分析仪器的采样控制方法、装置、系统、存储介质及设备

技术领域

本发明涉及医疗设备技术领域，尤其涉及一种分析仪器的采样控制方法、装置、系统、存储介质及设备。

背景技术

在分析仪器(如血细胞分析仪)中，常用到自动进样和开放进样，而自动进样与开放进样相比，具有操作简单、减少体力劳动、增加样品处理量等优点，是一种较为高效便捷的工作模式，因此，常采用自动进样工作模式较多。

其中，自动进样工作模式是通过将多个样品试管放置于试管架上，使用运动控制装置拖动试管架，以使多个样品试管依次被拖动至采样针正下方的采样穿刺位置，以实现对放置于试管架上的多个样品试管依次进行采样。

目前，运动控制装置拖动试管架，以使样品试管被拖动至采样针正下方的采样穿刺位置的距离是根据运动控制装置中的步进电机的运动步数进行确定的，但步进电机容易存在误差积累，进而使得样品试管不能精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，导致采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况，轻则损坏采样针和样品试管，重则损坏分析仪器。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提出了一种分析仪器的采样控制方法、装置、系统、存储介质及设备，使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，避免了采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况。

为实现上述目的，本发明在第一方面提供一种分析仪器的采样控制方法，所述分析仪器包括采样针，所述采样针正下方设置有摄像头，所述方法包括：

在样品试管被运动控制装置拖动至所述采样针下方的情况下，获取所述摄像头拍摄的样品试管图像；

根据所述样品试管图像确定所述采样针与所述样品试管管口的位置关系；

若所述位置关系不满足预设条件，则根据所述位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据所述调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差。

可选地，所述根据所述样品试管图像确定所述采样针与所述样品试管管口的位置关系，包括：

在所述样品试管图像中构建所述样品试管图像的二维坐标系，所述二维坐标系的原点为所述摄像头的光心沿光轴方向的投影；

对所述样品试管图像进行处理得到所述样品试管管口的圆，并根据所述圆得到圆心坐标及半径；

根据所述圆心坐标和所述二维坐标系的原点坐标确定点圆距离；

将所述半径与所述点圆距离的比值作为所述位置关系。

可选地，所述对所述样品试管图像进行处理得到所述样品试管管口的圆，并根据所述圆得到圆心坐标及半径，包括：

对所述样品试管图像进行Canny边缘检测得到边缘检测二值图像；

对所述边缘检测二值图像进行霍夫圆检测得到所述圆心坐标及半径。

可选地，所述预设条件包括所述比值大于第一预设值，多个预设值包括所述第一预设值和第二预设值，所述第一预设值大于所述第二预设值；

所述根据所述位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据所述调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差，包括：

在所述比值等于所述第一预设值的情况下，按照预设的第一调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差；

在所述比值小于所述第一预设值，且所述比值大于所述第二预设值的情况下，按照预设的第二调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差；

在所述比值等于所述第二预设值的情况下，按照预设的第三调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差；

在所述比值小于所述第二预设值的情况下，按照预设的第四调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差。

可选地，所述在所述样品试管图像中构建所述样品试管图像的二维坐标系，所述二维坐标系的原点为所述摄像头的光心沿光轴方向的投影，包括：

构建所述摄像头的三维坐标系；

根据所述摄像头的三维坐标系构建所述二维坐标系；

其中，所述三维坐标系的原点为所述摄像头的光心，所述三维坐标系的Z

所述三维坐标系的坐标与所述二维坐标系的坐标之间的转换公式如下：

采用齐次坐标系和矩阵表示上述转换公式如下：

其中，f为所述摄像头的焦距，(x,y)为所述二维坐标系的坐标，(x

可选地，所述方法还包括：

若所述位置关系满足所述预设条件，则在下一个样品试管被拖动至所述采样针正下方的采样穿刺位置的情况下，重复如权利要求1所述的方法，直至停止自动进样。

为实现上述目的，本发明在第二方面提供一种分析仪器的采样控制装置，所述分析仪器包括采样针，所述采样针正下方设置有摄像头，所述装置包括：

获取模块，用于在样品试管被运动控制装置拖动至所述采样针下方的情况下，获取所述摄像头拍摄的样品试管图像；

确定模块，用于根据所述样品试管图像确定所述采样针与所述样品试管管口的位置关系；

比较及调整模块，用于若所述位置关系不满足预设条件，则根据所述位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据所述调整步数调整所述运动控制装置中步进电机的运动步数误差。

