一种测试效率平衡方法

技术领域

本发明涉及产品检测领域，尤其是涉及提高测试效率领域，具体为一种测试效率平衡方法。

背景技术

现有情况下，内存模组测试使用的完整版(业内称为InitialFullStage)程序单个内存模组的测试时长约为25000秒。测试的方式为在设备上用固定的完整版程序直接进行测试，

现阶段流程控制的问题在于：1、现有测试程序测试时长过长，导致生产效率低下；若想要提高效率就必须删除部分测试内容，此操作有着相当的品质风险，会导致确定当前产品的生产特性，导致测试缺乏针对性，对测试程序的设计过于封闭，修改测试项目过于繁琐，对生产测试流程的设计过于简单，缺乏灵活反馈的机制，容易造成不良产品的流出。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种测试效率平衡方法，用于解决现有技术的难点。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种测试效率平衡方法，包括：

步骤S1：QMA数值分析系统：

对各规格的产品随机抽取一定数量采用系统全检，计算QMA指数，筛选QMA指数中数值优良的多种规格产品；

步骤S2：优化测试程序机制：

收集并分析不良产品全检数据，去除部分不常见的失效模式以及测试模式的程序形成修改测试程序经过测试后投放运行；

步骤S3：生产信息反馈机制：

通过QRA抽检时刻把握分析生产产品不良的情况，评估程序的有效性；

步骤S3.1：QRA抽检产品时计算QMA指数超标，强化程序后重新进行测试；

步骤S4：生产信息分析电算系统：

实时获取产品失效信息并进行存储。

根据优选方案，系统全检包括：

CLRMEM指令：清除内存条内数据；

DUMMY检测：向内存写入伪指令，填充内存检测内存容量是否符合标准；

XMC检测：外部内存检查，检测外部储存器是否正常；

RESE检测：将主控重置为初始状态检测录入的bios是否正常；

二次CLRMEM指令：清空内存，确保内存中不保留任何数据；

MOV测试：单内存区域中将数据从一个位置移动至另一个位置，检测存储颗粒间传输通道是否正常；

D1R2R测试：将数据从直接寻址的内存位置传输到寄存器中，检测各存储区颗粒与寄存器是否能直连传输；

ADVMOV测试：将数据从一段内存区域移动至另一段内存区域，检测内存区域之间的数据传输通道是否正常；

HJMP测试：无条件跳转至指定内存地址，检测是否可以定点传输数据；

MAR-86指令：检测内存地址线是否正常；

MOVPRO指令：将数据从端口读入内存，检测内存条能否从端口录入数据；

RPSEQ2测试：随机存储器测试，用于检测随机存储器是否正常；

BTFLY测试：内存字节翻转测试，用于检测内存是否稳定；

RDGAL指令：读取显示适配器的配置信息对比标准参数检测录入是否正常；

EXWTRD指令：从外部设备读取数据并写入内存，检测内存条是否能正常运行；

WZS指令：检测内存条是否能写零并跳过；

BFOS指令：检测内存条是否能进行字节填充操作；

B1CMPX指令：检测内存条是否能进行字节比较操作；

YMC测试：内存地址线测试，用于检测内存地址线是否正常。

根据优选方案，系统全检时还需根据制造的内存条参数格式对于VDD,REF,STAGE,WIDTH,TRCD,TRP,TWR,PATSET等对应规格的参数进行设置与调整，不同的设置值也会导致测试中输入的内容的与判断合格的标准出现区别。

根据优选方案，QMA指数＝不良数量/检查数量*10000000。

根据优选方案，优化测试程序机制包括：

收集不良产品：收集3K件不良产品的检测参数；

分析不良产品：读取收集的不良产品的检测参数，提取高频出现不良参数的检测步骤；

修改测试程序：在系统全检的基础上去除部分不常见的失效模式以及测试模式；

小批量试运行：小批量产品采用系统全检的同时采用修改测试程序检测，对比检测后的不良品数量是否一致，是否存在漏检；

量产投放：该规格产品全批次采用修改测试程序检测。

根据优选方案，生产信息反馈机制包括：

检测：采用优化测试程序机制定制的修改测试程序进行批量检测；；

QRA抽查：实时批量随机抽样采用系统全检，计算QMA指数监控该批次产品各时间段状态；

强化程序：重新调整优化测试程序机制中的修改测试程序并加入新出现的不良参数的测试程序。

根据优选方案，生产信息分析电算系统包括：

测试结果：提取生产信息反馈机制中的检测参数；

传输：读取测试结果以日志格式传输至服务器中；

解析日志：服务器解析日志中的检测数据；

数据运算并存储：提取归纳不良产品的参数与检测时的数值，并存入数据库。

本发明采用QMA数值分析系统、优化测试程序机制、生产信息反馈机制、生产信息分析电算系统，达到了以下有益效果：

(1)能够针对当前生产产品的特性灵活调整测试项目以及测试内容；

(2)QRA抽查工序的抽检结果可以反馈至优化测试程序机制，确定修改测试程序应当简化亦或是加强调整；

(3)整个机制通过测试时间、QMA指数两项相反属性的指标达到动态平衡，最大化提升工厂效率以及品质。

下文中将结合附图对实施本发明的最优实施例进行更详尽的描述，以便能容易地理解本发明的特征和优点。

附图说明

图1显示为本发明的流程示意图；

图2显示为本发明中优化测试程序机制的流程示意图；

图3显示为本发明中生产信息反馈机制的流程示意图；

图4显示为本发明中生产信息分析电算系统流程示意图；

具体实施方式

为了使得本发明的技术方案的目的、技术方案和优点更加清楚，下文中将结合本发明具体实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。附图中相同的附图标记代表相同的部件。需要说明的是，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

