一种探针卡对针机

技术领域

本发明涉及测试装置技术领域，具体为一种探针卡对针机。

背景技术

探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号，对芯片参数进行测试，在芯片测试中，通常会用到具有多根探针的探针卡，芯片上设置有测试焊垫，将探针卡的探针与芯片的焊垫相互接触，形成电连接以进行电性测试，因此需要保证探针与芯片焊垫接触良好。

根据专利号为CN110927416B的专利公开了一种探针卡测试装置及测试装置，所述探针卡测试装置包含测试电路板、信号传输板、电连接模块、及探针头。测试电路板包含间隔设置的多个金属垫，信号传输板于底面设置有多个连接垫。电连接模块包含形成多个穿孔的间隔板及定位于间隔板的多个弹性臂。间隔板夹持于测试电路板与信号传输板之间，并且多个金属垫分别通过多个穿孔而面向多个连接垫。每个弹性臂的局部位于一个穿孔内、受到一个所述金属垫与相对应所述连接垫可分离地压迫而弹性地变形，以构成一电传输路径。探针头设置于信号传输板的顶面。据此，探针卡测试装置及测试装置无需使用焊接方式，以有效地避免受到热冲击而损伤。

现有的探针卡对针机在对芯片进行测试时，一种探针卡对针机只能测试一种芯片，当需要对不同芯片用探针卡对针机进行测试时，需要更换不同的探针板，不仅容易影响对针的精准度，而且更换探针板比较费时费力，影响芯片的检测效率。

发明内容

解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种探针卡对针机，解决了探针卡对针机对不同芯片测试时需要对探针板进行更换的问题，节约了更换的时间，提高了芯片的检测效率。

技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种探针卡对针机，包括主体，所述主体的顶面设有立柱，所述立柱的顶面设有旋转支架，且旋转支架与立柱活动连接，所述旋转支架的底面阵列设有探针板，所述探针板的底面设有测试探针，所述立柱的内部设有旋转电机，且旋转电机的输出端与旋转支架的底面连接，所述旋转支架的底面阵列开设有定位槽，所述立柱的表面设有导向框架，所述导向框架的内部设有定位块，且定位块与导向框架活动连接，且定位块与定位槽卡合连接，所述导向框架的底面设有定位电机，所述定位电机的输出端设有定位丝杆，且定位丝杆与定位块螺纹连接。

优选的，所述主体的底面开设有升降腔，所述升降腔内设有支撑板，且支撑板与升降腔活动连接，所述升降腔内设有液压缸，且液压缸的顶面和底面分别与升降腔、支撑板连接，所述支撑板的底面阵列设有万向轮，且万向轮与支撑板活动连接。

优选的，所述主体的顶面设有支撑架，所述支撑架内均匀设有滚珠，且旋转支架与滚珠活动连接，所述支撑架的顶面设有数据处理器，所述支撑架的底面设有CCD相机，且CCD相机与数据处理器电性连接。

优选的，所述主体的顶面开设有升降槽，所述升降槽内设有升降块，且升降块与升降槽活动连接，所述主体的内部设有升降电机，所述升降电机的输出端设有升降丝杆，且升降丝杆与升降块螺纹连接，所述升降块的顶面设有模板，且模板与升降块卡合连接，所述模板的顶面开设有芯片槽。

优选的，所述旋转支架的顶面设有固定块，所述固定块之间设有调节丝杆，且调节丝杆与固定块活动连接，所述固定块的侧面设有调节电机，且调节电机的输出端与调节丝杆的一端连接，所述旋转支架的表面阵列设有活动框架，且活动框架与旋转支架活动连接，且活动框架与调节丝杆螺纹连接。

优选的，所述活动框架的底面设有安装块，且探针板与安装块活动连接，所述安装块的底面开设有缓冲腔，所述缓冲腔与探针板之间阵列设有缓冲弹簧，且缓冲弹簧的两端分别与缓冲腔、探针板连接，所述缓冲腔内设有导向柱，且导向柱与探针板活动连接，所述导向柱的底端设有限位块。

