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设备流畅度的测试方法、装置、电子设备及存储介质

文献发布时间:2023-06-19 10:29:05


设备流畅度的测试方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及计算机技术领域,特别是涉及一种设备流畅度的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

对于电子设备,尤其是移动设备来说,帧/秒(Frame Per Second,FPS),又可以称为帧率,是评价该设备流畅度的重要指标。在动态场景下,帧率越大,设备的渲染性能越好,设备流畅度也越好,帧率越小,设备的渲染性能越差,设备流畅度也越差。而在设备流畅度较差的情况下,设备播放画面时,就容易出现卡顿的问题。

基于上述问题,急需一种基于帧率的设备流畅度的测试方法,以准确确定设备的流畅度,进而准确评价设备的性能。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种设备流畅度的测试方法、装置、电子设备及存储介质,以准确地确定设备的流畅度,提高对设备性能评价的准确性。

具体技术方案如下:

第一方面,本申请实施例提供了一种设备流畅度的测试方法,所述方法包括:

按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表;

获取在所述测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,以及在所述测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差;

基于所述平均帧率和所述标准差,确定所述设备流畅度的测试结果。

可选的,所述按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表的步骤,包括:

按照预设滑动速度,从测试信息列表的顶部开始,向下滑动至测试信息列表的底部;

按照所述预设滑动速度,从测试信息列表的底部开始,向上滑动至测试信息列表的顶部。

可选的,所述方法还包括:

在第一集合中,记录在所述测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成时间;

计算每相邻两个图像帧的生成时间差,并记录在第二集合中;

所述获取在所述测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,以及在所述测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差的步骤,包括:

计算所述第一集合中最后一个记录的生成时间与第一个记录的生成时间之间的差值,作为监控时长;根据所述第一集合中包括的元素个数以及所述监控时长,确定平均帧率,作为在所述测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率;

确定所述第二集合中包括的生成时间差的标准差,作为在所述测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

可选的,所述方法还包括:

在滑动所述测试信息列表之前,生成监听器;

在所述测试信息列表滑动过程中,通过所述监听器,监听在所述测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成,得到每一图像帧的生成时间。

可选的,所述方法还包括:

在所述测试信息列表滑动结束后,去除所述监听器。

可选的,所述基于所述平均帧率和所述标准差,确定所述设备流畅度的测试结果的步骤,包括:

利用如下公式,确定所述设备流畅度的测试分数:

Q=A_FPS*(1-σ/100);

其中,Q为所述设备流畅度的测试分数,A_FPS为所述平均帧率,σ为所述标准差;

将所述测试分数作为所述设备流畅度的测试结果。

第二方面,本申请实施例提供了一种设备流畅度的测试装置,所述装置包括:

滑动单元,用于按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表;

获取单元,用于获取在所述测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,以及在所述测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差;

确定单元,用于基于所述平均帧率和所述标准差,确定所述设备流畅度的测试结果。

可选的,所述滑动单元,具体用于:

按照预设滑动速度,从测试信息列表的顶部开始,向下滑动至测试信息列表的底部;

按照所述预设滑动速度,从测试信息列表的底部开始,向上滑动至测试信息列表的顶部。

可选的,所述装置还包括:

记录单元,用于在第一集合中,记录在所述测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成时间;计算每相邻两个图像帧的生成时间差,并记录在第二集合中;

所述获取单元,具体用于计算所述第一集合中最后一个记录的生成时间与第一个记录的生成时间之间的差值,作为监控时长;根据所述第一集合中包括的元素个数以及所述监控时长,确定平均帧率,作为在所述测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率;确定所述第二集合中包括的生成时间差的标准差,作为在所述测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

可选的,所述装置还包括:

监听单元,用于在滑动所述测试信息列表之前,生成监听器;在所述测试信息列表滑动过程中,通过所述监听器,监听在所述测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成,得到每一图像帧的生成时间。

可选的,所述装置还包括:

去除单元,用于在所述测试信息列表滑动结束后,去除所述监听器。

可选的,所述确定单元,具体用于:

利用如下公式,确定所述设备流畅度的测试分数:

Q=A_FPS*(1-σ/100);

其中,Q为所述设备流畅度的测试分数,A_FPS为所述平均帧率,σ为所述标准差;

将所述测试分数作为所述设备流畅度的测试结果。

第三方面,本申请实施例提供了一种电子设备,包括处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,所述处理器、所述通信接口和所述存储器通过所述通信总线完成相互间的通信;

所述存储器,用于存放计算机程序;

