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面向任务效能的试验因素水平分析方法、装置和电子设备

文献发布时间:2024-07-23 01:35:21


面向任务效能的试验因素水平分析方法、装置和电子设备

技术领域

本发明属于试验测试技术领域,特别涉及一种面向任务效能的试验因素水平分析方法、装置和电子设备。

背景技术

随着时代的发展与社会的进步,工业、农业等各大支柱型产业中的复杂系统/体系迭代、发展的速度越来越快。对于系统的试验人员而言,需要通过试验的方式,来了解该系统/体系的真实能力,这些试验的信息也对系统/体系的后续进一步完善提供了关键的指引。

为了实现上述目标,我们需要针对被试验的系统/体系进行描述,针对关注的系统/体系指标分析影响因素,以此作为试验因素,在识别试验因素的基础上按照系统/体系实际运行时可能出现的情况为因素设置试验水平,为后续试验设计奠定基础。

目前在了解系统/体系的效率过程中,通常需要试验的方式,而现有技术中缺少对试验因素进行分析的过程,这样就存在选取的因素水平不合适等问题,导致生产成本高等问题,因此,发明一种试验因素水平分析方法是目前亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种面向任务效能的试验因素水平分析方法,包括:确定所有能够影响任务效能的潜在试验因素;确定出潜在试验因素中的可控潜在试验因素;确定第一因素水平集合,第一因素水平集合包括每一可控潜在试验因素能够影响任务效能的因素水平的区间范围;确定第二因素水平集合,第二因素水平集合包括试验环境所能提供的每一可控潜在试验因素的因素水平的区间范围;确定第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平;在重合的因素水平不为零的条件下,提取出重合的因素水平,并定义为试验因素水平;计算试验因素水平的个数与第一因素水平集合中因素水平的个数的比值,并将比值定义为可控潜在试验因素的测试覆盖率,并输出分析结果,分析结果包括测试覆盖率。

在一些技术方案中,可选地,面向任务效能的试验因素水平分析方法还包括:在第一因素水平集合和第二因素水平集合中无重合的因素水平的条件下,发出语音提示。

在一些技术方案中,可选地,面向任务效能的试验因素水平分析方法还包括:在测试覆盖率等于1时,确定试验因素水平的测试空间合适;在测试覆盖率不等于1时,确定试验因素水平的测试空间受限。

在一些技术方案中,可选地,输出分析结果的步骤具体包括:通过鱼骨图的形式输出分析结果。

在一些技术方案中,可选地,面向任务效能的试验因素水平分析方法还包括:按照多个预设主题对每一潜在试验因素进行分类,并通过鱼骨图的形式输出分类结果。

在一些技术方案中,可选地,多个预设主题包括:测量因素、方法因素、自然因素、材料因素、人力因素。

在一些技术方案中,可选地,分析结果还包括:可控潜在试验因素的试验因素水平、可控潜在试验因素的分类、不可控潜在试验因素和不可控潜在试验因素的分类。

本发明第二方面的实施例提供了一种面向任务效能的试验因素水平分析装置,包括:包括确定模块,确定模块用于:确定所有能够影响任务效能的潜在试验因素;确定出潜在试验因素中的可控潜在试验因素;确定第一因素水平集合,第一因素水平集合包括每一可控潜在试验因素能够影响任务效能的因素水平的区间范围;确定第二因素水平集合,第二因素水平集合包括试验环境所能提供的每一可控潜在试验因素的因素水平的区间范围;确定第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平;在重合的因素水平不为零的条件下,提取出重合的因素水平,并定义为试验因素水平;计算试验因素水平的个数与第一因素水平集合中因素水平的个数的比值,并将比值定义为可控潜在试验因素的测试覆盖率,并输出分析结果,分析结果包括测试覆盖率。

本发明第三方面技术方案提供了一种电子设备,包括存储器和处理器,存储器上存储有计算机程序或指令,处理器执行计算机程序或指令时实现本发明第一方面任一项技术方案的面向任务效能的试验因素水平分析方法。

