一种光学传感器加工装置

技术领域

本发明涉及光学传感器加工领域，具体涉及一种光学传感器加工装置。

背景技术

现有的光敏电阻在生产过程中需要检测其是否能正常工作，所以需要对其进行光照判断其是否合格，对于一些灵敏度要求较高的光敏电阻，还需要利用不同强度的光去验证其合格性。

现有的大部分检测装置，大多是将光敏电阻放置在检测工位上定位后，再利用夹紧装置将其引脚夹在检测电脑的检测端，然后再利用无极调光的发光灯来对其进行照射，从而判断是否合格。这就导致每次检测时都需要将光敏电阻接入到检测电路中，当光敏电阻引脚歪斜时还需增加矫正工序，检测完后还需要通过机械手或人工将光敏电阻取下，并根据检测结果对其进行分类，检测过程较为繁琐。此外上述静态的检测过程使得其他待检测的电阻只能处于等待状态，增加了检测周期。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光学传感器加工装置，以解决上述背景技术中提到的问题。

一种光学传感器加工装置，包括检测电脑，包括外壳体，所述外壳体上设有上料通道，所述上料通道内容纳有光敏电阻，所述上料通道的底部设有通槽，所述通槽的入口由宽变窄，所述光敏电阻的引脚位于通槽内，所述上料通道的入口处设有送料组件，所述外壳体的顶部固定连接有发光组件，所述发光组件可在圆弧形区域内形成光照强度递增或递减的光源，所述外壳体内转动连接有转盘，所述转盘上对称设有两个与通槽对应的卡槽；

所述转盘的上方沿转盘旋转的方向依次设有推料组件以及引导条，所述外壳体上的圆周处设有出料口一以及出料口二，所述引导条用于将转盘上的合格光敏电阻从出料口一处拨走，所述推料组件用于将转盘上不合格的光敏电阻从出料口二处拨走，所述转盘的下方设有接电组件，所述接电组件用于将随转盘旋转的光敏电阻接入到检测电脑中，从而检测不同光照强度下光敏电阻的阻值。

优选的，所述发光组件包括环形板，所述环形板与外壳体固定连接，所述环形板的上半圆区域内沿圆弧方向等距设有若干挡板，所述挡板之间设有发光灯，所述环形板的下方还设有透光板，所述挡板插入到透光板内，所述发光灯的光照强度依次递增或递减。

优选的，所述环形板的内侧固定连接有挡圈，所述挡圈上设有一段弧形缺口，所述引导条与挡圈固定连接。

优选的，所述送料组件包括送料电机，所述送料电机与上料通道固定连接，且其输出轴固定连接有摩擦轮，所述摩擦轮与上料通道内的光敏电阻相切接触。

优选的，所述推料组件包括弧形条、不完全齿条、盖板以及推料电机，所述弧形条设于弧形缺口内，且其一端与挡圈转动连接，所述弧形条的另一端固定连接有不完全齿条，所述不完全齿条的圆心与弧形条的旋转中心重合，所挡圈的顶部固定连接有盖板，所述推料电机与盖板固定连接，且其输出轴固定连接有齿轮，所述齿轮与不完全齿条啮合。

优选的，所述接电组件包括底板，所述底板与外壳体固定连接，所述底板上固定连接有两个接电通道，所述接电通道由两个等距的弧形的金属条组成，同一个接电通道的金属条通过同一个电线连接至检测电脑的检测端，所述底板上还设有旋转电机，所述旋转电机的输出轴与转盘固定连接。

优选的，所述接电通道的开口处沿转盘旋转方向逐渐变窄。

本发明的优点在于：

通过设置转盘与发光组件，使得转盘上的光敏电阻可以依次经过发光灯，从而获得不同的光照强度，在此过程中光敏电阻的引脚会自动进入到接电通道内，接电通道的开口处沿转盘旋转方向逐渐变窄，这使得光敏电阻的引脚即使歪斜也能与金属条接触，从而利用检测电脑对光敏电阻的阻值进行记录对比，整个过程无需增加额外的夹紧装置来将引脚接入到检测电路中，也无需对引脚进行校正；

此外由于检测过程是动态的，一个光敏电阻检测完毕，另一个光敏电阻就会自动进入到转盘上，无需像传统工位那样必须取下检测好的光敏电阻才能上料新的光敏电阻；

检测完毕的光敏电阻还可通过弧形条来筛除掉不合格的产品，无需机械手或人工筛选分料。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图；

图2为检测不合格时推料装置的状态示意图；

图3为发光组件以及推料装置的结构示意图；

图4为接电组件的结构示意图；

图5为转盘底部各结构的示意图。

图中：1、外壳体；11、上料通道；111、通槽；12、出料口一；13、出料口二；

2、光敏电阻；3、送料组件；31、送料电机；32、摩擦轮；

4、发光组件；41、环形板；42、挡板；43、发光灯；44、透光板；45、挡圈；

5、转盘；51、卡槽；

6、推料组件；61、弧形条；62、不完全齿条；63、盖板；64、推料电机；65、齿轮；

7、引导条；8、接电组件；81、底板；82、金属条；9、旋转电机。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。

