波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

随着仪器仪表产业的发展，出现了波纹管。波纹管是指用可折叠皱纹片沿折叠伸缩方向连接成的管状弹性敏感元件，将压力转换成位移或力，作为测量仪表的测量元件。波纹管管壁较薄，灵敏度较高，测量范围为数十帕至数十兆帕，经常用于安装在飞机，火箭等重要设备的关键部位测量压力。因此确定波纹管的使用寿命对于设备的运行安全具有重要意义。

传统技术中，只能通过将波纹管拆下来进行全面检查确定波纹管的剩余使用寿命。这样不仅增加了检查人员的工作量，而且反复拆装会对波纹管的测量精度产生影响。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质，无需拆卸波纹管，即可精准确定波纹管剩余使用寿命。

第一方面，本申请提供了一种波纹管的剩余使用寿命确定方法。所述方法包括：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；

基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；

根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。

在其中一个实施例中，根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命，包括：

根据所述目标高度比和所述待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；

根据所述调整高度比和所述目标性能变化速率，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。

在其中的一个实施例中，根据所述调整高度比和所述目标性能变化速率，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命，包括：

将所述调整高度比与所述目标性能变化速率之间的比值，作为所述待测波纹管的剩余使用寿命。

在其中的一个实施例中，上述的波纹管的剩余使用寿命确定方法还包括：

根据所述初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，所述标准波纹管与所述待测波纹管的型号相同；

根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在其中一个实施例中，根据所述初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，包括：

针对每一测试温度，根据所述初始高度，以及所述标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定所述标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；

根据通用高度比模型，以及所述标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定所述标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

在其中的一个实施中，根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系，包括：

基于阿伦尼斯方程，根据所述标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

第二方面，本申请还提供了一种波纹管的剩余使用寿命确定装置。所述装置包括：

高度获取模块，用于获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

第一确定模块，用于根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；

第二确定模块，用于基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；

第三确定模块，用于根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。

第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；

基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；

根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。

第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；

基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；

根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。

第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据所述待测波纹管的初始高度和所述目标高度，确定目标高度比；

基于所述待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据所述目标温度，确定目标性能变化速率；

根据所述目标性能变化速率和所述目标高度比，确定所述待测波纹管的剩余使用寿命。

上述波纹管的剩余使用寿命确定方法、装置、设备和存储介质，通过测定待测波纹管的目标温度，根据待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，即可确定待测波纹管的在目标温度下的目标性能变化速率，然后测定待测波纹管的目标高度来确定待测波纹管的目标高度比，进而通过对待测波纹管的目标性能变化速率以及目标高度比进行分析，即可精准确定待测波纹管的剩余使用寿命。上述方案，相比于传统确定波纹管剩余使用寿命的方式而言，无需拆卸波纹管，避免了拆卸对波纹管性能的影响，同时降低了人工成本，为合理且精准确定待测波纹管的剩余使用寿命提供了一种可选方式。

附图说明

图1为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法的应用环境图；

图2为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法的流程示意图；

图3为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法细节步骤示意图；

图4为一个实施例中确定波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系的流程示意图；

图5为另一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定方法的流程示意图；

图6为一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定装置的结构框图；

图7为另一个实施例中波纹管的剩余使用寿命确定装置的结构框图；

图8为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供的波纹管的剩余使用寿命确定方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，终端102通过网络与服务器104进行通信。数据存储系统可以存储服务器104需要处理的数据。数据存储系统可以集成在服务器104上，也可以放在云上或其他网络服务器上。可选的，本实施中，终端102可以向服务器104发起待测波纹管的剩余使用寿命确定请求，服务器响应于终端，对各种数据进行处理，确定待测波纹管的剩余使用寿命。其中，终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑、物联网设备和便携式可穿戴设备，物联网设备可为智能音箱、智能电视、智能空调、智能车载设备等。便携式可穿戴设备可为智能手表、智能手环、头戴设备等。服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种波纹管的剩余使用寿命确定方法，以该方法应用于图1中的服务器为例进行说明，包括以下步骤：

S201，获取待测波纹管在目标温度下的目标高度。

可选的，待测波纹管可以为需要评估或预测剩余使用寿命的任一波纹管。

目标高度，可以为通过长度测试仪测试待测波纹管的高度；目标高度的大小与待测波纹管在当时的性能状态有关，待测波纹管的性能状态越好，所测得的目标高度的值越小；待测波纹管的性能状态越差，所测得的目标高度值越大。其中，长度测试仪可以为各种用于测试长度的工具。

目标温度即为在待测时刻下待测波纹管本身的温度；一般情况下，待测波纹管的温度与环境温度一致。

具体的，用户在具有确定待测波纹管剩余使用寿命需求的情况下，可以向服务器发送包括待测波纹管的标识信息、目标温度和目标高度的剩余使用寿命确定请求；进而服务器即可从剩余使用寿命确定请求中获取到待测波纹管的目标温度和目标高度。

