一种用于检测主板的短路检测电路及短路检测方法

技术领域

本发明涉及短路检测技术领域，特别涉及一种用于检测主板的短路检测电路及短路检测方法。

背景技术

目前涉及工业生产自动化领域，尤其是主板生产厂商，被测主板上电进行功能测试前的短路测试往往都需要人工先使用万用表手动进行检测，或者单独安排一个工位，使用专业的短路测试设备进行检测。短路测试通过后，才能进入下一道的主板功能性测试，这样的目的是避免被测主板因短路造成进一步损坏，或者损坏测试设备。现有技术方案带来的影响是生产效率低下，且人工、工时投入都无法降低，生产成本难以压缩，不符合工业生产自动化发展趋势。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种用于检测主板的短路检测电路及短路检测方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用的第一种技术方案为：

一种用于检测主板的短路检测电路，包括驱动电路、与门电路、检测点电路、继电器电路和比较器电路，所述继电器电路分别与检测点电路、与门电路和比较器电路电连接，所述与门电路分别与驱动电路和比较器电路电连接，所述驱动电路与外设的控制系统的GPIO端口电连接。

本发明采用的第二种技术方案为：

一种用于检测主板的短路检测电路的短路检测方法，包括以下步骤：

比较器电路输出低电平、与门电路输出低电平和驱动电路输出低电平；

控制系统判断GPIO端口是否检测到低电平；

若是，则判定被测主板处于短路状态。

本发明的有益效果在于：

检测电路的地和被测主板的地连接，另外通过检测点电路连接被测主板上任意一个测试点；通过继电器电路，当完成被测主板的短路测试以后，能及时断开被测主板的测试点与本检测电路的电气连接，且不影响被测主板下一步进行上电功能性测试，从而实现自动化生产的目的；被测主板的测试点处于非短路和短路两种状态，最明显的特征体现在测试点对地阻抗值差异明显，短路状态下，阻抗值比较小，通常在100Ω以下，非短路状态下阻抗值比较大，通常大于1kΩ，因此通过比较器电路，能精确的进行短路和非短路的识别区分；通过与门电路，将比较器电路输出的信号进行转换，能够提升电路的抗干扰能力；通过驱动电路，将非短路和短路两种状态信号电平输出到外设的控制系统，控制系统检测该电平的差异，就能判断被测主板是处于非短路还是短路状态，从而决定被测主板是否上电进行下一步的功能性测试，整个流程完全可以自动化控制，无需人为干预，从而实现自动化生产的目的，大大提高生产效率。

附图说明

图1为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的连接框图；

图2为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的检测点电路的电路原理图；

图3为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的继电器电路和与门电路的电路原理图；

图4为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的比较器电路的电路原理图；

图5为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的驱动电路的电路原理图；

图6为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的短路检测方法的步骤流程图；

图7为根据本发明的一种用于检测主板的短路检测电路的短路检测方法的检测流程图；

标号说明：

1、控制系统；2、驱动电路；3、与门电路；4、检测点电路；5、继电器电路；6、比较器电路。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，本发明提供的一种技术方案：

一种用于检测主板的短路检测电路，包括驱动电路、与门电路、检测点电路、继电器电路和比较器电路，所述继电器电路分别与检测点电路、与门电路和比较器电路电连接，所述与门电路分别与驱动电路和比较器电路电连接，所述驱动电路与外设的控制系统的GPIO端口电连接。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：

检测电路的地和被测主板的地连接，另外通过检测点电路连接被测主板上任意一个测试点；通过继电器电路，当完成被测主板的短路测试以后，能及时断开被测主板的测试点与本检测电路的电气连接，且不影响被测主板下一步进行上电功能性测试，从而实现自动化生产的目的；被测主板的测试点处于非短路和短路两种状态，最明显的特征体现在测试点对地阻抗值差异明显，短路状态下，阻抗值比较小，通常在100Ω以下，非短路状态下阻抗值比较大，通常大于1kΩ，因此通过比较器电路，能精确的进行短路和非短路的识别区分；通过与门电路，将比较器电路输出的信号进行转换，能够提升电路的抗干扰能力；通过驱动电路，将非短路和短路两种状态信号电平输出到外设的控制系统，控制系统检测该电平的差异，就能判断被测主板是处于非短路还是短路状态，从而决定被测主板是否上电进行下一步的功能性测试，整个流程完全可以自动化控制，无需人为干预，从而实现自动化生产的目的，大大提高生产效率。