本发明第四方面技术方案提供了一种可读存储介质,可读存储介质上存储有程序或指令,处理器执行程序或指令时实现本发明第一方面任一项技术方案的面向任务效能的试验因素水平分析方法。

本发明所带来的有益效果如下:

从上述方案可以看出,本发明实施例提供一种面向任务效能的试验因素水平分析方法,本发明的分析方法能够分析出每一个试验因素的测试覆盖率,并形成直观的鱼骨图,根据鱼骨图可以清楚的了解到,各个试验因素的所有信息,这样后期就可以以此作为参考,设计合理的试验方案。

附图说明

图1表示本发明实施例的一种面向任务效能的试验因素水平分析方法的流程示意图之一;

图2表示本发明实施例的一种面向任务效能的试验因素水平分析方法的流程示意图之二;

图3表示本发明实施例的一种面向任务效能的试验因素水平分析方法的试验因素分类示意图之一;

图4表示本发明实施例的一种面向任务效能的试验因素水平分析方法的试验因素分类示意图之二;

图5表示本发明实施例的一种面向任务效能的试验因素水平分析方法的分析结果示意图;

图6示出了本发明的实施例提供的面向任务效能的试验因素水平分析装置的方框图;

图7示出了本发明的实施例提供的电子设备的方框图;

图8为实现本发明实施例的电子设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

参见图1,本发明实施例提供一种面向任务效能的试验因素水平分析方法,包括如下步骤:

S102:确定所有能够影响任务效能的潜在试验因素;

S104:确定出潜在试验因素中的可控潜在试验因素;

S106:确定第一因素水平集合,第一因素水平集合包括每一可控潜在试验因素能够影响任务效能的因素水平的区间范围;

S108:确定第二因素水平集合,第二因素水平集合包括试验环境所能提供的每一可控潜在试验因素的因素水平的区间范围;

S110:确定第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平,在重合的因素水平不为零的条件下,提取出重合的因素水平,并定义为试验因素水平;计算试验因素水平的个数与第一因素水平集合中因素水平的个数的比值,并将比值定义为可控潜在试验因素的测试覆盖率,并输出分析结果,分析结果包括测试覆盖率。

本发明实施例提供一种面向任务效能的试验因素水平分析方法,包括:确定所有能够影响任务效能的试验因素;确定出潜在试验因素中的可控潜在试验因素;确定第一因素水平集合,第一因素水平集合包括每一可控潜在试验因素能够影响任务效能的因素水平的区间范围;确定第二因素水平集合,第二因素水平集合包括试验环境所能提供的每一可控潜在试验因素的因素水平的区间范围;该步骤实际上是一个计算可控潜在试验因素的测试覆盖率的一个过程,具体的,系统确定可控潜在试验因素之后,然后确定系统在实际投入使用中所可能使用到的因素水平的区间范围,得到第一因素水平集合,然后判断试验系统所能提供的可控潜在试验因素的因素水平的区间范围,得到第二因素水平集合,这样系统就可以确定出第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平;在第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平不为零的条件下,提取出第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平,并将其定义为试验因素水平;计算试验因素水平的个数与第一因素水平集合中因素水平的个数的比值,并将比值定义为测试覆盖率,并输出分析结果。

下面以雷达的测量精度为效能指标为例,具体的描述下本申请的方案,先确定所有的潜在试验因素,例如影响雷达的测量精度的试验因素包括光强、雷达的高度、天气等,确定出潜在试验因素后,确定出可控潜在试验因素,由于光强和雷达的高度是人为可以控制的,故而确定光强和雷达的高度为可控潜在试验因素,而天气不可控,故而确定天气为不可控因素,然后确定第一因素水平集合,以雷达的高度为例,假如雷达在实际使用过程中,雷达的高度的范围在0至1万米,那么第一因素水平集合就是0至10万米,但是在实验过程中,实验仅仅能够提供0至5000米的高度,故而第二因素水平集合就是0至5000米,然后确定重合的因素水平,也即0至5000米,并将其定义为试验因素水平,最后计算试验因素水平的个数与第一因素水平集合中因素水平的个数的比值,5000/10000=0.5,故而雷达的高度的测试覆盖率为0.5,并输出测试覆盖率。

