一种荧光发射比率超分辨成像方法
文献发布时间:2023-06-19 18:29:06
技术领域
本发明属于光学显微镜成像方法技术领域,具体涉及一种荧光发射比率超分辨成像方法。
背景技术
人类对信息的摄取主要是通过眼睛,但是人类眼睛的敏感性与光的波长息息相关。由于只能识别波长为400~760nm范围内的光波,正常视力的人眼只能在明视距离处25cm分辨出亚毫米级的物体。如果要观察更小的物体,则需要借助于显微镜。光学显微镜的发明让人类第一次观察到了由细胞作为基本结构和功能单元的活体生物,如今已广泛的应用于生活和科学研究的各个领域。面向活细胞研究的光学显微成像技术具有非接触、无损伤和特异性的优点,可以对细胞进行原位、实时和动态研究,深入理解细胞器、蛋白质以及分子之间的相互作用和生理过程,极大地推动了生命科学的进步和发展。但是,光学显微镜的分辨率受光学衍射的限制,无法清晰辨别尺寸在200nm以下的生物结构。为了研究和揭示亚细胞结构及相关分子的相互作用和作用规律,迫切需要突破光学衍射极限的成像技术。
为了解决纳米级分辨率的成像需求,超分辨显微成像技术应运而生。在近三十年的时间里,基于不同原理的超分辨成像方法被陆续提出,使光学显微镜逐渐进入纳米成像时代。近年来,超分辨光学成像技术的不断发展让光学显微镜与生物医学等领域的联系更加紧密。从光学工程的角度来讲,显微镜技术的性能由一些硬性指标决定,比如成像分辨率、成像深度、定位精度和成像速率等。此外,有效光子数、标记特异性和样品状态等都是在实际的生物应用中获得最佳成像效果的限制因素。因此,一套先进的光学成像系统不仅需要保持被观测样品自身的生物特性,还应该最大程度地保障获取信息的真实性和有效性。
然而,几乎所有超分辨成像模式在追求超分辨率极限时都会产生新的问题,比如高的激光功率、低的成像速度、复杂的成像系统和昂贵的实验成本等。受激辐射损耗技术损耗激光功率极高,导致严重的样品损伤和染料光漂白,因此不适合细胞等活体样品的长时间超分辨成像;单分子定位显微镜技术需要图像重构,因此时间分辨率低,且成像深度有限,限制了在生物样品动态成像中的应用。总之,目前的超分辨成像技术在实现三维、多色和深层超分辨成像时仍然面临成像系统复杂、成本高、图像质量低和样品制备过程复杂,以及需要特殊荧光探针等一系列问题。
基于此,提出了一种荧光发射比率超分辨成像方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足,提供一种荧光发射比率超分辨成像方法,降低超分辨技术对荧光染料和样品制备的要求,拓宽染料的选择范围,为低成本的活体超分辨成像研究提供技术支撑,解决上述背景技术中提出的问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种荧光发射比率超分辨成像方法,包括脉冲激光器,所述脉冲激光器发出的激光经过半波片,再经过格兰激光棱镜,经过格兰激光棱镜分成两束激光,其中一束激光传向高速光电二极管探测器,另一束激光传向第一分束器,经过分束器再次分成两束激光,分别照向第一反射镜和螺旋相位板;
经过螺旋相位板的激光传向第二反射镜,经过第二反射镜后传向角反射器;
经过第一反射镜的激光传向第二分束器,经过第二分束器再次分成两束,分别传向角反射器和第三反射镜;
经过第三反射器的激光依次通过双色镜、振镜、扫描透镜、管镜和四分之一玻片后,通过物镜聚焦后照射至载物台的样品上。
进一步的,所述高速光电二极管探测器连接有时间相关单光子计数器,所述时间相关单光子计数器连接有计算机。
进一步的,所述载物台的样品被激发后产生荧光,荧光被物镜收集后经四分之一玻片、管镜、扫描透镜、振镜和双色镜,被双色镜反射后经过滤光片到达光电倍增管,所述滤光片用于去除荧光以外的杂散光,提高图像信噪比,时间相关单光子计数器同时接收高速光电二极管探测器和光电倍增管采集的参考信号和荧光信号,并将数据传输至计算机进行存储和处理。
进一步的,所述脉冲激光器由皮秒激光器产生40MHz脉冲型激发光,所述半波片用于调节激光的偏振方向,所述格兰激光棱镜用于分离不同偏振方向的激光。
