一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法及系统

技术领域

本发明涉及大功率暗室射频辐射测试技术领域，具体而言，涉及一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法及系统。

背景技术

目前，大功率暗室射频辐射测试对人体具备强微波射频的危害，一般都采用暗室的方式进行测试，暗室中具备微波吸收装置。在整个测试中，测试的数据频点非常巨大，用户一般只能基于测试界面查看当前的测试进度和测试结果，由于功率非常大甚至有的暗室都无法具备摄像头进行实时观看待测物SUT。

发明内容

本发明旨在提供一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法及系统，以解决大功率暗室射频辐射测试时无法实时观看待测物SUT的问题。

本发明提供的一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法，包括如下步骤：

步骤1、对待测物SUT进行三维建模，获得待测物SUT三维模型；

步骤2、在三维场景中导入待测物SUT三维模型，并放置辐射源模型，然后在三维场景中对辐射源模型和待测物SUT三维模型进行定位；

步骤3、将三维场景中的辐射源模型和待测物SUT三维模型与辐射源和待测物SUT建立实时数据链接，获得辐射源实时的位置信息和角度信息；

步骤4、基于辐射源实时的位置信息和角度信息，实时同步更新三维场景中的辐射源模型和待测物SUT三维模型。

一个实施方案中，步骤1中根据待测物SUT的尺寸选择使用不同的方法进行三维建模。具体地：

针对大型的待测物SUT，直接通过待测物SUT的设计结构生成待测物SUT三维模型；

针对小型的待测物SUT，通过三维手持扫描仪对待测物SUT进行三维扫描得到待测物SUT三维模型。

一个实施方案中，步骤2包括如下子步骤：

步骤201，在三维场景中导入待测物SUT三维模型，并放置辐射源模型；

步骤202，根据导入的待测物SUT三维模型比例，建立一个缩放比列系数；

步骤203，测试当前的辐射源距离水平地面的固定距离D，根据缩放比列系数和固定距离D，同步当前三维场景中辐射源模型的高度；并记辐射源辐射角度为α，水平转动后角度为β，俯仰转动后角度为γ；

步骤204，选择待测物SUT三维模型上最有识别度的一个初始测试正面，记作0点，旋转待测物SUT三维模型，使得其测试正面面对辐射源模型，此时保存0点的辐射源定位参数，包括D、x、y、z、α＝0、β＝0、γ＝0；其中，x、y、z为辐射源的三轴坐标；

步骤205，测量辐射源距离待测物SUT的距离d，并根据缩放比列系数和距离d，同步当前三维场景中辐射源模型与待测物SUT三维模型之间的距离；

步骤206，根据三维场景中辐射源模型与待测物SUT三维模型之间的距离以及辐射源辐射角度α绘制辐射波束。

一个实施方案中，步骤204中，若待测物SUT也设置有运动转台，那么需要根据待测物SUT的运动转台角度进行待测物SUT三维模型的角度调整。

一个实施方案中，步骤205中采用红外测距仪测量辐射源距离待测物SUT的距离d。

一个实施方案中，步骤206中，绘制的辐射波束中心为深暖色，辐射波束的边为深冷色调。

一个实施方案中，步骤4包括如下子步骤：

步骤401，记录待测物SUT三维模型当前已测试的辐射范围；

步骤402，根据缩放比列系数以及辐射源实时的位置信息，移动辐射源的位置；

步骤403，根据辐射源实时的角度信息，旋转辐射源的角度；

步骤404，更新已测试非当前已辐射范围内待测物SUT三维模型上的光斑，标记为已测试。

本发明还提供一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示系统，所述系统为运行于控制计算机上的计算机程序；

所述计算机程序用于执行上述的大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法，以实现对待测物SUT进行大功率暗室射频辐射测试时的三维实时展示。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

本发明实现了在大功率暗室射频辐射测试时能够实时直观的通过三维模型来观看测试过程，具备很高的实用和应用推广价值。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为大功率暗室射频辐射测试典型场景示意图。