与附图所展示的实施例相比，本发明保护范围内的可行实施方案可以具有更少的部件、具有附图未展示的其他部件、不同的部件、不同地布置的部件或不同连接的部件等。此外，附图中两个或更多个部件可以在单个部件中实现，或者附图中所示的单个部件可以实现为多个分开的部件。

除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不必然表示数量限制。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

本发明提出一种测试效率平衡方法，用于检测工艺中，本发明对内存条的类型不做限制，但该QMA数值分析系统、优化测试程序机制、生产信息反馈机制、生产信息分析电算系统，特别适用于优化产品检测流程中。

步骤S1：QMA数值分析系统：对各规格的产品随机抽取一定数量采用系统全检，计算QMA指数，其中QMA指数＝不良数量/检查数量*10000000，筛选QMA指数中数值优良的多种规格产品；

步骤S2：优化测试程序机制包括：收集不良产品、分析不良产品、修改测试程序、小批量试运行、量产投放，收集不良产品为收集3K件不良产品的检测参数；分析不良产品为读取收集的不良产品的检测参数，提取高频出现不良参数的检测步骤；修改测试程序为在系统全检的基础上去除部分不常见的失效模式以及测试模式；小批量试运行为小批量产品采用系统全检的同时采用修改测试程序检测，对比检测后的不良品数量是否一致，是否存在漏检；量产投放为该规格产品全批次采用修改测试程序检测，收集并分析不良产品全检数据，去除部分不常见的失效模式以及测试模式的程序形成修改测试程序经过测试后投放运行；

步骤S3：生产信息反馈机制包括：检测、QRA抽查和强化程序，其中检测为采用优化测试程序机制定制的修改测试程序进行批量检测，QRA抽查为实时批量随机抽样采用系统全检，计算QMA指数监控该批次产品各时间段状态，通过QRA抽检时刻把握分析生产产品不良的情况，评估程序的有效性；QRA抽检产品时计算QMA指数超标，通过强化程序后重新进行测试，上述强化程序为重新调整优化测试程序机制中的修改测试程序并加入新出现的不良参数的测试程序。

步骤S4：生产信息分析电算系统包括：测试结果、传输、解析日志和数据运算并存储，其中测试结果：提取生产信息反馈机制中的检测参数；传输为读取测试结果以日志格式传输至服务器中；解析日志为服务器解析日志中的检测数据；数据运算并存储为提取归纳不良产品的参数与检测时的数值，并存入数据库，实时获取产品失效信息并进行存储。

上述系统全检包括：CLRMEM指令、DUMMY检测、XMC检测、RESE检测、二次CLRMEM指令、MOV测试、D1R2R测试、ADVMOV测试、HJMP测试、MAR-86指令、MOVPRO指令、RPSEQ2测试、BTFLY测试、RDGAL指令、EXWTRD指令、WZS指令、EXWTRD指令、WZS指令、BFOS指令、B1CMPX指令和YMC测试，其中CLRMEM指令为清除内存条内数据，DUMMY检测为向内存写入伪指令，填充内存检测内存容量是否符合标准，XMC检测为外部内存检查，检测外部储存器是否正常，RESE检测为将主控重置为初始状态检测录入的bios是否正常，二次CLRMEM指令为清空内存，确保内存中不保留任何数据，MOV测试为单内存区域中将数据从一个位置移动至另一个位置，检测存储颗粒间传输通道是否正常，D1R2R测试为将数据从直接寻址的内存位置传输到寄存器中，检测各存储区颗粒与寄存器是否能直连传输，ADVMOV测试为将数据从一段内存区域移动至另一段内存区域，检测内存区域之间的数据传输通道是否正常，HJMP测试为无条件跳转至指定内存地址，检测是否可以定点传输数据，MAR-86指令为检测内存地址线是否正常，MOVPRO指令为将数据从端口读入内存，检测内存条能否从端口录入数据；RPSEQ2测试为随机存储器测试，用于检测随机存储器是否正常，BTFLY测试为内存字节翻转测试，用于检测内存是否稳定，RDGAL指令为读取显示适配器的配置信息对比标准参数检测录入是否正常，EXWTRD指令为从外部设备读取数据并写入内存，检测内存条是否能正常运行，WZS指令为检测内存条是否能写零并跳过，BFOS指令为检测内存条是否能进行字节填充操作，B1CMPX指令为检测内存条是否能进行字节比较操作，YMC测试为内存地址线测试，用于检测内存地址线是否正常，总体测试内存条产品的运行参数是否符合规格，各模块之间连通运行是否正常，还需说明的是系统全检时还需根据制造的内存条参数格式对于VDD,REF,STAGE,WIDTH,TRCD,TRP,TWR,PATSET等对应规格的参数进行设置与调整，不同的设置值也会导致测试中输入的内容的与判断合格的标准出现区别。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。