本发明的分析方法能够分析出每一个试验因素的测试覆盖率,并形成直观的鱼骨图,根据鱼骨图可以清楚的了解到各个试验因素的有关信息,这样后期就可以以此作为参考,设计合理的试验方案。

在一些技术方案中,可选地,面向任务效能的试验因素水平分析方法还包括:在第一因素水平集合和第二因素水平集合中无重合的因素水平的条件下,发出语音提示。

在该技术方案中,在第一因素水平集合和第二因素水平集合中无重合的因素水平的条件下,也就说明针对该可控潜在试验因素,系统无法实现模拟,此时发出语音提示,以便用户能够采取应对方案。

在一些技术方案中,可选地,在测试覆盖率等于1时,确定试验因素水平的测试空间合适;在测试覆盖率不等于1时,确定试验因素水平的测试空间受限。

在该技术方案中,当在测试覆盖率大于等于1时,说明系统完全可以提供所有的因素水平的测试,此时确定试验因素水平的测试空间合适,如果测试覆盖率不为1时,说明由于系统受到客观条件或资源的限制,无法做到对所有的试验因素水平进行模拟,此时确定试验因素水平的测试空间为受限。

在一些技术方案中,可选地,输出分析结果的步骤具体包括:通过鱼骨图的形式输出分析结果。

在该技术方案中,系统可以通过鱼骨图的形式输出分析结果,这样用户就可以直观的了解到各个试验因素的有关信息,这样后期就可以以此作为参考,设计合理的试验方案。

在一些技术方案中,可选地,面向任务效能的试验因素水平分析方法还包括:按照多个预设主题对每一潜在试验因素进行分类,并通过鱼骨图的形式输出分类结果。

在该技术方案中,还可以对每一个潜在试验因素按照多个预设主题进行分类,这样用户不仅能够根据鱼骨图直观的了解到每个潜在试验因素的测试覆盖率,还可以直观的了解到每个潜在试验因素是分类。

在一些技术方案中,可选地,多个预设主题包括:测量因素、方法因素、自然因素、材料因素、人力因素。

在该技术方案中,测量因素也即在测量过程中所涉及到的因素,例如不同的测量仪器等因素,方法因素可以是不同的模拟方法等因素,自然因素可以是环境、温湿度、风力等因素,材料因素可以是设备材料,人力因素可以是人工在操作过程中的所涉及到因素,仍然以雷达探测精度为例,测量因素可以为测量雷达精度的仪器,方法因素可以是针对雷达的测量方法的因素,材料因素可以为雷达的材质,人力因素可以为用户对雷达的使用熟练度等因素。

在一些技术方案中,可选地,分析结果还包括:可控潜在试验因素的试验因素水平、可控潜在试验因素的分类、不可控潜在试验因素和不可控潜在试验因素的分类。

在该技术方案中,用户可以更直观的了解到更多的信息。

参见图2,本实施例提供了另一种面向任务效能的试验因素水平分析方法,包括如下步骤:

S202:潜在试验因素识别;

该过程是本方法的第一步,旨在通过定义测试空间,从而正确和完整地识别可能影响系统性能的潜在因素(也称条件)。

定义概念因素如下,并具备以下的若干性质:

因素(也称条件)是可以采用两个或多个值(称为水平)的变量。

因素是影响系统性能或完成其任务的变量。

因素可以使用多种方式进行描述,包括通过它们的信息内容,通过用于描述因素及其水平的变量类型,或者简单地通过在试验期间改变水平的难易程度。

基于上述定义,需要确定所有可能影响响应的因素,并就测试中感兴趣和考虑的因素达成共识。因此可以按照,按照试验目标是否关注该因素为标准,可以将因素分为潜在试验因素和滋扰因素两类,滋扰因素又可分为分区因素和常量因素,其中潜在试验因素为体系试验所关注的因素。