优选的，所述升降腔的侧面开设有调节槽，且调节槽贯穿升降腔的侧面，所述液压缸的表面设有调节杆，且调节杆与液压缸活动连接，且调节杆与调节槽活动连接。

优选的，所述主体的表面设有推杆，所述主体的底面设有缓冲垫，所述缓冲垫采用橡胶热塑而成。

优选的，所述支撑架的侧面设有控制器，且控制器分别与数据处理器、调节电机、旋转电机、升降电机电性连接。

工作原理：通过调节杆在调节槽内上下调节，使液压缸将支撑板底面的万向轮顶出主体的底面，通过推杆将主体移动到指定位置，然后将万向轮收入升降腔内，此时主体底面与地面接触，而主体的底面又设有缓冲垫，使装置在工作时更加稳定，装置使用时控制器控制旋转电机转动，使旋转支架带动探针板移动到主体正上方，然后调节电机带动调节丝杆转动，使活动框架和探针板移动到模板的正上方，此时在定位电机和定位丝杆的作用下，导向框架内的定位块与旋转支架底面的定位槽卡合，然后在升降电机和升降丝杆的作用下，升降块带着模板向上移动，使测试探针与芯片槽内的芯片接触，此时支撑架底面的CCD相机在装置进行对针测试时可以采集图片信息，然后将数据传递给数据处理器，当装置对针出现错误时，装置会重新进行对针工作，当需要对不同型号的芯片接触检测时，只需要更换不同的模板即可。

有益效果

本发明提供了一种探针卡对针机。具备以下有益效果：

1、本发明在立柱的内部设置旋转电机，旋转电机带动旋转支架在立柱的顶面进行旋转运动，而旋转支架的底面阵列设有不同的探针板，旋转电机带动旋转支架转动，使需要用来测试的探针板移动到主体的正上方，当需要对不同的芯片进行测试时，旋转电机会带动旋转支架进行旋转，使对应的探针板移动至主体的正上方，这种设计节省了更换探针板的时间，而且在立柱的表面设有导向框架，在定位电机和定位丝杆的作用下，导向框架内的定位块与旋转支架底面的定位槽卡合，使探针板在进行对针时可以更加精准，这些设计提高了芯片的检测效率。

2、本发明在主体的底面开设有升降腔，升降腔的内部设有液压缸和支撑板，在液压缸的作用下，支撑板可以在升降腔内上下移动，而支撑板的底面阵列设有万向轮，当支撑板在升降腔内上下移动时，万向轮可以收入升降腔内，也可以探出主体的底面，当装置整体需要移动时，万向轮可以与地面接触，便于装置的移动，当装置需要定位使用时，将万向轮和支撑板收入升降腔内，使主体的底面和地面可以接触，让装置在进行工作时更加稳定，这些设计使装置可以根据情况进行调节，提高了装置的实用性。

3、本发明在主体的顶面设有支撑架，支撑架内设有滚珠，旋转支架在转动时可以沿着滚珠转动，使旋转支架的转动更加稳定，而且支撑架的顶面和底面分别设有数据处理器和CCD相机，CCD相机在装置进行对针测试时可以采集图片信息，然后将数据传递给数据处理器，当装置对针出现错误时，装置会重新进行对针工作，这种设计提高了芯片测试的准确率。

附图说明

图1为本发明的轴测图；

图2为本发明的整体结构分解图；

图3为本发明的部分结构分解图；

图4为本发明的侧视图；

图5为本发明的整体剖视图；

图6为本发明的旋转支架的剖视图。

其中，1、旋转支架；2、立柱；3、支撑架；4、推杆；5、主体；6、数据处理器；7、固定块；8、模板；9、升降槽；10、控制器；11、升降块；12、升降丝杆；13、调节丝杆；14、安装块；15、限位块；16、测试探针；17、调节电机；18、活动框架；19、缓冲弹簧；20、导向柱；21、探针板；22、万向轮；23、支撑板；24、缓冲垫；25、升降腔；26、CCD相机；27、滚珠；28、缓冲腔；29、旋转电机；30、定位槽；31、定位块；32、定位丝杆；33、导向框架；34、定位电机；35、芯片槽；36、升降电机；37、液压缸；38、调节杆；39、调节槽。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一：

