电子装置及其测试模式启用方法

技术领域

本发明涉及一种电子装置，且特别是涉及一种电子装置及其测试模式启用方法。

背景技术

近年来，电子装置的测试模式是由输入输出接口(例如通用型的输入输出(GPIO))输入特定的数据且判断所输入的数据是否为进入密钥(Entry Key)来判断是否进入测试模式。然而，为了避免客户使用输入输出接口时误入测试模式进而影响芯片的行为，进入密钥会被设计成复杂度高、位数多且不容易随机进入的形式。但是，这样的操作模式同时提升了量测人员进入测试模式的困难度。此外，操作人员进入测试模式后必须将复位接脚的电压状态维持在复位状态下，才能使处理器(例如中央处理单元(CPU))不参与，进而能够使用测试模式进行量测。因此，如何使测试模式可以更简易的进入但不会被使用者误入则成为设计电子装置的一个重点。

发明内容

本发明是针对一种电子装置及其测试模式启用方法，可简化启用测试模式的流程且可避免电子装置的测试模式被用户所开启。

根据本发明的实施例，电子装置包括多个外围组件、闪存、密钥比对电路及测试模式电路。闪存提供比对密钥。密钥比对电路用以比对比对密钥及进入密钥，以反应于比对结果提供测试进入信号。测试模式电路反应于测试进入信号测试这些外围组件。

根据本发明的实施例，电子装置的测试模式启用方法包括下列步骤。自闪存提供比对密钥。通过密钥比对电路比对比对密钥及进入密钥。通过密钥比对电路反应于比对密钥及进入密钥的比对结果提供测试进入信号，以通过测试模式电路反应于测试进入信号测试多个外围组件。

基于上述，本发明实施例的电子装置及其测试模式启用方法，通过比对来自闪存的比对密钥及进入密钥来决定电子装置是否进入测试模式，并且通过电子装置的自动决定是否进入测试模式而没有数据输入的动作，可简化启用测试模式的流程且可避免电子装置的测试模式被用户所开启。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1为依据本发明一实施例的电子装置的系统示意图。

图2为依据本发明一实施例的电子装置的测试模式启用方法的流程图。

具体实施方式

现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在图式和描述中用来表示相同或相似部分。

图1为依据本发明一实施例的电子装置的系统示意图。请参照图1，在本实施例中，电子装置100包括电源电路110、闪存120、处理器130、密钥比对电路140、测试模式电路150及多个外围组件160、170。外围组件160、170至少包括压控振荡器、稳压器或输出输入电路等。

电源电路110耦接至闪存120、处理器130及密钥比对电路140。闪存120耦接至处理器130、密钥比对电路140、测试模式电路150及多个外围组件160、170。并且，密钥比对电路140耦接至测试模式电路150。

在本实施例中，电子装置100反应于电源启动信号Pon而启动，并且接着进入初始化期间，其中电源启动信号Pon可以由电子装置100的输入接口(例如按键、触控键、开关等)。进一步来说，电源电路110反应于电源启动信号Pon至少提供系统电压Vdd至闪存120，并且闪存120反应于接收系统电压Vdd启动初始化程序。

在初始化期间中，电源电路110会控制处理器130的复位接脚处于复位状态，例如电源电路110可提供为逻辑低准位或逻辑准位“0”的复位信号HRESETn至处理器130的复位接脚。

在初始化程序中，闪存120依序提供多个初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT至处理器130、外围组件160、170及测试模式电路150，以依序设定处理器130、外围组件160、170及测试模式电路150的操作模式及操作状态。

在初始化程序之后，亦即初始化期间之后，闪存120会读取存储于其密钥区域Mek的比对密钥Kcp，并且将比对密钥Kcp提供至密钥比对电路140。密钥比对电路140用以比对比对密钥Kcp及进入密钥Ken，以反应于比对密钥Kcp及进入密钥Ken的比对结果决定是否提供测试进入信号Ten至电源电路110及测试模式电路150，亦即决定是否进入测试模式。举例来说，当比对密钥Kcp相同于进入密钥Ken时，密钥比对电路140可提供测试进入信号Ten；当比对密钥Kcp不同于进入密钥Ken时，密钥比对电路140可不提供测试进入信号Ten。

