射频板测试系统、测试方法、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种射频板测试系统、测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术

射频板因能够将射频信号进行变频处理而应用在各种领域，如航空、军事、医学以及日常生活中，根据应用场景的不同，射频板的功能也有所区别，因此，对射频板进行出厂测试是必不可少的环节。

现有的自动化测试系统是采用上位机通过集成电路总线(Inter-IntegratedCircuit)，简称IIC)和测试探针结合的方式对待测射频板进行测试的，该种测试系统适应于对待测射频板的所有通道进行同时测试的场景。

上述现有的测试方案，对于具有多路射频信号的待测视频版不能实现分路采集，不能覆盖多种测试需求场景，且测试探针价格昂贵，在多次测量后会导致测试探针损耗，存在测试成本高的问题。

发明内容

本发明提供一种射频板测试系统、测试方法、电子设备及存储介质，能够改善现有的对射频板进行测试的方案。

第一方面，本发明提供一种射频板测试系统，包括：上位机、主控制器和多路选通器，待测射频板分别与所述多路选通器和所述主控制器连接，所述主控制器分别与所述多路选通器和所述上位机连接，所述待测射频板包括至少一个待测通路，其中：

所述上位机用于，在接收到测试指令后，将所述测试指令发送至所述主控制器；

所述主控制器用于，对所述测试指令解析获得解析结果；还用于根据所述解析结果控制所述多路选通器，以使得所述多路选通器根据所述测试指令确定目标待测通路；还用于获取所述目标待测通路的测试数据，并将所述测试数据反馈至所述上位机。

第二方面，一种射频板测试方法，应用于本发明任一实施例所述的射频板测试系统中，包括：

接收测试指令，并将所述测试指令发送至主控制器；

接收所述主控制器反馈的目标待测通路的测试数据，其中，所述目标待测通路是由所述主控制器控制多路选通器根据所述测试指令确定的。

第三方面，本发明还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的射频板测试系统中的相应功能。

第四方面，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的射频板测试系统中的相应功能。

本发明实施例提供的射频板测试方案，包括：上位机、主控制器和多路选通器，待测射频板分别与多路选通器和主控制器连接，主控制器与上位机连接，待测射频板包括至少一个待测通路，其中：上位机用于，在接收到测试指令后，将测试指令发送至主控制器；主控制器用于，解析测试指令并控制多路选通器的通道切换，以使得多路选通器根据测试指令确定目标待测通路，以获取目标待测通路的测试数据，并将测试数据反馈至上位机。本实施例提供的方案，通过上位机、主控制器和多路选通器电路连接的方式，能够实现对接入测试系统中的各种类型待测射频板进行测试；且通过对上位机和主控制器中的程序开发，可实现对不同类型待测射频板中的多种功能的测试；进一步地，通过主控制器响应上位机测试指令的方式，实现成本较低，响应速度快。解决了现有方案中测试成本较高以及测试需求受限的问题，取到了降低测试成本，满足多种测试需求的有益效果。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本发明提供的射频板测试系统的一个结构示意图；

图2是本发明提供的射频板测试系统的另一结构示意图；

图3是本发明提供的射频板测试系统的又一结构示意图；

图4是本发明提供的射频板测试系统的又一结构示意图；

图5是本发明提供的射频板测试系统的又一结构示意图；

图6是本发明提供的射频板测试方法的一个流程示意图；

图7为本发明实施例提供的一种电子设备的结构框图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本实施例中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1为本发明提供的射频板测试系统的一个结构示意图，本实施例可适用于对待测射频板进行测试的情况。具体地，本实施例提供的射频板测试系统，包括：上位机10、主控制器20和多路选通器30，待测射频板40分别与多路选通器30和主控制器20连接，主控制器20分别与多路选通器30和上位机10连接，待测射频板40包括至少一个待测通路，其中：

