一种芯片针脚长度测量与表面字符识别检测装置

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，特别是一种芯片针脚长度测量与表面字符识别检测装置。

背景技术

芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体，“芯片”和“集成电路”这两个词经常混着使用，比如在大家平常讨论话题中，集成电路设计和芯片设计说的是一个意思，芯片行业、集成电路行业、IC行业往往也是一个意思，实际上，这两个词有联系，也有区别，集成电路实体往往要以芯片的形式存在，因为狭义的集成电路，是强调电路本身，比如简单到只有五个元件连接在一起形成的相移振荡器，当它还在图纸上呈现的时候，我们也可以叫它集成电路，当我们要拿这个小集成电路来应用的时候，那它必须以独立的一块实物，或者嵌入到更大的集成电路中，依托芯片来发挥他的作用；集成电路更着重电路的设计和布局布线，芯片更强调电路的集成、生产和封装，而广义的集成电路，当涉及到行业(区别于其他行业)时，也可以包含芯片相关的各种含义。

芯片在设计和制造过程中需要对芯片进行检测，以确保芯片的质量，单纯检测芯片金属针脚长度和表面字符时，一般会用环形环光或穹顶光源来检测针脚长度，而对芯片表面字符检测时，由于有的芯片表面材质是磨砂材质，因此打光时容易发生反光，因此光源一般会使用偏振光，常规的环形光源或穹顶光一般只能检测无包装的芯片针脚长度，当芯片装在载带时，由于在检测时产品是边运动边检测，因此容易发生芯片针脚与载带内壁之间的接触贴合，由于载带内壁比较光滑，因此在视觉检测时容易看到反光，即针脚在载带内壁上出现影子，这个反光对于检测针脚长度造成了比较严重的干扰，这导致芯片的检测结果不准确，严重影响芯片的正常使用，而且检测的效率极低。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述问题，设计了一种芯片针脚长度测量与表面字符识别检测装置。

实现上述目的本发明的技术方案为，一种芯片针脚长度测量与表面字符识别检测装置，包括安装顶板，所述安装顶板底面安装有方形发光检测组件，所述方形发光检测组件包括辅助壳体，所述辅助壳体内壁设置有第一光源，所述辅助壳体远离所述安装顶板一侧设置有连接机构，所述连接机构的底面设置有环形发光检测组件。

作为本技术方案的进一步描述，所述连接机构包括设置在辅助壳体远离所述安装顶板一侧的连接底板。

作为本技术方案的进一步描述，所述安装顶板的底面开设有方形槽，所述方形槽内卡接有漫射罩，所述漫射罩的底侧与连接底板接触。

作为本技术方案的进一步描述，所述辅助壳体为截面形状为四边形，所述辅助壳体的四个内壁均设置有第一光源。

作为本技术方案的进一步描述，所述第一光源包括设置在辅助壳体内壁的光源控制板，所述光源控制板上设置有若干组呈一定规律设置的方形光源。

作为本技术方案的进一步描述，所述环形发光检测组件包括与连接底板连接的环形框体，所述环形框体内设置有环形板，所述环形板上设置有第二光源。

作为本技术方案的进一步描述，所述环形框架内壁设置有辅助连接体，所述环形框体的底部设置有偏振片。

作为本技术方案的进一步描述，所述偏振片一侧设置有辅助锁紧件，所述辅助锁紧件与所述辅助连接体之间通过螺纹连接。

作为本技术方案的进一步描述，所述第二光源为环形偏振光源。

作为本技术方案的进一步描述，所述方形发光检测组件的外侧设置有第一连接线，所述环形发光检测组件的外侧设置有第二连接线。

其有益效果在于，此检测装置，结构简单，实用性较强，可以同时实现对芯片针脚长度测量与表面字符识别检测，运用此检测装置，有效提高了芯片检测的精度，降低误判率，同时，也提高了芯片的检测效率与芯片检测结构的准确性。

