一种针对测量设备的校准方法和装置

技术领域

本申请涉及集成电路测试领域，特别涉及一种针对测量设备的校准方法和装置。

背景技术

随着我国集成电路行业的不断发展，集成电路测量设备正朝着高精度高性能等方向发展。为了保证测量设备具有更高的准确性和可靠性，对测量设备的校准要求也越来越高。

目前对测量设备进行校准的方案一般是在校准线路末端的输出电压稳定后再通过待校准的测量设备对校准线路进行测量，从而可以避免非稳态造成的校准误差，尤其在小电流电路中，等待电路达到稳态所耗费的时间是很长的，因此这种方法会造成校准时间过长的问题。还有一种校准方法是不论该线路是稳态或者非稳态状态，即在一定时间后就开始对校准线路进行校准测量，由于电路中寄生电容充电的时间会对最终测量结果产生影响等各方面的问题，所以等待一定时间后进行校准会和实际使用的场景的测试间隔时间产生差异，进而校准数据会与实际使用时的测量值之间差生偏差，因此这种校准方法虽然缩短了校准时间，但是校准准确度无法保证。

发明内容

鉴于现有技术的以上问题，本申请提供一种针对测量设备的校准方法和装置，可以在保证校准精确度的基础上，缩短校准时间。

为了达到上述目的，本申请一方面提供了一种针对测量设备的校准方法，包括：在第一延时时间结束时，控制待校准的测量设备对所述被测线路进行测量，以获得第一值；其中，所述第一延时时间为所述待校准的测量设备从上电时刻到开始对所述被测线路进行测量时刻所等待的时间，为预先获取值；根据所述第一延时时间确定万用表外部测量装置的第二延时时间；其中，所述第二延时时间为使所述万用表外部测量装置与所述待校准的测量设备同时对所述被测线路进行测量的修正时间；在所述第二延时时间结束且所述万用表成功识别测量指令第五时间段结束时，控制所述万用表外部测量装置对所述被测线路进行测量，以获得第二值；其中，所述第五时间段用于指示所述外部测量装置成功读取测量指令的时间；基于所述第一值和所述第二值对所述待校准的测量设备进行校准。

由上，本方面通过待校准的测量设备的第一延时时间来确定外部测量装置的第二延时时间，从而引入对外部测量装置开始测量时刻的修正时间，保证了外部测量装置和待校准的测量设备的开始测量时刻对齐，实现二者对待测线路的同步测量，并基于二者的测量值来对待校准的测量设备进行校准。在本方面中，由于二者为同步测量，因此其针对的测量线路的状态是相同的，因此即使此刻待测线路为非稳态状态，也不会影响校准的准确性。另外，由于不需要等待线路稳定就可以开始测量，所以大幅缩短了校准时间，因此，本方面提供的校准方法，由于针对的测量线路的状态一致，因此不仅提高了校准准确性，还大幅缩短了校准时间，提高了校准效率。

作为第一方面一种可选的实现方式，根据所述第一延时时间确定万用表外部测量装置的第二延时时间，包括：获取所述第五时间段万用表成功识别测量指令的时间；其中，所述万用表第五时间段成功识别测量指令的时间至少包括控制器向万用表外部测量装置发送测量指令所消耗的时间；基于所述第一延时时间和所述万用表第五时间段成功识别测量指令的时间，确定所述第二延时时间。

由上，外部测量装置开始测量是由控制器发送控制指令来驱动的，因此，将用于指示所述外部测量装置成功读取测量指令的第五时间段考虑进来，可以使第二延时时间的确定更准确，从而保证了待校准的测量设备和外部测量装置开始测量的时刻对齐。

作为第一方面一种可选的实现方式，所述基于所述第一延时时间和所述第五时间段万用表成功识别测量指令的时间，确定所述第二延时时间，包括：所述第二延时时间为所述第一延时时间和所述第五时间段万用表成功识别测量指令的时间之差。

作为第一方面一种可选的实现方式，还包括：配置所述待校准的测量设备的第一测量时间，所述第一测量时间表示所述待校准的测量设备从开始对所述被测线路进行测量到获得所述第一值所消耗的时间；配置所述外部测量装置的第二测量时间，所述第二测量时间表示所述外部测量装置从开始对所述被测线路进行测量到获得所述第二值所消耗的时间。