上位机用于在接收到测试指令后，将测试指令发送至主控制器；主控制器用于，对测试指令解析获得解析结果；还用于根据解析结果控制多路选通器，以使得多路选通器根据测试指令确定目标待测通路；还用于获取目标待测通路的测试数据，并将测试数据反馈至所述上位机。

待测射频板为具有多路变频功能的射频板，其主要功能是对接收到的北斗卫星导航信号的信号频率进行改变，以实现待测射频板在多种领域的应用。

在对待测射频板进行测试的过程中，需要尽可能少的人工干预，做到简化测试流程，能够实现自动化测试，以提高测试效率，同时需确保测试精度可靠。因此，可通过在上位机上开发测试软件的方式满足当前需求。当前上位机可以由集成有测试软件的计算机设备实现。

在对待测射频板进行测试时，当前测试软件可以为开发人员针对不同类型测试射频板开发的测试软件；也可以为针对所有类型测试射频板开发的同一测试软件。在对待测射频板进行测试的之前，测试人员可根据当前待测射频板的类型在上位机中选择相应的测试软件，从而实现对待测射频板的测试；测试人员还可根据当前测试需求在上位机中对待测功能进行选择，并进一步设置测试优先级，以使得上位机能够根据测试优先级实现对待测射频板相应功能的顺序测试；在测试人员成功接入待测射频板后，上位机也可根据当前待测射频板所集成的功能调用每个待测功能对应的测试程序，实现对待测射频板进行自动测量。具体上位机对待测射频板的测试方式在此不做限制。

可选地，上述测试软件基于C#开发，有利于后续的持续开发与维护，功能扩展灵活，即可用于当前场景下多通道射频单板测试，也可持续开发模块化功能，实现自动化测试。

其中，对待测射频的测试需求是根据测试软件测试当前射频板的每个通路的输入输出是否正常，以根据测试结果判定射频板能否进入下一应用环节。测试软件的功能可以包括每个待测通路的馈电电压、射频链路增益、射频链路增益控制、时钟稳定性、时钟同步性、单板功耗测量等，具体测试软件的测试功能在此不做限制，以待测射频板的测试需求为准。

上述测试指令可以为测试人员根据实际测试需求在上位机的测试软件中进行需求配置后获得的指令。在需求配置完成后，测试人员可通过点击上位机可视化界面的“完成”按钮，生成测试指令，以使得上位机将测试指令发送至主控制器。

根据待测射频板使用场景的不同，不同类型的待测射频板具备不同待测功能。示例性地，A类型待测射频板可能具备上变频功能、B类型待测射频板可能具备下变频功能、C类型射频板可能具备时钟功能、D类型射频板可能同时具备上变频、下变频和时钟功能。每个射频板对包含有至少一个功能，每个功能均对应有至少一个待测通路，示例性地，对于D类型射频板，通路1-通路8可以对应下变频功能；通路9可以具备时钟功能；通路10-通路11可以具备上变频功能，具体每个待测射频板所具备的待测功能，以及每个待测功能对用的待测通路数量在此不做限制，以每个待测射频板的实际设计为准。

由于本实施例提供的测试系统，能够适应于对多通路待测射频板进行测试的需求。因此，为明确当前测试指令为对哪一个待测通路发送的测试指令，测试指令可以包括目标待测通路、目标待测通路的测试参数(如，通道馈电电压、射频芯片参数配置以及待测射频板功耗统计等)主控制器在接收到当前测试指令后，对测试指令进行解析获得解析结果，例如，当前解析结果可以包括：目标待测通路以及对目标待测通路的测试参数等，以使得多路选通器根据解析的目标待测通路进行通道切换，将通道切换至目标待测通路，进一步控制主控制器获取目标待测通路中相关测试参数的测试数据等。

上述主控制器可以采用单片机来实现，示例性地，单片机型号可以为STM32F103。单片机的实现功能简单，成本较低，同时运行速度较快，能够快速响应上位机的测试指令，对数据处理及时反馈，最高工作时钟可以达到103MHz，可用外部扩展资源丰富，方便后期的二次开发。

