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测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组

文献发布时间:2023-06-19 09:55:50


测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组

技术领域

本申请属于测试领域,具体涉及一种测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组。

背景技术

Timer(定时器)是一种能够提供定时功能的集成电路。以Timer为基础,可以设计出具备定时、时钟、日历、闹钟等功能的RTC(Real Time Clock,实时时钟)电路。如图1所示,RTC电路有世纪、年、月、周、日、时、分、秒等多个定时器(在一些RTC电路中,还通常还会设置有闰年、平年判断电路和/或冬令时、夏令时判断等电路)。其中,每个定时器分别对应一个寄存器。

这些定时器以外部提供的一个时钟源为基准进行计数,时钟源最终所产生的时钟信号的频率被精确到1Hz,其中,秒定时器每获取到一次时钟信号所触发的上升沿便计数一次,秒定时器自动加1。当秒定时器计数到60时进行进位,表现为秒定时器归零,同时分定时器加1。其余定时器对应的寄存器均会以相同原理进行进位、计数,以此实现RTC的计时、计数功能。

一般而言,RTC电路使用32KHz的晶振作为时钟源。具体的,RTC电路可以与32KHz的晶振以及分频器相连接,形成如图2所示的RTC集成模组,32KHz晶振经过分频器分频后,得到1Hz时钟信号用于驱动Timer工作。当形成RTC集成模组后,有对RTC集成模组进行测试的需求,以测试RTC集成模组是否能够正常工作。

在现有技术中,当需要对RTC集成模组进行测试时,需要通过图2中所示的参数输入总线往Timer输入测试初始值,然后启动32KHz时钟信号,并通过分频器分频成1Hz的时钟信号输入到Timer,经过预先确定的时长后,停止输入32KHz时钟信号,并通过观测口读出Timer的测试输出值,看是否符合预期,从而判断RTC集成模组的功能是否正常。

在上述过程中,由于1Hz的时钟信号表征每1S产生一次上升沿信号的跳变,因此,对于上述测试过程而言,定时器每获取到一次上升沿信号所需要的时间为1S,也就是说,Timer每计数一次所需的时间为1S,导致测试速度较慢,以及测试的效率较低。

发明内容

有鉴于此,本申请的目的在于提供一种测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组,可以增加测试速度。

本申请的实施例是这样实现的:

第一方面,本申请实施例提供一种测试方法,所述方法包括:响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号;确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数;将所述测试输入值输入所述RTC集成模组;基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值;其中,所述跳变信号所包括的上升沿跳变次数与所述计数次数相同,且所述跳变信号的跳变频率大于所述原有时钟信号的频率。在对RTC集成模组进行测试时,先屏蔽RTC集成模组原有时钟,然后产生跳变信号来驱动RTC集成模组计数。由于跳变信号的跳变频率大于原有时钟信号的频率,因此,可以缩短RTC集成模组的定时器在两次计数之间的间隔时间,从而达到缩短测试时间的目的,可以增加测试速度,提高测试效率。

结合第一方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述测试参数还包括期待测试输出值;所述方法还包括:采集所述测试输出值;通过比较所述期待测试输出值与所述测试输出值,确定所述定时器是否异常,并输出测试结果。即在本实施例中,测试设备可以自动读取RTC集成模组的测试输出值,并通过与期待测试输出值进行比较,自动输出测试结果,实现测试全自动化。

结合第一方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述RTC集成模组包括或门,所述原有时钟信号通过分频器分频后与所述或门的一个输入端连接,所述或门的另一个输入端与所述跳变信号连接,所述或门的输出端连接所述定时器的时钟信号输入端;所述屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号,包括:向所述分频器发送控制信号,使得所述分频器的复位端使能,以使所述分频器输出为0。

结合第一方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述RTC集成模组包括用于保存所述跳变信号的寄存器,所述生成跳变信号,包括:向所述寄存器写入0、1交替的数值,从而产生所述跳变信号;其中,当从0跳变到1时,产生一次上升沿跳变,所述跳变信号所包括的上升沿跳变的数量与所述计数次数的数值相同。由于测试设备访问寄存器的速度较快,一般为纳秒级,因此,通过向寄存器写入0/1来产生一个上升沿所需的时间(纳秒)远小于RTC集成模组的原时钟信号所形成一个上升沿所需要的时间(1S),因此,可以缩短RTC集成模组的定时器在两次计数之间的间隔时间,从而达到缩短测试时间的目的,可以增加测试速度,提高测试效率。