所述处理器,用于执行存储器上所存放的程序时,实现任一所述的设备流畅度的测试方法步骤。

第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现任一所述的设备流畅度的测试方法步骤。

本申请实施例还提供了一种计算机程序,当其在计算机上运行时,使得计算机执行任一所述的设备流畅度的测试方法步骤。

本申请实施例有益效果:

本申请实施例提供的技术方案中,利用在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率和标准差,为设备流畅度打分,确定设备流畅度的测试结果。由于在为设备流畅度打分时,考虑了标准差,也就是考虑了图像帧的生成时间的分布规律,因此,确定的设备流畅度的测试结果,能够准确地确定设备的流畅度,提高了对设备性能评价的准确性。

当然,实施本申请的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的实施例。

图1为本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法的第一种流程示意图;

图2为本申请实施例提供的新闻列表的一种示意图;

图3为本申请实施例提供的设备屏幕的一种示意图;

图4为本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法的第二种流程示意图;

图5为本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法的第三种流程示意图;

图6为本申请实施例提供的设备流畅度的测试装置的一种结构示意图;

图7为本申请实施例提供的电子设备的一种流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。

下面对本申请实施例中出现的词语进行解释说明。

帧率,是用来衡量设备渲染能力的一个指标。帧率越大,设备的渲染能力性能越强,在1秒内,设备能够渲染出图像帧的数量就越多。

在动态场景下,FPS过低,会引起“卡顿”现象,设备流畅度较低。而导致FPS过低的因素有很多,如中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、图形处理器(GraphicsProcessing Unit,GPU)、内存和闪存性能不佳,以及应用(Application,App)的代码效率低等。

为准确确定设备的流畅度,进而准确评价设备的性能,本申请实施例提供了一种设备流畅度的测试方法,该方法可以应用于手机、平板电脑、个人电脑等电子设备。为便于理解,下面以电子设备为执行主体为例进行说明,不起限定作用。

本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法中,利用在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率和标准差,为设备流畅度打分,确定设备流畅度的测试结果。由于在为设备流畅度打分时,考虑了标准差,也就是考虑了图像帧的生成时间的分布规律,因此,确定的设备流畅度的测试结果,能够准确地确定设备的流畅度,提高了对设备性能评价的准确性。

下面通过具体实施例,对本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法进行详细说明。

参考图1所示,图1为本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法的第一种流程示意图,该方法包括如下步骤。

步骤S11,按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表。

本申请实施例中,测试信息列表包括多条测试信息,如包括120条、130条、或150条测试信息。每条测试信息的高度相同,如每条测试信息的高度为100个像素、150个像素或200个像素等。测试信息可以为新闻、搜索信息等。相应的,测试信息列表可以为预先设定的新闻列表、搜索信息列表等。

以测试信息为新闻,测试信息列表是新闻列表为例进行说明,新闻列表包括多条新闻,每条新闻信息包括标题、新闻简介、来源和发布时间等,如图2所示。

另外,测试信息列表的高度大于电子设备的屏幕高度。如图3所示的电子设备的屏幕,该屏幕中显示出了测试信息列表的部分信息。

上述预设滑动速度和预设滑动方向可以根据实际需求进行设定。例如,预设滑动速度可以根据用户能够看清文字的滑动速度进行设定。预设滑动方向可以为向下滑动、或先向下滑动,再向上滑动等。

一个实施例中,测试信息列表可以包括120条测试信息,预设滑动方向为先向下滑动,再向上滑动。按照预设滑动速度滑动测试信息列表进行测试的整个测试过程,其耗时18秒。这种情况下,测试时长不会太长,也不会太短,能够使用户清晰的观察到整个测试过程,进一步了解设备的流畅度性能。

步骤S12,获取在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,以及在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

在测试信息列表滑动过程中,电子设备不断生成图像帧,并在屏幕中显示。测试信息列表滑动过程结束后,电子设备可获取到在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

例如,在测试信息列表滑动过程中,电子设备生成了10个图像帧,分别为图像帧1-10。电子设备可获取生成图像帧1-10的平均帧率,另外,计算每相邻两个图像帧的生成时间差,得到9个生成时间差,计算这9个生成时间差的标准差。此时,电子设备获取到了在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率以及每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

步骤S13,基于平均帧率和标准差,确定设备流畅度的测试结果。

本申请实施例中,基于上述步骤S12中获取到的平均帧率和标准差,确定设备流畅度的测试结果。

在本申请的一个实施例中,电子设备可以利用如下公式,确定设备流畅度的测试分数:

Q=A_FPS*(1-σ/100);

其中,Q为设备流畅度的测试分数,A_FPS为平均帧率,σ为标准差;