由上，通过预先配置第一测量时间来确定待校准的测量设备的测量过程的耗时，通过预先配置第二测量时间来确定外部测量装置的测量过程的耗时。

作为第一方面一种可选的实现方式，所述第一测量时间是根据采样的点数和采样的时间间隔配置的；所述第二测量时间是根据所述外部测量装置的工频周期配置的。

作为第一方面一种可选的实现方式，所述第一测量时间和所述第二测量时间相等。

由上，当第一测量时间和第二测量时间越接近时，校准的准确性则越高，因此将第一测量时间和第二测量时间配置成相等来提高校准准确性。

作为第一方面一种可选的实现方式，所述基于所述第一值和所述第二值对所述待校准的测量设备进行校准，包括：利用最小二乘法对所述第一值和所述第二值进行拟合，并获得校准系数。

作为第一方面一种可选的实现方式，所述第一值为通过所述待校准的测量设备获得的所述被测线路的第一电流值；所述第二值为通过所述外部测量装置获得的所述被测线路的第二电流值。

由上，电流值为反映电路特性的参数之一，通过将第一值和第二值均设为电流值来校准测量设备是一种较为简单的方式，从而方便校准人员的校准工作。

作为第一方面一种可选的实现方式，所述被测线路包括电流小于10mA的电路。

由上，由于小电流电路典型的特点是寄生电容充电耗时较长，即电路达到稳态耗时较长，因此本申请提供的校准方法应用在小电流的电路效果显著。但应注意，该校准方法同样适用于其他电路。

本申请的第二方面提供一种针对测量设备的校准装置，包括：第一控制模块，用于在第一延时时间结束时，控制待校准的测量设备对所述被测线路进行测量，以获得第一值；其中，所述第一延时时间为所述待校准的测量设备从上电时刻到开始对所述被测线路进行测量时刻所等待的时间，为预先获取值；确定模块，用于根据所述第一延时时间确定万用表外部测量装置的第二延时时间；其中，所述第二延时时间为使所述万用表外部测量装置与所述待校准的测量设备同时对所述被测器件进行测量的修正时间；第二控制模块，用于在所述第二延时时间结束且所述第五时间段结束万用表成功识别测量指令时，控制所述万用表外部测量装置对所述被测线路进行测量，以获得第二值；其中，所述第五时间段用于指示所述外部测量装置成功读取测量指令的时间；校准模块，用于基于所述第一值和所述第二值对所述待校准的测量设备进行校准。

本方面的有益效果可以参见上述第一方面有益效果的描述。

本申请的这些和其它方面在以下(多个)实施例的描述中会更加简明易懂。

附图说明

下面参照附图来进一步说明本申请的各个技术特征和它们之间的关系。附图为示例性的，一些技术特征并不以实际比例示出，并且一些附图中可能省略了本申请所属技术领域中惯用的且对于理解和实现本申请并非必不可少的技术特征，或是额外示出了对于理解和实现本申请并非必不可少的技术特征，也就是说，附图所示的各个技术特征的组合并不用于限制本申请。另外，在本申请全文中，相同的附图标记所指代的内容也是相同的。具体的附图说明如下：

图1a为常规技术提供的一种常规校准方法的校准线路示意图；

图1b为常规技术提供的校准耗时第一时间图；

图1c为常规技术提供的校准耗时第二时间图；

图1d为基于常规技术提供的校准方法的校准效果图；

图1e为常规技术中上电延时与测量值的关系图；

图1f为图1e在零点附近的放大图；

图2为本申请实施例提供的校准线路等效图；

图3a为本申请实施例提供的针对测量设备不同线程的校准方法的流程图；

图3b为本申请实施例提供的针对测量设备不同线程的校准方法的线段示意图；

图4为本申请实施例提供的外部测量装置读取测量指令的时间示意图；

图5为本申请实施例提供的第一延时时间表征图；

图6为本申请实施例提供的一种针对测量设备的校准方法的流程图；

图7为基于本申请实施例提供的校准方法的校准效果图；

图8为本申请实施例提供的一种针对测量设备的校准装置的结构化示意图；

图9为本申请实施例提供的一种计算设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

应理解，本申请实施例提供了一种针对测量设备的校准方法和装置，由于这些技术方案解决问题的原理相同或相似，在如下具体实施例的介绍中，某些重复之处可能不再赘述，但应视为这些具体实施例之间已有相互引用，可以相互结合。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。如有不一致，以本说明书中所说明的含义或者根据本说明书中记载的内容得出的含义为准。另外，本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。

