天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法和装置

技术领域

本发明涉及天线技术领域，更具体地涉及一种天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法和装置。

背景技术

为了提高信号探测的灵敏度，射电望远镜正朝着大口径、高频段方向发展。受天线自身重力、风载荷、日照温度等因素影响，这些大型射电望远镜的指向会发生偏离，副面会发生偏置，包括副面位置偏移和副面姿态倾斜。为了检测大型射电望远镜的指向偏离与副面随动误差，通常需要在天线俯仰支撑装置或是副面支撑装置上贴一些传感器，例如在A字梁上贴一些温度和应变传感器用于监测形变，从而间接测量出指向偏离情况。而后，根据测量结果驱动方位俯仰控制系统、副面位姿控制系统抵消有关形变。然而，随着天线口径的不断增大，其受到自身重力、风载荷以及日照温度的影响越来越大，传统指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法已经难以满足实际需要。这些测量方法在速度上无法跟上风载荷的变化，也不能实现对风载荷、日照温度影响下天线指向偏离与副面随动误差的实时修正。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供了一种天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法和装置。

根据本发明的第一个方面，提供了一种天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法，包括：利用放置在天线焦平面的相控阵馈源获取焦面场数据；根据所述焦面场数据确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场；根据所述天线口径场得到当前天线的指向偏离与副面随动误差信息；其中，所述指向偏离与副面随动误差信息包括指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值；以及在确定所述指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值中的任一数值大于等于相应预设值的情况下，根据所述当前天线的指向偏离与副面随动误差信息进行修正处理，直至与修正后的指向偏离与副面随动误差信息分别对应的指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值均小于相应预设值。

根据本发明的实施例，所述利用放置在天线焦平面的相控阵馈源获取焦面场数据，包括：利用放置在天线焦平面的相控阵馈源接收或跟踪扫描沿轴向入射天线的平面电磁波信号获取焦面场数据；其中，所述相控阵馈源包括密集馈源阵列和/或可重构馈源阵列。

根据本发明的实施例，所述根据所述焦面场数据确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场，包括：根据所述焦面场数据通过坐标变换处理和二维傅里叶变换处理，确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场。

根据本发明的实施例，所述在确定所述指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值中的任一数值大于等于相应预设值的情况下，根据所述当前天线的指向偏离与副面随动误差信息进行修正处理，直至与修正后的指向偏离与副面随动误差信息分别对应的指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值均小于相应预设值，包括：根据所述当前天线的指向偏离与副面随动误差信息，确定指向偏离与副面随动误差量的相反数和所述相控阵馈源中各个阵元的幅度与相位调控值；以及根据所述相反数和所述幅度与相位调控值进行修正处理。

根据本发明的实施例，与所述指向偏离值对应的预设值为0.001秒，与所述副面轴向偏移值对应的预设值为0.001毫米，与所述副面横向偏移值对应的预设值为0.001毫米，与所述副面倾斜值对应的预设值为0.001秒。

本发明的第二方面提供了一种天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正装置，包括：获取模块，用于利用放置在天线焦平面的相控阵馈源获取焦面场数据；确定模块，用于根据所述焦面场数据确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场；获得模块，用于根据所述天线口径场得到当前天线的指向偏离与副面随动误差信息；其中，所述指向偏离与副面随动误差信息包括指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值；以及修正模块，用于在确定所述指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值中的任一数值大于等于相应预设值的情况下，根据所述当前天线的指向偏离与副面随动误差信息进行修正处理，直至与修正后的指向偏离与副面随动误差信息分别对应的指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值均小于相应预设值。

本发明的第三方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序，其中，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得一个或多个处理器执行上述公开的方法。

本发明的第四方面还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有可执行指令，该指令被处理器执行时使处理器执行上述公开的方法。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述内容以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示意性示出了根据本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法的流程图；

图2示意性示出了利用焦平面密集馈源阵列实时测量天线反射面形变原理图；

图3示意性示出了利用焦平面可重构馈源阵列快速测量天线反射面形变原理图；

图4示意性示出了主焦天线抛物反射面及焦平面坐标系示意图；

图5示意性示出了指向偏离对口径场的影响坐标系统示意图；

图6示意性示出了副面轴向偏移对口径场的影响坐标系统示意图；

图7示意性示出了副面横向偏移对口径场的影响坐标系统示意图；

图8示意性示出了副面倾斜对口径场的影响坐标系统示意图；

图9示意性示出了形变测量与修正系统示意图；

图10示意性示出了根据本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正装置的结构框图；以及

图11示意性示出了根据本发明实施例的适于实现天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法的电子设备的方框图。