进一步的，所述检测点电路包括电阻R11，所述电阻R11的一端与继电器电路电连接，所述电阻R11的另一端接第一测试点TP1。

由上述描述可知，第一测试点TP1通常是一个信号网络或者一个电源网络的测试点，由被测主板决定；设置电阻R11，用于限流或者预留分压使用，需要根据实际的被测主板选择合适的阻值。

进一步的，所述继电器电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R6、场效应管Q1、场效应管Q2和继电器U2，所述继电器U2的第一引脚与场效应管Q1的漏极电连接，所述继电器U2的第二引脚分别与电阻R6的一端和比较器电路电连接，所述电阻R6的另一端接电源，所述继电器U2的第三引脚与检测点电路电连接，所述继电器U2的第八引脚接地，所述场效应管Q1的栅极分别与电阻R2的一端和场效应管Q2的漏极电连接，所述场效应管Q1的源极与电阻R1的一端电连接，所述电阻R1的另一端接电源，所述场效应管Q2的栅极与与门电路电连接，所述场效应管Q2的源极接地，所述电阻R2的另一端接电源。

由上述描述可知，刚开始时，继电器U2处于默认状态，继电器U2的第二引脚和第三引脚会接触导通，从而连接在继电器U2第二引脚的电阻R6、测试点电路以及测试点对地电阻R形成一个串联分压电路，对电源“VDD_5V”进行分压；若被测主板处于非短路状态，被测主板的检测点的对地电阻值R会比较大，使得继电器U2的第二引脚“Test_OUT”节点分得的电压比较大；若被测主板处于短路状态，被测主板的检测点的对地电阻值R会比较小，使得继电器U2的第二引脚“Test_OUT”节点分得的电压比较小。

同时，经过与门电路处理后得到“Gate_OUT”信号电平，若被测主板的检测点为非短路状态，则“Gate_OUT”为高电平，则场效应管Q2导通，场效应管Q2的漏极变为低电平，使得场效应管Q1导通，继电器U2的第一引脚获得电源电压“VDD_5V”，从而使得继电器U2切换为第二引脚与第三引脚断开，第三引脚与第四引脚接通的状态，导致“Test_IN”和“Test_OUT”断开，使得被测主板的测试点与本检测电路断开电连接，以免本检测电路影响被测主板接下来将要进行的功能性测试。

进一步的，所述与门电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C1和芯片U1，所述芯片U1的第一引脚分别与电阻R3的一端、电阻R5的一端和电容C1的一端电连接，所述电容C1的另一端接地，所述电阻R5的另一端接地，所述电阻R3的另一端接电源，所述芯片U1的第二引脚与比较器电路电连接，所述芯片U1的第三引脚接地，所述芯片U1的第四引脚分别与电阻R4的一端和继电器电路电连接，所述电阻R4的另一端接地，所述芯片U1的第五引脚接电源。

由上述描述可知，设置电阻R3、电阻R5和电容C1起到串联分压和RC延时的作用，分压后的电压输出到与门电路芯片U1的第一引脚，作为与门的一个输入电压，这样的好处是通过RC的延时，能起到降低电源导通瞬间因电压不稳定对与门判断造成的影响；与门电路芯片U1的输出端(第四引脚)连接一个电阻R4到地，起到增强信号稳定性的作用；同时输出信号“Gate_OUT”连接到继电器电路，该“Gate_OUT”信号用于判断被测主板的测试点是否处于短路状态；当“Gate_OUT”为高电平时，表示被测主板的测试点处于非短路状态，反之则处于短路状态。

进一步的，所述比较器电路包括电阻R9、电阻R10、电阻R13和比较器U3，所述比较器U3的第一引脚分别与电阻R10的一端和与门电路电连接，所述电阻R10的另一端接电源，所述比较器U3的第二引脚分别与电阻R9的一端和电阻R13的一端电连接，所述电阻R9的另一端接电源，所述电阻R13的另一端接地，所述比较器U3的第三引脚与继电器电路电连接，所述比较器U3的第四引脚接地，所述比较器U3的第八引脚接电源。

