器9与温度探头802电性相连。

U形板4外壁连接有第二电机10，第二电机10与报警器9电性相连，第二电机10的输出端连接有第二转杆11，第二转杆11远离第二电机10的一端穿过U形板4并连接有第一齿轮111，第一转杆501外壁套接有套管12，套管12外壁连接有与第一齿轮111相配合的第二齿轮121，套管12外壁连接有转动座122，转动座122外壁连接有扇叶1221。

通过在U形板4外侧设置报警器9，当温度探头802检测到GPU主体3工作时的温度过高时，会对工作人员进行提醒，当报警器9发出警报时，第二电机10运行，使第二电机10的输出端通过第二转杆11带动第一齿轮111与套管12外侧的第二齿轮121相互啮合，使第二齿轮121带动套管12转动，套管12带动转动座122外侧的扇叶1221工作，对温度过高的GPU主体3进行快速散热，避免GPU主体3过热受损。

实施例3：

参照图1-7，一种外置式GPU芯片测试装置，与实施例2基本相同，更进一步的是，温度探头802的外壁套接有橡胶套8022，橡胶套8022的底壁设置有弧形面，且橡胶套8022与GPU主体3活动相抵；避免温度探头802在移动的过程中与GPU主体3外侧相撞，对温度探头802或者GPU主体3造成损坏。

测试外壳1的两侧外壁均设置有均匀分布的散热孔13，测试外壳1外壁连接有防尘板131，防尘板131设置在散热孔13的外侧；通过散热孔13对测试外壳1内部产生的热量进行散热，通过在散热孔13的外侧设置防尘板131，避免灰尘进入测试外壳1中并落在GPU主体3上，影响GPU主体3的温度测试。

实施例4：

参照图1-4，一种外置式GPU芯片测试装置，与实施例3基本相同，更进一步的是，U形板4内通过轴承转动连接有第三转杆14，第三转杆14外壁连接有蜗轮141，第一转杆501外壁连接有与蜗轮141相互啮合的蜗杆15。

第三转杆14的两端均连接有第一连板142，第一连板142外壁转动连接有第二连板143，第二连板143远离第一连板142的一端连接有移动板144，移动板144的底壁连接有刷板16，刷板16与防尘板131的外壁活动相抵。

测试外壳1的外壁连接有限位框17，移动板144滑动连接在限位框17内。

通过第一转杆501转动时其外侧的蜗杆15与第三转杆14外侧的蜗轮141相互啮合，使第三转杆14带动第一连板142转动，第一连板142带动第二连板143以与第一连板142交接处为圆心进行转动，进而带动移动板144上下往复移动，使刷板16对防尘板131外侧粘附的杂质灰尘进行处理，避免影响测试外壳1的散热效果。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。