具体实施方式

以下，将参照附图来描述本发明的实施例。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本发明的范围。在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本发明实施例的全面理解。然而，明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本发明的概念。

在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本发明。在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征、步骤、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、步骤、操作或部件。

在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义。应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释。

在使用类似于“A、B和C等中至少一个”这样的表述的情况下，一般来说应该按照本领域技术人员通常理解该表述的含义来予以解释(例如，“具有A、B和C中至少一个的系统”应包括但不限于单独具有A、单独具有B、单独具有C、具有A和B、具有A和C、具有B和C、和/或具有A、B、C的系统等)。

通过图1对公开实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法进行详细描述。

图1示意性示出了根据本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法的流程图。如图1所示，该实施例包括操作S101～操作S104。

在操作S101，利用放置在天线焦平面的相控阵馈源获取焦面场数据。

例如，利用放置在天线焦平面的相控阵馈源接收或跟踪扫描沿轴向入射天线的平面电磁波信号获取焦面场数据；其中，相控阵馈源包括密集馈源阵列和/或可重构馈源阵列。

相控阵馈源是放置在天线焦平面的一组馈源阵列。可以理解，天线指向偏离与副面随动误差会影响到天线焦平面的场分布，通过理论推导，可以根据相控阵馈源捕获的焦面场采样数据快速测量出指向偏离与副面随动误差情况，而后通过反馈给方位俯仰控制系统、副面位姿控制系统，或是恰当地配置相控阵馈源中各个阵元的幅值和相位，可以实现对天线指向偏离与副面随动误差的修正，从而实现实时测量与快速修正。

在操作S102，根据焦面场数据确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场。

例如，根据焦面场数据通过坐标变换处理和二维傅里叶变换处理，确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场。

在操作S103，根据天线口径场得到当前天线的指向偏离与副面随动误差信息；其中，指向偏离与副面随动误差信息包括指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值。

可以理解，可以基于指向偏离与副面随动误差反演公式，根据天线口径场计算得到当前天线的指向偏离与副面随动误差信息。

例如，指向偏离与副面随动误差信息包括指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值。

在操作S104，在确定指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值中的任一数值大于等于相应预设值的情况下，根据当前天线的指向偏离与副面随动误差信息进行修正处理，直至与修正后的指向偏离与副面随动误差信息分别对应的指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值均小于相应预设值。

例如，根据当前天线的指向偏离与副面随动误差信息，确定指向偏离与副面随动误差量的相反数和相控阵馈源中各个阵元的幅度与相位调控值；以及根据相反数和幅度与相位调控值进行修正处理。

例如，与所述指向偏离值对应的预设值为0.001秒，与所述副面轴向偏移值对应的预设值为0.001毫米，与所述副面横向偏移值对应的预设值为0.001毫米，与所述副面倾斜值对应的预设值为0.001秒。

例如，可以采用△θ

举例来说，天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法包括焦面场采集步骤、二维傅里叶变换步骤、指向偏离与副面随动误差反演步骤和指向偏离与副面随动误差修正步骤。

焦面场采集步骤，如为通过放置在焦平面的密集馈源阵列或可重构馈源阵列来直接接收或是跟踪扫描沿轴向入射天线的平面电磁波信号。

二维傅里叶变换步骤，如为根据焦面场采集步骤获得的天线焦面场数据，通过坐标变换、二维傅里叶变换等公式求出当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场。

指向偏离与副面随动误差反演步骤，如为根据指向偏离与副面随动误差反演公式，求出指向偏离与副面随动误差信息。

指向偏离与副面随动误差修正步骤，如为将指向偏离与副面随动误差反演步骤中求得的当前指向偏离与副面随动误差信息反馈给方位俯仰控制系统、副面位姿控制系统以及波束合成分系统，使二者分别通过机械方式、电子方式校正和补偿指向偏离与副面随动误差，以进行修正处理。

通过不断的修正处理，直至与修正后的指向偏离与副面随动误差信息分别对应的指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值均小于相应预设值时停止修正。例如，可以重复焦面场采集步骤、二维傅里叶变换步骤、指向偏离与副面随动误差反演步骤和指向偏离与副面随动误差修正步骤，直至指向偏离与副面随动误差反演步骤中的指向偏离值小于△θ