S202，根据待测波纹管的初始高度和目标高度，确定目标高度比。

本实施例中，初始高度即为待测波纹管在使用之前通过长度测试仪所测得的高度。

具体的，采用目标高度除以初始高度，得到一个比值，该比值即为目标高度比。

S203，基于待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据目标温度，确定目标性能变化速率。

其中，性能变化速率是用于表征波纹管的性能与温度之间关系的一个物理参数。性能变化速率与波纹管的材质、温度有关；对于同一型号波纹管而言，性能变化速率只与温度有关。

待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系可以采用一个函数关系式来表示，其中，温度为自变量，性能变化速率为因变量。当温度变化时，性能变化速率也随着温度变化而变化。

进而，可以将目标温度带入该函数关系式中，即可得到目标性能变化速率。

S204，根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

一种可选的方式为，基于样本性能变化速率，样本目标高度比，以及样本剩余使用寿命，建立一个剩余使用寿命确定模型。进而，将目标性能变化速率和目标高度比输入到剩余使用寿命确定模型中，由该剩余使用寿命确定模型输出对应的剩余使用寿命。

上述波纹管的剩余使用寿命确定方法，通过测定待测波纹管的目标温度，根据待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，即可确定待测波纹管的在目标温度下的目标性能变化速率，然后测定待测波纹管的目标高度来确定待测波纹管的目标高度比，进而通过对待测波纹管的目标性能变化速率以及目标高度比进行分析，即可精准确定待测波纹管的剩余使用寿命。上述方案，相比于传统确定波纹管剩余使用寿命的方式而言，无需拆卸波纹管，避免了拆卸对波纹管性能的影响，同时降低了人工成本，为合理且精准确定待测波纹管的剩余使用寿命提供了一种可选方式。

可选的，在上述实施例的基础上，本实施例进一步对S204进行详细说明。如图3所示，具体实现过程包括以下步骤：

S301，根据目标高度比和待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比。

其中，寿命调节参数是用于调节高度比的一个常数值，与波纹管的材质有关；可选的，对于同一型号的波纹管而言，寿命调节参数是固定的。

具体的，对待测波纹管的目标高度比取对数，得到一个对数值；采用寿命调节参数减去该对数值，得到的差值即为调整高度比。

S302，根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

一种可选的方式为，可以对大量样本调整高度比、样本性能变化速率和样本剩余使用寿命的数据进行分析，确定一个剩余使用寿命确定逻辑。进而，基于所确定的逻辑，根据待测波纹管的调整高度比和目标性能变化速率，即可确定待测波纹管的剩余使用寿命。

另一种可选的方式为，将调整高度比与目标性能变化速率之间的比值，作为待测波纹管的剩余使用寿命。

具体的，采用调整高度比除以目标性能变化速率，得到一个比值，比值即为待测波纹管的剩余使用寿命。

上述实施例中，通过引入寿命调节参数，来对目标高度比进行调整，进而基于调整后的目标高度比，即调整高度比，来确定待测波纹管的剩余使用寿命，使得剩余使用寿命的确定更为科学合理。

可选的，在上述实施例的基础上，本实施例提供了一种确定温度与性能变化速率之间的关联关系的可选实例，如图4所示，具体步骤包括：

S401，根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率。

其中，标准波纹管与待测波纹管的型号相同。

一种可选的方式，针对每一测试温度，根据初始高度，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；根据通用高度比模型，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

本实施例中，通用高度比模型可以表示为y＝B·exp{-Kτ}。其中，τ为天数变量，K为性能变化速率，B为常量，y为高度比变量。

具体的，针对每一测试温度，可以分别采用标准波纹管在该测试温度下各使用天数的测试高度，除以初始高度，即可得到标准波纹管在该测试温度下各使用天数的测试高度比。

之后，对通用高度模型取对数，得到Y＝a+bX的一次函数，其中，Y＝lny，a＝lnB，b＝-K，X＝τ，a为寿命调节参数，与常数B有关。

将该测试温度下每一使用天数和该使用天数对应的测试高度比，均带入到上述一次函数中，即可得到一个方程组；采用最小二乘法，求解该方程组，即可得到一次函数中的a和b的值。进而基于b的值，即可得到标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

S402，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

一种可选的方式，可以将大量的标准波纹管在不同温度下的测试性能变化速率以及对应的测试温度输入到SCILAB软件中，SCILAB软件进行数据分析，确定标准波纹管的性能变化速率与温度之间的关联关系，该关联关系可以为一个一次函数，也可以为一个二次函数。

另一种可选的方式，基于阿伦尼斯方程，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

本实施例中，阿伦尼斯方程为：

其中，K为性能变化速率，A为常数，E为表观活化能，R为气体常数，是一个固定值，T为温度。

具体的，对阿伦尼斯方程取对数，得到一个一元一次方程，并将多组测试温度与测试性能变化速率的数据带入到方程中，得到一个方程组；采用最小二乘法，对方程组求解，即可得到一个性能变化速率随温度变化的函数，即温度与性能变化速率之间的关联关系。