如图1-6所示，一种探针卡对针机，包括主体5，主体5的顶面设有立柱2，立柱2的顶面设有旋转支架1，且旋转支架1与立柱2活动连接，旋转支架1的底面阵列设有探针板21，探针板21的底面设有测试探针16，立柱2的内部设有旋转电机29，且旋转电机29的输出端与旋转支架1的底面连接，旋转支架1的底面阵列开设有定位槽30，立柱2的表面设有导向框架33，导向框架33的内部设有定位块31，且定位块31与导向框架33活动连接，且定位块31与定位槽30卡合连接，导向框架33的底面设有定位电机34，定位电机34的输出端设有定位丝杆32，且定位丝杆32与定位块31螺纹连接。

旋转电机29带动旋转支架1在立柱2的顶面进行旋转运动，而旋转支架1的底面阵列设有不同的探针板21，旋转电机29带动旋转支架1转动，使需要用来测试的探针板21移动到主体5的正上方，当需要对不同的芯片进行测试时，旋转电机29会带动旋转支架1进行旋转，使对应的探针板21移动至主体5的正上方，这种设计节省了更换探针板21的时间，而且在立柱2的表面设有导向框架33，在定位电机34和定位丝杆32的作用下，导向框架33内的定位块31与旋转支架1底面的定位槽30卡合，使探针板21在进行对针时可以更加精准，这些设计提高了芯片的检测效率。

实施例二：

如图1-6所示，主体5的底面开设有升降腔25，升降腔25内设有支撑板23，且支撑板23与升降腔25活动连接，升降腔25内设有液压缸37，且液压缸37的顶面和底面分别与升降腔25、支撑板23连接，支撑板23的底面阵列设有万向轮22，且万向轮22与支撑板23活动连接，升降腔25的侧面开设有调节槽39，且调节槽39贯穿升降腔25的侧面，液压缸37的表面设有调节杆38，且调节杆38与液压缸37活动连接，且调节杆38与调节槽39活动连接。

升降腔25的内部设有液压缸37和支撑板23，在液压缸37的作用下，支撑板23可以在升降腔25内上下移动，而支撑板23的底面阵列设有万向轮22，当支撑板23在升降腔25内上下移动时，万向轮22可以收入升降腔25内，也可以探出主体5的底面，当装置整体需要移动时，万向轮22可以与地面接触，便于装置的移动，当装置需要定位使用时，将万向轮22和支撑板23收入升降腔25内，使主体5的底面和地面可以接触，让装置在进行工作时更加稳定，这些设计使装置可以根据情况进行调节，提高了装置的实用性。

实施例三：

如图1-6所示，主体5的顶面设有支撑架3，支撑架3内均匀设有滚珠27，且旋转支架1与滚珠27活动连接，支撑架3的顶面设有数据处理器6，支撑架3的底面设有CCD相机26，且CCD相机26与数据处理器6电性连接，CCD相机26在装置进行对针测试时可以采集图片信息，然后将数据传递给数据处理器6，当装置对针出现错误时，装置会重新进行对针工作，这种设计提高了芯片测试的准确率。

主体5的顶面开设有升降槽9，升降槽9内设有升降块11，且升降块11与升降槽9活动连接，主体5的内部设有升降电机36，升降电机36的输出端设有升降丝杆12，且升降丝杆12与升降块11螺纹连接，升降块11的顶面设有模板8，且模板8与升降块11卡合连接，模板8的顶面开设有芯片槽35，旋转支架1的顶面设有固定块7，固定块7之间设有调节丝杆13，且调节丝杆13与固定块7活动连接，固定块7的侧面设有调节电机17，且调节电机17的输出端与调节丝杆13的一端连接，旋转支架1的表面阵列设有活动框架18，且活动框架18与旋转支架1活动连接，且活动框架18与调节丝杆13螺纹连接，活动框架18的底面设有安装块14，且探针板21与安装块14活动连接，安装块14的底面开设有缓冲腔28，缓冲腔28与探针板21之间阵列设有缓冲弹簧19，且缓冲弹簧19的两端分别与缓冲腔28、探针板21连接，缓冲腔28内设有导向柱20，且导向柱20与探针板21活动连接，导向柱20的底端设有限位块15，主体5的表面设有推杆4，主体5的底面设有缓冲垫24，缓冲垫24采用橡胶热塑而成，支撑架3的侧面设有控制器10，且控制器10分别与数据处理器6、调节电机17、旋转电机29、升降电机36电性连接。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个引用结构”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。