可以看出，本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法不但避免了传统测量方法不能实时或准实时地测量出指向偏离与副面随动误差，并且不需要布置大量的传感器。同时，本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法的指向偏离修正速度、副面随动误差修正速度能够跟上风载荷的变化。从而有利于根据相控阵馈源获得的焦平面场分布快速实时地测量出天线指向偏离与副面随动误差，通过反馈给方位俯仰控制系统、副面位姿控制系统以及波束合成分系统，可以从机械和电子补偿的角度快速修正天线指向偏离与副面随动误差。

本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法，通过放置在天线焦平面的相控阵馈源采集焦面场数据，根据焦面场和口径场的二维傅里叶变换关系求出口径场，再根据口径场分布实时地反演出天线指向偏离与副面随动误差情况。最后，通过反馈给方位俯仰控制系统、副面位姿控制系统，或是利用共轭场匹配法恰当地配置相控阵馈源中各个阵元的幅值和相位，可以快速修正指向偏离和副面随动误差。

为了更好的理解本发明，下面结合实施例进一步阐述本发明的内容，但本发明不仅仅局限于下面实施例。

图2示意性示出了利用焦平面密集馈源阵列实时测量天线反射面形变原理图；其中，左半部分，即(a)为主焦天线反射面形变测量；右半部分，即(b)为卡焦天线反射面形变测量。平面电磁波信号沿轴向入射天线，经过反射面反射，放置在焦平面的密集馈源阵列可接收到信号。该密集馈源阵列各个阵元的幅度、相位均可独立地进行调控，也称相控阵馈源；相控阵馈源中位于焦点上的阵元，称为参考阵元，即图2中的a1阵元。对于主焦天线，反射面为抛物面；对于卡焦天线，主反射面为抛物面。

图3示意性示出了利用焦平面可重构馈源阵列快速测量天线反射面形变原理图；其中，左半部分，即(a)为主焦天线反射面形变测量；右半部分，即(b)为卡焦天线反射面形变测量。平面电磁波信号沿轴向入射天线，经过反射面反射，放置在焦平面的可重构馈源阵列可接收到信号。该可重构馈源阵列各个阵元的幅度、相位均可独立地进行调控，也称相控阵馈源；相控阵馈源中位于焦点上的阵元，称为参考阵元，即图3中的a1阵元。对于主焦天线，反射面为抛物面；对于卡焦天线，主反射面为抛物面。

阵元a1、b1、c1、d1、e1的支架彼此间通过刚连接方式连在一起，也可以将这些阵元支架做成一个整体。阵元可以在阵元支架上移动从而实现阵元位置调整。阵元支架上放置阵元的位置可调所带来的好处是可以根据实际观测需要调整各个阵元的位置或是改用不同大小的阵元。

可重构馈源阵列测量时需要各个阵元扫描焦平面，以图3为例，通过刚连接方式连在一起的5个阵元的阵元支架逆时针旋转运动一圈，便可以带动阵元a1、b1、c1、d1、e1扫描完焦平面。缩短机械扫描用时的方法之一是使用更多的阵元，例如在图3中阵元b1、c1、d1、e1对面分别增设阵元b2、c2、d2、e2，则阵元支架旋转运动半圈就可带动阵元扫描完焦平面，即扫描用时可缩短一半；然而，增加阵元数目的同时也会带来阵元互耦问题，特别是当阵元间距很小时，互耦影响很大。

通过恰当地设计各个扫描阵元的位置，使之分散开来，阵元数目相对很少的可重构馈源阵列的互耦影响可以变得较小。当可重构馈源阵列的阵元数目减至1时，阵元互耦影响不复存在，但此时阵元既需做周向运动又需做径向运动才能扫描完焦平面，因此耗时更长。

图4示意性示出了主焦天线抛物反射面及焦平面坐标系示意图。

其中B是抛物面S的顶点；P是抛物面S上任意一点；O是点P在抛物面轴线上的垂足；抛物面焦点o为原点；抛物面轴线为z轴；选取任意x轴，按照右手螺旋定则构建空间直角坐标系oxyz；过O点的局部坐标系X轴平行于x轴；馈源处在点P'，横向偏离抛物面焦点o的距离oP′＝δ；点P到抛物面焦点o的距离oP＝r。根据标量衍射理论：

其中，E(δ,φ′)是焦平面场分布；k是波数，即k＝2π/λ，λ是工作波长；u＝sinθ，并且当θ取得最大值

令p＝ucosφ/λ，q＝usinφ/λ，x＝tcosφ′，y＝tsinφ′，上式变为

其中，

因此，对E(x,y)施加二维傅里叶变换即可得到

G(p,q)＝F[E(x,y)](3)