如图1至图5所示，一种光学传感器加工装置，包括检测电脑，包括外壳体1，所述外壳体1上设有上料通道11，所述上料通道11内容纳有光敏电阻2，所述上料通道11的底部设有通槽111，所述通槽111的入口由宽变窄，便于引脚进入到通槽111内，所述光敏电阻2的引脚位于通槽111内，所述上料通道11的入口处设有送料组件3，所述外壳体1的顶部固定连接有发光组件4，所述发光组件4可在圆弧形区域内形成光照强度递增或递减的光源，所述外壳体1内转动连接有转盘5，所述转盘5上对称设有两个与通槽111对应的卡槽51；

所述转盘5的上方沿转盘5旋转的方向依次设有推料组件6以及引导条7，所述外壳体1上的圆周处设有出料口一12以及出料口二13，所述引导条7用于将转盘5上的合格光敏电阻2从出料口一12处拨走，所述推料组件6用于将转盘5上不合格的光敏电阻2从出料口二13处拨走，所述转盘5的下方设有接电组件8，所述接电组件8用于将随转盘5旋转的光敏电阻2接入到检测电脑中，从而检测不同光照强度下光敏电阻2的阻值。

在本实施例中，所述发光组件4包括环形板41，所述环形板41与外壳体1固定连接，所述环形板41的上半圆区域内沿圆弧方向等距设有若干挡板42，所述挡板42之间设有发光灯43，所述环形板41的下方还设有透光板44，所述挡板42插入到透光板44内，所述发光灯43的光照强度依次递增或递减。

在本实施例中，所述环形板41的内侧固定连接有挡圈45，所述挡圈45上设有一段弧形缺口，所述引导条7与挡圈45固定连接。光敏电阻2在挡圈45与外壳体1之间得以限位。

在本实施例中，所述送料组件3包括送料电机31，所述送料电机31与上料通道11固定连接，且其输出轴固定连接有摩擦轮32，所述摩擦轮32与上料通道11内的光敏电阻2相切接触。

在本实施例中，所述推料组件6包括弧形条61、不完全齿条62、盖板63以及推料电机64，所述弧形条61设于弧形缺口内，且其一端与挡圈45转动连接，所述弧形条61的另一端固定连接有不完全齿条62，所述不完全齿条62的圆心与弧形条61的旋转中心重合，所挡圈45的顶部固定连接有盖板63，所述推料电机64与盖板63固定连接，且其输出轴固定连接有齿轮65，所述齿轮65与不完全齿条62啮合。

在本实施例中，所述接电组件8包括底板81，所述底板81与外壳体1固定连接，所述底板81上固定连接有两个接电通道，所述接电通道由两个等距的弧形的金属条82组成，同一个接电通道的金属条82通过同一个电线连接至检测电脑的检测端，所述底板81上还设有旋转电机9，所述旋转电机9的输出轴与转盘5固定连接。

在本实施例中，所述接电通道的开口处沿转盘5旋转方向逐渐变窄。用于适应歪斜的引脚。

工作过程及其原理：

光敏电阻2通过振动盘进入到上料通道11内，且振动盘会自动将光敏电阻2筛选排列成两端平面与上料通道11内壁接触的状态；或者也可采用人工将光敏电阻2放置在上料通道11内，通槽111可以容纳光敏电阻2的引脚，通槽111入口由宽变窄的结构，用于将引脚引导至通槽111内，送料电机31驱动摩擦轮32旋转，从而使得光敏电阻2自动进入到与通槽111对其的卡槽51内，随后转盘5在旋转电机9的驱动下顺时针旋转，发光灯43的光照强度沿着顺时针依次递增或者递减。

当光敏电阻2旋转到发光灯43下方时，其引脚也进入到了接电通道内，接电通道的入口逐渐变窄，可以适应部分歪斜的引脚，确保引脚可以正常与金属条82接触，当其引脚与金属条82接触时，光敏电阻2即与检测电脑的检测端连接，此时的检测电脑可以检测光敏电阻2的阻值。由于发光灯43是沿着圆弧方向等距设置的，所以可以根据转盘5的旋转角度来记录该角度下光敏电阻2的阻值，并将其与合格范围做比较从而判断出对应光照强度下光敏电阻2的阻值是否合格。

发光灯43设置在两个挡板42之间，可以将相邻两个发光灯43隔开，避免相邻的两个不同的光照强度对检测结果的影响，提高检测准确性。

若检测结果合格，则弧形条61保持在弧形缺口内，光敏电阻2可以顺利到达引导条7处，并最终在引导条7的阻挡作用下从卡槽51中滑出，并从出料口一12排出；

若检测结果不合格，则推料电机64启动，齿轮65旋转带动不完全齿条62旋转，从而推动弧形条61向挡圈45外旋转，从而阻挡了不合格的光敏电阻2继续前行，随着转盘5旋转，不合格的光敏电阻2也会在弧形条61以及卡槽51的限位作用下，提前从出料口二13拨出，以达到筛选不合格品的目的。

由技术常识可知，本发明可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。因此，上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的。所有在本发明范围内或在等同于本发明的范围内的改变均被本发明包含。