一种纳米晶材料检测方法及终端

技术领域

本发明涉及质量检测领域，尤其涉及一种纳米晶材料检测方法及终端。

背景技术

纳米晶材料因为具有较高的磁导率和较高的饱和磁感应强度，在现有的无线充电中通常作为导磁和电磁屏蔽材料。但是想要在利用纳米晶材料优点的情况下避免其电阻率小且损耗高的缺点，就需要将纳米晶分割为小单元，实现充电过程中损耗的减少从而实现充电效率的提高。

现有技术中通常引入碎磁工艺将纳米晶分割为小单元，其中一种操作方法是将纳米晶带材通过碎磁辊碾压。但经由碎磁辊碾压之后的纳米晶带材会产生少量的碎屑颗粒和表面碎裂裂纹，而最终的纳米晶成品是由多层纳米晶复合形成，若在复合的过程中夹杂有碎屑颗粒，会造成成品的表面鼓包，鼓包和内部的裂纹会给最终的无线充电产品带来较大的安全隐患。而现有技术中在检测纳米晶材料时通常需要保持材料的静止，效率较为低下，通常为了不影响材料的流转速度、保证生产效率，会采用抽样检测的方式进行检测，则可能有不满足条件的纳米晶材料被做成最终产品。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种纳米晶检测方法及终端，实现纳米晶材料检测效率的提高。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：

一种纳米晶材料检测方法，包括步骤：

获取待检测纳米晶材料的运动速度；

根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率；

将所述频率发送至检测相机，并获取所述检测相机根据所述频率采集的检测图像；

根据所述检测图像获取检测结果。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种纳米晶材料检测终端，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取待检测纳米晶材料的运动速度；

根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率；

将所述频率发送至检测相机，并获取所述检测相机根据所述频率采集的检测图像；

根据所述检测图像获取检测结果。

本发明的有益效果在于：根据待检测纳米晶材料的运动速度调整检测相机拍摄的频率，检测相机根据该频率获取检测图像，最后根据检测图像获取到检测结果，能够在纳米晶材料持续向前运动的过程中同时进行检测，因无需在运送纳米晶材料的过程中专门停机使得纳米晶材料静止进行检测，故不会对工序间纳米晶材料的流转造成较多影响，大大提高了对纳米晶材料进行检测的效率，从而为对工序结束后的所有纳米晶材料进行检测提供条件。

附图说明

图1为本发明实施例的一种纳米晶材料检测方法的步骤流程图；

图2为本发明实施例的一种纳米晶材料检测终端的结构示意图；

图3为本发明实施例的一种纳米晶材料检测方法的完整过程示意图；

标号说明：

1、一种纳米晶材料检测终端；2、处理器；3、存储器。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，一种纳米晶材料检测方法，包括步骤：

获取待检测纳米晶材料的运动速度；

根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率；

将所述频率发送至检测相机，并获取所述检测相机根据所述频率采集的检测图像；

根据所述检测图像获取检测结果。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：根据待检测纳米晶材料的运动速度调整检测相机拍摄的频率，检测相机根据该频率获取检测图像，最后根据检测图像获取到检测结果，能够在纳米晶材料持续向前运动的过程中同时进行检测，因无需在运送纳米晶材料的过程中专门停机使得纳米晶材料静止进行检测，故不会对工序间纳米晶材料的流转造成较多影响，大大提高了对纳米晶材料进行检测的效率，从而为对工序结束后的所有纳米晶材料进行检测提供条件。

进一步地，所述根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率之前还包括：

获取检测相机的有效检测范围；

所述根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率具体为：

根据所述有效检测范围及所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率。

由上述描述可知，根据相机的有效检测范围和纳米晶材料的运动速度共同确定拍摄频率，保证检测图像覆盖所有纳米晶材料，避免出现漏检现象。

进一步地，所述根据所述检测图像获取检测结果具体为：

获取所述检测图像中的图像特征；

获取预设的不良品模板；

判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值，若是，则停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警；否则，删除所述检测图像。

由上述描述可知，获取检测图像中的图像特征与预设不良品模板进行比较，若二者之间的相似度超过相似度预设值，则进行报警并且停止对待检测纳米晶材料的运送，能够使得工作人员及时对不良的纳米晶材料进行剔除，避免不良物料流入下游工序，若检测图像的图像特征未匹配上不良模板，则说明该段纳米晶材料合格，删除对应检测图像能够节约存储空间。

进一步地，所述停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警之后还包括：

判断是否接收到反馈信息，若是，则停止报警，并获取所述反馈信息的内容；

根据所述反馈信息的内容判断是否存在不良品，若不存在不良品，则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤，并调整所述相似度预设值；若存在不良品，则判断是否接收到不良品已剔除信息，若是则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤。