其中，F[...]表示二维傅里叶变换，

于是有

口径面场分布

其中

于是，得到口径面相位分布

其中，Phase{...}表示求相位。

图5示意性示出了指向偏离对口径场的影响坐标系统示意图。入射平面波方向向量：

y＝-xcotφ

口径面上任意点P(x,y)到相位基准线的垂足是P′，改设点P坐标为(x

y-y

联立相位基准线方程和直线P′P对应的方程：

求得点P′的坐标为

口径面基线矢量：

因此，时延：

将点P坐标改回(x,y)，得到口径面任意点的相位延迟：

其中，k＝2π/λ，λ是工作波长；r

图6示意性示出了副面轴向偏移对口径场的影响坐标系统示意图。副面轴向偏移Δz

Δz

如果将口径面中心点对应的路径差置零，那么可得到口径面任意点的相位延迟：

其中，

图7示意性示出了副面横向偏移对口径场的影响坐标系统示意图。副面横向偏移Δr

Δr

如果考虑横向偏移量Δr

Δr

口径面任意点的相位延迟：

图8示意性示出了副面倾斜对口径场的影响坐标系统示意图。副面绕其顶点V旋转了一个微小角度Δα，副面上任意点P

假设线长VP

副面倾斜Δα导致的路径差近似等于上图8中-P

在RtΔP

在ΔF

以及/>

其中，c、a分别是副面(双曲线)的半焦距、实半轴。于是得到Lsinθ

由于∠VP

于是，线段P

线段P

望远镜的放大系数：

其中，e是副面(双曲线)的离心率。

综上，副面倾斜Δα导致的路径差近似等于图8中-P

-Δα(c-a)(sinθ

如果考虑副面倾斜Δα所在转角φ

-Δα(c-a)(sinθ

口径面任意点的相位延迟：

根据式(6)相位场分布，采用最小二乘法拟合出式(11)中的未知量△θ、φ、△z

根据前述推导出的天线口径面场分布以及上述公式，可以计算出指向偏离与副面随动误差信息：△θ、△z

图9示意性示出了形变测量与修正系统示意图。点源或展源射电信号经天线反射汇聚后到达相控阵馈源，相控阵馈源的每个阵元均接收到一部能量，其接收信号可表示为T(Δx,Δy)。经过低噪放大器LNA、下变频DC和A/D采样后，进入FPGA阵列。

在FPGA阵列中，首先进行焦面场幅度与相位解析，将指向偏差反馈量、主面形变反馈量、副面随动反馈量分别反馈给天线方位俯仰伺服驱动系统、主面控制系统以及副面控制系统；其中，指向偏离与副面形变反馈量即前述指向偏离与副面随动误差量的相反数。然后，进行多波束加权合成处理，用于修正指向偏离与副面随动误差的波束加权值即前述T″(Δx,Δy)，合成后的多波束数据传入GPU中进行后续的处理和应用。

图10示意性示出了根据本发明实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正装置的结构框图。

如图10所示，该实施例的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正装置1000包括获取模块1010、确定模块1020、获得模块1030和修正模块1040。

获取模块1010，用于利用放置在天线焦平面的相控阵馈源获取焦面场数据；确定模块1020，用于根据所述焦面场数据确定与当前天线指向偏离与副面随动误差对应的天线口径场；获得模块1030，用于根据所述天线口径场得到当前天线的指向偏离与副面随动误差信息；其中，所述指向偏离与副面随动误差信息包括指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值；以及修正模块1040，用于在确定所述指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值中的任一数值大于等于相应预设值的情况下，根据所述当前天线的指向偏离与副面随动误差信息进行修正处理，直至与修正后的指向偏离与副面随动误差信息分别对应的指向偏离值、副面轴向偏移值、副面横向偏移值和副面倾斜值均小于相应预设值。

根据本发明的实施例，获取模块1010、确定模块1020、获得模块1030和修正模块1040中的任意多个模块可以合并在一个模块中实现，或者其中的任意一个模块可以被拆分成多个模块。或者，这些模块中的一个或多个模块的至少部分功能可以与其他模块的至少部分功能相结合，并在一个模块中实现。根据本发明的实施例，获取模块1010、确定模块1020、获得模块1030和修正模块1040中的至少一个可以至少被部分地实现为硬件电路，例如现场可编程门阵列(FPGA)、可编程逻辑阵列(PLA)、片上系统、基板上的系统、封装上的系统、专用集成电路(ASIC)，或可以通过对电路进行集成或封装的任何其他的合理方式等硬件或固件来实现，或以软件、硬件以及固件三种实现方式中任意一种或以其中任意几种的适当组合来实现。或者，获取模块1010、确定模块1020、获得模块1030和修正模块1040中的至少一个可以至少被部分地实现为计算机程序模块，当该计算机程序模块被运行时，可以执行相应的功能。