进一步的,所述螺旋相位板用于将激光的波前由高斯型转换成环形,所述角反射器通过延长或缩短环型激发光斑的光程在时间上控制高斯型激光和环形激光之间的脉冲间隔。
进一步的,所述双色镜用于透射激发光,并反射荧光信号;
所述振镜用于对激发光进行同步扫描,实现对样品的面阵成像;
所述扫描透镜用于收集面阵扫描的激光光束。
进一步的,所述物镜用于将激光聚焦到焦平面,同时收集样品反射回来的荧光信号,所述管镜与所述物镜搭配构成显微镜系统。
进一步的,所述四分之一玻片用于将线偏振激光转换成右旋圆偏振光。
进一步的,所述载物台用于放置和固定样品,并对样品进行三维移动。
进一步的,所述第一分束器和第二分束器分别用于激光分束或合束,所述第一反射镜、第二反射镜和第三反射镜分别用于改变激光的传输方向。
本发明与现有技术相比具有以下优点:
本发明中的在低激光功率下突破光学衍射极限的荧光发射比率纳米显微成像技术,降低超分辨技术对荧光染料和样品制备的要求,拓宽染料的选择范围,为低成本的活体超分辨成像研究提供技术支撑。
附图说明
图1是本发明实施例提供的荧光发射比率纳米显微成像的系统光路图;
图2是本发明实施的荧光发射比率纳米显微成像原理图;
图3是本发明实施的荧光发射比率纳米显微图像各像素灰度值的判定方式;
图4是本发明实施的荧光发射比率纳米显微成像的理论模拟结果。
附图标记说明:
脉冲激光器1、半波片2、格兰激光棱镜3、第一分束器4、第一反射镜5、螺旋相位板6、第二分束器7、第三反射镜8、第二反射镜9、角反射器10、高速光电二极管探测器11、时间相关单光子计数器12、计算机13、光电倍增管14、双色镜15、滤光片16、振镜17、扫描透镜18、管镜19、四分之一玻片20、物镜21和载物台22。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1-4所示,本发明提供一种技术方案:一种荧光发射比率超分辨成像方法,包括脉冲激光器1,所述脉冲激光器1发出的激光经过半波片2,再经过格兰激光棱镜3,所述脉冲激光器1由皮秒激光器产生40MHz脉冲型激发光,所述半波片2用于调节激光的偏振方向,所述格兰激光棱镜3用于分离不同偏振方向的激光;
其中一束激光传向高速光电二极管探测器11,所述高速光电二极管探测器11连接有时间相关单光子计数器12,所述时间相关单光子计数器12连接有计算机13,时间相关单光子计数器12同时接收高速光电二极管探测器11和光电倍增管14采集的参考信号和荧光信号,并将数据传输至计算机13进行存储和处理。
另一束激光传向第一分束器4,经过分束器4再次分成两束激光,分别照向第一反射镜5和螺旋相位板6,所述螺旋相位板6用于将激光的波前由高斯型转换成环形。
经过螺旋相位板6的激光传向第二反射镜9,经过第二反射镜9后传向角反射器10,,所述角反射器10通过延长或缩短环型激发光斑的光程在时间上控制高斯型激光和环形激光之间的脉冲间隔。
经过第一反射镜5的激光传向第二分束器7,经过第二分束器7再次分成两束,分别传向角反射器10和第三反射镜8;
经过第三反射器8的激光依次通过双色镜15、振镜17、扫描透镜18、管镜19和四分之一玻片20后,通过物镜21聚焦后照射至载物台22的样品上。
所述双色镜15用于透射激发光,并反射荧光信号;
所述振镜17用于对激发光进行同步扫描,实现对样品的面阵成像;
所述扫描透镜18用于收集面阵扫描的激光光束。
所述四分之一玻片20用于将线偏振激光转换成右旋圆偏振光。
所述物镜21用于将激光聚焦到焦平面,同时收集样品反射回来的荧光信号,所述管镜19与所述物镜21搭配构成显微镜系统。
所述载物台22用于放置和固定样品,并对样品进行三维移动。
所述载物台22的样品被激发后产生荧光,荧光被物镜21收集后经四分之一玻片20、管镜19、扫描透镜18、振镜17和双色镜15,被双色镜15反射后经过滤光片16到达光电倍增管14,所述滤光片16用于去除荧光以外的杂散光,提高图像信噪比,时间相关单光子计数器12同时接收高速光电二极管探测器11和光电倍增管14采集的参考信号和荧光信号,并将数据传输至计算机13进行存储和处理。