图2为本发明实施例中大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法的流程图。

图3为本发明实施例中辐射源模型和待测物SUT三维模型在三维场景中定位的原理图。

图4为本发明实施例中大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示系统的效果图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例

首先搭建测试场景：

如图1所示，辐射源和待测物SUT放置在暗室辐射源和待测物SUT，并且辐射源设置有运动转台，运动转台具备xyz三轴运动的能力，并附带具备水平和俯仰的旋转能力；交换机、信号产生器、测试仪器和控制计算机设置在其他屏蔽室，辐射源、待测物SUT、信号产生器、测试仪器和控制计算机均通过交换机进行信号连接；辐射源与信号产生器连接，待测物SUT与测试仪器连接；用户则使用控制计算机在其他屏蔽室内进行操作和查看，以下的内容都基于这个测试场景进行设计和详述。

如图2所示，本实施例提出一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法，包括如下步骤：

步骤1、对待测物SUT进行三维建模，获得待测物SUT三维模型；

根据待测物SUT的尺寸选择使用不同的方法进行三维建模；一般地：

针对大型的待测物SUT，直接通过待测物SUT的设计结构生成待测物SUT三维模型；

针对小型的待测物SUT，通过三维手持扫描仪对待测物SUT进行三维扫描得到待测物SUT三维模型，这样不需要待测方给出待测物SUT的设计结构。

步骤2、在三维场景中导入待测物SUT三维模型，并放置辐射源模型，然后在三维场景中对辐射源模型和待测物SUT三维模型进行定位；如图3、图4所示，具体包括：

步骤201，在三维场景中导入待测物SUT三维模型，并放置辐射源模型；本实施例中待测物SUT是一辆汽车；

步骤202，根据导入的待测物SUT三维模型比例，建立一个缩放比列系数，供三维场景定位使用；

步骤203，测试当前的辐射源距离水平地面的固定距离D，根据缩放比列系数和固定距离D，同步当前三维场景中辐射源模型的高度；并记辐射源辐射角度为α，水平转动后角度为β，俯仰转动后角度为γ；

步骤204，选择待测物SUT三维模型上最有识别度的一个初始测试正面(本实施例中选择汽车的侧面作为初始测试正面)，记作0点，旋转待测物SUT三维模型，使得其测试正面面对辐射源模型，此时保存0点的辐射源定位参数，包括D、x、y、z、α＝0、β＝0、γ＝0；在一些应用中，待测物SUT也设置有运动转台，那么还需要保存0点的待测物SUT定位参数，并根据待测物SUT的运动转台角度进行待测物SUT三维模型的角度调整，本实施例中描述的是固定的待测物SUT；

步骤205，测量辐射源距离待测物SUT的距离d，可以采用红外测距仪进行测量，根据缩放比列系数和距离d，同步当前三维场景中辐射源模型与待测物SUT三维模型之间的距离；

步骤206，根据三维场景中辐射源模型与待测物SUT三维模型之间的距离以及辐射源辐射角度α绘制辐射波束。本实施例中，绘制的辐射波束中心为深暖色，辐射波束的边为深冷色调，以便于观看。

步骤3、将三维场景中的辐射源模型和待测物SUT三维模型与辐射源和待测物SUT建立实时数据链接，获得辐射源实时的位置信息：x、y、z，角度信息：β、γ；

步骤4、基于辐射源实时的位置信息和角度信息，实时同步更新三维场景中的辐射源模型和待测物SUT三维模型；具体包括：

步骤401，记录待测物SUT三维模型当前已测试的辐射范围；

步骤402，根据缩放比列系数以及辐射源实时的位置信息(x、y、z坐标)，移动辐射源的位置；

步骤403，根据辐射源实时的角度信息(β、γ)，旋转辐射源的角度；

步骤404，更新已测试非当前已辐射范围内待测物SUT三维模型上的光斑，标记为已测试。

进一步的，由上述可知，还可以实现一种大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示系统，所述系统为运行于控制计算机上的计算机程序；

所述计算机程序用于执行上述的大功率暗室射频辐射测试的三维实时展示方法，以实现对待测物SUT进行大功率暗室射频辐射测试时的三维实时展示

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。