一种LED的寿命预测方法、装置及电子设备

技术领域

本申请涉及数据处理的技术领域，具体涉及一种LED的寿命预测方法、装置及电子设备。

背景技术

现如今，发光二极管(Light Emitting Diode，LED)因其高效、耐用和环保的特点而得到了广泛的应用。然而，LED的寿命受到多种因素的影响，其中包括驱动电流、结温、环境温度等等。

目前，在对LED进行出厂测试时，通常会对LED进行频繁的开关。然而，频繁的开关将对LED的寿命产生影响。因为，LED在频繁的开关、亮灭过程中会产生热循环，可能导致LED内部受到额外的热应力和热冲击，从而加速LED的劣化，进而缩短LED的使用寿命。

因此，急需一种LED的寿命预测方法、装置及电子设备对LED的寿命进行预测。

发明内容

本申请提供了一种LED的寿命预测方法、装置及电子设备，便于对LED的寿命进行预测。

在本申请的第一方面提供了一种LED的寿命预测方法，所述方法包括：获取多次历史测试中LED的测试寿命值；基于多个所述测试寿命值，确定所述LED的平均寿命值；获取针对所述LED的多次电流冲击测试中的冲击电流值；基于所述冲击电流值，计算得到所述LED的寿命衰减值；根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述LED的使用寿命范围。

通过采用上述技术方案，通过获取多次历史测试中LED的测试寿命值，得到LED的平均寿命值。接下来，通过获取LED的多次电流冲击测试中的冲击电流值，计算得到LED的寿命衰减值。最后，根据平均寿命值和寿命衰减值，确定LED的使用寿命范围。由此，根据平均寿命值和寿命衰减值来确定LED的使用寿命范围，便于更加准确地对LED的寿命进行预测。

可选地，所述基于所述冲击电流值，计算得到所述LED的寿命衰减值，通过如下公式计算所述LED的寿命衰减值：

；

其中，T

通过采用上述技术方案，通过测量LED在多次电流冲击测试和历史测试中的性能来预测LED的寿命衰减值，能够实现根据具体LED的性能和历史测试数据进行定制，从而提高寿命预测的准确性。通过考虑多次电流冲击测试和历史测试的数据，综合了LED在不同条件下的性能表现，从而更全面地评估了LED的寿命衰减情况。通过上述公式，可以得到一个数值化的LED寿命衰减值，这使得LED的寿命情况可以更容易地与其他LED或其他设备进行比较和评估。

可选地，所述根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述LED的使用寿命范围，具体包括：基于所述平均寿命值和所述寿命衰减值，计算得到所述LED的第一寿命极值；基于所述平均寿命值和所述寿命衰减值，计算得到所述LED的第二寿命极值；根据所述第一寿命极值和所述第二寿命极值，确定所述LED的使用寿命范围。

通过采用上述技术方案，通过计算第一寿命极值和第二寿命极值，可以得出一个具体的LED使用寿命范围，为使用者提供更准确的预测和规划。对于生产者来说，了解LED的第一寿命极值和第二寿命极值，可以更好地评估产品质量，优化产品设计，改进生产流程，提高生产效率。通过了解LED的第一寿命极值和第二寿命极值，可以更好地预测产品在未来的性能表现，增强产品的可靠性和稳定性。

可选地，所述计算得到所述LED的第一寿命极值，具体采用如下计算规则：

；

其中，T

通过采用上述技术方案，通过计算LED的第一寿命极值，能够便于后续对LED的使用寿命范围的预测。通过使用历史测试数据中的影响系数和测试寿命值，实现综合LED在不同条件下的性能表现，使得计算更准确。通过使用多次电流冲击测试中的最大冲击电流值，它考虑了LED在最大应力条件下的性能，从而更准确地估计了第一寿命极值。通过上述公式，可以得到一个数值化的第一寿命极值，这使得LED的性能和寿命可以量化，从而更容易与其他LED产品进行比较和评估，有助于制造商确定产品的性能、质量和寿命特性，以及在实际应用中更好地预测LED的寿命。