由上述描述可知，在接收到反馈信息之后停止报警，并且根据反馈信息的内容做出对应处理，若反馈信息为不存在不良品则说明可能是相似度预设值设置不合理，若反馈信息是存在不良品，再判断不良品是否已经剔除，剔除后再启动对纳米晶材料的运送，确保不良品不会继续参与生产。

进一步地，所述不良品模板包括不良品图像库；

所述不良品图像库包括多张预设的不良品图像及每一所述预设的不良品图像对应的不良品类型；

所述判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值包括：

判断所述预设不良品图像库中是否存在目标不良品图像，所述目标不良品图像与所述图像特征的相似度超过相似度预设值，若是，则获取所述目标不良品图像对应的目标不良品类型并提示。

由上述描述可知，多种类型的预设不良品图像组成预设不良品图像库，与检测图像的图像特征进行相似性比对，采用图像库的模式存储成本低且扩充容易，如可以将每次检测过程中确定的不良品对应的检测图像加入不良品图像库，则能够持续扩充提高检测的准确性。

请参照图2，一种纳米晶材料检测终端，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取待检测纳米晶材料的运动速度；

根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率；

将所述频率发送至检测相机，并获取所述检测相机根据所述频率采集的检测图像；

根据所述检测图像获取检测结果。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：根据待检测纳米晶材料的运动速度调整检测相机拍摄的频率，检测相机根据该频率获取检测图像，最后根据检测图像获取到检测结果，能够在纳米晶材料持续向前运动的过程中同时进行检测，因无需在运送纳米晶材料的过程中专门停机使得纳米晶材料静止进行检测，故不会对工序间纳米晶材料的流转造成较多影响，大大提高了对纳米晶材料进行检测的效率，从而为对工序结束后的所有纳米晶材料进行检测提供条件。

进一步地，所述根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率之前还包括：

获取检测相机的有效检测范围；

所述根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率具体为：

根据所述有效检测范围及所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率。

由上述描述可知，根据相机的有效检测范围和纳米晶材料的运动速度共同确定拍摄频率，保证检测图像覆盖所有纳米晶材料，避免出现漏检现象。

进一步地，所述根据所述检测图像获取检测结果具体为：

获取所述检测图像中的图像特征；

获取预设的不良品模板；

判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值，若是，则停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警；否则，删除所述检测图像。

由上述描述可知，获取检测图像中的图像特征与预设不良品模板进行比较，若二者之间的相似度超过相似度预设值，则进行报警并且停止对待检测纳米晶材料的运送，能够使得工作人员及时对不良的纳米晶材料进行剔除，避免不良物料流入下游工序，若检测图像的图像特征未匹配上不良模板，则说明该段纳米晶材料合格，删除对应检测图像能够节约存储空间。

进一步地，所述停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警之后还包括：

判断是否接收到反馈信息，若是，则停止报警，并获取所述反馈信息的内容；

根据所述反馈信息的内容判断是否存在不良品，若不存在不良品，则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤，并调整所述相似度预设值；若存在不良品，则判断是否接收到不良品已剔除信息，若是则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤。

由上述描述可知，在接收到反馈信息之后停止报警，并且根据反馈信息的内容做出对应处理，若反馈信息为不存在不良品则说明可能是相似度预设值设置不合理，若反馈信息是存在不良品，再判断不良品是否已经剔除，剔除后再启动对纳米晶材料的运送，确保不良品不会继续参与生产。

进一步地，所述不良品模板包括不良品图像库；

所述不良品图像库包括多张预设的不良品图像及每一所述预设的不良品图像对应的不良品类型；

所述判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值包括：

判断所述预设不良品图像库中是否存在目标不良品图像，所述目标不良品图像与所述图像特征的相似度超过相似度预设值，若是，则获取所述目标不良品图像对应的目标不良品类型并提示。

由上述描述可知，多种类型的预设不良品图像组成预设不良品图像库，与检测图像的图像特征进行相似性比对，采用图像库的模式存储成本低且扩充容易，如可以将每次检测过程中确定的不良品对应的检测图像加入不良品图像库，则能够持续扩充提高检测的准确性。

本发明上述一种纳米晶材料检测方法适用于纳米晶材料的检测，如纳米晶带材的检测，以下通过具体的实施方式进行说明：

请参照图1，本发明的实施例一为：

一种纳米晶材料检测方法，包括步骤：

S1、获取待检测纳米晶材料的运动速度；

S2、根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率；

S3、将所述频率发送至检测相机；

在一种可选的实施方式中，通过设置传感器等方式每间隔预设时间段获取纳米晶材料的运动速度，则在预设时间段内检测相机都使用同样的频率进行拍摄采集检测图像，减少计算量；具体的，还可以以获取到的运动速度作为速度阈值，判断在预设时间段内是否接收到超速报警，若是则重新执行S1；确保每一部分的纳米晶材料都能够经过检测相机的检测；

