一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备

技术领域

本申请涉及电数字数据处理领域，尤其涉及一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备。

背景技术

随着电子产品的发展，目标电容屏的应用日益广泛。目标电容屏，也称为电容式触摸屏，是一种利用人体的电流感应进行触摸操作的屏幕。与传统的电阻式触摸屏相比，目标电容屏具有更高的灵敏度和更广的应用范围。

如今，在目标电容屏进行生产的过程中，首先测试人员需要判断目标电容屏中的IC(Integrated Circuit)主控对应的方案商，再根据方案商，选择IC主控对应的测试工具对目标电容屏进行测试。但是生产中目标电容屏的数量较多，不同目标电容屏中IC主控对应的方案商也可能会不同，此时，仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低。

因此，亟需一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备。

发明内容

本申请提供一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备，解决了仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低的问题。

在本申请的第一方面提供了一种针对目标电容屏的测试方法，方法包括：响应于用户针对目标电容屏的测试操作，获取目标电容屏中IC主控对应的主控信息，主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息；在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具，预设测试数据库用于保存主控信息、第一测试工具以及主控信息与第一测试工具的对应关系；通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果。

通过采用上述技术方案，通过识别到用户针对目标电容屏的测试操作，并获取目标电容屏中IC主控的主控信息，从而通过预设测试数据库主控信息与第一测试工具的对应关系，获取用于测试目标电容屏的第一测试工具，并通过第一测试工具，实现对目标电容屏的自动测试操作，进而解决了仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低的问题。

可选的，在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具之后，方法还包括：获取第一测试工具对应的第一工具版本信息；判断第一工具版本信息是否为芯片版本信息对应的版本信息；若第一工具版本信息不为芯片版本信息对应的版本信息，则在预设网站更新第一测试工具至第二测试工具，第二测试工具对应第二工具版本信息，第二工具版本信息为芯片版本信息对应的版本信息。

通过采用上述技术方案，通过判断第一测试工具对应的测试工具版本信息，是否与IC主控对应的主控信息中的芯片版本信息为同一版本信息，当第一测试工具对应的测试工具版本信息，与IC主控对应的主控信息中的芯片版本信息不为同一版本信息时，通过在预设网站下载第二工具，可以将第一工具更新为第二测试工具，从而避免由于由于版本不对应出现不兼容的问题，即第一测试工具会无法测试目标电容屏，或无法测试目标电容屏中的部分功能的问题。

可选的，第一测试工具用于测试同一个方案商对应的目标电容屏。

通过采用上述技术方案，通过为同一方案商的IC主控进行设计和配置第一测试工具，可以更加准确地对IC主控进行检测操作，也能够避免使用其他测试工具对该方案商的IC主控进行检测时出现的不兼容的情况，从而减少测试误差。

可选的，测试操作包括失效测试以及画线测试，当测试操作为失效测试时，通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，具体包括：根据主控信息，获取目标电容屏中IC主控对应的多个失效测试项目；多个失效测试项目包括开路测试、短路测试以及节点不良测试；通过第一测试工具，对多个失效测试项目分别进行测试操作。

通过采用上述技术方案，当测试操作为失效测试时，通过主控信息，可以确认IC主控对应的多个失效测试项目，且通过对多个失效测试项目进行测试操作，能够更加全面地对目标电容屏进行失效测试，从而保证目标电容屏的可靠性和稳定性。

可选的，在通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果之后，方法还包括：判断测试结果是否为失效测试异常；若测试结果为失效测试异常，获取测试结果对应的失效异常信息，失效异常信息包括开路异常、短路异常以及节点不良异常中的一种或多种；将失效异常信息发送给用户。

通过采用上述技术方案，通过测试操作完成后自动判断测试结果是否存在异常，如果测试结果显示存在失效异常，将进一步获取并汇报相应的异常信息，从而有助于用户迅速识别和解决潜在的失效测试异常。

可选的，当测试操作为画线测试时，通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，具体包括：根据主控信息，获取目标电容屏中IC主控对应的多个画线测试项目；多个画线测试项目包括精准度测试、灵敏度测试以及报点测试；通过第一测试工具，对多个画线测试项目分别进行测试操作。