可选地，所述计算得到所述LED的第二寿命极值，具体采用如下计算规则：

；

其中，T

通过采用上述技术方案，通过使用历史测试数据中的影响系数和测试寿命值，以及使用多次电流冲击测试中的最小冲击电流值，有助于计算更准确的第二寿命极值。通过上述公式，可以得到一个数值化的第二寿命极值，这使得LED的性能和寿命可以量化，从而更容易与其他LED产品进行比较和评估。有助于生产者确定产品的性能特性，以及在实际应用中更好地了解LED的可维护性，从而提高产品的可靠性和性能管理。

可选地，所述根据所述第一寿命极值和所述第二寿命极值，确定所述LED的使用寿命范围，具体包括：将所述第一寿命极值设定为所述LED的使用寿命范围的下限；将所述第一寿命极值设定为所述LED的使用寿命范围的上限。

通过采用上述技术方案，通过明确设定第一寿命极值为使用寿命范围的下限，第二寿命极值为使用寿命范围的上限，可以得出一个具体的、明确的LED使用寿命范围，有助于各方更好地理解和把握LED的使用寿命，从而为决策者提供了更为准确和可靠的依据，有助于做出更为准确和合理的决策。对于生产者来说，了解LED的具体使用寿命范围，有助于增强产品质量控制，改进生产工艺，提高产品质量。对于使用者来说，明确的LED使用寿命范围有助于更好地规划和使用产品，防止产品在预期的使用寿命之前过早失效，提高了产品的使用效率。

可选地，所述方法还包括：向用户设备发送所述LED的使用寿命范围，以便于所述用户设备向用户展示所述LED的使用寿命范围。

通过采用上述技术方案，通过向用户设备发送LED的使用寿命范围，用户可以更直接地了解LED的性能和使用寿命，提高了信息的透明度，使用户能够更好地评估和规划LED的使用。用户可以在用户设备上直接查看LED的使用寿命范围，使得用户更加参与到LED的使用和决策过程中来，提高了用户的参与度和决策的准确性。通过了解LED的使用寿命范围，用户可以更好地规划和安排LED的使用，避免了LED过早失效或者过度使用的情况，提高了设备的使用效率。通过向用户设备发送LED的使用寿命范围，使用户能够更直观地理解和查看LED的性能和使用寿命信息，增强了产品与用户之间的交互性，有助于提高用户体验和满意度。

在本申请的第二方面提供了一种LED的寿命预测装置，所述寿命预测装置包括获取模块21和处理模块22，其中，所述获取模块21，用于获取多次历史测试中LED的测试寿命值；所述处理模块22，用于基于多个所述测试寿命值，确定所述LED的平均寿命值；所述获取模块21，还用于获取针对所述LED的多次电流冲击测试中的冲击电流值；所述处理模块22，还用于基于所述冲击电流值，计算得到所述LED的寿命衰减值；所述处理模块22，还用于根据所述平均寿命值和所述寿命衰减值，确定所述LED的使用寿命范围。

在本申请的第三方面提供了一种电子设备，所述电子设备包括处理器、存储器、用户接口以及网络接口，所述存储器用于存储指令，所述用户接口和所述网络接口均用于给其他设备通信，所述处理器用于执行所述存储器中存储的指令，以使所述电子设备执行如上所述的方法。

在本申请的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有指令，当所述指令被执行时，执行如上所述的方法。

综上所述，本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

1.通过获取多次历史测试中LED的测试寿命值，得到LED的平均寿命值。接下来，通过获取LED的多次电流冲击测试中的冲击电流值，计算得到LED的寿命衰减值。最后，根据平均寿命值和寿命衰减值，确定LED的使用寿命范围。由此，根据平均寿命值和寿命衰减值来确定LED的使用寿命范围，便于更加准确地对LED的寿命进行预测；

2.通过测量LED在多次电流冲击测试和历史测试中的性能来预测LED的寿命衰减值，能够实现根据具体LED的性能和历史测试数据进行定制，从而提高寿命预测的准确性。通过考虑多次电流冲击测试和历史测试的数据，综合了LED在不同条件下的性能表现，从而更全面地评估了LED的寿命衰减情况。通过上述公式，可以得到一个数值化的LED寿命衰减值，这使得LED的寿命情况可以更容易地与其他LED或其他设备进行比较和评估；

