线圈的保持装置

技术领域

本公开涉及线圈的保持装置。

背景技术

在日本特开2013-017266号公报中公开了一种在集中卷绕盒式线圈的制造过程中支承线圈的夹具。

集中卷绕盒式线圈形成为螺旋状，因此在层叠方向上产生倾斜。例如，在想要检查线圈的层叠方向的厚度时等，由于产生倾斜，因此难以准确地测定厚度。在集中卷绕盒式线圈中，要求不倾斜地载置线圈。

发明内容

本公开是为了解决这样的课题而完成的，其目的在于提供一种能够不倾斜地载置线圈的线圈的保持装置。

本公开的一个方案的线圈的保持装置载置层叠为多层的集中卷绕盒式线圈，其中，所述线圈的保持装置具备使所述集中卷绕盒式线圈落座的多个落座部，所述多个落座部包括铅垂方向的高度为第一高度的第一落座部以及与所述第一高度不同的第二高度的第二落座部。

在上述线圈的保持装置中，也可以是，所述集中卷绕盒式线圈具有上表面及下表面，各落座部具有与所述下表面接触并使所述集中卷绕盒式线圈落座的座面，所述第一落座部的第一座面相对于测定所述集中卷绕盒式线圈的所述铅垂方向的厚度的探头所接触的所述上表面的接触点位于所述铅垂方向的下方。

在上述线圈的保持装置中，也可以是，还具备调整机构，所述调整机构使所述落座部沿铅垂方向移动，调整所述铅垂方向的高度。

根据本公开，能够提供一种能够不倾斜地载置线圈的线圈的保持装置。

本公开的上述内容及其他目的、特征和优点将从下面给出的详细描述和仅通过说明的方式给出的附图中得到更充分的理解，因此不被视为限制了本公开。

附图说明

图1是例示比较例的线圈的俯视图。

图2A是例示比较例的线圈的保持装置的剖视图，示出图1的II-II线的截面。

图2B是例示比较例的线圈的保持装置的剖视图，示出图1的II-II线的截面。

图3A是例示在比较例的线圈的厚度的测定中线圈的各层浮起的状态的剖视图。

图3B是例示在比较例的线圈的厚度的测定中线圈倾斜的状态的剖视图。

图4A是例示在比较例的线圈的宽度的测定中线圈的各层错开的状态的剖视图。

图4B是例示在比较例的线圈的宽度的测定中线圈倾斜的状态的剖视图。

图5是例示实施方式1的线圈的俯视图。

图6A是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VIA-VIA线的截面。

图6B是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VIB-VIB线的截面。

图7A是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VII-VII线的截面。

图7B是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VII-VII线的截面。

图8是例示实施方式1的另一例的线圈的保持装置的剖视图。

图9是例示实施方式2的线圈的保持装置的俯视图。

具体实施方式

以下，参照附图对本实施方式的具体结构进行说明。以下的说明示出本公开的优选的实施方式，本公开的范围并不限定于以下的实施方式。另外，本实施方式中说明的全部结构未必是作为用于解决课题的手段所必须的。为了明确说明，以下的记载及附图适当进行省略及简化。在各附图中，对相同的要素标注相同的附图标记，根据需要省略重复说明。

在说明实施方式的线圈的保持装置之前，对比较例的线圈的保持装置进行说明。并且，在对比较例的线圈的保持装置的课题进行说明之后，一边与比较例进行对比，一边对本实施方式的线圈的保持装置进行说明。由此，使本实施方式的线圈的保持装置更加明确。需要说明的是，比较例的线圈的保持装置及其课题也包含在实施方式的技术思想中。

(比较例)

图1是例示比较例的线圈的俯视图。图2A及图2B是例示比较例的线圈的保持装置的剖视图，示出图1的II-II线的截面。如图1、图2A及图2B所示，比较例的线圈10的保持装置101例如具备工作台100。工作台100载置线圈10。因此，线圈10载置在工作台100上。线圈10例如用于电机。需要说明的是，线圈10的用途不限定于电机。

工作台100具有水平的面。在此，为了便于说明线圈10的保持装置101，导入XYZ正交坐标轴系统。例如，将铅垂方向设为Z轴方向，将水平面设为XY平面。

线圈10例如是集中卷绕盒式线圈。线圈10通过将扁平线以螺旋状层叠为多层而成。需要说明的是，线圈10不限于扁平线，也可以是将其他形状的导线以螺旋状层叠为多层的结构。线圈10在Z轴方向上层叠。线圈10也可以是将扁平线绕中心轴卷绕成螺旋状的结构。在该情况下，线圈10以中心轴沿着Z轴方向的方式载置。线圈10具有上表面11及下表面12。线圈10的上表面11朝向+Z轴方向侧，线圈10的下表面12朝向-Z轴方向侧。

将线圈10的层叠方向的长度称为厚度A1。如图2A及图2B所示，在将层叠方向设为Z轴方向的情况下，厚度A1为Z轴方向的长度。因此，厚度A1是铅垂方向的长度。厚度A1是Z轴方向上的线圈10的上表面11与线圈的下表面12之间的长度。