通过采用上述技术方案，当测试操作为画线测试时，通过主控信息，可以确认IC主控对应的多个画线测试项目，且通过对多个画线测试项目进行测试操作，能够更加全面地对目标电容屏进行画线测试，从而确保目标电容屏在触摸时的精准性、灵敏性。

可选的，在通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果之后，方法还包括：判断测试结果是否为画线测试异常；若测试结果为画线测试异常，获取测试结果对应的画线异常信息，画线异常信息包括精准度异常、灵敏度异常以及报点异常中的一种或多种；将画线异常信息发送给用户。

通过采用上述技术方案，通过测试操作完成后自动判断测试结果是否存在异常，如果测试结果显示存在画线异常，将进一步获取并汇报相应的异常信息，从而有助于用户迅速识别和解决潜在的画线测试异常。

在本申请的第二方面提供了一种针对目标电容屏的测试装置，装置包括获取模块以及处理模块，其中，

获取模块，用于响应于用户针对目标电容屏的测试操作，获取目标电容屏中IC主控对应的主控信息，主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息；在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具，预设测试数据库用于保存主控信息、第一测试工具以及主控信息与第一测试工具的对应关系。

处理模块，用于通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果。

在本申请的第三方面提供了一种电子设备，包括处理器、存储器、用户接口及网络接口，存储器用于存储指令，用户接口和网络接口用于给其他设备通信，处理器用于执行存储器中存储的指令，以使电子设备执行如上述任意一项的方法。

在本申请的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行如上述任意一项的方法。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

1、通过采用上述技术方案，通过识别到用户针对目标电容屏的测试操作，并获取目标电容屏中IC主控的主控信息，从而通过预设测试数据库主控信息与第一测试工具的对应关系，获取用于测试目标电容屏的第一测试工具，并通过第一测试工具，实现对目标电容屏的自动测试操作，进而解决了仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低的问题。

2、当测试操作为失效测试时，通过主控信息，可以确认IC主控对应的多个失效测试项目，且通过对多个失效测试项目进行测试操作，能够更加全面地对目标电容屏进行失效测试，从而保证目标电容屏的可靠性和稳定性。

3、当测试操作为画线测试时，通过主控信息，可以确认IC主控对应的多个画线测试项目，且通过对多个画线测试项目进行测试操作，能够更加全面地对目标电容屏进行画线测试，从而确保目标电容屏在触摸时的精准性、灵敏性。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种针对目标电容屏的测试方法的流程示意图；

图2是本申请实施例提供的一种针对目标电容屏的画线测试示意图；

图3是本申请实施例提供的一种针对目标电容屏的测试装置的模块示意图；

图4是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

附图标记说明：200、目标电容屏；31、获取模块；32、处理模块；401、处理器；402、通信总线；403、用户接口；404、网络接口；405、存储器。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

本申请以下实施例中所使用的术语只是为了描述特定实施例的目的，而并非旨在作为对本申请的限制。如在本申请的说明书中所使用的那样，单数表达形式“一个”、“一种”、“所述”、“上述”、“该”和“这一”旨在也包括复数表达形式，除非其上下文中明确地有相反指示。还应当理解，本申请中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个所列出项目的任何或所有可能组合。

以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为暗示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征，在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

为了使本领域的技术人员更好地理解本申请的技术方案，下面将结合附图对本发明作进一步的详细介绍。

请参考图1，其示出了本申请实施例提供的一种针对目标电容屏的测试方法的流程示意图，方法应用于服务器，该流程图主要包括以下几个步骤：S101至S103。

步骤S101，响应于用户针对目标电容屏的测试操作，获取目标电容屏中IC主控对应的主控信息，主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息。