结合第一方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述确定本次测试的测试参数,包括:获取测试人员当前所输入的临时输入值及临时计数次数;将所述临时输入值确定为所述测试输入值,及将所述临时计数次数确定为所述计数次数。

结合第一方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述测试参数还包括期待测试输出值,所述确定本次测试的测试参数,包括:获取测试人员当前所输入的临时输入值;根据所述临时输入值及预先保存的所述临时输入值与预设计数次数及预设输出值之间的映射关系,确定出与所述临时输入值对应的预设计数次数及对应的预设输出值;将所述临时输入值确定为所述测试输入值,将所述对应的预设计数次数确定为所述计数次数,及将所述对应的预设输出值确定为所述期待测试输出值。

第二方面,本申请实施例提供一种测试装置,所述装置包括:响应模块、确定模块、输入模块以及驱动模块。响应模块,用于响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号;确定模块,用于确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数;输入模块,用于将所述测试输入值输入所述RTC集成模组;驱动模块,用于基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值;其中,所述跳变信号所包括的上升沿跳变次数与所述计数次数相同,且所述跳变信号的跳变频率大于所述原有时钟信号的频率。

结合第二方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述测试参数还包括期待测试输出值;所述装置还包括采集模块,用于采集所述测试输出值;还包括输出模块,用于比较所述期待测试输出值与所述测试输出值,确定所述定时器是否异常,并输出测试结果。

结合第二方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述RTC集成模组包括或门,所述原有时钟信号通过分频器分频后与所述或门的一个输入端连接,所述或门的另一个输入端与所述跳变信号连接,所述或门的输出端连接所述定时器的时钟信号输入端;所述响应模块,用于向所述分频器发送控制信号,使得所述分频器的复位端使能,以使所述分频器输出为0。

结合第二方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述RTC集成模组包括用于保存所述跳变信号的寄存器,所述驱动模块,用于向所述寄存器写入0、1交替的数值,从而产生所述跳变信号;其中,当从0跳变到1时,产生一次上升沿跳变,所述跳变信号所包括的上升沿跳变的数量与所述计数次数的数值相同。

结合第二方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述确定模块,用于获取测试人员当前所输入的临时输入值及临时计数次数;将所述临时输入值确定为所述测试输入值,及将所述临时计数次数确定为所述计数次数。

结合第二方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述测试参数还包括期待测试输出值,所述确定模块,用于获取测试人员当前所输入的临时输入值;根据所述临时输入值及预先保存的所述临时输入值与预设计数次数及预设输出值之间的映射关系,确定出与所述临时输入值对应的预设计数次数及对应的预设输出值;将所述临时输入值确定为所述测试输入值,将所述对应的预设计数次数确定为所述计数次数,及将所述对应的预设输出值确定为所述期待测试输出值。

第三方面,本申请实施例还提供一种测试设备,包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器连接;所述存储器用于存储程序;所述处理器调用存储于所述存储器中的程序,以执行上述第一方面实施例和/或结合第一方面实施例的任一种可能的实施方式提供的方法。

第四方面,本申请实施例还提供一种非易失性计算机可读取存储介质(以下简称存储介质),其上存储有计算机程序,所述计算机程序被计算机运行时执行上述第一方面实施例和/或结合第一方面实施例的任一种可能的实施方式提供的方法。

第五方面,本申请实施例还提供一种RTC集成模组,包括:参数输入总线,用于获取测试输入值;时钟信号发生单元,用于产生时钟信号;分频器,用于对产生的时钟信号进行分频;寄存器,用于保存外部输入的跳变信号;以所述分频器的输出信号及所述跳变信号为输入的或门;定时器,用于获取所述测试输入值、所述或门的输出值,并输出测试输出值;所述时钟信号发生单元的输出端与所述寄存器的输入端连接;所述述寄存器的输出端与所述或门的一个输入端连接,所述寄存器与所述或门的另一个输入端连接;所述或门的输出端与所述定时器的时钟信号输入端连接;所述参数输入总线与所述定时器的数据输入端连接。该RTC集成模组可以通过控制分频器的输出值来切换输入定时器的时钟信号。