上述待测射频板可通过测试夹具工装与多路选通器和主控制器进行线路连接，以通过测试夹具固定待测射频板；测试夹具工装可采用螺丝锁紧方式固定待测射频板，亦可设计为压扣式锁紧方式实现，具体测试夹具工装固定待测射频板的方式在此不做限制。

可选地，在上位机、主控制器和多路选通器的线路连接完成之后，若当前待测射频板测试完成，无需更换测试系统的测试设备，只需取下当前待测射频板，将下一待测射频板与多路选通器和主控制器进行线路连接即可，适用于对各种类型待测射频板进行测试的场景。

本发明实施例提供的射频板测试系统，包括：上位机、主控制器和多路选通器，待测射频板分别与多路选通器和主控制器连接，主控制器与上位机连接，待测射频板包括至少一个待测通路，其中：上位机用于，在接收到测试指令后，将测试指令发送至主控制器；主控制器用于，解析测试指令并控制多路选通器通道切换，以使得多路选通器根据测试指令确定目标待测通路，以获取目标待测通路的测试数据，并将测试数据反馈至上位机。本实施例提供的方案，通过上位机、主控制器和多路选通器电路连接的方式，能够实现对接入测试系统中的各种类型待测射频板进行测试；且通过对上位机和主控制器中的程序开发，可实现对不同类型待测射频板中的多种功能的测试；进一步地，通过主控制器响应上位机测试指令的方式，实现成本较低，响应速度快。解决了现有方案中测试成本较高以及测试需求受限的问题，取到了降低测试成本，满足多种测试需求的有益效果。

图2是本发明提供的射频板测试系统的另一结构示意图，本实施例与上述实施例之间的关系对上述实施例相应特征的进一步细化。如图2所示，本实施例提供的测试系统在上述实施例的基础上，还包括：信号发生器50、频谱仪60；具体地，本实施例提供的多路选通器30包括：第一多路选通器31和第二多路选通器32；其中，信号发生器的一端与上位机连接，信号发生器的另一端与第一多路选通器的第一端连接，第一多路选通器的第二端与至少一个待测通路的射频输入端连接；第一多路选通器的第三端与主控制器连接；在主控制器上集成有显示屏；第二多路选通器的第一端与至少一个待测通路的射频输出端连接，第二多路选通器的第二端与频谱仪的一端连接，频谱仪的另一端与上位机连接，第二多路选通器的第三端与主控制器连接。

其中，在上位机将测试指令发送至主控制器之前，还用于向信号发生器发送控制指令，控制指令包括目标输入信号；信号发生器，用于将目标输入信号发送至第一多路选通器；在主控制器对测试指令解析获得解析结果之后，第一多路选通器用于，将目标输入信号发送至目标待测通路的射频输入端。主控制器用于，根据所述测试指令获取对所述目标待测通路的射频输入端输入所述目标输入信号时的的测试数据，将测试数据显示在显示屏，并将测试数据发送至上位机；上位机用于，存储测试数据，并根据测试数据生成第一测试报告。

第二多路选通器用于，将目标待测通路的射频输出端产生的输出信号发送至频谱仪，所述输出信号是所述目标待测通路对所述目标输入信号进行处理获得的；频谱仪用于，将输出信号解析为频谱数据，并将频谱数据发送至上位机；主控制器还用于，对输出信号进行解析处理获得输出数据，并将输出数据发送至上位机，还用于在显示屏显示输出数据；上位机还用于，存储频谱数据和输出数据，并基于频谱数据和输出数据生成第二测试报告。

在对待测射频板进行测试的过程中，主要用于测试每个待测通路的功能是否正常，在测试待测通路的功能时，需通过对每个待测通路的输入信号和输出信号进行检测，从而通过对输入信号和输出信号的测量结果进行分析，以确定当前射频板能否被投入使用。