图11示意性示出了根据本发明实施例的适于实现天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法的电子设备的方框图。

如图11所示，根据本发明实施例的电子设备1100包括处理器1101，其可以根据存储在只读存储器(ROM)1102中的程序或者从存储部分1108加载到随机访问存储器(RAM)1103中的程序而执行各种适当的动作和处理。处理器1101例如可以包括通用微处理器(例如CPU)、指令集处理器和/或相关芯片组和/或专用微处理器(例如，专用集成电路(ASIC))等等。处理器1101还可以包括用于缓存用途的板载存储器。处理器1101可以包括用于执行根据本发明实施例的方法流程的不同动作的单一处理单元或者是多个处理单元。

在RAM 1103中，存储有电子设备1100操作所需的各种程序和数据。处理器1101、ROM1102以及RAM 1103通过总线1104彼此相连。处理器1101通过执行ROM 1102和/或RAM1103中的程序来执行根据本发明实施例的方法流程的各种操作。需要注意，所述程序也可以存储在除ROM 1102和RAM 1103以外的一个或多个存储器中。处理器1101也可以通过执行存储在所述一个或多个存储器中的程序来执行根据本发明实施例的方法流程的各种操作。

根据本发明的实施例，电子设备1100还可以包括输入/输出(I/O)接口1105，输入/输出(I/O)接口1105也连接至总线1104。电子设备1100还可以包括连接至I/O接口1105的以下部件中的一项或多项：包括键盘、鼠标等的输入部分1106；包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分1107；包括硬盘等的存储部分1108；以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分1109。通信部分1109经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器1110也根据需要连接至I/O接口1105。可拆卸介质1111，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器1110上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分1108。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是上述实施例中描述的设备/装置/系统中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该设备/装置/系统中。上述计算机可读存储介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被执行时，实现根据本发明实施例的方法。

根据本发明的实施例，计算机可读存储介质可以是非易失性的计算机可读存储介质，例如可以包括但不限于：便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。例如，根据本发明的实施例，计算机可读存储介质可以包括上文描述的ROM1102和/或RAM 1103和/或ROM 1102和RAM 1103以外的一个或多个存储器。

本发明的实施例还包括一种计算机程序产品，其包括计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。当计算机程序产品在计算机系统中运行时，该程序代码用于使计算机系统实现本发明实施例所提供的天线指向偏离与副面随动误差的测量与修正方法。

在该计算机程序被处理器1101执行时执行本发明实施例的系统/装置中限定的上述功能。根据本发明的实施例，上文描述的系统、装置、模块、单元等可以通过计算机程序模块来实现。

在一种实施例中，该计算机程序可以依托于光存储器件、磁存储器件等有形存储介质。在另一种实施例中，该计算机程序也可以在网络介质上以信号的形式进行传输、分发，并通过通信部分1109被下载和安装，和/或从可拆卸介质1111被安装。该计算机程序包含的程序代码可以用任何适当的网络介质传输，包括但不限于：无线、有线等等，或者上述的任意合适的组合。

在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分1109从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质1111被安装。在该计算机程序被处理器1101执行时，执行本发明实施例的系统中限定的上述功能。根据本发明的实施例，上文描述的系统、设备、装置、模块、单元等可以通过计算机程序模块来实现。

根据本发明的实施例，可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明实施例提供的计算机程序的程序代码，具体地，可以利用高级过程和/或面向对象的编程语言、和/或汇编/机器语言来实施这些计算程序。程序设计语言包括但不限于诸如Java，C++，python，“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

附图中的流程图和框图，图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

本领域技术人员可以理解，本发明的各个实施例和/或权项中记载的特征可以进行多种组合和/或结合，即使这样的组合或结合没有明确记载于本发明中。特别地，在不脱离本发明精神和教导的情况下，本发明的各个实施例和/或权项中记载的特征可以进行多种组合和/或结合。所有这些组合和/或结合均落入本发明的范围。

以上对本发明的实施例进行了描述。但是，这些实施例仅仅是为了说明的目的，而并非为了限制本发明的范围。尽管在以上分别描述了各实施例，但是这并不意味着各个实施例中的措施不能有利地结合使用。本发明的范围由所附权项及其等同物限定。不脱离本发明的范围，本领域技术人员可以做出多种替代和修改，这些替代和修改都应落在本发明的范围之内。