结合第五方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述寄存器,用于在获取到复位信号后,以输出为0的方式屏蔽所述时钟信号。

结合第五方面实施例,在一种可能的实施方式中,所述寄存器所包括的跳变信号的跳变频率大于所述时钟信号经过所述分频器后得到的时钟信号的频率。

本申请的其他特征和优点将在随后的说明书阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本申请实施例而了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。通过附图所示,本申请的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图,重点在于示出本申请的主旨。

图1示出一种由多个定时器组成的RTC电路的结构示意图。

图2示出现有的RTC集成模组测试示意图。

图3示出本申请实施例提供的一种测试方法的流程图。

图4示出本申请实施例提供的一种的RTC集成模组的示意图。

图5示出本申请实施例提供的一种测试装置的结构框图。

图6示出本申请实施例提供的一种测试设备的结构框图。

图标:100-测试设备;110-处理器;120-存储器;200-RTC集成模组;210-时钟信号发生单元;220-分频器;230-定时器;240-或门;250-寄存器;400-测试装置;410-响应模块;420-确定模块;430-输入模块;440-驱动模块。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。

应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本申请的描述中诸如“第一”、“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

再者,本申请中术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。

此外,针对现有技术中针对RTC集成模组的测试方式所存在的缺陷(测试时间过长,导致测试效率较低)是申请人在经过实践并仔细研究后得出的结果,因此,上述缺陷的发现过程以及在下文中本申请实施例针对上述缺陷所提出的解决方案,都应该被认定为申请人对本申请做出的贡献。

为了解决上述问题,本申请实施例提供一种测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组,可以增加对RTC集成模组的测试速度。

该技术可采用相应的软件、硬件以及软硬结合的方式实现。以下对本申请实施例进行详细介绍。

下面将针对本申请所提供的测试方法进行介绍。

请参阅图3,本申请实施例提供一种应用于测试设备的测试方法。

下面将结合图3对其所包含的步骤进行说明。

步骤S110:响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号。

步骤S120:确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数。

步骤S130:将所述测试输入值输入所述RTC集成模组。

步骤S140:基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值。

当测试人员需要对RTC集成模组进行测试时,可以对测试设备进行操作(例如点击或者触摸测试设备上的测试按钮),从而产生测试指令。

测试设备对测试指令进行响应后,即可进入测试模块阶段。

于本申请实施例中,当测试设备进入测试阶段后,可以屏蔽RTC集成模组自带的原有时钟信号(即上文中由32KHz的晶振所产生的1Hz时钟信号),同时,产生专供测试所用的跳变信号对RTC集成模组进行测试。

为了加快测试速度,跳变信号所对应的跳变频率大于原有时钟信号的频率。

为了实现对原有时钟信号进行屏蔽,在本申请实施例中,对图2所示的原有的RTC集成模组进行改进,从而形成入图4所示的,适用于本申请实施例所提供的测试方法的RTC集成模组200。

下面将结合图4,对RTC集成模组200进行介绍。

RTC集成模组200可以包括:参数输入总线(即图4中的write总线以及data总线)、时钟信号发生单元210、分频器220、定时器230、或门240以及寄存器250。

其中,参数输入总线,用于获取测试输入值。

测试人员可以根据实际测试需求,确定测试输入值,并通过参数输入总线将测试输入值输入定时器(即timer)230的数据输入端口。

时钟信号发生单元210一般为32KHz的晶振,用于产生32KHz的时钟信号。此外,时钟信号发生单元210与分频器220的输入端口连接,用于将产生的32KHz的时钟信号输入到分频器220进行分频处理,以便分频器220最后经过分频得到并输出1Hz的时钟信号。

寄存器250,用于保存外部输入的跳变信号。

或门240为二输入或门。或门240的一个输入端口与分频器220的输出端口连接,另一个输入端口与寄存器250的输出端口连接。此外,或门240的输出端口与定时器230的时钟端口(时钟信号输入端)连接。

