暗点检测方法及其装置及电子设备

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种暗点检测方法及其装置及电子设备。

背景技术

有机发光二极管显示面板由于具有高对比度、高色域及可柔性显示等功能，被广泛应用于手机、电视平板电脑等电子设备中。在有机发光二极管显示面板的制备过程中，由于制程因素的影响导致显示面板容易出现暗点。

通常在显示面板制作完成后，需要及时对显示面板使用过程中可能出现的暗点进行检测，如果检测出暗点后，便可采用相应的手段进行维修。然而，现有技术对显示面板使用过程中可能出现的暗点的检测准确度不高，进而降低了产品良率。

发明内容

本申请实施例提供一种暗点检测方法及其装置及电子设备，可以提高对暗点检测的准确度和产品良率。

本申请实施例提供一种暗点检测方法，应用于显示面板中，其中所述显示面板包括多个像素，所述像素包括发光元件；所述方法包括：

控制所述发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；

控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；

当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

本申请实施例提供一种暗点检测装置，应用于显示面板中，其中所述显示面板包括多个像素，所述像素包括发光元件；所述装置包括：

第一控制模块，用于控制所述发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；

第二控制模块，用于控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；

确定模块，用于当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

本申请实施例还提供一种电子设备，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述任意一种暗点检测方法的步骤。

本申请实施例的暗点检测方法及其装置及电子设备，包括控制发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点；由于在发光元件处于第一状态下，异物使得该发光元件的阴极和阳极短路，因此后续使其处于第二状态时，该像素未点亮，从而准确检测出暗点，提高了产品良率，降低了生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施例提供的暗点检测方法的流程示意图。

图2为本申请一实施例提供的像素的结构示意图。

图3为图2中一实施方式的像素的结构示意图。

图4为本申请另一实施例提供的像素的结构示意图。

图5为图4中一实施方式的像素的结构示意图。

图6为图4所示的像素的驱动时序图。

图7为本申请一实施例提供的暗点检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

本申请实施例的显示面板包括多个像素，所述像素包括发光元件。

如图1所示，本申请实施例提供一种暗点检测方法，应用于显示面板中，其包括：

S11、控制所述发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；

S12、控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；

S13、当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

在一实施方式中，第一状态比如反偏状态，第二状态为导通状态。

以下结合具体实施例对上述方法进行详细说明，其中步骤S11具体可包括S101、S201、S301中的任意一种，步骤S12具体可包括S102、S202、S302中的任意一种，步骤S13具体可包括S103、S203、S303中的任意一种。

请参阅图2和图3，图2为本申请一实施例提供的像素的结构示意图。

如图2所示，本实施例的显示面板包括多个像素10，所述像素10包括发光元件D1和驱动电路101，所述驱动电路101包括：第一输入模块11和驱动模块12。

第一输入模块11接入有第一扫描信号G1和数据信号Da。

驱动模块12与所述第一输入模块11连接，所述驱动模块12接入有第一电源电压Vdd。

所述发光元件D1的第一端与所述驱动模块12连接，所述发光元件D1的第二端接入第二电源电压Vss。在一实施方式中，发光元件D1的第一端比如为阳极，第二端比如为阴极。

本申请实施例提供一种暗点检测方法，应用于上述显示面板中，其包括：

S101、将所述第一扫描信号的电压和所述数据信号的电压均设置为有效电压；并将所述第一电源电压设置为小于所述第二电源电压的电压。

例如，通过将所述第一扫描信号G1的电压和所述数据信号Da的电压均设置为有效电压，从而使得第一输入模块11工作，并将所述第一电源电压Vdd设置为小于所述第二电源电压Vss，从而使得发光元件D1处于反偏状态，进而使得整个显示面板中的像素都处于未点亮状态。

其中第一扫描信号、所述数据信号、第一电源电压以及第二电源电压均可由外部机台中的信号发生器提供。

在一实施方式中，如图3所示，所述第一输入模块11包括第一晶体管T1，所述第一晶体管T1的输入端接入所述数据信号Da，所述第一晶体管T1的控制端接入所述第一扫描信号G1；

所述驱动模块12包括第二晶体管T2，所述第二晶体管T2的输入端接入所述第一电源电压Vdd，所述第二晶体管T2的控制端与所述第一晶体管T1的输出端连接；所述发光元件D1的第一端与所述第二晶体管T2的输出端连接。

在一实施方式中，所述驱动电路101还可包括存储电容C，所述存储电容C的一端与所述第一晶体管T1的输出端连接，所述存储电容C的另一端与所述第二晶体管T2的输出端连接。