3.对于生产者来说，了解LED的具体使用寿命范围，有助于增强产品质量控制，改进生产工艺，提高产品质量。对于使用者来说，明确的LED使用寿命范围有助于更好地规划和使用产品，防止产品在预期的使用寿命之前过早失效，提高了产品的使用效率。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种LED的寿命预测方法的流程示意图。

图2为本申请实施例提供的一种LED的寿命预测装置的模块示意图。

图3为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

附图标记说明：21、获取模块；22、处理模块；31、处理器；32、通信总线；33、用户接口；34、网络接口；35、存储器。

实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本申请实施例的描述中，“例如”或者“举例来说”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“例如”或者“举例来说”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“例如”或者“举例来说”等词旨在以具体方式呈现相关概念。

在本申请实施例的描述中，术语“多个”的含义是指两个或两个以上。例如，多个系统是指两个或两个以上的系统，多个屏幕终端是指两个或两个以上的屏幕终端。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。

当前，发光二极管（LED）已经在各种领域中得到了广泛的应用，例如显示器、照明、装饰等等。由于LED具有高效、耐用和环保等特点，因此它们成为了这些应用中的首选。然而，LED的寿命受到多种因素的影响，其中包括驱动电流、结温、环境温度等等。

在LED的出厂测试中，通常会对LED进行频繁的开关测试。这种测试是为了确保LED能够在正常工作时能够可靠地亮灭。然而，频繁的开关将对LED的寿命产生影响。因为，LED在频繁的开关、亮灭过程中会产生热循环，这可能导致LED内部受到额外的热应力和热冲击。这些额外的热应力和热冲击可能会对LED内部的材料造成损害，从而加速LED的劣化。此外，这种劣化还可能导致LED的使用寿命缩短。

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种LED的寿命预测方法，参照图1，图1为本申请实施例提供的一种LED的寿命预测方法的流程示意图。该寿命预测方法应用于服务器，包括步骤S110至步骤S140，上述步骤如下：

S110、获取多次历史测试中LED的测试寿命值。

具体地，在LED生产厂商大量生产LED产品时，需要对LED采用抽检的方式进行寿命预测。此时，服务器首先将获取多次历史测试中LED的测试寿命值，其中，多次历史测试指的是LED生产厂商过往历史中对LED的寿命进行预测的测试。在本申请实施例中，服务器为管理LED寿命测试的服务器，用于提供后台服务，服务器可以是一台服务器，也可以是由多台服务器组成的服务器集群，或者是一个云计算服务中心。

其中，对同一种类型的LED的多次历史测试均对应着不同的LED的测试寿命值，服务器获取测试寿命值的方式包括但不限于：在LED测试过程中，使用数据记录器来记录每次测试的结果，包括光输出衰减等数据，通过这种方式，服务器可以访问这些记录并获取LED的测试寿命值；测试过程中收集的数据可以存储在数据库中，服务器可以通过访问数据库，检索并获取LED的测试寿命值；通过与测试设备进行网络通信，服务器可以实时获取LED测试的结果，并从中提取测试寿命值；自动化测试系统可以定期执行LED测试，并将测试结果上传到服务器，服务器可以提取并获取LED的测试寿命值；人工将LED的测试寿命值录入到服务器中，这种方式的效率和准确性可能较低，但对于一些特定情况下可能是必要的。在本申请实施例中，服务器获取多次历史测试中LED的测试寿命值的具体方式不作限定，这里不再赘述。

S120、基于多个测试寿命值，确定LED的平均寿命值。

具体地，首先，服务器需要从历史测试中收集LED的测试寿命值数据。这些数据来自于之前进行的各种测试，包括光电性能测试、环境适应性测试等。对于收集到的测试数据，服务器需要进行数据清洗，去除异常值和无效数据。例如，对于某些测试数据可能存在偏离正常范围的情况，需要将其剔除。接下来，对经过清洗的数据进行统计分析，可以得出LED的平均寿命值。具体的计算方法可以根据数据的特点选择合适的方法，例如，可以计算所有测试数据的平均值，或者采用加权平均等方法。其中，多个测试寿命值对应的LED为同一种类型的LED，平均寿命值为多个测试寿命值的平均值。