为了确定潜在试验因素的范围,需要进行鱼骨图的绘制,参见图3,鱼骨图将这些潜在的试验因素组织成可以影响响应的材料、人力、测量、方法、自然、方法、加强和机器等各种类型的原因。依照试验的目的,选择所关注的因素类型,即可确定本次试验的潜在试验因素集合。例如,如果试验目标为“了解自然条件与工件材料对系统效能的影响”,则应当将“自然”与“材料”下的各因素列为潜在试验因素。

S204:潜在试验因素分类;

基于已确定的潜在试验因素,需要按照其是否可控,分为可控因素和不可控因素,参见图4,对于可控因素,其水平在整个测试过程中能够系统地变化,试验的目标包含评估它们对最终效能的影响,如目标高度、速度等;对于不可控因素,其不受试验本身影响,但可以针对其对最终效能水平的相关性进行分析。

在此基础上,还可以针对因素的空间进行定义,其中分为定性因素和定量因素。

定性因素(也称分类因素),是可以分类为组或类别并且不能取其水平跨度内的所有值的因素。其中针对空间内的取值是否构成偏序关系,可以进一步分类为标称因素(如结果包含通过、失败两种取值)和序数因素(如颜色包含红色、白色等若干取值)。

定量因素(也称数值因素),是可以测量的因素。其中处于连续空间上的因素被称为连续因素(如距离包含0-500米中的任意实数值)和离散因素(如海况包含1、2、3级海况,且不存在1.5级的海况)。

为了尽量提高后续体系试验设计的质量,应当尽量将因素定义为定量因素,而非定性因素。例如应将距离进行基于数值的0-500米内的明确定义,而非使用近距、中距、远距这样的定性概念。

S206:试验因素水平设置分析;

对于已经完成了空间定义的可控因素,需要为其设置水平。其中对于系统在实际投入使用中所可能使用到的因素水平,定义为实用空间。然而在很多的试验场景下,由于受到客观条件或资源的限制,系统无法做到对完整的实用空间均进行模拟。因此还需要定义测试能力的概念,即为在试验的条件限制下,系统所能提供的用于对特定因素进行模拟的水平的集合。如下表一所示。

表一

在此基础上,将试验因素水平定义为实用空间和测试能力的交集,代表在真实的体系试验中可以进行测试的水平集合,如下表二所示:

表二

其中,如果出现试验因素水平为空集的情况,则对应现实中该因素的测试能力完全无法满足其实用空间,该试验无法进行,这一情况需要提示使用者。

S208:测试空间受限情况分析;

具体的,可以对试验因素水平和实用空间进行比较,当试验因素水平与实用空间等价时,称该因素的测试空间合适,否则称测试空间受限。

在此基础上,针对离散因素和连续因素,可以分别定义测试覆盖率。对于离散因素而言,设实用空间为S

表三

S210:形成试验因素分析模型;

将上述信息进行整合,最终可以形成一个包含因素类型与因素水平的鱼骨图,参见图5,以此作为试验因素水平分析的视图模型产品。

本发明需与一种基于任务时序的试验IPO模型生成方法、一种面向体系试验的数字化模型设计方法等成果配合分阶段应用,共同形成完整的复杂系统/体系试验需求分析能力。

本发明的有益效果在于:在未来各种的复杂系统/体系试验中,可以通过该因素水平分析方法,对被试系统/体系中的试验因素、水平设置以及影响关系进行描述,形成试验因素分析表。试验人员可以通过试验因素分析表包含的因素及其水平范围,并综合考量试验投入的成本与可接受的次数,设计合理的试验方案。