控制指令用于向信号发生器配置信号源的输入信号，例如，输入信号为1268.52MHz的单载波信号等。这样做的目的在于，能够通过信号发生器向目标待测通路配提供目标输入信号，以使得目标待测通路能够对目标输入信号进行相应功能的处理，从而获得输出信号；在频谱仪接收到输出信号后，可对输出信号进行解析，获得频谱数据，上位机根据频谱仪解析的频谱数据来确定目标射频通路的功能是否正常。

其中，上述目标待测通路对目标输入信号进行相应功能的处理，其处理方式是根据目标待测通路的功能决定的。如，目标待测通路的功能为下变频，即获得的输出信号频率低于目标输入信号频率；目标待测通路的功能为上变频，即获得的输出信号频率高于目标输入信号频率。

可选地，对输出信号的相关数据进行解析以判定目标射频通路的功能是否正常，可以由如下两种方式实现，方式一：判断目标待测通路的射频输出端的输出信号是否在预设范围内，若是，则表明目标待测通路的功能正常；方式二：通过信号发生器同时配置目标输入信号值和目标输出信号值，若目标待测通路的输出信号值为预设的目标输出信号值，则表明目标待测通路的功能正常。具体根据输出信号判断目标射频通路的功能是否正常的方式在此不做限制。

本发明实施例提供的对射频板进行测试的方式可以为，以测试目标待测通路的上变频功能为例，首先向信号发生器发送控制指令，控制指令包括输入单载波信号和输出单载波信号，其中，输入单载波信号的信号值小于输出单载波信号的信号值(可以理解为预先设计的理论值)；进一步地，在上位机可视化界面中配置目标待测通路以及目标待测通路的测量参数，在配置完成后生成测试指令发送至主控制器；主控制器接收到测试指令后，对测试指令进行解析，获得目标待测通路后，将输入单载波信号的信号值小于输出单载波信号的信号值经第一多路选通器发送至目标待测通路的射频输入端，同时获取射频输入端中与输入单载波信号的信号值相关的测量参数值并显示在显示屏上；进一步获取目标待测通路的射频输入端输出的输出单载波信号，并将对输出单载波信号解析的输出数据显示在显示屏；若输出值与预先配置的输出单载波信号的信号值一致，可为目标待测通路输入较低频率的单载波信号，若目标待测通路输出的输出载波信号值较高，且在预设范围区间内单载波信号为上变频理论值时，则表明目标待测通路的上变频功能正常；否则为不正常；在测试目标待测通路的下变频功能时，可为目标待测通路输入指定频率的单载波信号，若目标待测通路输出的输出载波信号为预先设计的理论值，则表明目标待测通路的下变频功能正常；否则为不正常等，上述的判定标准除了判定频率设定值外还需判定混频输出的频谱功率，所有测量值均在设计理论值才会判定为合格。

上述第一多路选通器和第二多路选通器分别与待测射频板的射频输入端和射频输出端相连，第一多路选通器用于将输入信号连接至待测通路的射频输入端；第二多路选通器用于将目标待测通路的输出端产生的输出单载波信号发送至频谱仪。

频谱仪用于解析输出波信号以获得频谱数据，当前频谱数据可以包括：输出信号频率、功率值以及目标待测通路的馈电电压等，并将频谱数据发送至上位机，具体频谱数据包含的内容在此不做限制。

示例性地，在测试目标射频板的下变频功能时，目标射频板具备下变频功能的通路分别为通路1-通路8，在将通路1作为目标待测通路时，当前测试过程可以为，首先向信号发生器发送控制指令，控制指令包括目标输入信号(如信号频率为1268.52MHz)；然后在上位机可视化界面中配置目标待测通路以及目标待测通路的测量参数，在配置完成后生成测试指令发送至主控制器；主控制器接收到测试指令后，对测试指令进行解析，获得目标待测通路(通路1)后，将目标输入信号的信号值(1268.52MHz)经第一多路选通器发送至目标待测通路(通路1)的射频输入端(RF1)，同时获取射频输入端中的测量参数值(如，通道馈电电压值)并显示在显示屏上，以便于测试人员直观看到目标待测通路的参数显示情况；进一步地，目标待测通路可对当前目标输入信号(1268.52MHz)进行下变频处理，将下变频处理后的输出载波信号由目标待测通路(通路1)的射频输出端(IF1)经第二多路选通器输出至频谱仪；同时，主控制器的显示屏上可显示关于目标待测通路的射频输出端的测试数据；频谱仪将输出载波信号解析为频谱数据，并将频谱数据发送至上位机，上位机根据频谱仪解析的数据，确定目标待测通路的下变频功能是否正常。