由上述描述可知，电阻R9和电阻R13共同组成一个串联分压电路，对电源电压“VDD_5V”进行分压，分压后电平“Vref”接到比较器U3的第二引脚，作为比较器电路的基准电压；比较器U3的第三引脚连接到继电器电路的“Test_OUT”节点，作为比较器的正输入端；比较器U3的第一引脚接1个上拉电阻R10，同时接到与门电路的“Compare_OUT”节点，作为比较器的输出端；当被测主板的测试点短路时，“Test_OUT”节点的电压值低于基准电压“Vref”，使得输出端“Compare_OUT”为低电平。反之，当被测主板的测试点非短路时，“Test_OUT”节点的电压值高于基准电压“Vref”，使得输出端“Compare_OUT”为高电平。

进一步的，所述驱动电路包括电阻R7、电阻R8、电阻R14、发光二极管D1、场效应管Q3和场效应管Q4，所述场效应管Q3的栅极分别与电阻R7的一端和场效应管Q4的漏极电连接，所述场效应管Q3的源极与电阻R7的另一端电连接且场效应管Q3的源极和电阻R7的另一端均接电源，所述场效应管Q3的漏极与电阻R8的一端电连接，所述电阻R8的另一端与发光二极管D1的阳极电连接，所述发光二极管D1的阴极接地，所述场效应管Q4的栅极分别与电阻R14的一端和与门电路电连接，所述场效应管Q4的源极与电阻R14的另一端电连接且场效应管Q4的漏极和电阻R14的另一端均接地。

由上述描述可知，下拉电阻R14起到稳定场效应管Q4的栅极的作用，避免无输入时处于悬空状态，提高抗干扰能力；场效应管Q4的栅极连接到与门电路的“Gate_OUT”节点，场效应管Q4的源极接地，场效应管Q4的漏极连接到场效应管Q3的栅极，场效应管Q3的源极接电源，同时通过一个电阻R7连接到自身的栅极，场效应管Q3的漏极作为驱动电路的输出端，输出“Check_OUT”信号；这里的电阻R7起到空闲状态时，将场效应管Q3的栅极拉高的作用，使得场效应管Q3处于非导通状态；输出端“Check_OUT”连接到外设控制系统的GPIO端口，作为系统端判断被测主板的测试点是否处于短路状态的标识，同时“Check_OUT”还连接到驱动电路的电阻R8，电阻R8和发光二极管D1串联后接到地，这样的目的是“Check_OUT”信号的高低电平变化，会通过发光二极管D1的亮灭体现出来，起到直观的提示作用。

请参照图6，本发明提供的另一种技术方案：

一种用于检测主板的短路检测电路的短路检测方法，包括以下步骤：

比较器电路输出低电平、与门电路输出低电平和驱动电路输出低电平；

控制系统判断GPIO端口是否检测到低电平；

若是，则判定被测主板处于短路状态。

进一步的，还包括以下步骤：

比较器电路输出高电平、与门电路输出高电平和驱动电路输出高电平；

控制系统判断GPIO端口是否检测到高电平；

若是，则判定被测主板处于非短路状态。

请参照图1至图5，本发明的实施例一为：

请参照图1，一种用于检测主板的短路检测电路，包括驱动电路2、与门电路3、检测点电路4、继电器电路5和比较器电路6，所述继电器电路5分别与检测点电路4、与门电路3和比较器电路6电连接，所述与门电路3分别与驱动电路2和比较器电路6电连接，所述驱动电路2与外设的控制系统1的GPIO端口电连接。

所述控制系统1可以为嵌入式计算机、单片机控制系统等，通常用来作为生产自动化控制的上位机端。

请参照图2，所述检测点电路4包括电阻R11(电阻值为100Ω)，所述电阻R11的一端与继电器电路5电连接，所述电阻R11的另一端通过触针连接第一测试点TP1。

请参照图3，所述继电器电路5包括电阻R1(电阻值为0Ω)、电阻R2(电阻值为1KΩ)、电阻R6(电阻值为300Ω)、场效应管Q1(型号为IRLML640)、场效应管Q2(型号为BSS138)和继电器U2(型号为HFD4)，所述继电器U2的第一引脚与场效应管Q1的漏极电连接，所述继电器U2的第二引脚分别与电阻R6的一端和比较器电路6电连接，所述电阻R6的另一端接电源，所述继电器U2的第三引脚与检测点电路4电连接，所述继电器U2的第八引脚接地，所述场效应管Q1的栅极分别与电阻R2的一端和场效应管Q2的漏极电连接，所述场效应管Q1的源极与电阻R1的一端电连接，所述电阻R1的另一端接电源，所述场效应管Q2的栅极与与门电路3电连接，所述场效应管Q2的源极接地，所述电阻R2的另一端接电源。