参见图6,本发明第二方面的实施例提供了一种面向任务效能的试验因素水平分析装置1,包括确定模块12,确定模块12用于:确定所有能够影响任务效能的潜在试验因素;确定出潜在试验因素中的可控潜在试验因素;确定第一因素水平集合,第一因素水平集合包括每一可控潜在试验因素能够影响任务效能的因素水平的区间范围;确定第二因素水平集合,第二因素水平集合包括试验环境所能提供的每一可控潜在试验因素的因素水平的区间范围;确定第一因素水平集合和第二因素水平集合中重合的因素水平;在重合的因素水平不为零的条件下,提取出重合的因素水平,并定义为试验因素水平;计算试验因素水平的个数与第一因素水平集合中因素水平的个数的比值,并将比值定义为可控潜在试验因素的测试覆盖率,并输出分析结果,分析结果包括测试覆盖率。

本申请实施例中的面向任务效能的试验因素水平分析装置1可以是装置,也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。该装置可以是移动电子设备,也可以为非移动电子设备。示例性的,移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra mobile personal computer,UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant,PDA)等,非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器(Network Attached Storage,NAS)、个人计算机(personal computer,PC)、电视机(television,TV)、柜员机或者自助机等,本申请实施例不作具体限定。

本申请实施例中的面向任务效能的试验因素水平分析装置1可以为具有操作系统的装置。该操作系统可以为安卓(Android)操作系统,可以为IOS操作系统,还可以为其他可能的操作系统,本申请实施例不作具体限定。

本申请实施例提供的面向任务效能的试验因素水平分析装置1能够实现上述方法实施例实现的各个过程,为避免重复,这里不再赘述。

参见图7,本发明第三方面提供了一种电子设备700,包括处理器701,存储器702,存储在存储器702上并可在处理器701上运行的程序或指令,该程序或指令被处理器701执行时实现上述面向任务效能的试验因素水平分析方法,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。

需要说明的是,本申请实施例中的电子设备包括移动电子设备和非移动电子设备。

需要说明的是,本申请实施例中的电子设备包括移动电子设备,如手机,也可以包括非移动电子设备,如电脑等。

图8为实现本申请实施例的另一种电子设备2000的硬件结构示意图。

该电子设备2000包括但不限于:射频单元2001、网络模块2002、音频输出单元2003、输入单元2004、传感器2005、显示单元2006、用户输入单元2007、接口单元2008、存储器2009以及处理器2010等部件。

本领域技术人员可以理解,电子设备2000还可以包括给各个部件供电的电源2011(比如电池),电源2011可以通过电源管理系统与处理器2010逻辑相连,从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。图4中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定,电子设备可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置,在此不再赘述。