在一优选实施方式中，当所述发光元件D1处于第一状态时，所述第一晶体管T1和所述第二晶体管T2均开启。

以第一晶体管和第二晶体管为N型晶体管为例，所述第一扫描信号G1的电压和所述数据信号Da的电压的有效电压为高电平，第二电源电压Vss通常为低电平。

因此当第一晶体管T1处于开启状态时，将数据信号Da输入第二晶体管T2的控制端，由于数据信号Da为高电平，因此使得第二晶体管T2也处于开启状态，但由于第一电源电压Vdd小于所述第二电源电压Vss，因此使得发光元件D1处于反偏状态，进而使得该像素未点亮。此时，第一电源电压Vdd为低电平。

S102、将所述第一电源电压设置为大于所述第二电源电压；

例如，所述第一电源电压Vdd变为高电平，所述第一扫描信号G1和所述数据信号Da继续保持高电平；所述第二电源电压Vss维持低电平。

由于第一晶体管T1和第二晶体管T2继续处于开启状态，但由于第一电源电压Vdd大于所述第二电源电压Vss，因此使得发光元件处于导通状态，

S103、当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

例如，当该像素未出现异常时，该像素正常点亮，若该像素出现异常，也即比如像素内存在异物时，由于在反偏状态下，异物使得该发光元件的阴极和阳极短路，因此后续施加正常导通电压时，该像素未点亮，也即确定该像素为暗点，进而准确检测出暗点，提高了产品良率，降低了生产成本。

请参阅图4至图6，图4为本申请另一实施例提供的像素的结构示意图。

如图4所示，本实施例的显示面板所述驱动电路101与上一实施例的驱动电路的区别在于：本实施例的驱动电路还包括：稳压模块13。

稳压模块13接入有第二扫描信号G2和辅助信号Vf；所述稳压模块13还与所述发光元件D1的第一端连接。稳压模块13用于维持T2的栅漏极电压恒定，进而避免发光元件出现闪烁。

在一实施方式中，第二扫描信号G2和辅助信号Vf也由外部机台中的信号发生器提供。

本申请一实施例提供一种暗点检测方法，应用于上述显示面板中，其包括：

S201、将所述第一扫描信号的电压、所述数据信号的电压设置为无效电压；将所述第二扫描信号的电压设置为有效电压以及将所述辅助信号的电压设置为小于所述第二电源电压的电压。

例如，通过将所述第一扫描信号G1的电压和所述数据信号Da的电压均设置为无效电压，从而使得第一输入模块11和驱动模块12均不工作，将所述第二扫描信号G2的电压设置为有效电压，使得稳压模块13工作，并将所述辅助信号Vf设置为小于所述第二电源电压Vss，从而使得发光元件D1处于反偏状态，进而使得整个显示面板中的像素都处于未点亮状态。

在一实施方式中，如图5所示，所述稳压模块13包括第三晶体管T3，所述第三晶体管T3的控制端接入所述第二扫描信号G2；所述第三晶体管T3的输入端接入所述辅助信号Vf；所述第三晶体管T3的输出端与所述发光元件的的第一端连接。

在一优选实施方式中，当所述发光元件D1处于第一状态时，所述第一晶体管T1和所述第二晶体管T2均关闭，所述第三晶体管T3开启。

以第一晶体管、第二晶体管以及第三晶体管为N型晶体管为例，所述第一扫描信号G1的电压和所述数据信号Da的电压的无效电压为低电平，第二电源电压Vss通常为低电平。

因此当第一晶体管T1和第二晶体管T2处于关闭状态时，第一电源电压无法输入到发光元件D1的阳极，由于第三晶体管T3开启，因此将辅助信号Vf输入发光元件D1的第一端，但由于辅助信号Vf的电压小于所述第二电源电压Vss，发光元件D1不发光，因此使得发光元件D1处于反偏状态，进而使得该像素未点亮。此时辅助信号Vf的电压为低电平。

在一优选实施方式中，为了进一步提高检测的准确性，其中所述辅助信号Vf和所述第一扫描信号G1均为方波信号，上述步骤S201还包括：

S2011、将所述第一电源电压Vdd设置为低电平。

如图6所示，在t1时段，所述第一扫描信号G1的电压为高电平和所述辅助信号Vf为高电平，使得第一晶体管T1导通，所述数据信号Da的电压为低电平，第二晶体管T2处于关闭状态，第一电源电压Vdd也为低电平，从而对驱动电路进行复位。

在t2时段，所述第一扫描信号G1的电压和所述数据信号Da的电压均为低电平，第一晶体管T1和第二晶体管T2均关闭，所述第二扫描信号G2的电压为高电平，第三晶体管T3开启，但由于辅助信号Vf的电压小于所述第二电源电压Vss，因此使得发光元件D1处于反偏状态，进而使得该像素未点亮。

在一优选实施方式中，为了降低信号发生器的功耗，所述数据信号的电压Da、所述第一电源电压Vdd以及所述第二电源电压Vss的电压均相等，比如为0V。在一实施方式中，辅助信号Vf的高电平为0v，第一扫描信号G1的电压范围可为-8V至20V，第二扫描信号的G2的高电平可为20V。所述第一电源电压Vdd的电压范围进而为0至24V。