为实现上述目的，本发明在第三方面提供一种分析仪器的采样控制系统，所述系统包括：

分析仪器、运动控制装置、处理装置、多个试管架、多个样品试管；

多个样品试管放置于试管架，所述运动控制装置用于拖动试管架，以依次拖动样品试管至所述采样针下方，所述分析仪器的采样针设置有摄像头，用于在样品试管被所述运动控制装置拖动至所述采样针下方的情况下，拍摄样品试管图像；

所述处理装置用于执行如第一方面任一项所述的方法。

为实现上述目的，本发明在第四方面提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如第一方面中任一项所述的方法。

为实现上述目的，本发明在第五方面提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如第一方面中任一项所述的方法。

采用本发明实施例，具有如下有益效果：上述方法通过在分析仪器的采样针正下方设置有摄像头，然后在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，获取摄像头拍摄的样品试管图像，再根据样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，最后若位置关系不满足预设条件，则根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，即基于机器视觉，通过拍摄的样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，以在位置关系不满足预设条件的情况下，根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，消除了步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，避免了采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为本申请实施例中涉及的采样针设有摄像头后的采样示意图；

图2为本申请实施例中一种分析仪器的采样控制方法的示意图；

图3为本申请实施例中所构建的样品试管图像的二维坐标系的示意图；

图4为本申请实施例中圆心坐标及半径在所构建的样品试管图像的二维坐标系中的示意图；

图5为本申请实施例中所构建的三维坐标系与所构建的二维坐标系之间的关系示意图；

图6为本申请实施例中一种分析仪器的采样控制装置的示意图；

图7为一些实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，为本申请实施例中涉及的采样针设有摄像头后的采样示意图，该示意图示出分析仪器的采样针(不仅只有采样针，也可以理解为采样针组件)正下方设置有摄像头，在样品试管被运动控制装置(图中未示出，试管架也未示出，分析仪器的其他器件或组件也均未示出)拖动至采样针下方的情况下，可以用于拍摄样品试管的样品试管图像。

在一些实施例中，如该示意图示出的采样针还设置有光源，用于在摄像头拍摄样品试管的样品试管图像时，提供满足拍摄要求的亮度，避免拍摄的样品试管图像不清晰。

需要说明的是，在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，样品试管可能正好精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，也有可能由于运动控制装置中步进电机的运动步数误差积累使得样品试管并不是正好精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，为此，本申请提供了一种分析仪器的采样控制方法，以消除步进电机的运动步数误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，具体的原理将通过下面的实施例详细解释。

请参阅图2，为本申请实施例中一种分析仪器的采样控制方法的示意图，分析仪器包括采样针，采样针正下方设置有摄像头，该方法包括：

步骤210：在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，获取摄像头拍摄的样品试管图像。

在一些实施例中，如图1示出的在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，可以基于机器视觉，然后采样针上的摄像头就会拍摄样品试管的样品试管图像，此时，就可以获取到摄像头拍摄的样品试管图像。

在另一些实施例中，如图1示出的在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，也可以由运动控制装置通过发送一个指令信息给采样针上的摄像头，然后采样针上的摄像头就会拍摄样品试管的样品试管图像，此时，就可以获取到摄像头拍摄的样品试管图像。