将与线圈10的层叠方向正交的方向的扁平线的间隔称为宽度A2及宽度A3。例如，宽度A2是隔着线圈10的中心轴在X轴方向上相向的扁平线的间隔。因此，宽度A2是在X轴方向上相向的侧面13之间的长度。宽度A3是隔着线圈10的中心轴在Y轴方向上相向的扁平线的间隔。因此，宽度A3是在Y轴方向上相向的侧面13之间的长度。

线圈10的厚度A1例如通过探头21的接触测定来实施。具体而言，如图2A所示，首先，使探头21与载置线圈10的工作台100接触。由此，探头21测定线圈10的下表面12的位置。接着，使探头21与线圈10的上表面11接触。由此，探头21测定线圈10的上表面11的位置。并且，探头21通过从上表面11的位置减去下表面12的位置，从而测定线圈10的厚度A1。

线圈10的宽度A2例如通过基于投影的图像测定来实施。具体而言，如图2B所示，配置于线圈10的下方的光源22从下方对线圈10照射光。通过线圈10的侧面13之间的光经由配置于线圈10的上方的透镜23而作为图像被取得。通过测定所取得的图像中的线圈10的侧面13之间的距离，从而测定线圈10的宽度A2及宽度A3。

然而，在由线圈10的夹紧件等进行的约束不适当的情况下，无法测定准确的厚度A1。图3A是例示在比较例的线圈10的厚度A1的测定中线圈10的各层浮起的状态的剖视图。如图3A所示，在线圈10的各层浮起的状态下，无法测定准确的线圈10的厚度A1。图3B是例示在比较例的线圈10的厚度A1的测定中线圈10倾斜的状态的剖视图。如图3B所示，在线圈10倾斜的状态下，无法测定准确的线圈10的厚度A1。

另外，在由线圈10的夹紧件等进行的约束不适当的情况下，无法测定准确的线圈10的侧面13之间的宽度A2及宽度A3。图4A是例示在比较例的线圈10的宽度A2及宽度A3的测定中线圈10的各层错开的状态的剖视图。如图4A所示，在线圈10的各层错开的状态下，无法测定准确的线圈10的宽度A2及宽度A3。图4B是例示在比较例的线圈10的宽度A2及宽度A3的测定中线圈10倾斜的状态的剖视图。如图4A所示，在线圈10倾斜的状态下，无法测定准确的线圈10的宽度A2及宽度A3。

作为产生这样的问题的原因，发现了以下的课题。

(I)集中卷绕线圈10在Z轴方向上成形为螺旋状，因此相对于中心轴没有平坦面，当载置在平面上时会倾斜。

(II)在扁平线的截面的长宽比(宽度/纵长)大且刚性低的情况下，线圈10会由于夹紧件而大幅变形。具体而言，扁平线柔软，会在小的力的作用下变形。例如，线圈10的各层会浮起或错开。因此，在集中卷绕线圈10中，特别是在(a)产品形状要求高的情况、以及(b)扁平线截面的长宽比(宽度/纵长)大且刚性低的情况下，难以进行高精度的厚度A1、宽度A2及宽度A3的测定。

(实施方式1)

接着，对本实施方式的线圈10的保持装置进行说明。本实施方式的线圈10的保持装置解决上述比较例的课题。图5是例示实施方式1的线圈的俯视图。图6A是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VIA-VIA线的截面。图6B是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VIB-VIB线的截面。图7A及图7B是例示实施方式1的线圈的保持装置的剖视图，示出图5的VII-VII线的截面。

如图5、图6A及图6B、图7A及图7B所示，本实施方式的线圈10的保持装置1例如载置层叠为多层的集中卷绕盒式线圈10。保持装置1具备工作台100及多个落座部30。多个落座部30使集中卷绕盒式线圈10落座。多个落座部30包括落座部31、落座部32、落座部33、落座部34、落座部35及落座部36。在对落座部31～落座部36进行统称的情况下称为落座部30，在表示特定的落座部30的情况下，标注其附图标记进行称呼。多个落座部30的个数不限于6个，可以是2～5个，也可以是7个以上。

落座部31的铅垂方向的高度是第一高度。落座部32的高度是与第一高度不同的第二高度。同样地，落座部33、落座部34、落座部35及落座部36分别为第三高度、第四高度、第五高度及第六高度。各落座部30也可以分别具有不同的高度。另外，几个落座部30也可以具有彼此相同的高度。各落座部30具有与线圈10的倾斜相匹配的高度的差A4。

落座部30具有与线圈10的下表面12接触并使线圈10落座的座面40。座面40例如是落座部30的上端的端面。需要说明的是，座面40只要能够使线圈10落座，则不限于上端的端面。在图6A及图6B中，为了避免附图变得复杂，省略了几个附图标记。

也可以在座面40的铅垂方向的位置处表示落座部30的高度。在该情况下，高度是座面40的Z轴方向的位置。例如，在工作台100为水平面的情况下，高度是工作台100与座面40之间的长度。

