一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统

技术领域

本发明涉及射频继电器射频通道的通断测试技术领域，具体而言，涉及一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统。

背景技术

常规的双刀双掷射频继电器采取四管脚独立连接，在继电器连接时，常会出现继电器的同行或者同列管脚接通情况相同，这种双刀双掷射频继电器没有一个公共端接口，导致判断继电器的四个导通情况时，需要进行二次测试，给双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试带来了不便。

发明内容

本发明解决的问题是对双刀双掷射频继电器射频通道进行一次测试就判断其射频通道的测试系统。

为解决上述问题，本发明提供一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，用于控制第一继电器接口、第四继电器接口。

进一步的，所述继电器接口端包括四路继电器接口，所述四路继电器接口按照2*2矩阵排列，自左至右，自上而下依次是第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述四路继电器接口端均为自由端。

进一步的，所述继电器的公共端将原本独立连接继电器的自由端进行拆分，拆分后构成公共端和继电器连接接口，其中两个自由端联立构成公共端，剩下的两个自由端则构成继电器连接接口。

进一步的，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第一继电器连接接口接所述第一三极管的集电极，所述第一三极管的发射级接地，基极连接所述MCU控制芯片，用于向所述MCU控制芯片输出继电器射频指令。

进一步的，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第二继电器连接接口接所述第二三极管的集电极，所述第二三极管的发射级接地，基极连接所述MCU控制芯片，用于向所述MCU控制芯片输出继电器射频指令。

进一步的，所述继电器的两个继电器连接接口采取其中一个公共端进行测试，所以当继电器的公共端接入一个继电器连接接口时，另一个继电器连接接口则无法连接公共端进行测试。

进一步的，所述继电器射频通道的公共端连接所述MCU控制芯片，用于接收所述MCU控制芯片发出的电平信号。

进一步的，所述继电器射频通道的公共端接收所述MCU控制芯片发出的电平信号可用于输出高电平控制所述第一三极管或第二三极管的导通，此时继电器射频电路的一个公共端和一个自右端导通构成一个回路，此时可以通过公共端接收的电平信号进行继电器通道导通的判断。

进一步的，当继电器通道中电平信号导通时，所述第一三极管、第二三极管采取替代工作模式，并通过控制三极管的导通来控制电平信号的输入。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：对传统的双刀双掷射频继电器管脚进行调整，对其管脚进行新的定义，分为公共端和继电器连接接口，通过继电器连接接口连接三极管，并在继电器的公共端接收所述MCU控制芯片发出的电平信号，通过电平信号变化，全面和正确的反映双刀双掷射频继电器射频通道的通断情况，对于双刀双掷射频继电器的机械寿命测试很有帮助。

附图说明

图1为本发明整体结构的原理结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本说明书的描述中，参考术语“实施例”、“一个实施例”和“一个实施方式”等的描述意指结合该实施例或实施方式描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示实施方式中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实施方式。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或实施方式以合适的方式结合。

如图1所示，本发明提供一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，用于控制第一继电器接口、第四继电器接口。

需要说明的是，在本实施例中，继电器的控制端包括第一三极管，第二三极管，第一三极管、第二三极管的基极分别连接MCU控制芯片的两个IO管脚，通过MCU控制芯片通过IO管脚对第一三极管、第二三极管进行控制。

在本发明的一个实施例中，所述继电器接口端包括四路继电器接口，所述四路继电器接口按照2*2矩阵排列，自左至右，自上而下依次是第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述四路继电器接口端均为自由端。

需要说明的是，在本实施例中，在本实施例中，继电器接口端的接口标号分别为：第一继电器接口对应接口J1、第二继电器接口对应接口J2、第三继电器接口对应接口J3、第四继电器接口对应接口J4，四路继电器接口接通定义为同行或者同列相同，比如接口J1的通断情况与接口J2相同时，接口J3与接口J4相同或者接口J1的通断情况与接口J3相同。

在本发明的一个实施例中，所述继电器的公共端将原本独立连接继电器的自由端进行拆分，拆分后构成公共端和继电器连接接口，其中两个自由端联立构成公共端，剩下的两个自由端则构成继电器连接接口。

需要说明的是，在本实施例中，公共端采取互为对角线的两个接口进行调整，比如当接口J2、接口J3为公共端时，则接口J1、接口J4为继电器连接接口，此时接口J1-J3-J4构成一个包含单刀双掷开关的闭合通路，同时，接口J1-J2-J4构成一个包含单刀双掷开关的闭合通路，

在本发明的一个实施例中，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第一继电器连接接口接所述第一三极管的集电极，所述第一三极管的发射级接地，基极连接所述MCU控制芯片，用于向所述MCU控制芯片输出继电器射频指令。

需要说明的是，在本实施例中，继电器连接接口连接第一三极管，同时可以通过第一三极管的集电极将电路中的接口导通情况传输至MCU控制芯片，第一三极管的基极经定值电阻连接MCU控制芯片的IO1管脚，通过MCU控制芯片输出高电平来控制第一三极管的导通情况，当MCU通过IO1管脚输出高电平时，此时第一三极管Q1导通，管脚J1-J2-J4构成一个单刀双掷开关，管脚J1、J4作为电路中的控制控制开关，管脚J2作为电路中的用电器，管脚J2连接三极管Q1进行相应的电量消耗。