步骤220：根据样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系。

在一些实施例中，在得到样品试管图像之后，可以基于机器视觉，以利用图像处理技术对样品试管图像的样品试管管口进行特征识别，然后根据样品图像中样品试管管口识别出来的管口特征确定采样针与样品试管管口的位置关系，可以理解的是，通过确定采样针与样品试管管口的位置关系，可以用于判断样品试管是否精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置。

步骤230：若位置关系不满足预设条件，则根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差。

其中，预设条件及多个预设值均是可以由操作人员根据实际需求进行设置，此处并不做限制。

在本申请中，由于运动控制装置中步进电机的运动方向与试管架的运动方向(即样品试管的运动方向)相对应，是按固定的一个运动方向进行运动的，因此，运动控制装置中步进电机的运动步数误差积累是按固定的一个运动方向积累的，而在确定调整步数，根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差时，只需按预订固定的一个运动方向，根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差即可，无需判断运动控制装置中步进电机的运动步数误差需要调整的运动方向。

在一些实施例中，可以预先在很多种位置关系不满足预设条件的情况下，根据位置关系调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，直至在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，样品试管可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，然后记录下需要调整的调整步数，从而得到在很多种位置关系不满足预设条件的情况下的调整步数；进一步的，在很多种位置关系不满足预设条件的情况下的调整步数可以设置多个预设值，然后根据多个预设值与位置关系的比较结果选择对应的调整步数，最后根据比较结果对应的调整步数以对运动控制装置中步进电机的运动步数误差进行调整。

在本申请实施例中，通过在分析仪器的采样针正下方设置有摄像头，然后在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，获取摄像头拍摄的样品试管图像，再根据样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，最后若位置关系不满足预设条件，则根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，即基于机器视觉，通过拍摄的样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，以在位置关系不满足预设条件的情况下，根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，消除了步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，避免了采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况。

在一种可行的实现方式中，上述实施例中的步骤220，根据样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，包括：在样品试管图像中构建样品试管图像的二维坐标系，二维坐标系的原点为摄像头的光心沿光轴方向的投影；对样品试管图像进行处理得到样品试管管口的圆，并根据圆得到圆心坐标及半径；根据圆心坐标和二维坐标系的原点坐标确定点圆距离；将半径与点圆距离的比值作为位置关系。

需要说明的是，摄像头的光心沿光轴方向即为摄像头拍摄样品试管图像的方向，由于摄像头设置在采样针正下方，因此，可以认为摄像头的光心沿光轴方向的投影位置即为采样针正下方的采样穿刺位置。

示例的，请参阅图3，为本申请实施例中所构建的样品试管图像的二维坐标系的示意图，该示意图示出的O

在一些实施例中，基于机器视觉，通过图像处理技术对样品试管图像进行样品试管管口特征识别，可以得到样品试管管口的圆(即样品试管的管口特征识别出来的圆)，然后根据该圆计算圆心坐标及半径。

示例的，请参阅图4，为本申请实施例中圆心坐标及半径在所构建的样品试管图像的二维坐标系中的示意图，该示意图示出的样品试管管口内环是属于采样针正下方的采样穿刺位置区域，样品试管管口外环不属于采样针正下方的采样穿刺位置区域，(x

在一些实施例中，对于根据圆得到圆心坐标及半径，可以将圆上的任意几个点的坐标代入圆的方程，从而计算得到圆形坐标及半径；对于圆心坐标和二维坐标系的原点之间的点圆距离，可以根据两点之间的距离公式计算得到点圆距离。

在本申请实施例中，通过在样品试管图像中构建样品试管图像的二维坐标系，二维坐标系的原点为摄像头的光心沿光轴方向的投影，然后对样品试管图像进行处理得到样品试管管口的圆，并根据圆得到圆心坐标及半径，再根据圆心坐标和二维坐标系的原点坐标确定点圆距离，最后将半径与点圆距离的比值作为位置关系，以确定采样针与样品试管管口的位置关系，使得可以根据位置关系消除步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置。