请参照图3，所述与门电路3包括电阻R3(电阻值为1KΩ)、电阻R4(电阻值为10KΩ)、电阻R5(电阻值为2KΩ)、电容C1(电容值为100μF)和芯片U1(型号为NXP公司的74LVC1G08)，所述芯片U1的第一引脚分别与电阻R3的一端、电阻R5的一端和电容C1的一端电连接，所述电容C1的另一端接地，所述电阻R5的另一端接地，所述电阻R3的另一端接电源，所述芯片U1的第二引脚与比较器电路6电连接，所述芯片U1的第三引脚接地，所述芯片U1的第四引脚分别与电阻R4的一端和继电器电路5电连接，所述电阻R4的另一端接地，所述芯片U1的第五引脚接电源。

请参照图4，所述比较器电路6包括电阻R9(电阻值为1KΩ)、电阻R10(电阻值为1KΩ)、电阻R13(电阻值为1KΩ)和比较器U3(型号为LM393)，所述比较器U3的第一引脚分别与电阻R10的一端和与门电路3电连接，所述电阻R10的另一端接电源，所述比较器U3的第二引脚分别与电阻R9的一端和电阻R13的一端电连接，所述电阻R9的另一端接电源，所述电阻R13的另一端接地，所述比较器U3的第三引脚与继电器电路5电连接，所述比较器U3的第四引脚接地，所述比较器U3的第八引脚接电源。

请参照图5，所述驱动电路2包括电阻R7(电阻值为10KΩ)、电阻R8(电阻值为1KΩ)、电阻R14(电阻值为10KΩ)、发光二极管D1(型号为亿光的523SYGD)、场效应管Q3(型号为IRLML6401)和场效应管Q4(型号为BSS138)，所述场效应管Q3的栅极分别与电阻R7的一端和场效应管Q4的漏极电连接，所述场效应管Q3的源极与电阻R7的另一端电连接且场效应管Q3的源极和电阻R7的另一端均接电源，所述场效应管Q3的漏极与电阻R8的一端电连接，所述电阻R8的另一端与发光二极管D1的阳极电连接，所述发光二极管D1的阴极接地，所述场效应管Q4的栅极分别与电阻R14的一端和与门电路3电连接，所述场效应管Q4的源极与电阻R14的另一端电连接且场效应管Q4的漏极和电阻R14的另一端均接地。

上述的用于检测主板的短路检测电路的工作原理为：

检测点电路4由一个测试点和一个电阻组成，若需要增加检测点数，只需要相应增加对应的电阻和测试点即可；一个测试点电路对应被测主板上的一个测试点，该测试点通常是一个信号网络节点或者一个电源网络节点，由被测主板决定；设置电阻R11，用于限流或者预留分压使用，需要根据实际的被测主板选择合适的阻值。

刚开始时，继电器U2处于默认状态，继电器U2的第二引脚和第三引脚会接触导通，从而继电器U2的第二引脚连接电阻R6会因为该接触导通与测试点电路的电阻R11、测试点对地电阻R形成一个串联分压电路，对电源电压“VDD_5V”进行分压，在继电器U2的第二引脚得到分压电平V(Test OUT)；若被测主板处于非短路状态，被测主板的检测点的对地电阻R会比较大，会使得继电器U2的第二引脚得到的分压电平比较高；若被测主板处于短路状态，被测主板的检测点的对地电阻R会比较小，会使得继电器U2的第二引脚得到的分压电平比较低。

同时，分压电平V(Test_OUT)经过比较器电路6处理后转化为Compare-OUT电平信号，再经过与门电路3处理后转化“Gate_OUT”信号电平，若被测主板的检测点为非短路状态，则“Gate_OUT”为高电平，则场效应管Q2导通，场效应管Q2的漏极变为低电平，使得场效应管Q1导通，依次继电器U2的第一引脚会获得电源电压“VDD_5V”，从而使得继电器U2切换连接状态，即断开继电器U2的第二引脚和第三引脚的连接，导通继电器U2的第三引脚和第四引脚的连接，从而使得“Test_IN”和“Test_OUT”断开连接，使得被测主板的测试点断开本检测电路，以免本电路影响被测主板接下来的功能性测试。