在介绍本申请的技术之前，首先对相关技术进行介绍：

图1a展示了一种常规校准方法的校准线路，图1b展示了一种常规的校准耗时时间图，图1c展示了另一种常规的校准耗时时间图。其中，由于线路布局等原因，校准线路中一般会存在寄生电容，本申请将该寄生电容等效为电容Co。由于电容Co两端的电压不能突变的特性导致线路末端输出的电压Vo不能迅速达到稳态值(稳态值的理想值为电源电压Vcc)，而为了保证校准的准确性，通常是等线路末端输出的电压Vo稳定后，即末端输出的电压Vo约等于电源电压的99.9％之后，无论第二测量时刻t21与第一测量时刻t11间隔多长时间，测量误差都会被控制在0.001倍电源电压Vcc以下，因此，校准等待时间则应至少大于时间T11＝t11-t01，其中，t11表示第一测量时刻，t01表示待校准的测量设备的上电时刻。而T1＝5τ，τ＝Rdut*Co；其中，τ表示时间常数，Rdut表示被测电阻，Co表示校准线路中的等效电容，由此可以看出，T11的时间长度受被测电阻Rdut的阻值大小和电容Co大小的影响。

在小电流的电路校准中，例如在电源电压为2000V时，如果要满足电流不大于100nA的校准条件，那么校准线路中的被测电阻至少为20Gohm，这就意味着给电容Co的充电时间会变长，即等待校准线路达到稳态的等待时间会变长，而为了节省等待时间，一般校准人员会在电容充电的中段(非稳态)，即图1c示出的t12时刻来对校准线路开始测量，通过图1c可以看出该t12时刻线路末端输出的电压Vo并没有达到稳定状态，即T21是小于5τ的，此时对校准线路相关参数测量会导致测量误差较大，以至于使校准后的指标偏差更大甚至出现错误。

如图1d展示了通过上述常规校准方法进行校准的校准结果图，线条a指示校准前的误差，线条b指示校准后的误差，线条c(0.2％+300pA(RD+offset))指示校准准确度，其中的“0.2％”表示在测量设备校准后，其测量结果的相对误差不会超过被测量值的0.2％；其中的“+300pA”表示测量设备校准后，其测量结果的绝对误差不会超过300pA；其中的“RD”表示相对偏移，“offset”表示绝对偏移。总之，线条c表示在测量设备校准后，测量结果的相对误差不会超过被测量值的0.2％，且测量结果的绝对误差不会超过300pA。从图1d中可以看出，通过上述常规校准方法校准后会增加额外的误差(即线条b的误差大于线条a的误差)，以至于待校准的测量设备的测量精确度不如校准前。

如图1e还展示了上电延时与测量值的关系图，图1f为图1e在零点附近的放大图。由图1e与图1f可以看出，不同的上电延时对应测量值曲线的斜率是不同的，上电延时越小，曲线斜率越大，在大约1750V之后还会出现一段非线性。其中，上电延时时间越小，稳定后的零点偏差就会越大，如果当前再使用稳态校准，那么校准结果至少会存在2nA的误差无法被消除，从而影响校准精度。

基于上述常规校准方法所存在的缺陷，本申请提供一种新的针对测量设备的校准方法，该校准方法在对小电流电路进行校准时，在保证精确度的前提下，还可以大幅缩短校准时间。具体的，本申请通过使待校准的测量设备和外部测量装置同步对校准线路进行测量，从而得到当前时刻测量设备的测量误差，由此实现对测量设备的校准。这种校准方法不需要等到线路末端输出电压达到稳定状态，因此缩短了校准等待时间；另外，由于测量设备和外部测量装置是同步测量，因此在同一时刻通过外部测量装置和测量设备的测量结果可以实现对测量设备的精确校准。