S4、获取所述检测相机根据所述频率采集的检测图像；

在一种可选的实施方式中，从图片暂存器中获取检测相机根据频率采集的检测图像，通过图片暂存器将图片采集和图片处理解耦，检测相机拍摄完成后直接将检测图像存入图片暂存器供CPU取用进行分析，在CPU处理某张图卡顿时不会影响检测相机采集新的检测图像；

还可对采集到的检测图像使用动态优化，得到稳定清晰的图片，具体的，可使用动态跟随软件进行优化；

S5、根据所述检测图像获取检测结果，具体为：

获取所述检测图像中的图像特征；

获取预设的不良品模板；

判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值，若是，则停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警；否则，删除所述检测图像并返回获取所述检测相机根据所述频率采集的检测图像步骤；

S5中所述不良品模板包括不良品图像库；

所述不良品图像库包括多张预设的不良品图像及每一所述预设的不良品图像对应的不良品类型；

所述判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值包括：

判断所述预设不良品图像库中是否存在目标不良品图像，所述目标不良品图像与所述图像特征的相似度超过相似度预设值，若是，则获取所述目标不良品图像对应的目标不良品类型并提示；

S5中停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警之后还包括：

判断是否接收到反馈信息，若是，则停止报警，并获取所述反馈信息的内容；

根据所述反馈信息的内容判断是否存在不良品，若不存在不良品，则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤，并进行过杀优化即调整所述相似度预设值；若存在不良品，则判断是否接收到不良品已剔除信息，若是则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤。

本发明的实施例二为：

一种纳米晶材料检测方法，其与实施例一的区别在于：

S5中所述不良品模板包括不良品特征库；

所述不良品特征库包括多种预设的不良品类型及每一不良品类型对应的不良品图像特征，其中，不良品类型及不良品图像特征可由神经网络训练不良品图像得到；

所述判断所述图像特征与所述不良品模板的相似度是否超过相似度预设值包括：

判断所述不良品特征库中是否存在目标不良品类型，所述目标不良品类型所对应的不良品图像特征与所述图像特征的相似度超过相似度预设值，若是，则获取所述目标目标不良品类型并提示；

S5中停止所述待检测纳米晶材料的运送并报警之后还包括：

判断是否接收到反馈信息，若是，则停止报警，并获取所述反馈信息的内容；

根据所述反馈信息的内容判断是否存在不良品，若不存在不良品，则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤，并调整所述相似度预设值，将对应的检测图像存入预设存储中；

每间隔预设时间段从预设存储中获取检测图像训练神经网络；

若存在不良品，则判断是否接收到不良品已剔除信息，若是则开启所述待检测纳米晶材料的运送后返回执行所述获取待检测纳米晶材料的运动速度步骤。

本发明的实施例三为：

一种纳米晶材料检测方法，其与实施例一的区别在于：

S2之前还包括：

获取检测相机的有效检测范围；

所述根据所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率具体为：

根据所述有效检测范围及所述运动速度确定拍摄所述待检测纳米晶材料的频率，具体为：根据有效检测范围及运动速度确定待检测纳米晶材料经过有效检测范围的第一时间，该第一时间即为检测相机拍摄图像的最大间隔，将第一时间减去预设浮动值得到第二时间，作为检测相机拍摄图像的间隔时间，根据间隔时间计算拍摄频率。

请参照图2，本发明的实施例四为：

一种纳米晶材料检测终端1，包括处理器2、存储器3及存储在存储器3上并可在所述处理器2上运行的计算机程序，所述处理器2执行所述计算机程序时实现实施例一至实施例三中任一个所述的纳米晶材料检测方法中的各个步骤。

综上所述，本发明提供了一种纳米晶材料检测方法及终端，对纳米晶材料的运送速度进行检测，并匹配对应的拍摄频率，获取纳米晶的图像后与预设的不良品模板进行比较，若相似度超过相似度阈值则停止纳米晶材料的运送并进行报警，直至接收到反馈信息，并根据反馈信息的内容进行对应处理，在对纳米晶材料进行检测时无需停机，能够在纳米晶材料运动的状态下实现检测，提高了对纳米晶材料进行检测的效率；并且不良品模板能够在检测的过程中持续训练或扩展，还能根据不同性质的纳米晶材料匹配不同的不良品模板，进一步提高检测结果的有效性。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。