上述信息发生器可配置的信号频率可以包括1268.52MHz、1575.42MHz、2491.75MHz、11MHz等，具体输入载波信号的输入频率数值在此不做限制，根据测试人员的测试需求为准。

上述显示屏可采用在单片机上加装4.2寸液晶显示屏实现，在显示屏上显示的内容可以包括：当前通道切换情况、各个模块功耗情况、通道馈电检测情况等，并能够通过手动触摸进行状态更新和通道切换；具体显示屏显示的内容和实现的功能在此不做限制。

进一步地，主控制器可根据第一多路选通器确定目标待测通路获取测试指令中需要采集的测试数据，并将测试数据反馈至上位机，当前测试数据为射频输入端的相关测试数据。在上位机接收到射频输入端的相关测试数据后，可以测试报告的形式进行呈现，当前测试报告为第一测试报告，第一测试报告的内容可以包括：当前测试通路对应的输入测量值、理论区间值、是否合格等项目；在对当前待测射频板的所有待测通路测试完成后，可通过整体报表的形式，展示每个测试通路的输入测量值、理论区间值、不合格通路等，具体第一测试报告的展示内容在此不做限制。

可选地，上位机，还用于存储频谱数据和输出数据，并基于频谱数据和输出生成第二测试报告；当前第二测试报告为射频输出端的相关测试数据，第二测试报告的内容可以包括：当前测试通路对应的输出测量值、理论区间值、是否合格等项目；在对当前待测射频板的所有待测通路测试完成后，可通过整体报表的形式，展示每个测试通路的输出测量值、理论区间值、不合格通路等，具体第二测试报告的展示内容在此不做限制。

可选地，在上位机中还可对第一测试报告和第二测试报告的内容进行结合展示，以直观的显示每个待测通路的输入射频端以及对应的输出射频端的相应数值是否符合需求，从而判定目标待测射频板是否符合需求等，具体上位机对第一测试报告和第二测试报告的输出形式在此不做限制。

请参照图3，图3是本发明提供的射频板测试系统的又一结构示意图，本发明实施例提供的测试系统还包括网络交换机70，网络交换机70包括：第一接口a、第二接口b、第三接口c和第四接口d，第一接口和与上位机连接，第二接口与信号发生器连接，第三接口与主控制器连接，第四接口与频谱仪连接。

其中，网络交换机用于，接收上位机发送的测试指令，并将测试指令分别发送至信号发生器和主控制器；还用于接收频谱仪发送的频谱数据，并将频谱数据反馈至上位机。

网络交换机为一种扩展网络的设备，以为子网提供更多的连接端口，以便上位机连接更多的电子设备，例如信号发生器、主控制器以及频谱仪的连接等。从而能够实现将上位机发送的测试指令发送至信号发生器和主控制器，也能够实现上位机接收频谱仪发送的频谱数据等。

请参照图4，图4是本发明提供的射频板测试系统的又一结构示意图，本发明实施例提供的测试系统还包括程控稳压电源80和电源组件90；网络交换机70还包括：第五接口e；程控稳压电源的一端与第五接口连接，程控稳压电源的另一端与电源组件的一端连接，电源组件的另一端与主控制器连接。