具体地，在目标电容屏生产的过程中，需要对目标电容屏中进行测试操作。当服务器识别到用户针对目标电容屏的测试操作时，服务器获取目标电容屏中IC主控的主控信息，主控信息包括但不限于目标芯片的方案商信息、芯片型号信息、芯片版本信息等，其中，方案商信息为提供芯片设计方案的厂商的信息；芯片型号信息为IC主控的标识符信息，用于区分不同的IC主控类型；芯片版本信息为IC主控的不同版本和更新状态的信息。服务器获取目标电容屏中IC主控的主控信息可以是用户实时进行的，此时，用户需要手动将服务器的测试接口与目标电容屏进行连接，之后，服务器会自动获取目标电容屏中IC主控的主控信息；服务器获取目标电容屏中IC主控的主控信息也可以是服务器进行自动进行的，在每个目标电容屏进行生产前，服务器会为每个目标电容屏按照生产顺序进行编号并将该编号与每个目标电容屏对应的IC主控以及主控信息进行绑定，当生产结束后，服务器同样按照生产顺序对每个目标电容屏进行测试操作，此时，当服务器对目标电容屏进行检测操作时，仅需识别目标电容屏对应的编号，即可获取目标电容屏对应的IC主控以及主控信息，从而根据主控信息对目标电容屏进行相应的检测操作。需要说明的是，不论是用户手动进行测试还是服务器自动进行测试，服务器都可以通过供电设备对目标电容屏进行供电，以保证测试操作的正常进行。

步骤S102，在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具，预设测试数据库用于保存主控信息、第一测试工具以及主控信息与第一测试工具的对应关系。

具体地，在预设测试数据库中，储存有多个IC主控、多种测试工具以及不同IC主控与不同测试工具的对应关系，其中，多种测试工具包括第一测试工具，第一测试工具用于测试同一个方案商对应的目标电容屏。服务器通过识别IC主控的主控信息，即通过识别IC主控对应的方案商信息，从而在预设测试数据库中获取目标电容屏对应的测试工具。

举例说明，假设在预设测试数据库中储存三种IC主控与测试工具的对应关系，分别为方案商A提供的A型IC主控，对应测试工具1、方案商B提供的B型IC主控，对应测试工具2、方案商C提供的C型IC主控，对应测试工具3，此时，在检测目标电容屏时，获取目标电容屏中IC主控对应的主控信息，若服务器判断目标电容屏为方案商A提供的A型IC主控，则通过预设测试数据库中保存的对应关系，即可确认使用测试工具1对目标电容屏进行测试操作。需要说明的是，在本实施例中，对预设测试数据库中保存的对应关系的数量不进行限定，可以根据实际生产时，提供IC主控的方案商的数量进行确定，当预设数据库添加新的方案商时，会添加所有该方案商对应的IC主控，并根据该方案商对应的IC主控，更新能够为对应目标电容屏进行测试操作的测试工具。

在一种可能的实施方式中，在步骤S102之后，方法还包括：获取第一测试工具对应的第一工具版本信息；判断第一工具版本信息是否为芯片版本信息对应的版本信息；若第一工具版本信息不为芯片版本信息对应的版本信息，则在预设网站更新第一测试工具至第二测试工具，第二测试工具对应第二工具版本信息，第二工具版本信息为芯片版本信息对应的版本信息。

具体地，服务器在获取到目标电容屏中IC主控对应的第一测试工具后，会判断第一测试工具对应的测试工具版本信息，是否与IC主控对应的主控信息中的芯片版本信息为同一版本信息，若第一测试工具对应的测试工具版本信息，与IC主控对应的主控信息中的芯片版本信息不为同一版本信息，此时若仍然使用第一测试工具对该IC主控对应的目标电容屏进行测试，会由于版本不对应出现不兼容的问题，例如，目标电容屏中的电路相较于第一测试工具测试的版本有较大改变，或是新添加了不同的使用功能，则第一测试工具可能会无法测试该IC主控对应的目标电容屏，或无法测试该IC主控对应的目标电容屏中的部分功能。此时，服务器可以对第一测试工具进行版本更新。服务器可以通过爬虫系统，在该IC主控对应的方案商的相关网站（方案商网站、方案商专门为测试工具建立的历史版本下载网站等）中，即预设网站中，下载版本更新后的第一测试工具，即第二测试工具，下载成功后，服务器将预设测试数据库中的对应关系更新为主控信息与第二测试工具的对应关系，并通过第二测试工具对该IC主控对应的目标电容进行测试操作。

