光电观测设备图像延迟的测量装置及方法

技术领域

本发明涉及图像延迟测量领域，尤其是涉及一种光电观测设备图像延迟的测量装置及方法。

背景技术

当前光电观测设备图像延迟测量不易，测量精度不高，光电设备光源产生不易等问题突出，亟待解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光电观测设备图像延迟的测量装置，旨在解决图像延迟测量不易，测量精度不高，光电设备光源产生不易等问题。

本发明提供一种光电观测设备图像延迟的测量装置，包括：

光电路模块，与测量模块连接，用于将电信号转换成光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上；

测量模块，与所述光电路模块和光电观测设备的测试点连接，用于测试两个测试点的信号变化，并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP 的图像延迟时间。

优选的，所述光电路模块包括：按键、发光二极管、限流电阻和电源，其中：

所述按键，其一端与所述电源正极连接，用于根据用户的操作接通或断开电路；

所述电源，其负极与所述限流电阻的一端连接并接地，用于为所述光电路模块提供电源；

所述限流电阻，另一端与发光二极管的一端连接，用于限流；

所述发光二极管，其另一端与按键的另一端连接，用于在电源接通且按键连通的情况下，将电信号转换成光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上。

优选的，一个测试点位于所述按键与所述发光二极管的连接线上，另一个测试点位于光电观测设备的成像传感器与显示器的连接线上。

优选的，所述测量模块为示波器。

本发明还提供一种光电观测设备图像延迟的测量方法，用于上述所述的光电观测设备图像延迟的测量装置，所述方法包括：

通过光电路模块将电信号转换成光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上；

通过测量模块测试与所述光电路模块和光电观测设备连接的两个测试点的信号变化，并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。

优选的，通过光电路模块将电信号转换成光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上具体包括：

通过光电路模块接收到用于按下按键的操作后，通过所述光电路模块中的发光二极管发出光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上。

优选的，通过测量模块测试与所述光电路模块和光电观测设备连接的两个测试点的信号变化，并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间具体包括：

将测量模块的表笔CH1信号源设置成上升沿触发模式，检测第一测试点处信号变化，其中，所述第一测试点位于所述按键与所述发光二极管的连接线上；

将测量模块的表笔CH2信号源设置成上升沿触发模式，检测第二测试点处信号变化；其中，所述第二测试点位于光电观测设备的成像传感器与显示器的连接线上；

通过测量模块测量表笔CH1与表笔CH2之间的触发时间差△t，并根据触发时间差△t确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。

本发明实施例还提供一种光电观测设备图像延迟的高精度测量装置，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述方法的步骤。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有信息传递的实现程序，所述程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

采用本发明实施例，图像延迟测量简便，测量精度高，光电设备光源容易产生。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量装置示意图；

图2是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量装置的具体示意图；

图3是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量方法的流程图；

图4是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量装置的电子设备示意图。

附图标记说明：

101：光电路模块；102：测量模块；1：按键；2：电源；3：限流电阻； 4：发光二极管；5：示波器；6：成像传感器；7：显示器。

具体实施方式

下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。此外，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

装置实施例一

根据本发明实施例，提供了一种光电观测设备图像延迟的测量装置，图1是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量装置示意图，图2是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量装置的具体示意图，如图1 和图2所示，具体包括：

光电路模块101包括：

按键1，其一端与电源2正极连接，用于根据用户的操作接通或断开电路；

电源2，其负极与限流电阻3的一端连接并接地，用于为光电路模块 101提供电源；

限流电阻3，另一端与发光二极管的一端连接，用于限流；

发光二极管4，其另一端与按键1的另一端连接，用于在电源接通且按键连通的情况下，将电信号转换成光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器6上。

光电路模块101与测量模块102连接，用于将电信号转换成光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器6上；

测量模块102，为示波器5，与光电路模块101和光电观测设备的测试点连接，一个测试点位于按键1与发光二极管4的连接线上，另一个测试点位于光电观测设备的成像传感器6与显示器7的连接线上。

用于测试两个测试点的信号变化，并基于信号变化确定成像传感器 6ISP的图像延迟时间。

采用本发明实施例，图像延迟测量简便，测量精度高，光电设备光源容易产生。

方法实施例

根据本发明实施例，提供了一种光电观测设备图像延迟的测量方法，图3是本发明实施例的光电观测设备图像延迟的测量方法流程图，如图3 所示，具体包括：该方法用于光电观测设备图像延迟的测量装置，方法包括：

通过光电路模块101接收到用于按下按键1的操作后，通过所述光电路模块101中的发光二极管4发出光信号，并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器6上。

将示波器5的表笔CH1信号源设置成上升沿触发模式，检测第一测试点处信号变化，其中，所述第一测试点位于所述按键1与所述发光二极管4 的连接线上；

将示波器的表笔CH2信号源设置成上升沿触发模式，检测第二测试点处信号变化；其中，所述第二测试点位于光电观测设备的成像传感器6与显示器7的连接线上；

通过示波器测量表笔CH1与表笔CH2之间的触发时间差△t，并根据触发时间差△t确定所述成像传感器6ISP的图像延迟时间。

装置实施例二

本发明实施例提供一种光电观测设备图像延迟的测量装置，如图4所示，包括：存储器40、处理器42及存储在存储器40上并可在处理器42上运行的计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例中的步骤。

装置实施例三

本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有信息传输的实现程序，程序被处理器42执行时实现上述方法实施例中的步骤。

本实施例所述计算机可读存储介质包括但不限于为：ROM、RAM、磁盘或光盘等。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替本发明各实施例技术方换，并不使相应技术方案的本质脱离案的范围。