在本申请的实施例中，外部测量装置包括但不限于外部万用表、外部电流表、外部传感器等。

在本申请的实施例中，小电流被测电路可以包括电流小于10mA的被测电路。应理解，上述范围值仅是示例性描述，不作为对本申请的限制。

下面参见各图，对本申请实施例提供的一种针对测量设备的校准方法进行详细说明。

在本实施例中，首先构建校准线路。构建校准线路的步骤包括：

步骤一：将校准线路排布在THB板上。

其中的THB板是测量设备对应的测试头的一块背板，测试头内的资源会全部被引出到测试头与THB板的接口处，因此可以将校准线路排布在THB板上。如图2示出的，校准线路由第一分压电阻R1、第二分压电阻R2和采样电阻R3串联而成，其中两个分压电阻的阻值之和(R1+R2)与采样电阻R3的阻值的比例至少为1000：1，即当电源输出的电压为1000V时，采样电阻R3上分压为1V。

步骤二：将外部测量装置并联至采样电阻R3的两端来获得该校准线路的第一电流值。

其中外部测量装置通过测量获得采样电阻R3的阻值和采样电阻R3两端的电压值，通过测量获得的阻值和电压值计算获得该校准线路的第一电流值。

步骤三：将待校准的测量设备高端对应的I-V转换电路的第一端与高压电源的正极连接，第二端与THB板的输入端连接；将待校准的测量设备的低端对应的I-V转换电路的第一端与高压电源的负极连接，第二端与THB板的输出端连接，以通过待校准的测量设备来获得该校准线路的第二电流值。

需要说明的是，这里的高压电源仅作为本申请的一种实施方式而进行举例说明，并不代表本申请对被测电路电源电压的限制。

其中，测量设备高端对应的I-V转换电路表示能够承受高共模电压的电路，测量设备的低端对应的I-V转换电路表示不能承受高共模电压的电路。

由此，通过上述三个步骤则构造了一套完整的校准线路。这里需要注意的是，由于本申请提供的校准方法在校准时不需考虑电容的充电时间，即不需要至少等待5τ的时间，因此该等效线路里未示出等效电容。

接下来结合图3a和图3b来介绍本申请实施例提供的校准方法。该校准方法包括步骤S310-S360，下面依次介绍各步骤：

S310：初始化待校准的测量设备。

本步骤对待校准的测量设备的初始化表示开始测量前，对待校准的测量设备进行测量前的准备工作，包括但不限于例如配置高压电源的输出电压、例如闭合测试头内资源板卡的继电器矩阵等。

S320：初始化外部测量装置。

本步骤对外部测量装置的初始化表示开始测量前，对外部测量装置做的一些准备工作，包括但不限例如获取第五时间段T5，该第五时间段用于指示外部测量装置成功读取测量指令的时间。在本实施例中，第五时间段T5包括从控制器向外部测量装置发送指令的发送耗时Ts(包含通信协议处理数据的时间)和外部测量装置处理该指令并成功识别指令内容的时间Tp，即T5＝Ts+Tp，该过程可以参见图4示出的外部测量装置识别测量指令的示意图。

在一些实施例中，由于Tp的影响远小于Ts，所以还可以使T5≈Ts，认为Ts是影响第五时间段T5的主要因素。应理解，Ts是由控制器时钟计时单元计算通信函数执行时间得来的，因此，控制器的型号、外部测量装置的型号、以及控制器与外部测量装置之间的通信方式(例如GPIB、RS232、USB、或Ethernet等)都会影响T5的数值，因此，需要根据各仪表的参数手册来初始配置T5的大小。

作为一种实现方式，外部测量装置可以选用数字万用表；作为再一种实现方式，外部测量装置还可以选用模拟万用表等。

作为另一种可替代的实现方式，外部测量装置还可以是电流表。具体地，在电流表的精度可以满足被测线路的精度要求的前提下，可以使用电流表代替图2实现方式中的电阻R3和万用表，即将电流表与分压电阻R1和R2串联。

S330：初始化各线程配置。

本步骤对各线程配置的初始化主要包括配置线程的编号。例如本实施例利用线程A表示待校准的测量设备的测量线程，利用线程B表示外部测量装置的测量线程。

S340：通过待校准的测量设备进行测量获得第一电流值。

对于步骤S340来说，其分为线程A的执行过程和线程B的执行过程，为了便于理解，下面按照各线程的完成过程分别来介绍步骤S340：

对于线程A来说，步骤S340具体包括步骤S341A-S343A，下面详细介绍各步骤。

S341A：获取待校准的测量设备的第一延时时间T1。

该第一延时时间T1是由用户在控制器中设置的，其由被测器件的特性及现实使用条件来决定，主要作用是控制上电后的时间来确定开始测量的时刻。如图5示出的，该第一延时时间T1即表示从t0到t1所经历的时间T，t0表示上电时刻，t1表示开始测量时刻。