此外,分频器220还包括复位端口,当该复位端口使能后,分频器220输出固定值0。

如图4所示,测试设备用于与分频器220的复位端口连接,还用于与寄存器250连接。

当以上连接完成,且测试设备需要对RTC集成模组200进行测试时,测试设备通过向分频器220的复位端口发送控制信号,使得分频器220输出固定值0。由于分频器220与寄存器250通过或门240与定时器230的时钟端口连接,且此时分频器220输出为0,因此,定时器230所接收到的时钟信号只受到来自于寄存器250内的跳变信号的影响。此时,即达到对RTC集成模组200的原有时钟信号进行屏蔽的效果。

此外,测试设备还可以通过向寄存器250写入数据,从而产生专供测试所用的跳变信号输入至或门240。该跳变信号最终通过或门240传递至定时器230,从而驱动定时器230工作。

于本申请实施例中,测试设备还与参数输入总线连接,从而通过向参数输入总线输入测试参数,使得RTC集成模组200获取到测试参数。

其中,测试参数可以包括测试输入值以及计数次数。在一些实施方式中,测试设备通过参数输入总线向RTC集成模组200输入测试参数中的测试输入值,至于计数次数,则不必输入RTC集成模组200。

当RTC集成模组200获取到测试输入值后,可以在测试输入值的基础上进行计数,并随着计数的次数增加,不断更改测试输出值。例如RTC集成模组200当前所获取到的测试输入值为12点59分59秒,经过一次计数后,RTC集成模组200输出的测试输出值为13点00分00秒,经过两次计数后,RTC集成模组200输出的测试输出值为13点00分01秒,并以此类推。

计数次数表征RTC集成模组200在本次测试中实际所需要执行的计数次数。

至于测试设备如何控制RTC集成模组200在测试过程中实际计数过程中,执行上述计数次数的计数,取决于测试设备基于上述计数次数所产生的跳变信号。

上文提及,测试设备可以通过向寄存器250写入数据,从而产生跳变信号。具体的,测试设备向寄存器写入0、1交替的数值,从0跳变到1的翻转过程,即可以产生一次上升沿跳变。

由于定时器230在获取到上升沿信号时触发计数,因此,若测试设备获取到的计数次数为M(表征期望RTC集成模组200计数M次),那么测试设备则主动向寄存器连续多次写入0、1、0、1……1,以便形成M个由0到1的上升沿跳变信号(即形成的跳变信号所包括的上升沿跳变的个数与计数次数相同),从而保证RTC集成模组200所获取到的时钟信号(由于原有时钟信号已被屏蔽,因此,此时的时钟信号即指代由测试设备所产生的跳变信号)可以触发定时器230计数M次。

此外,由于测试设备访问寄存器250的速度较快,一般而言,写入一次0或1所消耗的时间为纳秒级别,因此,通过向寄存器写入0/1来产生一个上升沿所需的时间(纳秒)远小于RTC集成模组200的原时钟信号所形成一个上升沿所需要的时间(1S),即跳变信号的跳变频率大于原有时钟信号的频率,因此,可以缩短定时器230在两次计数之间的间隔时间,从而缩短测试时间,增加测试速度,提高测试效率。

在一些实施方式中,测试人员可以通过直接向测试设备输入具体数值的方式,控制测试设备生成临时输入值以及临时计数次数。此时,测试设备将临时输入值确定为测试输入值,以及将临时计数次数确定为计数次数。

此外,在这种实施方式中,测试人员还可以根据临时输入值以及临时计数次数,预估RTC集成模组200在临时输入值的基础上计数上述计数次数后所得到的期待值。

后续,测试设备根据计数次数产生包括与计数次数数量相同的上升沿的跳变信号后,即可停止产生跳变信号,以便RTC集成模组200根据该跳变信号进行计数。后续计数停止后,测试人员可以通过读取RTC集成模组200的输出端口,读取RTC集成模组200经过上述计数次数的计数后所得到的测试输出值,并通过比较该测试输出值与预先所估计的期待值,判断RTC集成模组200是否异常。

