烤箱及其温度均匀性测试方法、装置和存储介质

技术领域

本发明涉及烤箱技术领域，尤其涉及一种烤箱的温度均匀性测试方法、一种计算机可读存储介质、一种烤箱的温度均匀性测试装置和一种烤箱。

背景技术

随着集成灶系列产品的普及，现代家庭烹饪逐渐向精细化发展，菜谱内容趋向多元化，蒸烤功能在日常烹饪中愈发受到用户重视，相比于传统电烤箱而言，燃气烤箱在加热速度上有明显的优势，其加工出来的食品风味也有不同。

然而，区别于电烤箱50℃～250℃左右的加热温度范围，仅靠风机增强热对流加热食物，燃气烤箱的最高加热温度可达到450℃，且以火焰的热辐射为主，并与热对流同时加热食物，因此，由于食物的受热方式存在差异，亟需一种判断燃气烤箱加热均匀性的测试手段。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种烤箱的温度均匀性测试方法，能够通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

本发明的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

本发明的第三个目的在于提出一种烤箱的温度均匀性测试装置。

本发明的第四个目的在于提出一种烤箱。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种烤箱的温度均匀性测试方法，其中，所述烤箱包括测温实验载体，所述测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，所述方法包括：控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制所述烤箱持续加热第一预设时间；在所述烤箱持续加热第一预设时间后，控制所述烤箱停止加热，直至所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；获取所述多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据所述温度数据生成温度曲线，所述温度曲线用于确定所述烤箱的温度均匀性。

根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法，通过控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间，进而，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，以及，获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

另外，根据本发明上述实施例的烤箱的温度均匀性测试方法，还可以包括如下的附加技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述温度曲线包括升温曲线和降温曲线，所述升温曲线用于确定所述烤箱在升温过程中的温度均匀性，所述降温曲线用于确定所述烤箱在降温过程中的温度均匀性。

根据本发明的一个实施例，在所述控制烤箱以预设功率进行加热之前，所述方法还包括：控制所述烤箱排空烤箱内残余燃气，并在确定所述烤箱满足预设测试条件后，控制烤箱以所述预设功率进行加热。

根据本发明的一个实施例，所述预设测试条件包括烤箱的腔体温度达到预设温度阈值，且烤箱的腔体压力达到预设压力阈值。

根据本发明的一个实施例，所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值之后，所述方法还包括：控制所述烤箱打开烤箱门，以使所述测温实验载体冷却至室温。

根据本发明的一个实施例，所述多个热电偶载体均匀分布在所述测试实验载体的正面和反面。

根据本发明的一个实施例，所述多个热电偶载体的外表面喷涂有耐高温黑色油漆，且所述多个热电偶载体的内部留有热电偶原件的插入口。

为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出的计算机可读存储介质,其上存储有烤箱的温度均匀性测试程序，该烤箱的温度均匀性测试程序被处理器执行时实现上述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法。

根据本发明实施例的计算机可读存储介质，通过处理器执行其上存储有的烤箱的温度均匀性测试程序，能够通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

为达到上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种烤箱的温度均匀性测试装置，其中，所述烤箱包括测温实验载体，所述测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，所述装置包括：控制模块，所述控制模块用于，控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制所述烤箱持续加热第一预设时间；以及，在所述烤箱持续加热第一预设时间后，控制所述烤箱停止加热，直至所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；分析模块，所述分析模块用于获取所述多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据所述温度数据生成温度曲线，所述温度曲线用于确定所述烤箱的温度均匀性。

根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置，通过控制模块控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间，以及，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，并通过分析模块获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

为达到上述目的，本发明第四方面实施例提出的烤箱，包括上述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置。

根据本发明实施例的烤箱，通过采用前述的烤箱的温度均匀性测试装置，能够准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

