测试机转接装置

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种测试机转接装置。

背景技术

结合数字与模拟测试功能的测量系统EVA100,可应用于少接脚数的模拟、混合信号与传感器半导体测量，支持多种元件测试功能的全新测试解决方案，从工程研发到量产阶段皆可应用。

现有的测试机在对装置测试时，需要进行引线。先将测试机的通过探针连接一个PCB板，在PCB板上焊接导线，再将导线另一端焊接在一个探针盘上，通过探针盘连接待测试的装置设备。对于不同装置或者设备，测试要求不同，其测试的通道也不相同，此时需要重新焊接导线，工作量较大。使用较为不便。

发明内容

本发明要解决的技术问题是解决上述现有技术的不足，使用范围广，具有通用性的测试机转接装置。

为了解决上述现有技术的不足，本发明采用的技术方案为：一种测试机转接装置，包括测试机固定模块以及转接模块，所述转接模块可拆式安装在测试机固定模块上，所述测试机固定模块用于安置测试机；所述转接模块底部安装有用于转接的线路板，线路板与测试机之间通过探针连接，转接模块的顶部也设置转接用的线路板，顶部的线路板的触点与底部线路板之间通过焊接的导线电连接，所述转接模块还包括一个双面探针盘，双面探针盘两侧均设置有探针，双面探针盘其中一面探针连接顶部的线路板，另一侧的探针用于连接待测试的装置。

进一步的，所述转接模块包括一个底板，底板上设置有若干槽口，槽口处设置有楔形部；所述测试机固定模块包括可滑动的固定板，固定板上设置有压紧轮，压紧轮可伸入槽口中，压紧轮可沿楔形部滚动从而逐渐将转接模块的底板压紧在测试机固定模块上。

进一步的，所述测试机固定模块包括滑板、凸轮，固定板连接滑板，凸轮上设置有手柄，手柄用于转动凸轮，凸轮上设销轴，滑板上设置横槽，销轴位于横槽中，销轴偏心设置在凸轮上，凸轮转动推动滑板滑动。

进一步的，还包括具有弹性的销钉，凸轮上设置有销孔，销钉可伸入凸轮的销孔中对凸轮进行锁定。

进一步的，所述测试机固定模块还包括一个滑轨以及滑块，滑板固定在滑块上，滑块可沿滑轨滑动，滑轨用于限定滑板的滑动方向。

进一步的，所述测试机固定模块上转接模块设置有互相契合的且可解锁的锁紧钩，当固定模块与转接模块对接后，锁紧钩之间锁紧。

从上述技术方案可以看出本发明具有以下优点：当测试不同型号的装置时，无需重新焊接导线，选择双面探针盘与顶部线路板接通的触点或者更换探针盘即可，使用较为方便。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明中的转接模块的半剖图；

图3为本发明中测试机固定模块的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式做具体说明。

如图1所示，本发明的测试机转接装置包括测试机固定模块1以及转接模块2，所述转接模块2可拆式安装在测试机固定模块上，所述测试机固定模块用于安置测试机。

具体的，转接模块如图2所示，其底板25安装有用于转接的线路板26，线路板26与测试机之间通过探针连接(探针位于底板的另一侧，图中未显示)，转接模块的顶部也设置转接用的线路板，顶部的线路板21的触点与底部线路板之间通过焊接的导线电连接(图中导线未显示)，所述转接模块还包括一个双面探针盘22，双面探针盘22两侧均设置有探针，双面探针盘其中一面探针连接顶部的线路板21，另一侧的探针用于连接待测试的装置。

通过上述装置便可将测试机的测试通道与待测试的装置之间接通，对装置进行测试。当测试不同型号的装置时，无需重新焊接导线，选择双面探针盘与顶部线路板接通的触点或者更换探针盘即可，使用较为方便。

转接模块的底板25上设置有若干槽口27，槽口27处设置有楔形部28。测试机固定模块如图3所示，其包括可滑动的固定板12，固定板12上设置有压紧轮11，压紧轮11可伸入槽口中，压紧轮11可沿楔形部滚动从而逐渐将转接模块的底板压紧在测试机固定模块上。

具体的，测试机固定模块还包括滑板17以及凸轮13，固定板12连接滑板17，凸轮13上设置有手柄13，手柄13用于转动凸轮，凸轮13上设销轴18，滑板上设置横槽14，销轴 18位于横槽14中，销轴偏心设置在凸轮上，凸轮转动推动滑板滑动。测试机固定模块还设置了一个滑轨16以及滑块，滑板固定在滑块上，滑块可沿滑轨滑动，滑轨用于限定滑板的滑动方向。

本发明还设置了具有弹性的销钉，凸轮上设置有销孔，销钉可伸入凸轮的销孔中对凸轮进行锁定。当凸轮到特定位置时，销孔可插入凸轮中，防止误操作转动凸轮。

此外，所述测试机固定模块上转接模块设置有互相契合的且可解锁的锁紧钩，当固定模块与转接模块对接后，锁紧钩之间锁紧。当压紧轮来开楔形部时，锁紧钩仍然可以使测试机固定模块1和转接模块2保持固定，实现多重保护。