步骤S103，通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果。

具体地，服务器在获取到目标电容屏中IC主控对应的第一测试工具后，通过第一测试工具，对目标电容屏中的进行测试操作，并得到测试结果。根据测试结果，当测试结果不存在异常信息时，服务器判断目标电容屏检测合格；当测试结果中存在异常信息时。

在一种可能的实施方式中，测试操作包括失效测试以及画线测试，当测试操作为失效测试时，步骤S103还包括：根据主控信息，获取目标电容屏中IC主控对应的多个失效测试项目；多个失效测试项目包括开路测试、短路测试以及节点不良测试；通过第一测试工具，对多个失效测试项目分别进行测试操作。

具体的，当服务器通过第一测试工具对目标电容屏中的进行测试操作时，需对目标电容屏进行多项测试操作，当目标电容屏同时通过多项测试操作时，服务器则判断目标电容屏检测合格。其中，测试操作包括失效测试以及画线测试，且当测试操作为失效测试时，服务器需要确定IC主控对应的多个失效测试项目，IC主控对应的失效测试项目的数量与IC主控对应的主控信息相关，服务器将IC主控对应的主控信息输入第一测试工具，从而第一测试工具根据主控信息确定目标电容屏对应的失效测试项目。失效测试项目包括但不限于开路测试、短路测试以及节点不良测试等，其中，开路测试用于检测目标电容屏中是否存在电路开路；短路测试用于检测目标电容屏中是否存在电路短路；节点不良测试用于用于检测目标电容屏中是否存在电路中通道节点连接不良。服务器通过第一测试工具对确定好的多个失效测试项目进行一一测试。

在一种可能的实施方式中，在步骤S103之后，方法还包括：判断测试结果是否为失效测试异常；若测试结果为失效测试异常，获取测试结果对应的失效异常信息，失效异常信息包括开路异常、短路异常以及节点不良异常中的一种或多种；将失效异常信息发送给用户。

具体地，若在第一测试工具对多个失效测试项目进行测试完毕之后，其中任意一个失效测试项目出现测试异常，则服务器判断测试结果中存在异常信息，即服务器判断测试结果为失效测试异常，此时服务器获取测试结果中，检测异常的失效测试项目，并获取检测异常的失效测试项目对应的失效异常信息，失效异常信息包括但不限于开路异常、短路异常以及节点不良异常中的一种或多种，服务器将各个检测异常的失效测试项目以及各个检测异常的失效测试项目对应的结果数据发送给用户，即将失效异常信息发送给用户。

在一种可能的实施方式中，当测试操作为画线测试时，步骤S103还包括：根据主控信息，获取目标电容屏中IC主控对应的多个画线测试项目；多个画线测试项目包括精准度测试、灵敏度测试以及报点测试；通过第一测试工具，对多个画线测试项目分别进行测试操作。

具体地，当服务器通过第一测试工具对目标电容屏中的进行测试操作时，需对目标电容屏进行多项测试操作，当目标电容屏同时通过多项测试操作时，服务器则判断目标电容屏检测合格。其中，测试操作包括失效测试以及画线测试，且当测试操作为画线测试时，服务器需要确定IC主控对应多个画线测试项目，IC主控对应的画线测试项目的数量与IC主控对应的主控信息相关，服务器将IC主控对应的主控信息输入第一测试工具，从而第一测试工具根据主控信息确定IC主控对应的画线测试项目。画线测试项目包括但不限于精准度测试、灵敏度测试以及报点测试等，其中，精准度测试用于测试目标电容屏的精准度，确保在目标电容屏上点击的位置与实际位置一致；灵敏度测试为调整不同的灵敏度设置，测试目标电容屏对于不同程度的触摸的响应情况；报点测试用于测试目标电容屏是否存在漏报点。服务器通过第一测试工具对确定好的多个画线测试项目进行一一测试。此外，服务器可以为不同的测试工具设置不同的系统画图工具，服务器通过系统画图工具，通过系统画图工具中设置的画图轨迹，服务器控制触碰工具按照画图轨迹对目标电容屏进行画线测试，以完成上述画线检测的操作，其中触碰工具对目标电容屏执行触碰操作的工具，如电容笔。在服务器设置系统画图工具中的画图轨迹时，需要考虑目标电容屏的形状、尺寸等因素，画图轨迹需要尽可能地覆盖整个目标电容屏。