S130、获取针对LED的多次电流冲击测试中的冲击电流值。

具体地，服务器需要从电流冲击测试中收集LED的冲击电流数据。这些数据可以来自于测试设备或测试系统自动记录的测试结果。对于收集到的测试数据，服务器需要进行数据清洗，去除异常值和无效数据。例如，对于某些测试数据可能存在偏离正常范围的情况，需要将其剔除。接下来，服务器对经过清洗的数据进行适当的处理，例如去除噪声、平滑数据等，以便更好地分析冲击电流值。最后，服务器从处理后的数据中提取出LED的冲击电流值。这些值可能包括最大电流值、最小电流值、平均电流值等，具体取值方式取决于测试目的和分析需求，这里不再赘述。

S140、基于冲击电流值，计算得到LED的寿命衰减值。

具体地，服务器首先对获取到的冲击电流值进行适当的处理，例如数据清洗、去除噪声和平滑处理等，以便更好地应用计算公式。接下来，将处理后的数据输入到计算公式中，得出LED的寿命衰减值。其中，冲击电流值是指LED在突然受到超出其正常工作电流的瞬态大电流时，流过LED的瞬时电流值。寿命衰减值是指LED在使用过程中，由于各种因素的影响，其性能逐渐下降的程度。进一步地，在实际应用中，LED的寿命衰减过程可以分为三个阶段：初期衰减、中期稳定和晚期快速衰减。初期衰减是由于LED内部材料的不稳定性，中期稳定是LED进入稳定工作状态的过程，而晚期快速衰减则是LED进入失效前的阶段。在生产过程中，需要通过对LED的寿命衰减值进行检测和评估，以保证产品的质量和可靠性。

在一种可能的实施方式中，基于冲击电流值，计算得到LED的寿命衰减值，通过如下公式计算LED的寿命衰减值：

；

其中，T

具体地，上述内容为本申请实施例提供的一种寿命衰减值的具体计算过程。在本申请实施例中，T

其中，拟合参数是一个迭代的过程，可能需要多次尝试不同的参数值和方法，以获得最佳的拟合结果。此外，选择适当的模型来训练拟合参数非常关键，因为不同模型可能会导致不同的拟合结果和解释。在本申请实施例中，拟合参数的设定不作限定。上述公式的目的是根据LED的电流冲击测试和历史测试数据，以及一些参数，来估计LED的寿命衰减情况。通过分析LED在不同条件下的电流冲击和历史寿命测试数据，可以更好地理解LED的性能和寿命衰减趋势。

S150、根据平均寿命值和寿命衰减值，确定LED的使用寿命范围。

具体地，服务器在获取到平均寿命值和寿命衰减值之后，将根据平均寿命值和寿命衰减值，确定出LED的使用寿命范围。其中，在实际应用中，LED的寿命收到各种因素的影响，在本申请实施例中，只针对LED频繁开关过程中产生的电流冲击值，上述内容均围绕电流冲击值对LED的寿命影响而展开。由此，根据平均寿命值和寿命衰减值来确定LED的使用寿命范围，便于更加准确地对LED的寿命进行预测。

在一种可能的实施方式中，根据平均寿命值和寿命衰减值，确定LED的使用寿命范围，具体包括：基于平均寿命值和寿命衰减值，计算得到LED的第一寿命极值；基于平均寿命值和寿命衰减值，计算得到LED的第二寿命极值；根据第一寿命极值和第二寿命极值，确定LED的使用寿命范围。