S342A：在t1时刻利用待校准的测量设备对校准线路进行测量获得第一电流值。

在本实施例中，通过待校准的测量设备对校准线路进行测量的测量耗时记为第一测量时间T3，该第一测量时间T3由用户在控制器上配置获得。

在一些实施例中，第一测量时间T3是根据采样的点数和采样的时间间隔配置的。具体的，第一测量时间T3与采样的点数和采样的时间间隔呈正相关关系，即：T3＝采样点数*采样间隔时间。

S343A：将第一电流值写入到控制器中，并等待线程B结束执行步骤S350。

应理解，通过外部测量装置测量的速度比通过测试设备测量的速度慢一些，因此本步骤需等到线程B的结束。

由此，线程A对应的测量过程执行完毕。

对于线程B来说，步骤S340包括通过外部测量装置进行测量获得第二电流值。

具体包括步骤S341B-S344B，下面详细介绍各步骤。

S341B：根据待校准的测量设备的第一延时时间T1确定外部测量装置的第二延时时间T2。

该第二延时时间T2是了保证外部测量装置与待校准的测量设备同时对被测线路进行测量引入的一个动态延时时间，也可以称为是一个修正时间，来实现外部测量装置与待校准的测量设备的同时测量。

其中，在S320中已经获得第五时间段T5，因而该第二延时时间T2可以通过下述公式计算获得：T2＝第一延时时间T1-第五时间段T5。

为了清楚的看出第一延时时间T1、第二延时时间T2和第五时间段T5三者的关系，还可以参见图3b的线段图，对于外部测量装置来说，第二延时时间T2和第五时间段T5之和与待校准的测量设备的第一延时时间T1是相等的，从而保证了外部测量装置与待校准的测量设备的测量时刻对齐，从而对校准线路同步测量。

S342B：控制器向外部测量装置发送测量指令。

在本步骤中，在经过第二延时时间T2时(即图3b中T2结束时刻)，控制器向外部测量装置发送测量指令，外部测量装置接收并识别测量指令耗时为T5(第五时间段)。

S343B：通过外部测量装置对校准线路进行测量获得第二电流值。

在本实施例中，通过外部测量装置对校准线路进行测量的测量耗时记为第二测量时间T4。该第二测量时间T4可以由外部测量装置的用户手册获得，来根据外部测量装置的工频周期配置的。一般的，可以配置为1倍工频周期数、10倍工频周期数、100倍工频周期数等。

需要注意的是，通过待校准的测量设备对校准线路进行测量的第一测量时间T3与通过外部测量装置对校准线路进行测量的第二测量时间T4越接近，则校准的置信度越高。因此，本实施例将第一测量时间T3和所述第二测量时间T4设置为相等，以保证的校准效果。应理解，在其他实施例中，还可以任意设置第一测量时间T3和所述第二测量时间T4的时间长度。

在另外一种实现方式中，当外部测量装置为与分压电阻R1和R2串联的电流表时，该电流表测得的电流值即为上述实现方式中的第二电流值。

S344B：将第二电流值写入控制器中。

由此，线程B对应的测量过程执行完毕。

应理解，线程A与线程B二者为并行执行的，不需要等待线程A结束再去执行线程B，从而可以节省等待时间。

S350：控制器根据线程A写入的第一电流值和线程B写入的第二电流值来对待校准的测量设备进行校准，从而获得校准系数。

在本步骤中，通过拟合算法将第一电流值和第二电流值进行拟合，可以得到校准系数。

S360：待校准的测量设备当前校准量程校准结束。

基于上述实施例提供的校准方法，通过使待校准的测量设备和外部测量装置的测量时刻对齐，使二者同步测量，因此不需要等到线路稳态就可以开始测量，从而缩短了校准等待时间；另外，由于二者是同步测量的，因此通过外部测量装置的测量结果去校准测量设备的测量结果可靠性很高，从而还保证了校准的准确性。因此，该校准方法适用于对小电流的电路进行非稳态校准，更适用于低压小电流、低压大电流、高压大电流等多种类型电路的校准。可以理解，这里的小电流、大电流、低压、高压都是相对量，本申请实施例的校准方法，为通用校准方法。