举例说明，请参考图2，其示出了本申请实施例提供的一种针对目标电容屏的画线测试示意图，服务器可以首先按照图中椭圆形轨迹在目标电容屏200中进行画线，以对目标电容屏200的中间区域进行画线测试，以保证能够测试目标电容屏的主要区域；之后，再按照图中米字形轨迹在目标电容屏200中进行画线，以对目标电容屏200的边缘区域进行画线测试，以保证能够测试目标电容屏的次要区域。除此之外，也可以通过用户自定义的方式设置画图工具中的画图轨迹，本实施例不进行展开说明。

在一种可能的实施方式中，在步骤S103之后，方法还包括：判断测试结果是否为画线测试异常；若测试结果为画线测试异常，获取测试结果对应的画线异常信息，画线异常信息包括精准度异常、灵敏度异常以及报点异常中的一种或多种；将画线异常信息发送给用户。

具体地，若在第一测试工具对目标电容屏中IC主控的多个画线测试项目进行测试完毕之后，其中任意一个画线测试项目出现测试异常，则服务器判断测试结果中存在异常信息，即服务器判断测试结果为画线测试异常，此时服务器获取测试结果中，检测异常的画线测试项目，并获取检测异常的画线测试项目对应的画线异常信息，画线异常信息包括但不限于精准度异常、灵敏度异常以及报点异常中的一种或多种。服务器将各个检测异常的画线测试项目以及各个检测异常的画线测试项目对应的结果数据发送给用户，即将画线异常信息发送给用户。

举例说明，在服务器控制触碰工具按照画图轨迹对目标电容屏进行画线测试之后，若目标电容屏上显示的线条出现不规则的情况，服务器判断目标电容屏出现精准度异常，并将目标电容屏中的精准度异常以及出现异常的点位作为画线异常信息发送给用户；若目标电容屏上显示的线条出现断连，服务器判断目标电容屏出现报点异常，并将目标电容屏中的报点异常以及出现异常的点位作为画线异常信息发送给用户。

本申请通过采用上述方法，能够达到的有益效果包括下列至少一项：

1、通过采用上述技术方案，通过识别到用户针对目标电容屏的测试操作，并获取目标电容屏中IC主控的主控信息，从而通过预设测试数据库主控信息与第一测试工具的对应关系，获取用于测试目标电容屏的第一测试工具，并通过第一测试工具，实现对目标电容屏的自动测试操作，进而解决了仅靠测试人员对目标电容屏进行测试操作，耗时较高，且效率较低的问题。

2、通过判断第一测试工具对应的测试工具版本信息，是否与IC主控对应的主控信息中的芯片版本信息为同一版本信息，当第一测试工具对应的测试工具版本信息，与IC主控对应的主控信息中的芯片版本信息不为同一版本信息时，通过在预设网站下载第二工具，可以将第一工具更新为第二测试工具，从而避免由于由于版本不对应出现不兼容的问题，即第一测试工具会无法测试目标电容屏，或无法测试目标电容屏中的部分功能的问题。

3、通过为同一方案商的IC主控进行设计和配置第一测试工具，可以更加准确地对IC主控进行检测操作，也能够避免使用其他测试工具对该方案商的IC主控进行检测时出现的不兼容的情况，从而减少测试误差。

请参考图3，其示出了本申请实施例提供的一种针对目标电容屏的测试装置，装置为服务器，服务器包括获取模块31以及处理模块32，其中，

获取模块31，用于响应于用户针对目标电容屏的测试操作，获取目标电容屏中IC主控对应的主控信息，主控信息包括芯片方案商信息、型号信息以及芯片版本信息；在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具，预设测试数据库用于保存主控信息、第一测试工具以及主控信息与第一测试工具的对应关系。

处理模块32，用于通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果。

在一种可能的实施方式中，获取模块31用于在预设测试数据库中，获取主控信息对应的第一测试工具之后，方法还包括：获取第一测试工具对应的第一工具版本信息；判断第一工具版本信息是否为芯片版本信息对应的版本信息；若第一工具版本信息不为芯片版本信息对应的版本信息，则在预设网站更新第一测试工具至第二测试工具，第二测试工具对应第二工具版本信息，第二工具版本信息为芯片版本信息对应的版本信息。