在一种可行的实现方式中，上述实施例中的对样品试管图像进行处理得到样品试管管口的圆，并根据圆得到圆心坐标及半径，包括：对样品试管图像进行Canny边缘检测得到边缘检测二值图像；对边缘检测二值图像进行霍夫圆检测得到圆心坐标及半径。

需要说明的是，Canny边缘检测可以提取出想要的目标特征,剔除一些不相关的干扰及无用信息，即通过对样品试管图像进行Canny边缘检测可以提取出需要的样品试管管口的管口特征(即边缘检测二值图像)；霍夫圆检测是一种用于检测图像中圆形物体的算法，该算法可以针对圆形物体，以得到圆形物体的圆心坐标及半径，即通过对边缘检测二值图像进行霍夫圆检测，可以识别出样品试管管口的圆特征，进而直接得到圆心坐标及半径。

在本申请实施例中，通过对样品试管图像进行Canny边缘检测得到边缘检测二值图像，并对边缘检测二值图像进行霍夫圆检测得到圆心坐标及半径，以便于通过该圆心坐标及半径确定采样针与样品试管管口的位置关系，使得可以根据位置关系消除步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置。

在一种可行的实现方式中，上述实施例中的预设条件包括比值大于第一预设值，多个预设值包括第一预设值和第二预设值，第一预设值大于第二预设值。

上述实施例中的步骤230，根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，包括：在比值等于第一预设值的情况下，按照预设的第一调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差；在比值小于第一预设值，且比值大于第二预设值的情况下，按照预设的第二调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差；在比值等于第二预设值的情况下，按照预设的第三调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差；在比值小于第二预设值的情况下，按照预设的第四调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差。

其中，第一预设值和第二预设值均可以由操作人员根据实际需求进行设置，预设的第一调整步数、预设的第二调整步数、预设的第三调整步数和预设的第四调整步数是由操作人员预先根据大量的试验所得到的，即在一些实施例中，可以预先在很多种比值不满足预设条件的情况下，根据比值调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，直至在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，样品试管可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，然后记录下需要调整的调整步数，以及比值与第一预设值及第二预设值的比较结果，从而得到在很多种比值不满足预设条件的情况下的预设的调整步数，且该预设的调整步数与比较结果相关，当然，此处并不做限制。

在一些实施例中，通常将第一预设值为1，即预设条件包括半径r与点圆距离d的比值大于1。

其中，需要说明的是，在半径r与点圆距离d的比值等于1时，说明采样针正好处于样品试管管口内环与外环之间的临界点，此时采样针若是直接进行采样，采样针就会出现撞针的风险；在半径r与点圆距离d的比值小于1时，说明采样针处于样品试管管口外环，此时采样针若是直接进行采样，采样针也会出现撞针风险，且撞针风险极高；在半径r与点圆距离d的比值大于1时，说明采样针处于样品试管管口内环，此时采样针若是直接进行采样，采样针出现撞针风险是极低的，即基本上不会出现撞针风险。

进一步的，在一些实施例中，操作人员还可以根据半径r与点圆距离d的比值的精度要求，以及撞针风险的大小情况，设置第一预设值的取值，以满足仪器的精度要求，以及保证采样针不会出现撞针风险。

在本申请实施例中，通过根据比值与第一预设值及第二预设值的比较结果确定对应预设的调整步数，以便于根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，进而消除步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，避免了采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况。

在一种可行的实现方式中，上述实施例中的在样品试管图像中构建样品试管图像的二维坐标系，二维坐标系的原点为摄像头的光心沿光轴方向的投影，包括：构建摄像头的三维坐标系；根据摄像头的三维坐标系构建二维坐标系。