本申请的另一实施例还提供一种针对测量设备的校准方法，如图6示出的，该方法主要包括步骤S610-S640，下面对各个步骤进行依次介绍：

S610：在第一延时时间结束时，控制待校准的测量设备对所述被测线路进行测量，以获得第一值；其中，所述第一延时时间为所述待校准的测量设备从上电时刻到开始对所述被测线路进行测量时刻所等待的时间，为预先获取值。

该第一延时时间为待校准的测量设备从上电时刻到开始对被测线路进行测量时刻所等待的时间，即上述实施例中的T1。

该第一延时时间由被测器件的特性及现实使用条件来决定，其为用户预先设置的一个值。

具体的，该测量时刻即为图5中的t1时刻。本步骤中的第一值可以为上述实施例中的第一电流值，还可以为其他用于表征线路特性的参数，例如功率、电压等等。

在本实施例中，通过待校准的测量设备对所述被测线路进行测量时，还包括配置第一测量时间的过程，第一测量时间表示所述待校准的测量设备从开始对所述被测线路进行测量到获得所述第一值所消耗的时间，即该测量耗时时长。如何配置该第一测量时间可以参见上述实施例步骤S342A的描述，此处不再进行赘述。

S620：根据所述第一延时时间确定外部测量装置的第二延时时间。

该第二延时时间为使外部测量装置与待校准的测量设备同时对被测线路进行测量的修正时间，即上述实施例中的T2。

具体的：首先获取第五时间段T5，第五时间段用于指示所述外部测量装置成功读取测量指令的时间；然后基于第一延时时间T1和第五时间段T5来确定第二延时时间T2，即第二延时时间T2为第一延时时间T1和所述第五时间段T5之差。

S630：在所述第二延时时间结束且第五时间段结束时，控制所述外部测量装置对所述被测线路进行测量，以获得第二值；其中，所述第五时间段用于指示所述外部测量装置成功读取测量指令的时间。

本步骤中的第二值可以为上述实施例中的第二电流值，还可以为其他用于表征线路特性的参数，例如功率、电压等等。

在本实施例中，通过外部测量装置对被测线路进行测量时，还包括配置第二测量时间的过程，第二测量时间表示外部测量装置从开始对所述被测线路进行测量到获得所述第二值所消耗的时间，即该测量耗时时长。如何配置该第二测量时间可以参见上述实施例步骤S343B的描述，此处不再进行赘述。

与上一实施例类似的，本实施例中的第一测量时间和第二测量时间也设置为相等的，在一些实施例中，第一测量时间和第二测量时间允许是不相等的。

S640：基于所述第一值和所述第二值对所述待校准的测量设备进行校准。

具体的，可以通过最小二乘法对第一值和所述第二值进行拟合，从而获得校准系数。

基于本实施例提供的校准方法，尤其可以实现对小电流的电路进行非稳态校准，不仅可以保证校准的准确性，还可以缩短校准时间。

如图7为基于本申请实施例提供的校准方法的效果图。其中的线条a指示校准前的误差，线条b指示校准后的误差，线条c(0.2％+3nA(RD+offset))指示现有方法的校准准确度，线条d(0.10％+1nA(RD+offset))指示通过本申请的校准方法得到的较为宽松的误差区间，线条e(0.10％+600pA(RD+offset))指示通过本申请的校准方法得到的较为的误差区间从图中可以看出，无论是保守性的校准，还是激进型的校准，本申请提供的校准方法相较于常规校准方法，在校准效果上具有大幅度提升。e区间越小表示测试设备测量值更精密。