具体地，第一寿命极值是指LED在测试过程中，预设频繁开关的测试条件下LED的寿命极值。通过计算第一寿命极值，可以评估LED在使用过程中保持初始性能的能力。第二寿命极值是指LED在测试过程中预设频繁开关的测试条件下LED的另一寿命极值。根据第一寿命极值和第二寿命极值，可以确定LED的使用寿命范围。这个范围通常是从第一寿命极值到第二寿命极值之间的时间跨度。需要注意的是，在实际测试中，确定LED的使用寿命范围需要考虑多种因素，包括LED的材料、结构、制造工艺、电流、温度等。这些因素都可能对LED的使用寿命和性能产生影响，因此需要在计算过程中进行综合考虑和分析。

在本申请实施例中，通过确定LED的使用寿命范围，可以更好地了解LED的性能和可靠性，为产品设计、生产和用户使用提供更多有价值的参考信息。例如，对于生产者来说，可以根据使用寿命范围来优化产品的设计和制造工艺，提高产品的质量和可靠性；对于用户来说，可以根据使用寿命范围来合理规划和使用LED产品，避免过早更换或过度使用导致的浪费和风险。此外，使用寿命范围的确定也可以帮助用户更好地了解LED产品的性能和使用要求，从而更好地选择和使用LED产品。

在一种可能的实施方式中，计算得到LED的第一寿命极值，具体采用如下计算规则：

；

其中，T

具体地，T

在一种可能的实施方式中，计算得到LED的第二寿命极值，具体采用如下计算规则：

；

其中，T

具体地，通过使用历史测试数据中的影响系数和测试寿命值，以及使用多次电流冲击测试中的最小冲击电流值，有助于计算更准确的第二寿命极值。通过上述公式，可以得到一个数值化的第二寿命极值，这使得LED的性能和寿命可以量化，从而更容易与其他LED产品进行比较和评估。有助于生产者确定产品的性能特性，以及在实际应用中更好地了解LED的可维护性，从而提高产品的可靠性和性能管理。

在一种可能的实施方式中，根据第一寿命极值和第二寿命极值，确定LED的使用寿命范围，具体包括：

将第一寿命极值设定为LED的使用寿命范围的下限；

将第一寿命极值设定为LED的使用寿命范围的上限。

具体地，通过明确设定第一寿命极值为使用寿命范围的下限，第二寿命极值为使用寿命范围的上限，可以得出一个具体的、明确的LED使用寿命范围，有助于各方更好地理解和把握LED的使用寿命，从而为决策者提供了更为准确和可靠的依据，有助于做出更为准确和合理的决策。对于生产者来说，了解LED的具体使用寿命范围，有助于增强产品质量控制，改进生产工艺，提高产品质量。对于使用者来说，明确的LED使用寿命范围有助于更好地规划和使用产品，防止产品在预期的使用寿命之前过早失效，提高了产品的使用效率。

在一种可能的实施方式中，向用户设备发送LED的使用寿命范围，以便于用户设备向用户展示LED的使用寿命范围。

具体地，通过向用户设备发送LED的使用寿命范围，用户可以更直接地了解LED的性能和使用寿命，提高了信息的透明度，使用户能够更好地评估和规划LED的使用。用户可以在用户设备上直接查看LED的使用寿命范围，使得用户更加参与到LED的使用和决策过程中来，提高了用户的参与度和决策的准确性。通过了解LED的使用寿命范围，用户可以更好地规划和安排LED的使用，避免了LED过早失效或者过度使用的情况，提高了设备的使用效率。通过向用户设备发送LED的使用寿命范围，使用户能够更直观地理解和查看LED的性能和使用寿命信息，增强了产品与用户之间的交互性，有助于提高用户体验和满意度。

在本申请实施例中，用户设备的类型包括但不限于：安卓(Android)系统设备、苹果公司开发的移动操作系统(iOS)设备、个人计算机(PC)、全球局域网(World Wide Web，web)设备、虚拟现实(Virtual Reality，VR)设备、增强现实(Augmented Reality，AR)设备等设备。在本申请实施例中，用户设备为电脑。