其中,若两者一致则表征正常,否则,则表征异常。

在一些实施方式中,在测试参数内也可以包括期待测试输出值。在这种实施方式下,测试人员可以预先向测试设备内配置多组存在映射关系的测试参数(例如一些常用的关键用例)。在每组测试参数内,包括临时输入值、预设计数次数以及预设输出值,且功能正常的RTC集成模组200在获取到该临时输入值后,计数该预设计数次数即可输出得到该预设输出值。

在这种实施方式下,当需要进行测试时,测试人员可以向测试设备输入一个临时输入值。测试设备获取到该临时输入值后,将该临时输入值与预先保存的测试参数进行比对,从而确定出与该临时输入值对应的预设计数次数及对应的预设输出值。后续,测试设备将该临时输入值确定为测试输入值,将对应的预设计数次数确定为计数次数,以及将对应的预设输出值确定为期待测试输出值。

在这种实施方式下,后续,测试设备根据计数次数产生包括与计数次数数量相同的上升沿的跳变信号后,即可停止产生跳变信号,以便RTC集成模组200根据该跳变信号进行计数。后续计数停止后,测试设备可以主动读取RTC集成模组200的输出端口,从而获取RTC集成模组200经过上述计数次数的计数后所得到的测试输出值,并通过比较该测试输出值与期待测试输出值,判断RTC集成模组200是否异常。

其中,若两者一致则表征正常,否则,则表征异常。

此外,在这种实施方式下,测试设备还可以根据对RTC集成模组200的判断结果,输出测试结果。

例如,在一些实施方式中,当测试输出与期待测试输出值一致时,测试设备返回pass,表征测试通过,当测试输出与期待测试输出值不一致时,测试设备返回false,表征测试未通过。

通过上述方案,可以在尽量不修改RTC集成模组200的基础上,在RTC集成模组200的WS阶段(区分良品与不良品的阶段)便可以检测出功能异常的DIE(裸片)。

此外,当测试结束后,若测试通过,则可以直接将RTC集成模组200与测试设备分离。分离后,测试设备对RTC集成模组200的分频器控制失效,RTC集成模组200的原有时钟信号生效,RTC集成模组200依旧可以执行自身原有的功能。也就是说,本测试方案可以在不更改RTC集成模组200原有的功能以及工作效果的基础上,快速对RTC集成模组200实现测试。

此外,由于在本测试方案中,用于进行测试的跳变信号可以通过控制0、1的数量来进行控制,相较于传统测试方案中直接采用RTC集成模组200的原有时钟进行测试的方案,可控性更高,因此,相对而言,相较于现有的测试方案,本测试方案的测试可靠性也更高。

本申请实施例所提供的一种测试方法,在对RTC集成模组进行测试时,先屏蔽RTC集成模组原有时钟,然后通过向寄存器写入0/1的方式产生包括上升沿的跳变信号驱动RTC集成模组的定时器计数,由于测试设备访问寄存器的速度较快,一般为纳秒级,因此,通过向寄存器写入0/1来产生一个上升沿所需的时间(纳秒)远小于RTC集成模组的原时钟信号所形成一个上升沿所需要的时间(1S),即跳变信号的跳变频率大于原有时钟信号的频率,因此,可以缩短RTC集成模组的定时器在两次计数之间的间隔时间,从而达到缩短测试时间的目的,可以增加测试速度,提高测试效率。

如图5所示,本申请实施例还提供一种测试装置400,测试装置400可以包括:响应模块410、确定模块420、输入模块430以及驱动模块440。

响应模块410,用于响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号;

确定模块420,用于确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数;

输入模块430,用于将所述测试输入值输入所述RTC集成模组;

驱动模块440,用于基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值;

其中,所述跳变信号所包括的上升沿跳变次数与所述计数次数相同,且所述跳变信号的跳变频率大于所述原有时钟信号的频率。

在一种可能的实施方式中,所述测试参数还包括期待测试输出值;所述装置还包括采集模块,用于采集所述测试输出值;还包括输出模块,用于比较所述期待测试输出值与所述测试输出值,确定所述定时器是否异常,并输出测试结果。

在一种可能的实施方式中,所述RTC集成模组包括或门,所述原有时钟信号通过分频器分频后与所述或门的一个输入端连接,所述或门的另一个输入端与所述跳变信号连接,所述或门的输出端连接所述定时器的时钟信号输入端;所述响应模块410,用于向所述分频器发送控制信号,使得所述分频器的复位端使能,以使所述分频器输出为0。