在本发明的一个实施例中，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第二继电器连接接口接所述第二三极管的集电极，所述第二三极管的发射级接地，基极连接所述MCU控制芯片，用于向所述MCU控制芯片输出继电器射频指令。

需要说明的是，在本实施例中，继电器连接接口连接第二三极管Q2，同时通过第二三极管的集电极将电路中的接口导通情况传输至MCU控制芯片，第一三极管的基极经定值电阻连接MCU控制芯片的IO2管脚，通过MCU控制芯片输出高电平来控制第二三极管Q2的导通情况，当MCU通过IO2管脚输出高电平时，此时第一三极管Q2导通，管脚J1-J3-J4构成一个单刀双掷开关，管脚J1、J4作为电路中的控制开关，管脚J2作为电路中的用电器，管脚J2通过三极管Q1连接MCU控制芯片进行相应的电量消耗。

在本发明的一个实施例中，所述继电器的两个继电器连接接口采取其中一个公共端进行测试，所以当继电器的公共端接入一个继电器连接接口时，另一个继电器连接接口则无法连接公共端进行测试。

需要说明的是，在本实施例中，继电器的公共端包括接口J2、接口J3，接口，接口J2、J3分别连接三极管Q1、三极管Q2，三极管Q1、Q2分别通过IO1管脚、IO2管脚连接MCU控制芯片，当MCU控制芯片通过IO1管脚与接口J2连接时，则接口J3断开，公共端J2与管脚J1、管脚J4构成闭合通路；当MCU控制芯片通过IO2管脚与接口J3连接时，则接口J2断开，公共端J3与管脚J1、管脚J4构成闭合通路，。

在本发明的一个实施例中，所述继电器射频通道的公共端连接所述MCU控制芯片，用于接收所述MCU控制芯片发出的电平信号。

需要说明的是，在本实施例中，接口J1、J4通过采样接口ADC1、采样接口ADC2接收MCU控制芯片发出的电平信号，接口ADC1、接口ADC2按照MCU控制芯片的ADC功能引脚进行电路中电压的采样判断，并由此来判断继电器通道的电平情况。

在本发明的一个实施例中，所述继电器射频通道的公共端接收所述MCU控制芯片发出的电平信号可用于输出高电平控制所述第一三极管或第二三极管的导通，此时继电器射频电路的一个公共端和一个自由端通道通构成一个回路，此时可以通过公共端接收的电平信号进行继电器通道导通的判断。

需要说明的是，三极管Q1的IO1管脚和三极管Q2的IO2管脚分别连接MCU控制芯片的IO引脚，MCU控制芯片输出的高电平可以控制三极管Q1和三极管Q2导通，当三极管Q1导通时，管脚J1-管脚J3 (实线)和管脚J2-管脚J4接通时，形成管脚J1- (ADC1采样信号)-管脚J3-Q2-地和J4(ADC2)-J2-Q1-地的闭合回路，此时采样信号ADC1和采样信号ADC2检测到低电平后可以判断该通道接通；同理管脚J1-管脚J2 (实线)和管脚J3-管脚J4接通时，形成管脚J1- (ADC1采样信号)-管脚J2-Q1-地和管脚J4-(ADC2采样信号)- 管脚J2-Q1-地的闭合回路，此时采样信号ADC1和采样信号ADC2检测到低电平后可以判断该通道接通。

在本发明的一个实施例中，当继电器通道中电平信号导通时，所述第一三极管、第二三极管采取替代工作模式，并通过控制三极管的导通来控制电平信号的输入。

需要说明的是，在本实施例中，利用三极管Q1或三极管Q2作开关作用，来控制管脚J2和管脚J3只有一端接入到测试电路中，当管脚J1-管脚J3 (实线)接通，IO1接口输出高电平使三极管Q1导通，IO2输出低电平使三极管Q2截止，判断管脚J1-管脚J2-管脚J4闭合回路的电压信号，此时测量采样信号ADC1，采样信号ADC2的电平情况，如果采样信号ADC1检测为低电平，则管脚J1-管脚J2导通，如果采样信号ADC1检测为高电平，则管脚J1-管脚J2断开；若ADC2检测到低电平，则管脚J2-管脚J4导通，若ADC2检测到高电平，则管脚J2-管脚J4断开；然后IO1接口输出低电平使三极管Q1截止，IO2接口输出高电平使三级管Q2导通，判断管脚J1-管脚J3-管脚J4线路中闭合回路的电压情况，此时判断采样信号ADC1和采样信号ADC2是否为低电平，若ADC1检测到低电平则管脚J1-管脚J3导通，若ADC1检测到高电平则管脚J1-管脚J3断开，若采样信号ADC2检测到低电平，则管脚J3-管脚J4导通，若采样信号ADC2检测到高电平，则管脚J3-管脚J4断开。根据采样信号输出的电平情况以及三极管的通断情况就可以直观判断双刀双掷射频继电器各个射频通道接通情况了，当管脚J1-管脚J2(虚线)，管脚J3-管脚J4(虚线)接通时，判断方法与上述一致。

虽然本公开披露如上，但本公开的保护范围并非仅限于此。本领域技术人员在不脱离本公开的精神和范围的前提下，可进行各种变更与修改，这些变更与修改均将落入本发明的保护范围。