本申请的另一实施例提供一种针对测量设备的校准装置，该装置可以由软件系统实现，也可以由硬件设备实现，还可以由软件系统和硬件设备结合来实现。

应理解，图8是示例性地展示了一种针对测量设备的校准装置的一种结构化示意图，本申请并不限定对该校准装置中功能模块的划分。如图8所示，该校准装置可以在逻辑上分成多个模块，每个模块可以具有不同的功能，每个模块的功能由可以计算设备中的处理器读取并执行存储器中的指令来实现。示例性的，该校准装置80包括第一控制模块810、确定模块820、第二控制模块830、以及校准模块840。在一种可选的实现方式中，该校准装置用于执行图6所示的步骤S610-S640中描述的内容。具体的，可以为：第一控制模块810用于在第一延时时间结束时，控制待校准的测量设备对所述被测线路进行测量，以获得第一值；其中，所述第一延时时间为所述待校准的测量设备从上电时刻到开始对所述被测线路进行测量时刻所等待的时间，为预先获取值。确定模块820，用于根据所述第一延时时间确定万用表外部测量装置的第二延时时间；其中，所述第二延时时间为使所述万用表外部测量装置与所述待校准的测量设备同时对所述被测器件进行测量的修正时间。第二控制模块830用于在所述第二延时时间结束且所述第五时间段结束万用表成功识别测量指令时，控制所述万用表外部测量装置对所述被测线路进行测量，以获得第二值；其中，所述第五时间段用于指示所述外部测量装置成功读取测量指令。校准模块840用于基于所述第一值和所述第二值对所述待校准的测量设备进行校准。

具体的，各模块的具体实现方式以及带来的效果可以参见上述实施例相关内容的介绍，本实施例不再对其进行赘述。

图9是本申请实施例提供的一种计算设备900的结构性示意性图。该计算设备可以执行上述校准方法中的各可选实施例，该计算设备可以是终端，也可以是终端内部的芯片或芯片系统。如图9所示，该计算设备900包括：处理器910、存储器920、通信接口930。

应理解，图9所示的计算设备900中的通信接口930可以用于与其他设备之间进行通信，具体可以包括一个或多个收发电路或接口电路。

其中，该处理器910可以与存储器920连接。该存储器920可以用于存储该程序代码和数据。因此，该存储器920可以是处理器910内部的存储单元，也可以是与处理器910独立的外部存储单元，还可以是包括处理器910内部的存储单元和与处理器910独立的外部存储单元的部件。

可选的，计算设备900还可以包括总线。其中，存储器920、通信接口930可以通过总线与处理器910连接。总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect，PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture，EISA)总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图5中采用了一条无箭头的线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

应理解，在本申请实施例中，该处理器910可以采用中央处理单元(centralprocessing unit，CPU)。该处理器还可以是其它通用处理器、数字信号处理器(digitalsignal processor，DSP)、专用集成电路(application specific integrated circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(field programmable gate Array，FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。或者该处理器910采用一个或多个集成电路，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案。

该存储器920可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器910提供指令和数据。处理器910的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。例如，处理器910还可以存储设备类型的信息。

在计算设备900运行时，所述处理器910执行所述存储器920中的计算机执行指令执行上述方法的任一操作步骤以及其中任一可选的实施例。

应理解，根据本申请实施例的计算设备900可以对应于执行根据本申请各实施例的方法中的相应主体，并且计算设备900中的各个模块的上述和其它操作和/或功能分别为了实现本实施例各方法的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件、或计算机软件与电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。例如，上述各实施例描述的装置、或各装置所包含的各单元或模块，可以是通过进程或软件模块来实现，其中的软件模块可以是按照功能逻辑拆分得到的单元。所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时用于执行上述方法，该方法包括上述各个实施例所描述的方案中的至少之一。

本申请实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是，但不限于，电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括、但不限于无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

另外，说明书和权利要求书中的词语“第一、第二、第三等”或模块A、模块B、模块C等类似用语，仅用于区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

在上述的描述中，所涉及的表示步骤的标号，如S110、S120……等，并不表示一定会按此步骤执行，在允许的情况下可以互换前后步骤的顺序，或同时执行。

说明书和权利要求书中使用的术语“包括”不应解释为限制于其后列出的内容；它不排除其它的元件或步骤。因此，其应当诠释为指定所提到的所述特征、整体、步骤或部件的存在，但并不排除存在或添加一个或更多其它特征、整体、步骤或部件及其组群。因此，表述“包括装置A和B的设备”不应局限为仅由部件A和B组成的设备。

本说明书中提到的“一个实施例”或“实施例”意味着与该实施例结合描述的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在本说明书各处出现的用语“在一个实施例中”或“在实施例中”并不一定都指同一实施例，但可以指同一实施例。此外，在一个或多个实施例中，能够以任何适当的方式组合各特定特征、结构或特性，如从本公开对本领域的普通技术人员显而易见的那样。

注意，上述仅为本申请的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本申请不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本申请的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本申请进行了较为详细的说明，但是本申请不仅仅限于以上实施例，在不脱离本申请构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，均属于本申请保护范畴。