其中,用户输入单元2007接收第一输入。

处理器2010根据第一输入,生成并存储对应的原始操作记录,其中,原始操作记录中包括至少一个原始操作节点。

用户输入单元2007接收对操作节点中的目标操作节点的第二输入。

处理器2010响应于第二输入,生成调整后的模拟操作记录。

根据模拟操作记录,控制电子设备运行对应的程序或功能。

可选地,第一输入包括至少一个输入步骤,每个原始操作节点均包括一个输入步骤和对应的操作结果。

其中,操作结果为:电子设备的程序或功能在接收到输入步骤后,根据输入步骤输出的反馈结果。

输入单元2004获取第一输入对应的程序或功能。

存储器2009按照输入步骤的输入顺序,分别记录每个输入步骤和对应的操作结果。

处理器2010按照输入顺序,对应保存第一输入对应的程序或功能、输入步骤和操作结果,并形成为原始操作记录。

可选地,显示单元2006显示与原始操作记录相关联的标识。

用户输入单元2007接收对标识的第三输入。

显示单元2006响应于第三输入,按照输入顺序显示原始操作记录中的原始操作节点。

可选地,处理器2010根据第二输入,对目标操作节点对应的目标输入步骤进行调整,得到调整后的模拟输入步骤。

处理器2010根据模拟输入步骤,控制电子设备运行目标输入步骤对应的程序或功能,以得到模拟输入步骤对应的模拟操作结果。

处理器2010根据模拟输入步骤和模拟操作结果生成对应的模拟操作节点,根据模拟操作节点生成模拟操作记录。

其中,模拟操作节点对应的输入顺序,与目标操作节点对应的输入顺序相同。

可选地,用户输入单元2007接收运行输入。

处理器2010响应于运行输入,控制电子设备根据模拟操作记录运行对应的程序或功能。

可选地,处理器2010分别确定多个模拟操作记录中,每一个模拟操作记录中的每一个模拟操作节点的模拟操作结果。

显示单元2006在存在任两个模拟操作记录,满足任两个模拟操作记录中相对应的模拟操作节点的模拟操作结果不同的情况下,显示对应的提示信息。

本申请实施例通过保存用户的第一输入,并根据各操作步骤形成为原始操作节点,使用户在出现操作错误后,能够追溯回出现错误的操作节点并进行有针对性的修正,在修正后,根据保存的正确节点和修正后的节点,形成为完整的操作记录并执行,避免用户从头进行手动操作,一方面实现了误操作的快捷修正,另一方面不需要用户重新操作,从根本上避免了再次误操作的可能,提高了用户的交互体验。

应理解的是,本申请实施例中,输入单元2004可以包括图形处理器(GraphicsProcessing Unit,GPU)5082和麦克风5084,图形处理器5082对在视频捕获模式或图像捕获模式中由图像捕获装置(如摄像头)获得的静态图片或视频的图像数据进行处理。

显示单元2006可包括显示面板5122,可以采用液晶显示器、有机发光二极管等形式来配置显示面板5122。用户输入单元2007包括触控面板5142以及其他输入设备5144。触控面板5142,也称为触摸屏。触控面板5142可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其他输入设备5144可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆,在此不再赘述。存储器2009可用于存储软件程序以及各种数据,包括但不限于应用程序和操作系统。处理器2010可集成应用处理器和调制解调处理器,其中,应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等,调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调处理器也可以不集成到处理器2010中。

本发明第四方面提供了一种可读存储介质,可读存储介质上存储有程序或指令,处理器执行程序或指令时实现如本申请第一方面任一项技术方案提供的面向任务效能的试验因素水平分析方法。

其中,处理器为上述实施例中的电子设备中的处理器。可读存储介质,包括计算机可读存储介质,如计算机只读存储器(Read Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、磁碟或者光盘等。

面向任务效能的试验因素水平分析方法可根据特定的特征和/或示例应用而采用各种不同的方式进行实施。例如,这些方法可以通过硬件、固件以及/或软件的组合来实施。例如,在硬件实施中,处理器可以在一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器、电子设备、其他用于执行上述功能的设备单元和/或它们的组合中实现。

计算机可读存储介质可以是一种有形设备,它可以保留和存储供指令执行设备使用的指令。计算机可读存储介质可以是电子存储设备、磁存储设备、光学存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述设备的任何适当组合,但不限于此。计算机可读存储介质的更具体示例的非详尽列表包括:便携式计算机软盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦写可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式光盘只读存储器(CD-ROM)、数字化通用磁盘(DVD)、存储卡、软盘、编码机械设备(例如穿孔卡片或具有记录有指令的凸起结构的凹槽)以及上述设备的任何适当组合。此处使用的计算机可读存储介质并不应被理解为传输信号本身,例如无线电波或其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒体传播的电磁波,或通过电线传输的电信号等。

本申请实施例另提供了一种芯片,芯片包括处理器和通信接口,通信接口和处理器耦合,处理器用于运行程序或指令,实现上述电子设备的控制方法实施例的各个过程,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。

应理解,本申请实施例提到的芯片还可以称为系统级芯片、系统芯片、芯片系统或片上系统芯片等。

以上是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

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