接着，测试模式电路150可反应于接收到测试进入信号Ten测试外围组件160、170，并且电源电路110可反应于接收到测试进入信号Ten使处理器130的复位接脚维持于复位状态，以避免处理器130的运作妨碍外围组件160、170的测试，且不需要电子装置100的外部信号的输入。另一方面，测试模式电路150可反应于未接收到测试进入信号Ten而不测试外围组件160、170，并且电源电路110可反应于未接收到测试进入信号Ten使处理器130的复位接脚从复位状态中释放，亦即使处理器130的复位接脚从复位状态改变至使能状态(例如为逻辑高准位或逻辑准位“1”)，以使处理器130开始运作。

举例来说，当电子装置100的主要组件(例如电路系统)完成后，可将比对密钥Kcp预设为相同于进入密钥Ken，以在工厂端中会使电子装置100开机后会自行进入测试模式，而电子装置100的测试会执行至电子装置100被关机。接着，在完成测试后，可将比对密钥Kcp改变为不同于进入密钥Ken(例如抹除或重新写入密钥区域Mek)，以使用户在启动电子装置100后不会进入测试模式。

依据上述，在本发明实施例中，通过初始化期间(亦即初始化程序)之后安插比对比对密钥Kcp及进入密钥Ken的步骤(或动作)来决定电子装置100是否进入测试模式，并且通过电子装置100的自动决定是否进入测试模式而没有数据输入的动作，可简化启用测试模式的流程且可避免电子装置100的测试模式被用户所开启。

在本发明实施例中，闪存120中存储初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT的区域及存储比对密钥Kcp的区域(亦即密钥区域Mek)可以是系统专用，亦即存储初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT的区域及密钥区域Mek对用户而言是不可见，藉此可避免使用者在工厂端之外启用测试模式。

在本发明实施例中，进入密钥Ken可以存储于密钥比对电路140中，或者可储于存电子装置100中的任一存储组件(例如闪存120)中，亦即闪存120可依序提供比对密钥Kcp及进入密钥Ken至密钥比对电路140。

在本发明实施例中，在初始化期间之后且密钥比对电路140未提供测试进入信号Ten时，电子装置100会回到开机流程，以恢复所有组件(例如处理器130、外围组件160、170)的电力供应。在完成开机流程后，会进入用户模式，此时处理器130可以自闪存120存取数据Data，以执行由使用者写入闪存120的应用程序。

在本发明实施例中，可在电子装置100中配置控制电路(未绘示)来控制闪存120输出初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT、以及比对密钥Kcp的时序，亦即控制电路(未绘示)可依序提供初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT、以及比对密钥Kcp所对应的地址至控制闪存120。换言之，控制电路(未绘示)可反应于系统电压Vdd提供初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT、以及比对密钥Kcp所对应的地址。在本发明实施例中，控制电路(未绘示)可配置闪存120中。在本发明实施例中，控制电路(未绘示)可反应于系统电压Vdd而启用，并且可反应测试进入信号Ten而禁用。

图2为依据本发明一实施例的电子装置的测试模式启用方法的流程图。请参照图2，在本实施例中，电子装置的电路系统会先上电(步骤S210)，亦即电子装置的电源电路反应于电源启动信号而至少提供系统电压至电路系统。接着，闪存进行初始化(步骤S220)，并且在初始化后，自闪存提供比对密钥(步骤S230)。然后，通过密钥比对电路比对比对密钥及进入密钥(步骤S240)，以通过密钥比对电路反应于比对密钥及进入密钥的比对结果提供测试进入信号。换言之，当比对密钥相同于进入密钥时，亦即步骤S240的判断结果为“是”，密钥比对电路可提供测试进入信号，以使电子装置进入测试模式(步骤S250)；当比对密钥不同于进入密钥时，亦即步骤S240的判断结果为“否”，密钥比对电路可不提供测试进入信号，并且接着执行开机流程，以使电子装置进入用户模式。

在测试模式中，通过测试模式电路反应于测试进入信号测多个外围组件。在开机流程中，至少会确保电力稳定(步骤S260)、释放处理器的复位接脚的复位状态(步骤S270)、以及通过处理器执行使用者所写入的程序代码(步骤S280)。其中，步骤S210至S280的顺序为用以说明，本发明实施例不以此为限。并且，步骤S210至S280的细节可参照图1实施例所示，在此则不再赘述。

综上所述，本发明实施例的电子装置及其测试模式启用方法，通过初始化期间之后安插比对比对密钥及进入密钥的步骤来决定电子装置是否进入测试模式，并且通过电子装置的自动决定是否进入测试模式而没有数据输入的动作，可简化启用测试模式的流程且可避免电子装置的测试模式被用户所开启。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。