所述第一分束器4和第二分束器7分别用于激光分束或合束,所述第一反射镜5、第二反射镜9和第三反射镜8分别用于改变激光的传输方向。
脉冲激光器1、半波片2、格兰激光棱镜3、第一分束器4、第一反射镜5、螺旋相位板6、第二分束器7、第三反射镜8、第二反射镜9、角反射器10、高速光电二极管探测器11、时间相关单光子计数器12、计算机13、光电倍增管14、双色镜15、滤光片16、振镜17、扫描透镜18、管镜19、四分之一玻片20、物镜21和载物台22
具体的,脉冲激光器1的激光出射后经格兰激光棱镜2和第一分束器4分束后形成三条光路,其中一路光被高速光电二极管探测器11收集后作为荧光寿命成像时的参考信号;
另外两路光用于激发样品,它们的波前分别为高斯型和环形,且脉冲间隔为激光脉冲周期的一半;这两路光经第二分束器7后合束,依次经过双色镜15、振镜17、扫描透镜18、管镜19和四分之一玻片20后,通过物镜21聚焦后照射样品。
对金纳米颗粒样品进行成像,通过实时成像进行光斑调节,使高斯激光和环形激光的焦平面在空间上精准重合。
样品被激发后产生荧光,荧光被同一物镜21收集后原路返回,经四分之一玻片20、管镜19、扫描透镜18、振镜17和双色镜15,被双色镜15反射后经过滤光片16到达光电倍增管14。时间相关单光子计数器12同时接收高速光电二极管探测器11和光电倍增管14采集的参考信号和荧光信号,并将数据传输至计算机13进行存储和处理。
图2为本发明实现荧光发射比率纳米显微成像的原理图。对染料标记后的样品进行荧光寿命成像,通过时间相关单光子计数器12采集荧光光子并获取其时空信息,然后对荧光寿命数据进行后期处理。首先,以环形激光脉冲所在的时间通道为界限将荧光信号分为两部分,前半部分的荧光光子由高斯型激光激发,形成由高斯光斑点扩展函数组成的图像,剩余部分的荧光光子由环形激光激发,形成由环形光斑点扩展函数组成图像。
当激光脉冲频率为40MHz时,高斯图像和环形图像之间时间差为纳秒量级,相当于实时记录了高斯光斑和环形光斑的空间位置信息。然后,对这两幅图像对应坐标的灰度值进行判定,根据判定方案得到荧光发射比率纳米显微图像各坐标的灰度值,实现超分辨成像。
图3是本发明实现荧光发射比率纳米显微图像像素灰度值的判定方案。对采集到的荧光寿命数据进行信号处理后得到两幅图,图像中各像素的灰度值分别由IGaussian(x,y)和IDount(x,y)表示。首先,判断IGaussian(x,y)各个坐标位置像素的灰度值是否为零,若IGaussian(x,y)=0,则IFERN(x,y)图像中对应坐标像素的灰度值为0;若IGaussian(x,y)≠0,则判断IDount(x,y)对应坐标位置像素的灰度值是否为零。此时,若IDount(x,y)=0,则IFERN(x,y)图像中对应坐标像素的灰度值与IGaussian(x,y)相同;若IDount(x,y)≠0,则IFERN(x,y)图像中对应坐标像素的灰度值为IGaussian(x,y)/IDount(x,y)。根据上述判定,最终得到荧光发射比率纳米显微图像。
图4是本发明实现荧光发射比率纳米显微成像的理论模拟结果。图(a)为两束激光照射后采集到的荧光衰减曲线。高斯光和环形光之间的脉冲间隔为激光脉冲周期的一半(T/2),两束激光的功率均为微瓦量级,且可以通过旋转系统中半波片的角度进行调节。
以3×3均匀分布的9个点物体作为成像对象,图(b)和(c)分别为经过数据处理后得到的高斯图像(IGaussian)和环形图像(IDount)。
利用图3所示的方案进行图像处理,得到图(d)所示的荧光发射比率图像(IFERN)。对比图(b)和图(d)可以看出,图(d)中光斑的最大半高全宽更小,因此分辨率更高。所以,本发明提出的荧光发射比率纳米显微成像方法可以在微瓦级激光功率下实现超分辨成像,拓宽了荧光染料的选择范围,为活细胞中亚细胞结构的动态过程和相互作用研究提供技术支撑。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
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