S202、将所述第一扫描信号的电压、所述数据信号的电压设置为有效电压以及将所述第一电源电压设置为有效电压。

此时，所述第一电源电压Vdd设置为高电平，所述第一扫描信号G1和所述数据信号Da变为高电平；所述第二电源电压Vss和辅助信号Vf的电压维持低电平；

由于第一晶体管T1和第二晶体管T2处于开启状态，但由于第一电源电压Vdd大于所述第二电源电压Vss，因此使得发光元件D1处于导通状态，

S203、当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

在另一实施例中，本申请另一实施例提供一种暗点检测方法，应用于上述显示面板中，其包括：

S301、将所述第一扫描信号的电压和所述数据信号的电压以及所述第二扫描信号的电压均设置为有效电压，将所述辅助信号的电压设置为低电平；并将所述第一电源电压设置为小于所述第二电源电压的电压。

例如，通过将所述第一扫描信号G1的电压和所述数据信号Da的电压均设置为有效电压，从而使得第一输入模块11工作，并将所述第一电源电压Vdd设置为小于所述第二电源电压Vss，虽然第二扫描信号G2的电压为有效电压，但由于辅助信号Vf的电压设置为低电平，从而使得发光元件D1处于反偏状态，进而使得整个显示面板中的像素都处于未点亮状态，可以理解的此处的辅助信号Vf的电压小于第二电源电压Vss。

可以理解的，该步骤另外一种方式也可将第二扫描信号的电压均设置为无效电压，此时的驱动原理与实施例一相同，具体参见上文。

S302、将所述第一电源电压设置为大于第二电源电压；

例如，所述第一电源电压Vdd变为高电平，所述第一扫描信号G1和所述数据信号Da继续保持高电平；所述第二电源电压Vss维持低电平；所述第二扫描信号G2的电压和所述辅助信号Vf的电压保持不变。

由于第一晶体管T1和第二晶体管T2继续处于开启状态，但由于第一电源电压Vdd大于所述第二电源电压Vss，因此使得发光元件处于导通状态。

S303、当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

本申请实施例还提供一种暗点检测装置，如图7所示，应用于显示面板中，其中所述显示面板包括多个像素，所述像素包括发光元件；该装置包括：第一控制模块31、第二控制模块32以及确定模块33。

第一控制模块31用于控制所述发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；

第二控制模块32用于控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；

确定模块33用于当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点。

在一实施方式中，所述第一控制模块31具体用于：

将所述第一扫描信号的电压和所述数据信号的电压均设置为有效电压；并将所述第一电源电压设置为小于所述第二电源电压的电压。

在一实施方式中，当所述发光元件处于第一状态时，所述第一晶体管和所述第二晶体管均开启。

在一实施方式中，所述第一控制模块31还用于：将所述第一扫描信号的电压、所述数据信号的电压设置为无效电压；并将所述第二扫描信号的电压设置为有效电压以及将所述辅助信号的电压设置为小于所述第二电源电压的电压。

在一实施方式中，当所述发光元件处于第一状态时，所述第一晶体管和所述第二晶体管关闭，所述第三晶体管开启。

在一实施方式中，所述第一控制模块31还用于：将所述第一电源电压设置为低电平。

在一实施方式中，当所述发光元件处于第一状态时，所述数据信号的电压、所述第一电源电压以及所述第二电源电压的电压相等。

在一实施方式中，所述第一控制模块31还用于：将所述第一扫描信号的电压和所述数据信号的电压以及所述第二扫描信号的电压均设置为有效电压，将所述辅助信号的电压设置为低电平；以及将所述第一电源电压设置为小于所述第二电源电压的电压。

本发明实施例的暗点检测装置能够实现暗点检测方法的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。

另外地，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述任一项所述的暗点检测方法的步骤。该电子设备包括但不限于：射频单元、网络模块、音频输出单元、输入单元、传感器、显示单元、用户输入单元、接口单元、存储器、处理器、以及电源等部件。本领域技术人员可以理解，上述电子设备的结构并不构成对电子设备的限定，电子设备可以包括上述更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。在本发明实施例中，电子设备包括但不限于显示器、手机、平板电脑、电视机、可穿戴电子设备、导航显示设备、虚拟现实眼镜等。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本申请实施例的暗点检测方法及其装置及电子设备，包括控制发光元件的第一端接入的电压小于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第一状态；控制所述发光元件的第一端接入的电压大于所述发光元件第二端接入的电压，以使所述发光元件处于第二状态；当检测到所述像素未点亮时，确定所述像素为暗点；由于在发光元件处于第一状态下，异物使得该发光元件的阴极和阳极短路，因此后续使其处于第二状态时，该像素未点亮，从而准确检测出暗点，提高了产品良率，降低了生产成本。

以上对本申请实施例提供的暗点检测方法及其装置及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。