电子设备可将测试分数Q作为设备流畅度的测试结果。

在本申请的另一个实施例中,电子设备可以利用如下公式,确定设备流畅度的测试分数:

其中,Q'为设备流畅度的测试分数,A_FPS为平均帧率,σ为标准差;

电子设备可将测试分数Q'作为设备流畅度的测试结果。

本申请实施例中,电子设备还可以其他方式基于平均帧率和标准差,确定设备流畅度的测试结果,对此不做限定。

本申请实施例提供的技术方案中,利用在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率和标准差,为设备流畅度打分,确定设备流畅度的测试结果。由于在为设备流畅度打分时,考虑了标准差,也就是考虑了图像帧的生成时间的分布规律,因此,确定的设备流畅度的测试结果,能够准确地确定设备的流畅度,提高了对设备性能评价的准确性。

在本申请的一个实施例中,本申请实施例还提供了一种设备流畅度的测试方法。参见图4,图4为本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法的第二种流程示意图,该方法中,步骤S11可以细化为如下步骤。

步骤S111,按照预设滑动速度,从测试信息列表的顶部开始,向下滑动至测试信息列表的底部。

步骤S112,按照预设滑动速度,从测试信息列表的底部开始,向上滑动至测试信息列表的顶部。

本申请实施例中,预设滑动方向为先向下滑动,再向上滑动。电子设备先预设滑动速度,从测试信息列表的顶部开始,向下滑动至测试信息列表的底部,之后,按照预设滑动速度,从测试信息列表的底部开始,向上滑动至测试信息列表的顶部。此时,用户可以直观地从两个滑动方向上预览到测试信息列表包括的所有测试信息,能够更为直观的了解整个测试过程。

在本申请的一个实施例中,本申请实施例还提供了一种设备流畅度的测试方法。参见图5,图5为本申请实施例提供的设备流畅度的测试方法的第三种流程示意图,该方法还可以包括步骤S14和S15,这种情况下,步骤S12可以细化为如下步骤S121、S122和S123。

步骤S11,按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表。

步骤S14,在第一集合中,记录在测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成时间。

步骤S15,计算每相邻两个图像帧的生成时间差,并记录在第二集合中。

本申请实施例中,电子设备中预设创建了第一集合和第二集合。在按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表的过程中,电子设备不断生成图像帧,获取图像帧的生成时间,并记录在第一集合中。另外,基于第一集合中记录的生成时间,电子设备计算每相邻两个图像帧的生成时间差,并在第二集合中。在测试信息列表滑动过程结束中,第一集合记录了多个生成时间,第二集合中记录了多个生成时间差。

在本申请的一个实施例中,为便于记录每一图像帧的生成时间,在滑动测试信息列表之前,电子设备生成监听器。这样,在测试信息列表滑动过程中,电子设备通过监听器,监听在测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成,得到每一图像帧的生成时间,并在第一集合中记录每一图像帧的生成时间。

一个实施例中,电子设备可调用Choreographer(舞蹈指挥)函数(如Choreographer.getInstance().postFrameCallback()),生成监听器。

在本申请的一个实施例中,为了节约设备的存储空间,在测试信息列表滑动结束后,电子设备去除监听器。

一个实施例中,电子设备可调用Choreographer函数(如Choreographer.getInstance().removeFrameCallback()),去除监听器。

步骤S121,计算第一集合中最后一个记录的生成时间与第一个记录的生成时间之间的差值,作为监控时长。

本申请实施例中,第一集合中记录的第一个生成时间为监控的起始时间,第一集合中记录的最后一个生成时间为监控的结束时间。电子设备计算第一集合中最后一个记录的生成时间与第一个记录的生成时间之间的差值,得到时长即可作为监控时长。

步骤S122,根据第一集合中包括的元素个数以及监控时长,确定平均帧率,作为在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率。

本申请实施例中,第一集合中包括的元素个数可以表示总共生成的图像帧的个数。电子设备根据第一集合中包括的元素个数以及监控时长,可确定平均帧率。该平均帧率即为在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率。

例如,第一集合中包括的元素个数为100,监控时长为5秒,则在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率为100/5=20帧/秒。

步骤S123,确定第二集合中包括的生成时间差的标准差,作为在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

本申请实施例中,电子设备可以利用正态分布公式计算生成时间差的标准差,具体如下:

上式中,σ表示在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差,N表示第二集合中包括的生成时间差的个数,x