其中，程控稳压电源用于，在接收到网络交换机发送的测试指令时，为电源组件提供预设电压，以使得电源组件根据预设电压为测试系统提供电源。

在上位机的测试软件运行后，通过网络交换机，可控制程控稳压电源实现对测试系统中电源组件的开启与关闭。例如，在接收到网络交换机发送的测试指令时，程控稳压电源启动并为电源组件提供预设电压(如，28V，1A)，以控制电源组件根据当前预设电压为测试系统提供电源。并在测试结束时，程控稳压电源还用于控制电源组件停止供电，以实现对测试系统断电保护。

网络交换机可以作为与程控稳压源、信号发生器、频谱仪以及主控制器的连接桥梁，进行数据的发送与接收，以助于实现现上位机测试软件对每个电子设备的信号传输与信号接收。

可选地，在实时检测待测射频板的工作功耗时，当功耗超过设定阈值时，程控稳压电源用还用于控制电源组件主动关闭，停止为测试系统功能，以保护因待测射频板异常而持续加电导致损坏。

可选地，在保证测试设备功耗满足系统需求的情况下，程控稳压源可以用普通稳压源或者电源模块等进行替换，具体实现程控稳压源功能的组件在此不做限制。

请参照图5，图5是本发明提供的射频板测试系统的又一结构示意图，本发明实施例提供的测试系统信号转接板100和射频开关110；信号转接板的第一端与主控制器连接，信号转接板的第二端与待测射频板连接，信号转接板的第三端与第一多路选通器连接，信号转接板的第四端与第二多路选通器连接。其中，信号转接板用于，将测试数据，和/或，输出数据的模拟信号转换为数字信号，以将数字信号显示在显示屏上；还用于在检测到测试数据超，和/或，输出数据过预设阈值时，控制测试系统关闭。

可选地，在信号转接板上可集成有过压过流保护组件、功耗检测组件和开关组件，在主控制器检测到的电压或功耗等相关测试数据超过预设阈值时，通过控制开关组件以关闭测关闭试系统，以保护待测射频板的安全性。

请继续参照图5，在测试系统还包括射频开关110时；射频开关的一端与主控制器连接，射频开关的另一端与第一多路选通器连接。其中，射频开关用于，根据测试指令确定目标待测通路，以将目标待测通路发送至第一多路选通器。

本实施例提供的射频测试系统，射频开关板采用两片12选1多路开关选择器实现通道开关切换，最多支持20通道选通测试，并且每个通道的插损均已调整至手册标定参数，对不同频点的信号选通查询均在理论值之内，并且保证各频点信号的插入损耗都可以达到理想值，满足测试系统设计需求。

本发明实施例提供的射频板测试系统，在经济上，使用低成本、低功耗器件，在保证功能正常的情况下，降低测试系统的成本；在应用上，通过简单的射频连接即可实现多场景应用。在此基础上，通过对上位机集成的测试软件和主控制器的持续开发能够实现更多的测试功能，具有更好的拓展性；上位机通过网络交换机实现对多种硬件设备发送测试指令，无需修改测试设备的网协参数，使用方便、便捷。

图6是本发明提供的射频板测试方法的一个流程示意图，该方法可以由射频板测试装置来执行，该装置可以采用硬件和/或软件的形式配置于本发明实施例提供的射频板测试系统中。具体地，该方法具体可以包括如下步骤：

S610、接收测试指令，并将测试指令发送至主控制器。

当前测试指令可以为测试人员在上位机中配置的测试需求，在测试需求配置完成后，测试人员可通过点击上位机可视化界面的“完成”按钮，从而生成测试指令，以使得上位机将测试指令发送至主控制器。

由于本实施例提供的测试方法，能够适应于对多通路待测射频板进行测试的需求。因此，为明确当前测试指令为对哪一个待测通路发送的测试指令，测试指令可以包括目标待测通路、目标待测通路的测试参数(如，通道馈电电压、射频芯片参数配置以及待测射频板功耗统计等)主控制器在接收到当前测试指令后，解析测试指令控制多路选通器通道切换，以使得多路选通器根据测试指令确定目标待测通路。