附图说明

图1是本发明的整体结构示意图。

图中，1、安装顶板；2、方形发光检测组件；3、辅助壳体；4、第一光源；5、连接机构；6、环形发光检测组件；7、连接底板；8、方形槽；9、漫射罩；10、光源控制板；11、方形光源；12、环形框体；13、环形板；14、第二光源；15、辅助连接体；16、偏振片；17、辅助锁紧件；18、第一连接线；19、第二连接线。

具体实施方式

首先说明本发明的设计初衷，芯片在设计和制造过程中需要对芯片进行检测，以确保芯片的质量，单纯检测芯片金属针脚长度和表面字符时，一般会用环形环光或穹顶光源来检测针脚长度，而对芯片表面字符检测时，由于有的芯片表面材质是磨砂材质，因此打光时容易发生反光，因此光源一般会使用偏振光，常规的环形光源或穹顶光一般只能检测无包装的芯片针脚长度，当芯片装在载带时，由于在检测时产品是边运动边检测，因此容易发生芯片针脚与载带内壁之间的接触贴合，由于载带内壁比较光滑，因此在视觉检测时容易看到反光，即针脚在载带内壁上出现影子，这个反光对于检测针脚长度造成了比较严重的干扰，这导致芯片的检测结果不准确，严重影响芯片的正常使用，而且检测的效率极低，因此，本发明设计了一种芯片针脚长度测量与表面字符识别检测装置。

下面结合附图对本发明进行具体描述，如图1所示，一种芯片针脚长度测量与表面字符识别检测装置，包括安装顶板1，为了实现对芯片引脚长度的检测，在安装顶板1底面安装有方形发光检测组件2，下面将详细介绍方形发光检测组件2的具体结构，方形发光检测组件2包括辅助壳体3，辅助壳体3内壁设置有第一光源4，辅助壳体3为截面形状为四边形，辅助壳体3的四个内壁均设置有第一光源4，下面将详细介绍第一光源4，第一光源4包括设置在辅助壳体3内壁的光源控制板10，所述光源控制板10上设置有若干组呈一定规律设置的方形光源11

辅助壳体3远离所述安装顶板1一侧设置有连接机构5，下面将介绍连接机构5，连接机构5包括设置在辅助壳体3远离所述安装顶板1一侧的连接底板7。

为了实现第芯片表面的字符检测，在连接机构5的底面设置有环形发光检测组件6，下面将向介绍环形发光检测组件6，环形发光检测组件6包括与连接底板7连接的环形框体12，环形框体12内设置有环形板13，环形板13上设置有第二光源14，第二光源14为环形偏振光源。

为了保证第一光源4打出来的光的均匀性，在所述安装顶板1的底面开设有方形槽8，所述方形槽8内卡接有漫射罩9，所述漫射罩9的底侧与连接底板7接触，第一光源4打出来的光经过漫射罩9，有效保证光的均匀性。

在环形框架内壁设置有辅助连接体15，为了能减少或消除芯片表面的反光，从而提高字符与表面材质的对比度，获得更高的图片质量环形框体12的底部设置有偏振片16。

为了实现偏振片16的安装，在偏振片16一侧设置有辅助锁紧件17，所述辅助锁紧件17与所述辅助连接体15之间通过螺纹连接。

为了实现第一光源4与第二光源14的点亮，在所述方形发光检测组件2的外侧设置有第一连接线18，在环形发光检测组件6的外侧设置有第二连接线19。

上面详细的说明了本发明的具体结构，下面将说明本发明的工作原理：使用时，将待检测的芯片放置在环形发光检测组件6的正下方，第一光源4打出的光经过漫射罩9，从而实现对芯片引脚长度的检测，第二光源14打出的光经过偏振片16，实现对芯片表面字符的检测，此检测装置，结构简单，实用性较强，可以同时实现对芯片针脚长度测量与表面字符识别检测，运用此检测装置，有效提高了芯片检测的精度，降低误判率，同时，也提高了芯片的检测效率与芯片检测结构的准确性。

上述技术方案仅体现了本发明技术方案的优选技术方案，本技术领域的技术人员对其中某些部分所可能做出的一些变动均体现了本发明的原理，属于本发明的保护范围之内。