也可以从沿着Z轴方向的上方对线圈10的上表面11压靠固定夹紧件24，利用固定夹紧件24固定线圈10。另外，除了从沿着Z轴方向的上方对上表面11压靠固定夹紧件24以外，也可以从沿着Z轴方向的下方对下表面12压靠固定夹紧件24来固定线圈10。而且，也可以利用固定夹紧件24夹紧座面40的两侧。也可以利用多个固定夹紧件24进行固定。

如图6A及图7A所示，例如，落座部31的座面40也可以相对于探头21所接触的上表面11的接触点位于铅垂方向的下方。由此，能够高精度地测定线圈10的厚度A1。

图8是例示实施方式1的另一例的线圈10的保持装置1a的剖视图。如图8所示，线圈10的保持装置1a也可以具备调整落座部30的高度的调整机构50。调整机构50使落座部30沿铅垂方向移动，调整落座部30的高度。

接着，说明本实施方式的效果。本实施方式的线圈10的保持装置1包括成为以下的方面的结构。

(i)使多个落座部30的座面40的高度与线圈10的下表面12的倾斜相匹配。

(ii)在厚度测定部位的正下方设置座面40，对座面40的两侧进行夹紧。

具体而言，本实施方式的保持装置1将线圈10载置于具有与线圈10的倾斜相匹配的高度的多个落座部30。由此，实现上述(i)的结构。集中卷绕线圈10在Z轴方向上成形为螺旋状，因此相对于中心轴没有平坦面，当载置在平面上时会倾斜。然而，本实施方式的保持装置1利用高度不同的多个落座部30支承线圈10。因此，能够使落座部30的座面40的高度与线圈10的倾斜相匹配，因此能够不倾斜地载置线圈10。

另外，落座部30的座面40相对于探头21所接触的线圈10的上表面11的接触点位于铅垂方向的正下方。由此，实现上述(ii)的结构。在扁平线的截面的长宽比(宽度/纵长)大且刚性低的情况下，线圈10会由于夹紧件而大幅变形，有时无法准确地测定厚度A1。然而，本实施方式的保持装置1在厚度测定部位的正下方设置座面40，并对其两侧进行夹紧，因此即使是刚性低的线圈10，也能够高精度地测定厚度A1。

这样，根据本实施方式，通过(i)及(ii)的结构，能够抑制线圈10向XYZ轴方向的倾斜及偏移而进行固定，即使是刚性低的线圈10，也能够高精度地测定厚度A1、宽度A2及宽度A3等线圈10的尺寸。另外，能够在每次测定时约束为相同的姿势，能够提高测定的重复精度。

(实施方式2)

接着，对实施方式2的线圈10的保持装置进行说明。本实施方式的保持装置使夹紧件的接触面变宽。图9是例示实施方式2的线圈的保持装置的俯视图。如图9所示，本实施方式的线圈10的保持装置2除了上述的保持装置1的结构以外，还具备X轴方向基准25、X轴方向夹紧件26、Y轴方向基准27、Y轴方向夹紧件28及多个弹簧29。

X轴方向基准25及X轴方向夹紧件26在X轴方向上夹持线圈10中的扁平线等导线。线圈10在从Z轴方向观察时成为Y轴方向为长边且X轴方向为短边的矩形状。使X轴方向基准25与线圈10的内侧的侧面13接触，使X轴方向夹紧件26与外侧的侧面13接触。然后，利用与X轴方向夹紧件26连接的弹簧29的力对扁平线进行夹紧。在该情况下，X轴方向基准25及X轴方向夹紧件26的与扁平线的接触面变宽。具体而言，在线圈10的沿Y轴方向延伸的线圈直线部A5中，X轴方向基准25及X轴方向夹紧件26对扁平线进行夹持。

Y轴方向基准27及Y轴方向夹紧件28在Y轴方向上夹持线圈10中的扁平线等导线。使Y轴方向基准27与线圈10的外侧的侧面13接触，使Y轴方向夹紧件28与内侧的侧面13接触。然后，利用与Y轴方向夹紧件28连接的弹簧29的力对扁平线进行夹紧。

如上所述，在扁平线的截面的长宽比(宽度/纵长)大且刚性低的情况下，线圈10的各层容易错开。因此，为了消除层的偏移而使线圈10的各层整齐排列，在作为线圈10的长边的线圈直线部A5中以较大的接触面进行固定。例如，X轴方向基准25及X轴方向夹紧件26将线圈10的长边的80％以上作为线圈直线部A5进行夹紧。通过设为这样的结构，能够抑制线圈10向XYZ轴方向的倾斜及偏移而进行固定，即使是刚性低的线圈10，也能够高精度地测定厚度A1、宽度A2及宽度A3等线圈10的尺寸。除此以外的结构及效果包含在实施方式1的记载中。

以上，对本公开的实施方式进行了说明，但本公开包括不损害其目的和优点的适当的变形，而且，不受上述实施方式的限定。另外，实施方式1中的各结构也可以适当组合。

从这样描述的本公开来看，显而易见的是本公开的实施方式可以以各种方式变形。这些变形不应被视为偏离了本公开的精神及范围，并且对于本领域技术人员而言，显而易见的是所有这些修改旨在包含于以下权利要求书的范围内。