本发明实施例提供的射频板测试方法，执行主体可以由上位机实现，上位机可以由服务器等计算机设备实现，在上位机上集成有测试软件，测试人员可在上位机的测试软件中配置的测试需求，从而生成测试指令。

上述主控制器可以采用单片机来实现，主控制器用于解析测试指令控制多路选通器通道切换。

S620、接收主控制器根据测试指令反馈的目标待测通路的测试数据。

上述目标待测通路是由主控制器控制多路选通器根据测试指令确定的。

本发明实施例提供的射频板测试方法，上位机在接收到测试指令后，将测试指令发送至主控制器；主控制器用于解析测试指令并控制路选通器通道切换，以使得多路选通器根据测试指令确定目标待测通路，以获取目标待测通路的测试数据，并将测试数据反馈至上位机。本实施例提供的方案，通过上位机、主控制器和多路选通器电路连接的方式，能够实现对接入测试系统中的各种类型待测射频板进行测试；且通过对上位机和主控制器中的程序开发，可实现对不同类型待测射频板中的多种功能的测试；进一步地，通过主控制器响应上位机测试指令的方式，实现成本较低，响应速度快。解决了现有方案中测试成本较高以及测试需求受限的问题，取到了降低测试成本，满足多种测试需求的有益效果。

本发明实施例提供了一种电子设备，该电子设备中可集成本发明实施例提供的射频板测试系统中的相应功能。图7为本发明实施例提供的一种的电子设备的结构框图。电子设备700可以包括：至少一个处理器710；以及与所述一个处理器通信连接的存储器720；其中，存储器720存储有可被所述至少一个处理器710执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器710执行，以使所述至少一个处理器710能够实现如本发明实施例所述的射频板测试系统中的相应功能。

本发明实施例提供的电子设备，可执行本发明任意实施例所提供的射频板测试系统中的相应功能，具备执行该系统相应的功能和有益效果。

本发明实施例还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行管理系统中的相应功能，该系统包括：包括：上位机、主控制器和多路选通器，待测射频板分别与所述多路选通器和所述主控制器连接，所述主控制器分别与所述多路选通器和所述上位机连接，所述待测射频板包括至少一个待测通路，其中：

所述上位机用于，在接收到测试指令后，将所述测试指令发送至所述主控制器；

所述主控制器用于，对所述测试指令解析获得解析结果；还用于根据所述解析结果控制所述多路选通器，以使得所述多路选通器根据所述测试指令确定目标待测通路；还用于获取所述目标待测通路的测试数据，并将所述测试数据反馈至所述上位机。

存储介质——任何的各种类型的存储器设备或存储设备。术语“存储介质”旨在包括：安装介质，例如CD-ROM、软盘或磁带装置；计算机系统存储器或随机存取存储器，诸如DRAM、DDRRAM、SRAM、EDORAM，兰巴斯(Rambus)RAM等；非易失性存储器，诸如闪存、磁介质(例如硬盘或光存储)；寄存器或其它相似类型的存储器元件等。存储介质可以还包括其它类型的存储器或其组合。另外，存储介质可以位于程序在其中被执行的第一计算机系统中，或者可以位于不同的第二计算机系统中，第二计算机系统通过网络(诸如因特网)连接到第一计算机系统。第二计算机系统可以提供程序指令给第一计算机用于执行。术语“存储介质”可以包括可以驻留在不同位置中(例如在通过网络连接的不同计算机系统中)的两个或更多存储介质。存储介质可以存储可由一个或多个处理器执行的程序指令(例如具体实现为计算机程序)。

当然，本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质，其计算机可执行指令不限于如上所述的射频板测试系统中的相应功能的操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的射频板测试系统中的相应功能中的相关操作。

上述实施例中提供的射频板测试系统、测试方法、电子设备及存储介质可执行本发明任意实施例所提供的射频板测试系统的相应功能，具备执行该系统相应的有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的基射频板测试系统。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，取决于设计要求和其他因素，可以发生各种各样的修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。