一种带线隔离器专用测试夹具

技术领域

本发明涉及微波元器件测量领域，尤其涉及一种带线隔离器专用测试夹具。

背景技术

某带线隔离器的结构如图1和2所示，包括带线接口端口a、SMP连接器接口端口b和隔离器腔体c，该SMP连接器为半擒纵式界面，啮合力45N，分离力9N，该带线隔离器无法用矢量网络分析仪对其直接测量，需要用转接器将端口转换为同轴端口后再进行测量，其采用转接器进行测试的连接结构如图3和4所示，图中，A为被测带线隔离器，B为带线转SMA连接器，C为SMA连接器紧固螺钉，D为SMP阳头转SMA转接器，E为测试托块，F为带线隔离器紧固螺钉；测试时将被测带线隔离器A按如图3所示方式连接后，保持稳定，利用同轴端口接入矢量网络分析仪即可测量待测隔离器的S参数；

但是，上述的传统转接器测试由于微波元器件测量的特殊性，必须要安装连接器的紧固螺钉和带线隔离器的紧固螺钉，以此来保证接地良好，使得测试准确。SMP连接器的连接与分离力量较大且连接稳定才能保证测试的准确度，批量产品测试时，费时费力，极大地影响了生产效率，而且SMP转接器的不稳定性也致使测试结果不稳定。

发明内容

本发明的目的就在于提供一种带线隔离器专用测试夹具，以解决上述的传统转接器测试夹具测试效率低、测试难以及测试不精确的问题。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是这样的：一种带线隔离器专用测试夹具，包括上底板、同轴连接器、微带传输线、左右测试托块、左右托板、直角转接器、X轴滑块、下底板、支撑板、Z轴滑块、把手、支撑块座、支撑块、转轴和SMP转接器，其中，所述同轴连接器固定于左右测试托块上，所述微带传输线安装于左右测试托块上，所述左右测试托块固定于左右托板上，所述左右托板固定于X轴滑块上，所述把手通过转轴分别与支撑块座、支撑块连接，所述支撑块与支撑块座销连接，所述SMP转接器固定于支撑块上，再利用直角转接器将垂直方向的SMP转接器端口转换到水平方向。

作为优选的技术方案：所述支撑块设置有定位柱，所述支撑座上设置有与所述定位柱配合的定位孔。

作为优选的技术方案：所述同轴连接器与左右测试托块通过螺钉固定连接。

作为优选的技术方案：所述微带传输线通过焊接的方式安装于左右测试托块上。

作为优选的技术方案：所述左右测试托块通过螺钉与左右托板固定。

作为优选的技术方案：所述左右托板通过螺钉固定于X轴滑块上。

作为优选的技术方案：所述SMP转接器通过螺钉固定于支撑块上。

与现有技术相比，本发明的优点在于：本发明为解决传统带线隔离器测试方法测试效率低、准确度低的测试问题，巧妙地引入杠杆结构，解决了被测隔离器与SMP转接器的啮合、分离困难的问题；同时，通过安装左右测试托块，用单一专有测试夹具就可以测试该种隔离器的对称型号，提高了生产效率。该专有测试夹具，改变了原本的测试形态，SMP转接器固定安装，待测带线隔离器测试时被完全夹紧，所以无需螺钉紧固，既保证了测试精度又提高了生产效率。

附图说明

图1为带线隔离器的结构；

图2为带线隔离器的另一视图；

图3为传统的采用转接器进行带线隔离器的连接示意图；

图4为传统的采用转接器进行带线隔离器的连接的分解示意图；

图5为本发明的测试夹具的结构示意图。

图5中：1、上底板；2、同轴连接器；3、微带传输线；4、左右测试托块5、左右托板；6、直角转接器；7、X轴滑块；8、下底板；9、支撑板；10、Z轴滑块；11、把手；12、支撑块座；13、支撑块；14、转轴；15、SMP转接器。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

实施例：

参见图5，一种带线隔离器专用测试夹具，包括上底板1、同轴连接器2、微带传输线3、左右测试托块4、左右托板5、直角转接器6、X轴滑块7、下底板8、支撑板9、Z轴滑块10、把手11、支撑块座12、支撑块13、转轴14和SMP转接器15；

其中，同轴连接器2通过螺钉分别紧密固定在左右测试托块4上，保证同轴连接器2的内导体与微带传输线3的信号线紧密结合，微带传输线3用陶瓷基板制作而成，通过焊接的方式安装在左右测试托块4上，由此实现带线端口转微带最后再转换成同轴的结构；

左右测试托块4通过螺钉固定在左右托板5上，而左右托板5再通过螺钉固定在X轴滑块7上，从而让X轴向与被测隔离器接触紧密，接地良好，把手11通过转轴14分别与支撑块座12、支撑块13连接，支撑块13通过其本身的定位柱插入到支撑块座12上的定位孔中，由此形成的杠杆结构使被测隔离器分离更加便捷省力；SMP转接器15通过螺钉固定在支撑块13上，再利用直角转接器6将垂直方向的SMP转接器15端口转换到水平方向，方便连接矢量网络分析仪。

测试时，需将矢量网络分析仪的电缆分别接在直角转接器6和同轴连接器2上，待测带线隔离器安放在支撑座13上，按压连接SMP转接器15，再利用左右X轴滑块7将待测带线隔离器夹紧，此时测试完成；接下来，松开X轴滑块7，按下把手11将带线隔离器与SMP连接器15分离，取下带线隔离器，整个测试过程完成。

采用本实施例的测试夹具，整个测试时间仅需15s；而采用传统转接器测试，整个过程需2min30s。

采用本实施例的测试夹具，连续三次测量同一隔离器同一频点端口b驻波比数据为1.155、1.157、1.153；而采用传统转接器连续三次测量同一隔离器同一频点端口b驻波比数据为1.150、1.203、1.192。

由此可见，本实施例的测试夹具具有效率高、精度高的优点。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。