其中，三维坐标系的原点为摄像头的光心，三维坐标系的Z

示例的，请参阅图5，为本申请实施例中所构建的三维坐标系与所构建的二维坐标系之间的关系示意图，该示意图示出的O

三维坐标系的坐标与二维坐标系的坐标之间的转换公式如下：

采用齐次坐标系和矩阵表示上述转换公式如下：

其中，f为摄像头的焦距(即摄像头的光心沿光轴方向的投影位置与光心之间的距离O

在本申请实施例中，通过先构建出摄像头的三维坐标系，然后再根据摄像头的三维坐标系在样品试管图像中构建样品试管图像的二维坐标系，以保证样品试管图像的二维坐标系的原点处于摄像头的光心沿光轴方向的投影位置，即保证样品试管图像的二维坐标系的原点处于采样针下方的采样穿刺位置，以便于后续确定采样针与样品试管管口的位置关系，使得可以根据位置关系消除步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置。

在一种可行的实现方式中，上述实施例中的方法还包括：若位置关系满足预设条件，则在下一个样品试管被拖动至采样针正下方的采样穿刺位置的情况下，重复如上述方法实施例中一种分析仪器的采样控制方法，直至停止自动进样。

在本申请实施例中，通过在分析仪器从自动进样开始，不断地重复上述实施例中的步骤，以使得分析仪器避免出现撞针的风险，提高了分析仪器的安全性。

在一些实施例中，本申请还提供了一种分析仪器的采样控制装置，分析仪器包括采样针，采样针正下方设置有摄像头，本申请所涉及的采样针设有摄像头后的采样示意可以参阅图1所示实施例中的内容，此处不做赘述。

请参阅图6，为本申请实施例中一种分析仪器的采样控制装置的示意图，该装置610包括：

获取模块611，用于在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，获取摄像头拍摄的样品试管图像；

确定模块612，用于根据样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系；

比较及调整模块613，用于若位置关系不满足预设条件，则根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差。

在本申请实施例中，上述获取模块611、确定模块612及比较及调整模块613的相关内容可以参阅图2所示实施例中的内容，此处不做赘述。

需要说明的是，本申请的装置610还包括了其他的一些模块，可以理解的是，本申请的方法与装置610具有一一对应的关系，因此，本申请的装置610的其他的一些模块即为上述实施例中本申请的方法对应的内容。

在本申请实施例中，通过在分析仪器的采样针正下方设置有摄像头，然后在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，获取摄像头拍摄的样品试管图像，再根据样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，最后若位置关系不满足预设条件，则根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，即基于机器视觉，通过拍摄的样品试管图像确定采样针与样品试管管口的位置关系，以在位置关系不满足预设条件的情况下，根据位置关系和多个预设值的比较结果确定调整步数，并根据调整步数调整运动控制装置中步进电机的运动步数误差，消除了步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，避免了采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况。

在一些实施例中，本申请还提供了一种分析仪器的采样控制系统，该系统包括：分析仪器、运动控制装置、处理装置、多个试管架、多个样品试管(均未进行图示，可以参阅图1所示实施例中的内容)。

在一种可行的实现方式中，多个样品试管放置于试管架，运动控制装置用于拖动试管架，以依次拖动样品试管至采样针下方，分析仪器的采样针设置有摄像头，用于在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，拍摄样品试管图像；处理装置用于执行上述方法实施例中一种分析仪器的采样控制方法。

在本申请实施例中，通过多个样品试管放置于试管架，运动控制装置用于拖动试管架，以依次拖动样品试管至采样针下方，分析仪器的采样针设置有摄像头，用于在样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方的情况下，拍摄样品试管图像，处理装置用于执行上述方法实施例中一种分析仪器的采样控制方法，以消除步进电机存在的误差积累使得样品试管被运动控制装置拖动至采样针下方时，可以精准定位于采样针正下方的采样穿刺位置，避免了采样针不能实现采样，且会出现撞针的情况。

在一些实施例中，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行上述方法实施例中一种分析仪器的采样控制方法。

在一些实施例中，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行上述方法实施例中一种分析仪器的采样控制方法。

图7示出了一些实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是终端，也可以是服务器，或者是网关。如图7所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。

其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现上述方法实施例中的各个步骤。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行上述方法实施例中的各个步骤。本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。

其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。