上述实施例中，通过根据标准波纹管的高度比，使用天数以及温度等数据，确定了温度和性能变化速率的关联关系，使得在确定待测波纹管的剩余使用寿命时，只要知道温度就能确定待测波纹管在当前温度下的性能变化速率，对后续确定待测波纹管的剩余使用寿命具有重要意义。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种波纹管剩余使用寿命的确定方法，具体实现过程可以包括：

S501，针对每一测试温度，根据初始高度，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比。

S502，根据通用高度比模型，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

S503，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

S504，获取待测波纹管在目标温度下的目标高度。

S505，根据待测波纹管的初始高度和目标高度，确定目标高度比。

S506，基于温度与性能变化速率之间的关联关系，根据目标温度，确定目标性能变化速率。

S507，根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

应该理解的是，虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的一种波纹管的剩余使用寿命确定方法的剩余使用寿命确定装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个波纹管的剩余使用寿命确定装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于波纹管剩余使用方法的限定，在此不再赘述。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种波纹管的剩余使用寿命确定装置1，包括：高度获取模块10、第一确定模块20，第二确定模块30和第三确定模块40，其中：

高度获取模块10，用于获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

第一确定模块20，用于根据待测波纹管的初始高度和目标高度，确定目标高度比；

第二确定模块30，用于基于待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据目标温度，确定目标性能变化速率；

第三确定模块40，用于根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在其中的一个实施例中，如图7所示，上述的波纹管的剩余使用寿命确定装置1的第三确定模块40还包括：

高度调整单元41，根据目标高度比和待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；

寿命确定单元42，根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在其中的一个实施例中，寿命确定单元42具体用于：

将调整高度比与目标性能变化速率之间的比值，作为待测波纹管的剩余使用寿命。

在其中的一个实施例中，上述的波纹管的剩余使用寿命确定装置1还包括：

速率确定模块，用于根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，标准波纹管与待测波纹管的型号相同；

关系确定模块，用于根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在其中的一个实施例中，上述的速率确定模块还具体用于：

针对每一测试温度，根据初始高度，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；

根据通用高度比模型，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

在其中的一个实施例中，上述的关系确定模块还具体用于：

基于阿伦尼斯方程，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

上述波纹管的剩余使用寿命确定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图8所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储待测波纹管的初始高度以及标准波纹管的高度，温度和性能变化速率等相关数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种波纹管的剩余使用寿命确定方法。

本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据待测波纹管的初始高度和目标高度，确定目标高度比；

基于待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据目标温度，确定目标性能变化速率；

根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序中根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命的逻辑时，还实现以下步骤：

根据目标高度比和待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序中根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命的逻辑时，还实现以下步骤：

将调整高度比与目标性能变化速率之间的比值，作为待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，标准波纹管与待测波纹管的型号相同；根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序中根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率的逻辑时，实现以下步骤：

针对每一测试温度，根据初始高度，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；根据通用高度比模型，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序中根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系的逻辑时，实现以下步骤：

基于阿伦尼斯方程，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据待测波纹管的初始高度和目标高度，确定目标高度比；

基于待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据目标温度，确定目标性能变化速率；

根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，计算机程序中根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命的逻辑被处理器执行时还实现以下步骤：

根据目标高度比和待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，计算机程序中根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命的逻辑被处理器执行时还实现以下步骤：

将调整高度比与目标性能变化速率之间的比值，作为待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，计算机程序中的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，标准波纹管与待测波纹管的型号相同；根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在一个实施例中，计算机程序中根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

针对每一测试温度，根据初始高度，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；根据通用高度比模型，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

在一个实施例中，计算机程序中根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

基于阿伦尼斯方程，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取待测波纹管在目标温度下的目标高度；

根据待测波纹管的初始高度和目标高度，确定目标高度比；

基于待测波纹管的温度与性能变化速率之间的关联关系，根据目标温度，确定目标性能变化速率；

根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，计算机程序中根据目标性能变化速率和目标高度比，确定待测波纹管的剩余使用寿命的逻辑被处理器执行时还实现以下步骤：

根据目标高度比和待测波纹管的寿命调节参数，确定调整高度比；根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，计算机程序中根据调整高度比和目标性能变化速率，确定待测波纹管的剩余使用寿命的逻辑被处理器执行时还实现以下步骤：

将调整高度比与目标性能变化速率之间的比值，作为待测波纹管的剩余使用寿命。

在一个实施例中，计算机程序中的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率；其中，标准波纹管与待测波纹管的型号相同；根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

在一个实施例中，计算机程序中根据初始高度，以及标准波纹管在每一测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

针对每一测试温度，根据初始高度，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度，确定标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比；根据通用高度比模型，以及标准波纹管在该测试温度下不同使用天数的测试高度比，确定标准波纹管在该测试温度下的测试性能变化速率。

在一个实施例中，计算机程序中根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

基于阿伦尼斯方程，根据标准波纹管在每一测试温度下的测试性能变化速率，确定温度与性能变化速率之间的关联关系。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。