图1是根据本发明一个实施例的测温实验载体的安装示意图；

图2是根据本发明一个实施例的热电偶载体的安装示意图；

图3是根据本发明一个实施例的热电偶载体的结构示意图；

图4是根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的流程示意图；

图5是根据本发明一个具体实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的流程示意图；

图6是根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置的方框示意图；

图7是根据本发明实施例的烤箱的方框示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图描述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法、计算机可读存储介质、烤箱的温度均匀性测试装置和烤箱。

在介绍本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法之前，先结合附图1-3对本发明实施例的烤箱的部分结构进行相应的说明。

具体地，在本发明的一些实施例中，烤箱为燃气烤箱，该燃气烤箱可以包括烤盘、燃烧器和排烟出口等组件，其中，烤盘作为食物的承载设备处于烤箱的中心位置，燃烧器分布于烤盘的上下两侧，另外，烤箱可以包括测温实验载体，测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，其中，由于玻璃纤维板具有较好的耐热性和隔热性，且形状易于加工，因此，如图1所示，可以选用与烤盘尺寸相当的长方形玻璃纤维板以作为前述测温实验载体，以及，由于铜的热传导能力较好，能够较好的在接收燃烧器燃烧的热量的同时，将热量传递给热电偶，且易于加工，因此，可以选用铜块作为前述热电偶载体。

进一步地，在本发明的一些实施例中，多个热电偶载体均匀分布在测试实验载体的正面和反面。

具体而言，在本发明的该实施例中，如图1和图2所示，可以将多个相同尺寸的热电偶载体(例如，铜块)均匀分布在测试实验载体(例如，玻璃纤维板)的正面与反面以作为烤箱内部温度的温度测量点。

进一步地，在本发明的一些实施例中，多个热电偶载体的外表面喷涂有耐高温黑色油漆，且多个热电偶载体的内部留有热电偶原件的插入口。

应理解的是，由于燃气烤箱加热食物的途径是通过热辐射为主，因此，在本发明的该实施例中，通过在多个热电偶载体的外表面喷涂耐高温黑色油漆，并且，如图3所示，在多个热电偶载体的内部留有热电偶原件的插入口，并通过螺钉将其固定在热电偶载体的内部中心处，从而，使多个热电偶载体能够更好地接收热辐射能量，提高烤箱温度均匀性测试的精确性和可靠性。

可选地，如图2所示，玻璃纤维板的长宽A*B可以烤架的整体尺寸为参考，确保其水平居中放置在烤架中央，从而，避免位置偏差给温度均匀性测试带来的误差，优选的，玻璃纤维板的厚度C可以根据烤箱的功率而定，例如，功率为2.5kW的烤箱，其厚度C的取值范围可以为10～12mm。

需要说明的是，在本发明的上述实施例中，除铜块以外的金属类材料也可作为热电偶载体，以及，除玻璃纤维板以外的隔热材料也可作为测温实验载体，在此对测温实验载体和热电偶载体的材质不进行具体地限定。

图4是根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的流程示意图。

具体而言，在本发明的一些实施例中，如图4所示，烤箱的温度均匀性测试方法，包括：

S101，控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间。

可以理解的是，在本发明的该实施例中，当开始对烤箱的温度均匀性进行测试时，可以先控制烤箱以预设功率(例如，烤箱的最大加热功率)进行加热，以使烤箱内部迅速升温，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，再控制烤箱持续加热第一预设时间，以确保烤箱内部温度的稳定性与准确性，从而，通过均匀分布在测试实验载体的多个热电偶载体对烤箱升温过程中的温度数据进行实时检测。

可选地，在本发明的上述实施例中，第一温度阈值和第一预设时间均可以根据烤箱的型号和规格进行相应的设定，例如，第一温度阈值可以优选为450℃，第一预设时间可以优选为2分钟。

S102，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值。

可以理解的是，在本发明的该实施例中，当控制烤箱以预设功率持续加热第一预设时间后，可以控制烤箱停止加热，以使烤箱内部逐渐降温，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，从而，通过均匀分布在测试实验载体的多个热电偶载体对烤箱降温过程中的温度数据进行实时检测。