在一种可能的实施方式中，第一测试工具用于测试同一个方案商对应的目标电容屏。

在一种可能的实施方式中，测试操作包括失效测试以及画线测试，当测试操作为失效测试时，处理模块32用于通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，具体包括：根据主控信息，获取目标电容屏中IC主控对应的多个失效测试项目；多个失效测试项目包括开路测试、短路测试以及节点不良测试；通过第一测试工具，对多个失效测试项目分别进行测试操作。

在一种可能的实施方式中，处理模块32用于在通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果之后，判断测试结果是否为失效测试异常；若测试结果为失效测试异常，获取测试结果对应的失效异常信息，失效异常信息包括开路异常、短路异常以及节点不良异常中的一种或多种；将失效异常信息发送给用户。

在一种可能的实施方式中，当测试操作为画线测试时，处理模块32用于通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，具体包括：根据主控信息，获取目标电容屏中IC主控对应的多个画线测试项目；多个画线测试项目包括精准度测试、灵敏度测试以及报点测试；通过第一测试工具，对多个画线测试项目分别进行测试操作。

在一种可能的实施方式中，处理模块32用于在通过第一测试工具，对目标电容屏进行测试操作，并获取测试结果之后，判断测试结果是否为画线测试异常；若测试结果为画线测试异常，获取测试结果对应的画线异常信息，画线异常信息包括精准度异常、灵敏度异常以及报点异常中的一种或多种；将画线异常信息发送给用户。

需要说明的是：上述实施例提供的装置在实现其功能时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的装置和方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。

本申请还提供一种电子设备。参照图4，图4是本申请实施例的提供的一种电子设备的结构示意图。该电子设备可以包括：至少一个处理器401，至少一个通信总线402，用户接口403，至少一个网络接口404，存储器405。

其中，通信总线402用于实现这些组件之间的连接通信。

其中，用户接口403可以包括显示屏（Display）、摄像头（Camera），可选用户接口403还可以包括标准的有线接口、无线接口。

其中，网络接口404可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如WI-FI接口）。

其中，处理器401可以包括一个或者多个处理核心。处理器401利用各种接口和线路连接整个服务器内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器405内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器405内的数据，执行服务器的各种功能和处理数据。可选的，处理器401可以采用数字信号处理（Digital Signal Processing，DSP）、现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）、可编程逻辑阵列（Programmable LogicArray，PLA）中的至少一种硬件形式来实现。处理器401可集成中央处理器（CentralProcessing Unit，CPU）、图像处理器（Graphics Processing Unit，GPU）和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器401中，单独通过一块芯片进行实现。

其中，存储器405可以包括随机存储器（Random Access Memory，RAM），也可以包括只读存储器（Read-Only Memory）。可选的，该存储器405包括非瞬时性计算机可读介质（non-transitory computer-readable storage medium）。存储器405可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器405可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令（比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等）、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及的数据等。存储器405可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器401的存储装置。参照图4，作为一种计算机存储介质的存储器405中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及一种针对目标电容屏的测试方法的应用程序。

在图4所示的电子设备中，用户接口403主要用于为用户提供输入的接口，获取用户输入的数据；而处理器401可以用于调用存储器405中存储一种针对目标电容屏的测试方法的应用程序，当由一个或多个处理器401执行时，使得电子设备执行如上述实施例中一个或多个所述的方法。需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必需的。

本申请还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有指令。当由一个或多个处理器执行时，使得电子设备执行如上述实施例中一个或多个所述的方法。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几种实施方式中，应该理解到，所披露的装置，可通过其他的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些服务接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性或其他的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可为个人计算机、服务器或者网络设备等）执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括：U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述者，仅为本公开的示例性实施例，不能以此限定本公开的范围。即但凡依本公开教导所作的等效变化与修饰，皆仍属本公开涵盖的范围内。本领域技术人员在考虑说明书及实践真理的公开后，将容易想到本公开的其他实施方案。

本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未记载的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。