设置电阻R3、电阻R5和电容C1起到串联分压和RC延时的作用，分压后的电压输出到与门电路3芯片U1的第一引脚，作为与门的一输入端极，这样做的好处是通过RC的延时，能起到降低电源导通瞬间因电压不稳定对与门判断造成的影响；与门电路3芯片U1的输出管脚(第四引脚)连接一个电阻R4到地，起到下拉作用，以增强信号稳定性；门电路U1第四引脚输出“Gate_OUT”信号到继电器电路5，该“Gate_OUT”信号用于判断被测主板的测试点是否处于短路状态；当“Gate_OUT”为高电平状态时，表示被测主板的测试点处于非短路状态，反之则处于短路状态。

电阻R9和电阻R13共同组成一个串联分压电路，对电源电压“VDD_5V”进行分压，分压后的电平“Vref”输入到比较器U3的第二引脚，作为比较器电路6的基准电压；比较器U3的第三引脚为正输入端，连接到继电器电路5的输出端，接收来自继电器电路5的“Test_OUT”信号电平；比较器U3的第一引脚为输出端，接一个上拉电阻R10，同时接到与门电路3的“Compare_OUT”节点，将比较器的输出电平Compare_OUT传送到与门电路3的输入端；当被测主板的测试点短路时，“Test_OUT”节点的电平值低于基准电压“Vref”，使得输出端“Compare_OUT”为低电平。反之，当被测主板的测试点非短路时，“Test_OUT”节点的电平值高于基准电压“Vref”，使得输出端“Compare_OUT”为高电平。

下拉电阻R14起到稳定场效应管Q4的栅极的作用，避免无输入时处于悬空状态，提高抗干扰能力；场效应管Q4的栅极连接与门电路3的输出端“Gate_OUT”节点，场效应管Q4的源极接地，场效应管Q4的漏极连接到场效应管Q3的栅极，场效应管Q3的源极连接电源，同时通过一个电阻R7连接到自身的栅极，场效应管Q3的漏极作为驱动电路2的输出端，输出“Check_OUT”信号；这里的电阻R7起到空闲状态时，将场效应管Q3的栅极拉高的作用，使得场效应管Q3处于非导通状态；输出端“Check_OUT”连接到外设控制系统1的GPIO端口，作为系统端判断被测主板的测试点是否处于短路状态的标识，同时“Check_OUT”还连接到驱动电路2的电阻R8，电阻R8和发光二极管D1串联后接到地，这样的目的是“Check_OUT”输出的高低电平变化，会通过发光二极管D1的亮灭体现出来，起到直观的提示作用，这里D1亮，表示测试点正常，D1灭，表示测试点短路。

被测主板的测试点是否短路，直接的判断标准体现为测试点的对地电阻值；若被测主板的测试点处于短路状态时，对地电阻值会比较小，通常小于100Ω；若被测主板的测试点处于非短路状态时，对地电阻值会比较大，通常都是大于1KΩ。

根据串联分压计算原理，V(Test_OUT)＝VDD_5V*(R+R11)/(R6+R11+R)，这里的R指的就是测试点的对地电阻值，其中R6取值300Ω，R11取值100Ω，根据公式，若被测主板的测试点短路，假设R＝100Ω，则V(Test_OUT)＝5V*(100+100)/(300+100+100)＝2V；若被测主板的测试点非短路，假设R＝1kΩ，则V(Test_OUT)＝5V*(1000+100)/(300+100+1000)＝3.93V。

电阻R9和电阻R13均取值1KΩ，因此Vref＝5V*1/2＝2.5V；若被测主板的测试点短路，V(Test_OUT)＝2V＜2.5V，根据比较器原理，比较器电路6输出为低电平，即V(Compare_OUT)＝0V；若被测主板的测试点非短路，V(Test_OUT)＝3.93V＞2.5V，根据比较器原理，比较器电路6输出为高电平，即V(Compare_OUT)＝5V。

电阻R3＝1KΩ，电阻R5＝2KΩ，电容C1＝100μF，所以与门芯片U1的第一引脚的电平值V1＝VDD_5V*R5/(R3+R5)＝5*2/(1+2)＝3.3V，对于与门芯片U1来说此电压为高电平；因此，若被测主板的测试点短路，V(Compare_OUT)＝0V，则根据与门电路3芯片原理，其输出为低电平，即V(Gate_OUT)＝0V；若被测主板的测试点非短路，V(Compare_OUT)＝5V，则根据与门电路3芯片原理，其输出为高电平，即V(Gate_OUT)＝5V。