可选地，在本发明的上述实施例中，第二温度阈值可以根据烤箱的型号和规格进行相应的设定，例如，第二温度阈值可以优选为200℃。

S103，获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。

具体地，在本发明的该实施例中，可以根据多个热电偶载体检测到的温度数据生成温度曲线，进而，利用温度曲线表征烤箱的温度变化速率，从而，实现对烤箱的温度均匀性测试。

进一步地，在本发明的一些实施例中，在控制烤箱以预设功率进行加热之前，方法还包括：控制烤箱排空烤箱内残余燃气，并在确定烤箱满足预设测试条件后，控制烤箱以最大功率进行加热。

具体地，在本发明的该实施例中，预设测试条件可以包括烤箱的腔体温度达到预设温度阈值，且烤箱的腔体压力达到预设压力阈值，换言之，在控制烤箱以最大功率进行加热之前，需要控制烤箱排空烤箱内残余燃气，并在确定烤箱满足预设测试条件后，再控制烤箱以预设功率进行加热，从而，降低烤箱内残余燃气、原有腔体温度和原有腔体压力对烤箱温度均匀性测试的影响，进一步提高烤箱温度均匀性测试的精确性和可靠性。

需要说明的是，在本发明的上述实施例中，预设温度阈值和预设压力阈值可以根据标准大气压下的温度和压力进行设定，例如，预设温度阈值可以优选为25摄氏度，预设压力阈值可以优选为101.325千帕。

进一步地，在本发明的一些实施例中，烤箱内部温度冷却至第二温度阈值之后，方法还包括：控制烤箱打开烤箱门，以使测温实验载体冷却至室温。

可以理解的是，在本发明的该实施例中，在烤箱内部温度冷却至第二温度阈值之后，需要控制烤箱打开烤箱门，以使测温实验载体冷却至室温，从而，降低测温实验载体对烤箱温度均匀性测试的影响，进一步提高烤箱温度均匀性测试的精确性和可靠性，同时有效缩短进行下一次的烤箱温度均匀性测试的测试间隔，提升烤箱温度均匀性测试效率。

下面结合附图5与本发明的具体实施例，对烤箱温度均匀性测试的测试过程进行说明，具体而言，如图5所示，测试开始前，执行步骤S1。

S1，控制烤箱排空烤箱内残余燃气。

S2，判断烤箱是否满足预设测试条件，如果是，则执行步骤S3，如果否则退出本次测试。

S3，控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值。

S4，控制烤箱持续加热第一预设时间。

S5，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值。

S6，获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。

S7，控制烤箱打开烤箱门，以使测温实验载体冷却至室温。

综上，根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法，通过控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间，进而，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，以及，获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

基于前述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法，本发明实施例还提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有烤箱的温度均匀性测试程序，该烤箱的温度均匀性测试程序被处理器执行时实现前述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法。

需要说明的是，本发明实施例的计算机可读存储介质的具体实施方式与前述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的具体实施方式一一对应，为减少冗余，在此不再赘述。

综上，根据本发明实施例的计算机可读存储介质，通过处理器执行其上存储有的烤箱的温度均匀性测试程序，能够通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

图6是根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置的方框示意图。

具体而言，在本发明的一些实施例中，如图6所示，烤箱的温度均匀性测试装置100包括：控制模块10和分析模块20。

其中，控制模块10用于控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间；以及，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；分析模块20用于获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。

需要说明的是，本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置的具体实施方式与前述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的具体实施方式一一对应，为减少冗余，在此不再赘述。

综上，根据本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置，通过控制模块控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间，以及，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，并通过分析模块获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

图7是根据本发明实施例的烤箱的方框示意图。

具体而言，在本发明的一些实施例中，如图7所示，烤箱1000包括前述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置100。

需要说明的是，本发明实施例的具体实施方式可以参见前述本发明实施例的烤箱的温度均匀性测试装置，为减少冗余，再次不在赘述。

综上，根据本发明实施例的烤箱，通过采用前述的烤箱的温度均匀性测试装置，能够通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。

需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。