步骤S13,基于平均帧率和所述标准差,确定设备流畅度的测试结果。

本申请实施例中,在电子设备创建了第一集合和第二集合,在第一集合和第二集合中,分别记录图像帧的生成时间,以及相邻两个图像帧的生成时间差,并后续直接基于第一集合和第二集合中记录的信息,确定平均帧率和标准差,提高了设备流畅度的测试的效率。

本申请实施例中,还可以采用其他方式确定在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率以及生成时间差的标准差,对此不做限定。

例如,电子设备设置计时器。在滑动测试信息列表开始时,电子设备启动计时器。在测试信息列表滑动过程中,电子设备累计生成的图像帧的个数,并利用计时器,确定每相邻两个图像帧的生成时间差。在测试信息列表滑动过程结束后,电子设备将计时器的累计时长作为监控时长,基于累计的图像帧的个数以及监控时长,确定在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,基于确定确定每相邻两个图像帧的生成时间差,确定在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

与上述设备流畅度的测试方法对应,本申请实施例还提供了一种设备流畅度的测试装置,参见图6,图6为本申请实施例提供的设备流畅度的测试装置的一种结构示意图,该装置包括:

滑动单元61,用于按照预设滑动速度和预设滑动方向,滑动测试信息列表;

获取单元62,用于获取在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率,以及在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差;

确定单元63,用于基于平均帧率和标准差,确定设备流畅度的测试结果。

在本申请的一个实施例中,滑动单元61,具体可以用于:

按照预设滑动速度,从测试信息列表的顶部开始,向下滑动至测试信息列表的底部;

按照预设滑动速度,从测试信息列表的底部开始,向上滑动至测试信息列表的顶部。

在本申请的一个实施例中,上述设备流畅度的测试装置还可以包括:

记录单元,用于在第一集合中,记录在测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成时间;计算每相邻两个图像帧的生成时间差,并记录在第二集合中;

获取单元62,具体可以用于计算第一集合中最后一个记录的生成时间与第一个记录的生成时间之间的差值,作为监控时长;根据第一集合中包括的元素个数以及监控时长,确定平均帧率,作为在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率;确定第二集合中包括的生成时间差的标准差,作为在测试信息列表滑动过程中每相邻两个图像帧的生成时间差的标准差。

在本申请的一个实施例中,上述设备流畅度的测试装置还可以包括:

监听单元,用于在滑动测试信息列表之前,生成监听器;在测试信息列表滑动过程中,通过监听器,监听在测试信息列表滑动过程中每一图像帧的生成,得到每一图像帧的生成时间。

在本申请的一个实施例中,上述设备流畅度的测试装置还可以包括:

去除单元,用于在测试信息列表滑动结束后,去除监听器。

在本申请的一个实施例中,确定单元63,具体可以用于:

利用如下公式,确定设备流畅度的测试分数:

Q=A_FPS*(1-σ/100);

其中,Q为设备流畅度的测试分数,A_FPS为平均帧率,σ为标准差;

将测试分数作为设备流畅度的测试结果。

本申请实施例提供的技术方案中,利用在测试信息列表滑动过程中图像帧的平均帧率和标准差,为设备流畅度打分,确定设备流畅度的测试结果。由于在为设备流畅度打分时,考虑了标准差,也就是考虑了图像帧的生成时间的分布规律,因此,确定的设备流畅度的测试结果,能够准确地确定设备的流畅度,提高了对设备性能评价的准确性。

与上述设备流畅度的测试方法对应,本申请实施例还提供了一种电子设备,如图7所示,包括处理器71、通信接口72、存储器73和通信总线74,其中,处理器71,通信接口72,存储器73通过通信总线74完成相互间的通信,

存储器73,用于存放计算机程序;

处理器71,用于执行存储器73上所存放的程序时,实现上述图1-5任一所述的设备流畅度的测试方法步骤。

上述电子设备提到的通信总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect,PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture,EISA)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图中仅用一条粗线表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

通信接口用于上述电子设备与其他设备之间的通信。

存储器可以包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括非易失性存储器(Non-Volatile Memory,NVM),例如至少一个磁盘存储器。可选的,存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。

上述的处理器可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、网络处理器(Network Processor,NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

在本申请提供的又一实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述图1-5任一所述的设备流畅度的测试方法步骤。

在本申请提供的又一实施例中,还提供了一种计算机程序,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述图1-5任一所述的设备流畅度的测试方法步骤。

在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质,(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk(SSD))等。

需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本申请的较佳实施例,并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本申请的保护范围内。

相关技术
  • 设备流畅度的测试方法、装置、电子设备及存储介质
  • 应用程序流畅度的测试方法、装置、设备及存储介质
技术分类

06120112568617