根据MOS的导通原理，若被测主板的测试点短路，V(Gate_OUT)＝0V，则场效应管Q4不导通，场效应管Q3的栅极电压为高电平，场效应管Q3不导通，因此V(Check_OUT)＝0V，发光二极管D1不亮，控制系统1检测到的该电平值为低电平；若被测主板的测试点非短路，V(Gate_OUT)＝5V，则场效应管Q4导通，场效应管Q3的栅极电压为低电平，场效应管Q3导通，因此V(Check_OUT)＝5V，发光二极管D1亮起，控制系统1检测到的该电平值为高电平。

根据上述驱动电路2的描述，若控制系统1接收到的电平值为低电平，则判断被测主板处于短路状态；若控制系统1接收到的电平值为高电平，则判断被测主板处于非短路状态；

根据MOS的导通原理和继电器工作原理，若被测主板的测试点短路，V(Gate_OUT)＝0V，场效应管Q2不导通，场效应管Q1的栅极为高电平，场效应管Q1不导通，继电器U2的第一引脚没有得到供电，继电器U2不动作处于默认状态，继电器U2的第二引脚和第三引脚接触连接；若被测主板的测试点非短路，V(Gate_OUT)＝5V，场效应管Q2导通，场效应管Q1的栅极为低电平，场效应管Q1导通，继电器U2的第一引脚有得到供电，继电器U2动作处于工作状态，继电器U2的第三引脚和第二引脚断开连接，此目的是断开本检测电路和被测主板的测试点的电连接，以免当被测主板处于非短路状态要进行下一步功能性测试时，受到本检测电路的影响。

请参照图6和图7，本发明的实施例二为：

请参照图6，一种用于检测主板的短路检测电路的短路检测方法，包括以下步骤：

比较器电路6输出低电平、与门电路3输出低电平和驱动电路2输出低电平；

控制系统1判断GPIO端口是否检测到低电平；

若是，则判定被测主板处于短路状态。

还包括以下步骤：

比较器电路6输出高电平、与门电路3输出高电平和驱动电路2输出高电平；

控制系统1判断GPIO端口是否检测到高电平；

若是，则判定被测主板处于非短路状态。

请参照图7，上述的用于检测主板的短路检测电路的短路检测方法的具体实施例为：

被测主板的测试点是否短路；

若被测主板的测试点短路，则测试点对地阻抗值比较小，串联分压后的电压值较低；

若比较器电路、与门电路和驱动电路均输出低电平，此时控制系统判断GPIO端口是否检测到低电平；

若GPIO端口检测到低电平，发光二极管熄灭，则判定被测主板处于短路状态。

若被测主板的测试点非短路，则测试点对地阻抗值比较大，串联分压后的电压值较高；

若比较器电路、与门电路和驱动电路均输出高电平，此时控制系统判断GPIO端口是否检测到高电平；

若GPIO端口检测到高电平，发光二极管亮起，则判定被测主板处于非短路状态。

综上所述，本发明提供的一种用于检测主板的短路检测电路及短路检测方法，检测电路的地和被测主板的地连接，另外通过检测点电路连接被测主板上任意一个测试点；通过继电器电路，当完成被测主板的短路测试以后，能及时断开被测主板的测试点与本检测电路的电气连接，且不影响被测主板下一步进行上电功能性测试，从而实现自动化生产的目的；被测主板的测试点处于非短路和短路两种状态，最明显的特征体现在测试点对地阻抗值差异明显，短路状态下，阻抗值比较小，通常在100Ω以下，非短路状态下阻抗值比较大，通常大于1kΩ，因此通过比较器电路，能精确的进行短路和非短路的识别区分；通过与门电路，将比较器电路输出的信号进行转换，能够提升电路的抗干扰能力；通过驱动电路，将非短路和短路两种状态信号电平输出到外设的控制系统，控制系统检测该电平的差异，就能判断被测主板是处于非短路还是短路状态，从而决定被测主板是否上电进行下一步的功能性测试，整个流程完全可以自动化控制，无需人为干预，从而实现自动化生产的目的，大大提高生产效率。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。