在一种可能的实施方式中,所述RTC集成模组包括用于保存所述跳变信号的寄存器,所述驱动模块440,用于向所述寄存器写入0、1交替的数值,从而产生所述跳变信号;其中,当从0跳变到1时,产生一次上升沿跳变,所述跳变信号所包括的上升沿跳变的数量与所述计数次数的数值相同。

在一种可能的实施方式中,所述确定模块420,用于获取测试人员当前所输入的临时输入值及临时计数次数;将所述临时输入值确定为所述测试输入值,及将所述临时计数次数确定为所述计数次数。

在一种可能的实施方式中,所述测试参数还包括期待测试输出值,所述确定模块420,用于获取测试人员当前所输入的临时输入值;根据所述临时输入值及预先保存的所述临时输入值与预设计数次数及预设输出值之间的映射关系,确定出与所述临时输入值对应的预设计数次数及对应的预设输出值;将所述临时输入值确定为所述测试输入值,将所述对应的预设计数次数确定为所述计数次数,及将所述对应的预设输出值确定为所述期待测试输出值。

本申请实施例所提供的测试装置400,其实现原理及产生的技术效果和前述方法实施例相同,为简要描述,装置实施例部分未提及之处,可参考前述方法实施例中相应内容。

此外,本申请实施例还提供一种存储介质,该存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被计算机运行时,执行如上述的测试方法所包含的步骤。

此外,请参看图6,本发明实施例还提供一种用于实现本申请实施例的测试方法、装置的测试设备100。

测试设备100可以对RTC集成模组的功能进行测试。

可选的,测试设备100,可以是,但不限于个人电脑(Personal computer,PC)、智能手机、平板电脑、移动上网设备(Mobile Internet Device,MID)、个人数字助理、服务器等设备。

其中,测试设备100可以包括:处理器110、存储器120。

应当注意,图6所示的测试设备100的组件和结构只是示例性的,而非限制性的,根据需要,测试设备100也可以具有其他组件和结构。例如,在一些情况下,测试设备100还可以包括显示器,用于显示测试结果。

处理器110、存储器120以及其他可能出现于测试设备100的组件相互之间直接或间接地电性连接,以实现数据的传输或交互。例如,处理器110、存储器120以及其他可能出现的组件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。

存储器120用于存储程序,例如存储有前文出现的测试方法对应的程序或者前文出现的测试装置。可选的,当存储器120内存储有测试装置时,测试装置包括至少一个可以以软件或固件(firmware)的形式存储于存储器120中的软件功能模块。

可选的,测试装置所包括软件功能模块也可以固化在测试设备100的操作系统(operating system,OS)中。

处理器110用于执行存储器120中存储的可执行模块,例如测试装置包括的软件功能模块或计算机程序。当处理器110在接收到执行指令后,可以执行计算机程序,例如执行:响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号;确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数;将所述测试输入值输入所述RTC集成模组;基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值;其中,所述跳变信号所包括的上升沿跳变次数与所述计数次数相同,且所述跳变信号的跳变频率大于所述原有时钟信号的频率。

当然,本申请任一实施例所揭示的方法都可以应用于处理器110中,或者由处理器110实现。

综上所述,本发明实施例提出的测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组,在对RTC集成模组进行测试时,先屏蔽RTC集成模组原有时钟,然后通过向寄存器写入0/1的方式产生包括上升沿的跳变信号驱动RTC集成模组的定时器计数,由于测试设备访问寄存器的速度较快,一般为纳秒级,因此,通过向寄存器写入0/1来产生一个上升沿所需的时间(纳秒)远小于RTC集成模组的原时钟信号所形成一个上升沿所需要的时间(1S),即跳变信号的跳变频率大于原有时钟信号的频率,因此,可以缩短RTC集成模组的定时器在两次计数之间的间隔时间,从而达到缩短测试时间的目的,可以增加测试速度,提高测试效率。

需要说明的是,本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现方式中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,笔记本电脑,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。

相关技术
  • 测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组
  • 模组测试设备及利用其的模组测试方法
技术分类

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