本申请还提供了一种LED的寿命预测装置，参照图2，图2为本申请实施例提供的一种LED的寿命预测装置的模块示意图。寿命预测装置为服务器，服务器包括获取模块21和处理模块22，其中，获取模块21，用于获取多次历史测试中LED的测试寿命值；处理模块22，用于基于多个测试寿命值，确定LED的平均寿命值；获取模块21，还用于获取针对LED的多次电流冲击测试中的冲击电流值；处理模块22，还用于基于冲击电流值，计算得到LED的寿命衰减值；处理模块22，还用于根据平均寿命值和寿命衰减值，确定LED的使用寿命范围。

在一种可能的实施方式中，处理模块22基于冲击电流值，计算得到LED的寿命衰减值，通过如下公式计算LED的寿命衰减值：

；

其中，T

在一种可能的实施方式中，处理模块22根据平均寿命值和寿命衰减值，确定LED的使用寿命范围，具体包括：处理模块22基于平均寿命值和寿命衰减值，计算得到LED的第一寿命极值；处理模块22基于平均寿命值和寿命衰减值，计算得到LED的第二寿命极值；处理模块22根据第一寿命极值和第二寿命极值，确定LED的使用寿命范围。

在一种可能的实施方式中，处理模块22计算得到LED的第一寿命极值，具体采用如下计算规则：

；

其中，T

在一种可能的实施方式中，处理模块22计算得到LED的第二寿命极值，具体采用如下计算规则：

；

其中，T

在一种可能的实施方式中，处理模块22根据第一寿命极值和第二寿命极值，确定LED的使用寿命范围，具体包括：处理模块22将第一寿命极值设定为LED的使用寿命范围的下限；处理模块22将第一寿命极值设定为LED的使用寿命范围的上限。

在一种可能的实施方式中，处理模块22向用户设备发送LED的使用寿命范围，以便于用户设备向用户展示LED的使用寿命范围。

需要说明的是：上述实施例提供的装置在实现其功能时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的装置和方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。

本申请还提供了一种电子设备，参照图3，图3为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。电子设备可以包括：至少一个处理器31，至少一个网络接口34，用户接口33，存储器35，至少一个通信总线32。

其中，通信总线32用于实现这些组件之间的连接通信。

其中，用户接口33可以包括显示屏（Display）、摄像头（Camera），可选用户接口33还可以包括标准的有线接口、无线接口。

其中，网络接口34可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如WI-FI接口）。

其中，处理器31可以包括一个或者多个处理核心。处理器31利用各种接口和线路连接整个服务器内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器35内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器35内的数据，执行服务器的各种功能和处理数据。可选的，处理器31可以采用数字信号处理（Digital Signal Processing，DSP）、现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）、可编程逻辑阵列（Programmable Logic Array，PLA）中的至少一种硬件形式来实现。处理器31可集成中央处理器（Central ProcessingUnit，CPU）、图像处理器（Graphics Processing Unit，GPU）和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器31中，单独通过一块芯片进行实现。

其中，存储器35可以包括随机存储器（Random Access Memory，RAM），也可以包括只读存储器（Read-Only Memory）。可选的，该存储器35包括非瞬时性计算机可读介质（non-transitory computer-readable storage medium）。存储器35可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器35可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令（比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等）、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及的数据等。存储器35可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器31的存储装置。如图3所示，作为一种计算机存储介质的存储器35中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及一种LED的寿命预测方法的应用程序。

在图3所示的电子设备中，用户接口33主要用于为用户提供输入的接口，获取用户输入的数据；而处理器31可以用于调用存储器35中存储一种LED的寿命预测方法的应用程序，当由一个或多个处理器执行时，使得电子设备执行如上述实施例中一个或多个的方法。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必需的。

本申请还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有指令。当由一个或多个处理器执行时，使得电子设备执行如上述实施例中一个或多个所述的方法。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所披露的装置，可通过其他的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些服务接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性或其他的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可为个人计算机、服务器或者网络设备等）执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括：U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述者，仅为本公开的示例性实施例，不能以此限定本公开的范围。即但凡依本公开教导所作的等效变化与修饰，皆仍属本公开涵盖的范围内。本领域技术人员在考虑说明书及实践真理的公开后，将容易想到本公开的其他实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未记载的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的范围和精神由权利要求限定。